CS231491B1 - Výkonová polovodičová dioda s vysokou zatížitelností v závěrném směru - Google Patents

Výkonová polovodičová dioda s vysokou zatížitelností v závěrném směru Download PDF

Info

Publication number
CS231491B1
CS231491B1 CS833195A CS319583A CS231491B1 CS 231491 B1 CS231491 B1 CS 231491B1 CS 833195 A CS833195 A CS 833195A CS 319583 A CS319583 A CS 319583A CS 231491 B1 CS231491 B1 CS 231491B1
Authority
CS
Czechoslovakia
Prior art keywords
layers
opposite conductivity
closing
semiconductor system
diode
Prior art date
Application number
CS833195A
Other languages
English (en)
Other versions
CS319583A1 (en
Inventor
Bohumil Pina
Vaclav Skolnik
Jaroslav Homola
Libor Kalenda
Original Assignee
Bohumil Pina
Vaclav Skolnik
Jaroslav Homola
Libor Kalenda
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Bohumil Pina, Vaclav Skolnik, Jaroslav Homola, Libor Kalenda filed Critical Bohumil Pina
Priority to CS833195A priority Critical patent/CS231491B1/cs
Publication of CS319583A1 publication Critical patent/CS319583A1/cs
Publication of CS231491B1 publication Critical patent/CS231491B1/cs

Links

Landscapes

  • Bipolar Transistors (AREA)

Abstract

Vynález se týká výkonové polovodičové diody s vysokou zatížitelností v závěrném směru. Dioda je tvořena dvěma integrovanými strukturami, z nichž jedna obsahující čtyři vrstvy střídavě opačného typu vodivosti je vytvořena ve vnitřní části plochy polovodičového systému, zatímco okrajová část polovodičového systému, ve které vysokonapětový PN přechod vystupuje na povrch, je tvořena strukturou se dvěma vrstvami vzájemně opačného typu vodivosti. Katodový i anodový kontakt je společný pro obě integrované struktury.

Description

Vynález se týká výkonové polovodičové diody s vysokou zatížitelností v závěrném směru.
Výkonové polovodičové diody s vysokou zatížitelností v závěrném směru byly dosud řešeny jako struktury s lavinovým průrazem, vytvořené integrací struktury s nižším průrazným napětím ve vnitřní části struktury a s vyšším průrazným napětím v okrajových částech struktury, kde vysokonapěťový přechod PN vystupuje na povrch. Struktury s lavinovým mechanismem průrazu mají však omezený rozsah výkonové zatížitelnosti v závěrném směru, daný tím, že lavinový průraz je obvykle tvořen diskrétními lokalizovanými oblastmi s vysokou proudovou hustotou.
Podstatně vyšší zatížitelnosti v závěrném směru je dosaženo u výkonové polovodičové diody podle vynálezu, která je tvořena dvěma integrovanými strukturami, z nichž jedna, obsahující čtyři vrstvy střídavě opačného typu vodivosti je vytvořena ve vnitřní části plochy polovodičového systému, zatímco okrajová část polovodičového systému, ve které vysokonapětový přechod PN vystupuje na povrch, je tvořena strukturou se dvěma vrstvami vzájemně opačného typu vodivosti, přičemž katodový a anodový kontakt je společný pro obě integrované struktury.
í
Integrovaná struktura obsahující čtyři vrstvy střídavě opačného typu vodivosti je vytvořena ve tvaru nejméně dvou geometrických útvarů jako např. kruhů nebo obdélníků, které jsou obklopeny strukturou se dvěma vrstvami vzájemně opačného typu vodivosti.
Ctyřvrstvá struktura s mechanismem průrazu typu punch through má z hlediska absorpce ztrátového výkonu v závěrném směru podstatně vyšší zatížitelnost než struktury s lavinovým mechanismem průrazu. Obě části integrované struktury polovodičové diody podle vynálezu, mají v propustném směru stejnou zatížitelnost zajištěnou společným katodovým a anodovým emitorem. Aplikace diod s vysokou úrovní absorpce ztrát v závěrném směru umožňuje plné využití napěťových vlastností součástek a úsporu jistících prvků.
Na přiloženém výkresu je zobrazena výkonová diodová struktura podle vynálezu se dvěma variantami provedení čtyřvrstvé struktury.
Na obr. 1 je v příčném řezu diodová struktura s emitorovou anodovou vrstvou £ typu P, opatřenou anodovým kontaktem 2. Emitorová vrstva typu N sestává z vysokodotované části 3a a z části 3b s nízkou koncentrací příměsí. Vysokodotovaná část 3a je opatřena katodovým kontaktem £ společným pro obě integrované struktury. Ctyřvrstvá struktura £ je vytvořena ve vnitřní části polovodičového systému, kde mezi vysokodotovanou část 3a a nízkodotovanou část 3b emitorové vrstvy je vložena vrstva 5 vodivosti typu P. Struktura £ se dvěma vrstvami vzájemně opačného typu vodivosti pak zůstane pouze v okrajové části polovodičového systému.
Na obr. 2a je diodová struktura zobrazená v řezu vedeném rovinou rovnoběžnou s oběma hlavními elektrodami a na obr. 2b v řezu vedeném rovinou k ní kolmou. V tomto provedení je struktura 6 obsahující čtyři v.rstvy vytvořena ve tvaru kruhů £ rozložených ve vnitřní části plochy polovodičového systému a obklopených strukturou 7_ vzájemně opačného typu vodivosti.

Claims (2)

  1. PŘEDMĚT VYNÁLEZU
    1. Výkonová polovodičová dioda s vysokou zatížitelností v závěrném směru, vyznačená tím, že je tvořena dvěma integrovanými strukturami /6, 7/, z nichž jedna /6/, obsahující čtyři· vrstvy střídavě opačného typu vodivosti, je vytvořena ve vnitřní části plochy polovodičového systému, zatímco okrajová část polovodičového systému, ve které vysokonapětový přechod PN vystupuje na povrch, je tvořena strukturou /7/ se dvěma vrstvami vzájemně opačného typu vodivosti, přičemž katodový i anodový kontakt /4/ a /2/ je společný pro obě integrované struktury /6, 7/.
  2. 2. Výkonová polovodičová dioda podle bodu 1, vyznačená tím, že integrovaná struktura /6/ Obsahující čtyři vrstvy střídavě opačného typu vodivosti je vytvořena ve tvaru nejméně dvou geometrických útvarů /5/ jako například kruhů nebo obdélníků, které jsou obklopeny strukturou /7/ se dvěma vrstvami vzájemně opačného typu vodivosti.
CS833195A 1983-05-06 1983-05-06 Výkonová polovodičová dioda s vysokou zatížitelností v závěrném směru CS231491B1 (cs)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS833195A CS231491B1 (cs) 1983-05-06 1983-05-06 Výkonová polovodičová dioda s vysokou zatížitelností v závěrném směru

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS833195A CS231491B1 (cs) 1983-05-06 1983-05-06 Výkonová polovodičová dioda s vysokou zatížitelností v závěrném směru

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CS319583A1 CS319583A1 (en) 1984-03-20
CS231491B1 true CS231491B1 (cs) 1984-11-19

Family

ID=5371356

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CS833195A CS231491B1 (cs) 1983-05-06 1983-05-06 Výkonová polovodičová dioda s vysokou zatížitelností v závěrném směru

Country Status (1)

Country Link
CS (1) CS231491B1 (cs)

Also Published As

Publication number Publication date
CS319583A1 (en) 1984-03-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10056450B2 (en) Semiconductor device
JP4984345B2 (ja) 半導体装置
JP6743026B2 (ja) 半導体素子
KR100935165B1 (ko) 절연 게이트형 트랜지스터
US8102025B2 (en) Semiconductor device having IGBT and diode
US5070377A (en) Semiconductor device and method of manufacturing the same
CN109964317A (zh) 半导体装置
KR910010735A (ko) 반도체 장치
KR910007160A (ko) 전력용 반도체장치
US4377816A (en) Semiconductor element with zone guard rings
JP6761872B2 (ja) 半導体リレー
US4617583A (en) Gate turn-off thyristor
US7939887B2 (en) Active semiconductor component with a reduced surface area
KR970024165A (ko) 반도체 집적 회로 및 그 제조 방법(A Semiconductor Integrated Circuit and Its Fabricating Method)
JP2002289879A (ja) ダイオード
US4150391A (en) Gate-controlled reverse conducting thyristor
CA1144266A (en) Optical transistor structure
KR970063421A (ko) 반도체장치 및 그 제조방법
US3675064A (en) Directed emission light emitting diode
CN106129107B (zh) 半导体结构、半导体组件及功率半导体器件
JP2022534117A (ja) パワートランジスタセルおよびパワートランジスタ
WO2019098122A1 (ja) 半導体装置
CN107749420A (zh) 一种逆阻型igbt
CS231491B1 (cs) Výkonová polovodičová dioda s vysokou zatížitelností v závěrném směru
JP2019220722A (ja) 半導体素子