CS231491B1 - Výkonová polovodičová dioda s vysokou zatížitelností v závěrném směru - Google Patents
Výkonová polovodičová dioda s vysokou zatížitelností v závěrném směru Download PDFInfo
- Publication number
- CS231491B1 CS231491B1 CS833195A CS319583A CS231491B1 CS 231491 B1 CS231491 B1 CS 231491B1 CS 833195 A CS833195 A CS 833195A CS 319583 A CS319583 A CS 319583A CS 231491 B1 CS231491 B1 CS 231491B1
- Authority
- CS
- Czechoslovakia
- Prior art keywords
- layers
- reverse direction
- power semiconductor
- semiconductor diode
- opposite conductivity
- Prior art date
Links
Landscapes
- Bipolar Transistors (AREA)
Abstract
Vynález se týká výkonové polovodičové diody s vysokou zatížitelností v závěrném směru. Dioda je tvořena dvěma integrovanými strukturami, z nichž jedna obsahující čtyři vrstvy střídavě opačného typu vodivosti je vytvořena ve vnitřní části plochy polovodičového systému, zatímco okrajová část polovodičového systému, ve které vysokonapětový PN přechod vystupuje na povrch, je tvořena strukturou se dvěma vrstvami vzájemně opačného typu vodivosti. Katodový i anodový kontakt je společný pro obě integrované struktury.
Description
Vynález se týká výkonové polovodičové diody s vysokou zatížitelností v závěrném směru.
Výkonové polovodičové diody s vysokou zatížitelností v závěrném směru byly dosud řešeny jako struktury s lavinovým průrazem, vytvořené integrací struktury s nižším průrazným napětím ve vnitřní části struktury a s vyšším průrazným napětím v okrajových částech struktury, kde vysokonapěťový přechod PN vystupuje na povrch. Struktury s lavinovým mechanismem průrazu mají však omezený rozsah výkonové zatížitelnosti v závěrném směru, daný tím, že lavinový průraz je obvykle tvořen diskrétními lokalizovanými oblastmi s vysokou proudovou hustotou.
Podstatně vyšší zatížitelnosti v závěrném směru je dosaženo u výkonové polovodičové diody podle vynálezu, která je tvořena dvěma integrovanými strukturami, z nichž jedna, obsahující čtyři vrstvy střídavě opačného typu vodivosti je vytvořena ve vnitřní části plochy polovodičového systému, zatímco okrajová část polovodičového systému, ve které vysokonapětový přechod PN vystupuje na povrch, je tvořena strukturou se dvěma vrstvami vzájemně opačného typu vodivosti, přičemž katodový a anodový kontakt je společný pro obě integrované struktury.
í
Integrovaná struktura obsahující čtyři vrstvy střídavě opačného typu vodivosti je vytvořena ve tvaru nejméně dvou geometrických útvarů jako např. kruhů nebo obdélníků, které jsou obklopeny strukturou se dvěma vrstvami vzájemně opačného typu vodivosti.
Ctyřvrstvá struktura s mechanismem průrazu typu punch through má z hlediska absorpce ztrátového výkonu v závěrném směru podstatně vyšší zatížitelnost než struktury s lavinovým mechanismem průrazu. Obě části integrované struktury polovodičové diody podle vynálezu, mají v propustném směru stejnou zatížitelnost zajištěnou společným katodovým a anodovým emitorem. Aplikace diod s vysokou úrovní absorpce ztrát v závěrném směru umožňuje plné využití napěťových vlastností součástek a úsporu jistících prvků.
Na přiloženém výkresu je zobrazena výkonová diodová struktura podle vynálezu se dvěma variantami provedení čtyřvrstvé struktury.
Na obr. 1 je v příčném řezu diodová struktura s emitorovou anodovou vrstvou £ typu P, opatřenou anodovým kontaktem 2. Emitorová vrstva typu N sestává z vysokodotované části 3a a z části 3b s nízkou koncentrací příměsí. Vysokodotovaná část 3a je opatřena katodovým kontaktem £ společným pro obě integrované struktury. Ctyřvrstvá struktura £ je vytvořena ve vnitřní části polovodičového systému, kde mezi vysokodotovanou část 3a a nízkodotovanou část 3b emitorové vrstvy je vložena vrstva 5 vodivosti typu P. Struktura £ se dvěma vrstvami vzájemně opačného typu vodivosti pak zůstane pouze v okrajové části polovodičového systému.
Na obr. 2a je diodová struktura zobrazená v řezu vedeném rovinou rovnoběžnou s oběma hlavními elektrodami a na obr. 2b v řezu vedeném rovinou k ní kolmou. V tomto provedení je struktura 6 obsahující čtyři v.rstvy vytvořena ve tvaru kruhů £ rozložených ve vnitřní části plochy polovodičového systému a obklopených strukturou 7_ vzájemně opačného typu vodivosti.
Claims (2)
- PŘEDMĚT VYNÁLEZU1. Výkonová polovodičová dioda s vysokou zatížitelností v závěrném směru, vyznačená tím, že je tvořena dvěma integrovanými strukturami /6, 7/, z nichž jedna /6/, obsahující čtyři· vrstvy střídavě opačného typu vodivosti, je vytvořena ve vnitřní části plochy polovodičového systému, zatímco okrajová část polovodičového systému, ve které vysokonapětový přechod PN vystupuje na povrch, je tvořena strukturou /7/ se dvěma vrstvami vzájemně opačného typu vodivosti, přičemž katodový i anodový kontakt /4/ a /2/ je společný pro obě integrované struktury /6, 7/.
- 2. Výkonová polovodičová dioda podle bodu 1, vyznačená tím, že integrovaná struktura /6/ Obsahující čtyři vrstvy střídavě opačného typu vodivosti je vytvořena ve tvaru nejméně dvou geometrických útvarů /5/ jako například kruhů nebo obdélníků, které jsou obklopeny strukturou /7/ se dvěma vrstvami vzájemně opačného typu vodivosti.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS833195A CS231491B1 (cs) | 1983-05-06 | 1983-05-06 | Výkonová polovodičová dioda s vysokou zatížitelností v závěrném směru |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS833195A CS231491B1 (cs) | 1983-05-06 | 1983-05-06 | Výkonová polovodičová dioda s vysokou zatížitelností v závěrném směru |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CS319583A1 CS319583A1 (en) | 1984-03-20 |
| CS231491B1 true CS231491B1 (cs) | 1984-11-19 |
Family
ID=5371356
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CS833195A CS231491B1 (cs) | 1983-05-06 | 1983-05-06 | Výkonová polovodičová dioda s vysokou zatížitelností v závěrném směru |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CS (1) | CS231491B1 (cs) |
-
1983
- 1983-05-06 CS CS833195A patent/CS231491B1/cs unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CS319583A1 (en) | 1984-03-20 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP4984345B2 (ja) | 半導体装置 | |
| KR100935165B1 (ko) | 절연 게이트형 트랜지스터 | |
| US8102025B2 (en) | Semiconductor device having IGBT and diode | |
| CN109964317A (zh) | 半导体装置 | |
| US4016593A (en) | Bidirectional photothyristor device | |
| WO2017033315A1 (ja) | 半導体素子 | |
| CN106133889A (zh) | 半导体装置 | |
| KR910010735A (ko) | 반도체 장치 | |
| KR910007160A (ko) | 전력용 반도체장치 | |
| US4377816A (en) | Semiconductor element with zone guard rings | |
| US4617583A (en) | Gate turn-off thyristor | |
| JP6761872B2 (ja) | 半導体リレー | |
| US7939887B2 (en) | Active semiconductor component with a reduced surface area | |
| KR970024165A (ko) | 반도체 집적 회로 및 그 제조 방법(A Semiconductor Integrated Circuit and Its Fabricating Method) | |
| JP2002289879A (ja) | ダイオード | |
| US4150391A (en) | Gate-controlled reverse conducting thyristor | |
| JP2020074371A (ja) | 半導体装置 | |
| US4517582A (en) | Asymmetrical thyristor with highly doped anode base layer region for optimized blocking and forward voltages | |
| CA1144266A (en) | Optical transistor structure | |
| KR970063421A (ko) | 반도체장치 및 그 제조방법 | |
| CN106129107B (zh) | 半导体结构、半导体组件及功率半导体器件 | |
| CN107749420A (zh) | 一种逆阻型igbt | |
| CS231491B1 (cs) | Výkonová polovodičová dioda s vysokou zatížitelností v závěrném směru | |
| JP2019220722A (ja) | 半導体素子 | |
| JP2022534117A (ja) | パワートランジスタセルおよびパワートランジスタ |