CS209284B1 - Zapojení budiče logických obvodů - Google Patents

Zapojení budiče logických obvodů Download PDF

Info

Publication number
CS209284B1
CS209284B1 CS661779A CS661779A CS209284B1 CS 209284 B1 CS209284 B1 CS 209284B1 CS 661779 A CS661779 A CS 661779A CS 661779 A CS661779 A CS 661779A CS 209284 B1 CS209284 B1 CS 209284B1
Authority
CS
Czechoslovakia
Prior art keywords
resistor
transistor
diode
cathode
collector
Prior art date
Application number
CS661779A
Other languages
English (en)
Inventor
Jaroslav Bernkopf
Zdenek Vaculin
Original Assignee
Jaroslav Bernkopf
Zdenek Vaculin
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jaroslav Bernkopf, Zdenek Vaculin filed Critical Jaroslav Bernkopf
Priority to CS661779A priority Critical patent/CS209284B1/cs
Publication of CS209284B1 publication Critical patent/CS209284B1/cs

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

Podstatou vynálezu jsou dva zdroje proudu ovládané generátorem zkušebního signálu, jejichž výstupy jsou spojené se stejnojmennými vývody srovnávaných obvodů. Spojené konce prvního a druhého odporu jsou připojené na kladné napětí. Druhý konec prvního odporu je spojený s kolektorem prvního tranzistoru a druhý konec druhého odporu je spojený s kolektoremdruhého tranzistoru. Spojené konce třetího a čtvrtého odporu jsou připojeny na záporné napětí. Druhý konec třetího odporu je spojený s emitorem prvního tranzistoru a s katodou druhé diody. Druhý konec čtvrtého odporu je spojený s emitorem druhého tranzistoru a s katodou třetí diody, jejíž anoda je spojena s anodou druhé diody s katodou první diody. Báze prvního i druhého tranzistoru jsou uzemněny.

Description

Vynález se týkázapojení budiěe;l®gi»kých obvodů vhodného pro přivádění zkušebního signálu ke srovnávaným obvodům při testování logických obvodů srovnávacím testem.
Dosud známá zapojení spojují vstup testovaného obvodu s odpovídajícím vstupem normálového obvodu a s generátorem zkušebního signálu bud přímo nebo přes odpor. V prvním případě není možné zjistit zkrat na vstupu testovaného obvodu a v obou případech je nutné např. pomocí přepínačů rozlišovat vstupy a výstupy srovnávaných obvodů.
Uvedené nevýhody odstraňuje zapojení budiče logických obvodů podle vynálezu, jehož podstatou je, že spojené konce prvního a druhého odporu jsou připojené na svorku kladného napětí. Druhý konec prvního odporu je spojený s kolektorem prvního tranzistoru a druhý konec druhého odporu je spojený s kolektorem druhého tranzistoru. Spojené konce třetího a čtvrtého odporu jsou připojeny na svorku záporného napětí. Druhý konec třetího odporu je spojený s emitorem prvního tranzistoru a s katodou druhé diody. Druhý konec čtvrtého odporu je spojený s emitorem druhého tranzistoru a s katodou třetí diody, jejíž anoda je spojená s anodou druhé diody a s katodou první diody. Báze prvního i druhého tranzistoru jsou uzemněny.
Zapojení dokonale odděluje vývody srovnávaných obvodů a to od sebe navzájem i od generátoru zkušebního signálu. Vstupy srovnávaných obvodů jsou buzeny logickými úrovněmi, zatímco výstupy nejsou ovlivňovány a proto nejsou nutné přepínače pro rozlišení vstupů a výstupů, což velmi zjednoduší obsluhu testerů a zabrání omylům při obsluze.
Na přiloženém výkrese je znázorněno konkrétní provedení budiče pro jednu dvojici vývodů srovnávaných obvodů.
Spojené konce prvního odporu 1 a druhého

Claims (1)

  1. PŘEDMĚT
    Zapojení budiče logických obvodů vyznačené tím, že spojené konce prvního odporu (1) a druhého odporu (2) jsou připojené na svorku kladného napětí, zatímco druhý konec prvního odporu (1) je spojený s kolektorem prvního tranzistoru (5) a druhý konec druhého odporu (2) je spojený s kolektorem druhého tranzistoru (6), přičemž spojené konce třetího odporu (3) a čtvrtého odporu (4) jsou připojeny na svorku záporného odporu 2 jsou připojené na svorku kladného napětí. Druhý konec prvního odporu 1 je spojený s kolektorem prvního tranzistoru 5 a druhý konec druhého odporu 2. je spojený s kolektorem druhého tranzistoru 6. Spojené konce třetího odporu 3 a čtvrtého odporu 4 jsou· připojeny na svorku záporného napětí. Druhý konec třetího odporu 3 je spojený s emitorem prvního tranzistoru 5 a zároveň s katodou druhé diody 8. Druhý konec čtvrtého odporu 4 je spojený s emitorem druhého tranzistoru 6 a zároveň s katodou třetí diody 9, jejíž anoda je spojená s anodou druhé diody 8 a zároveň s katodou první diody 7. Báze prvního tranzistoru 5, i báze druhého tranzistoru 6 jsou uzemněny. Anoda první diody 7 je spojená s výstupem generátoru zkušebního signálu. Kolektor prvního tranzistoru 5 je spojený s některým vývodem normálového obvodů, kolektor druhého tranzistoru 6 je spojený se stejnojmenným vývodem testovaného obvodu.
    Zapojení pracuje tak, že je-li na anodě první diody 7 úroveň L, pak jsou všechny diody 7, 8, 9 uzavřené a oba tranzistory 5 a 6 jsou otevřené. Proudy tekoucí oběma tranzistory 5 a 6 jsou určeny třetím odporem 3 a čtvrtým odporem 4 a záporným napětím, na které jsou oba odpory připojeny. Tyto proudy jsou voleny tak, aby na vstupech srovnávaných obvodů vytvořily úroveň L a zároveň tak, aby výstupy srovnávaných obvodů ve stavu H jimi nebyly ovlivněny. Je-li na anodě první diody 7 úroveň H, všechny diody 7, 8, 9 jsou otevřeny a tečou jimi proudy odporů 3 a 4. Oba tranzistory 5 a 6 jsou uzavřeny. Výstupy srovnávaných obvodů nejsou s ohledem na vhodně volené velikosti odporů 1 a 2 ovlivněny, zatímco na vstupech srovnávaných obvodů je stejná úroveň H jako na výstupu generátoru zkušebního signálu.
    Vynález se uplatní ve funkčních testerech logických integrovaných obvodů.
    VYNÁLEZU napětí, zatímco druhý konec třetího údpóru (3) je spojený s emitorem prvního tranzistoru (5) a s katodou druhé diody (8), přičemž druhý konec čtvrtého odporu (4) je spojený s emitorem druhého tranzistoru (6) a s katodou třetí diody (9), jejíž anoda je spojená s anodou druhé diody (8) a s katodou první diody (7) a báze prvního tranzistoru (5) i báze druhého tranzistoru (6) jsou uzemněny.
CS661779A 1979-10-01 1979-10-01 Zapojení budiče logických obvodů CS209284B1 (cs)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS661779A CS209284B1 (cs) 1979-10-01 1979-10-01 Zapojení budiče logických obvodů

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS661779A CS209284B1 (cs) 1979-10-01 1979-10-01 Zapojení budiče logických obvodů

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CS209284B1 true CS209284B1 (cs) 1981-11-30

Family

ID=5413631

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CS661779A CS209284B1 (cs) 1979-10-01 1979-10-01 Zapojení budiče logických obvodů

Country Status (1)

Country Link
CS (1) CS209284B1 (cs)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR850008222A (ko) 반도체 시험장치
KR860009431A (ko) Ic평가회로 소자들과 평가회로 소자 검사수단을 갖는 반도체 집적회로
KR920020521A (ko) 반도체집적회로
KR900002086A (ko) 집적 회로의 다중 전원 접속부 검사 방법 및 그 장치
US11077755B2 (en) Self-test circuit, and corresponding device, vehicle and method
US5909034A (en) Electronic device for testing bonding wire integrity
US4611123A (en) High voltage analog solid state switch
JPH04213074A (ja) 電源監視回路
EP0863611A1 (en) A short-circuit detecting device
JP3279645B2 (ja) 試験物体から取り出された電位降下を所定の入力電圧範囲から所望の出力電圧範囲へ変換するための回路構成
US20080036539A1 (en) Power amplifier circuit and test apparatus
US4578637A (en) Continuity/leakage tester for electronic circuits
US5101152A (en) Integrated circuit transfer test device system utilizing lateral transistors
JP3928908B2 (ja) 半導体装置
CS209284B1 (cs) Zapojení budiče logických obvodů
CA1072637A (en) Source related potential indicating continuity tester
US6744271B2 (en) Internal generation of reference voltage
KR960701373A (ko) 풀링 저항이 제공된 접속부의 테스트 장치(Device for testing connections provided with pulling resistors)
US4967151A (en) Method and apparatus for detecting faults in differential current switching logic circuits
KR950001875A (ko) 반도체 집적회로장치
US6960915B2 (en) Electric circuit system
US4604531A (en) Imbalance circuits for DC testing
JP2588244B2 (ja) 半導体装置
US7271600B2 (en) Semiconductor switch circuit
EP0356365B1 (en) Method and apparatus for detecting faults in differential current switching logic circuits