SU1612268A2 - Устройство дл контрол полупроводниковых приборов - Google Patents
Устройство дл контрол полупроводниковых приборов Download PDFInfo
- Publication number
- SU1612268A2 SU1612268A2 SU853919490A SU3919490A SU1612268A2 SU 1612268 A2 SU1612268 A2 SU 1612268A2 SU 853919490 A SU853919490 A SU 853919490A SU 3919490 A SU3919490 A SU 3919490A SU 1612268 A2 SU1612268 A2 SU 1612268A2
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- generator
- probes
- output
- diode
- diagonal
- Prior art date
Links
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к устройствам контрол полупроводниковых приборов - диодов и бипол рных транзисторов. Целью изобретени вл етс расширение функциональных возможностей за счет возможности определени исправности бипол рного транзистора и его типа проводимости при использовании генератора любой скважности. Устройство содержит генератор импульсов с парафазными выходами, первый, второй и третий щупы, первый, второй и третий элементы индикации, первый и второй диодные мосты, при этом перва диагональ первого и второго диодных мостов подключена между вторым выходом генератора и соответственно вторым и третьим щупами, а втора диагональ первого и второго диодных мостов подключена между первым и вторым выводами соответственно второго и третьего элементов индикации, первый выход генератора соединен с первым щупом, а первый элемент индикации включен между вторым выходом генератора и земл ной шиной. При подключении испытуемого транзистора базой к первому щупу, а коллектором и эмиттером ко второму и третьему щупам по комбинации состо ни трех элементов индикации осуществл етс контроль исправности и типа проводимости бипол рного транзистора. При контроле диода последний включаетс между первым и вторым или третьим щупами. 1 ил.
Description
Изобретение относитс к устройствам контрол полупроводниковых приборов, в частности диодов и бипол рных транзисторов , и вл етс усовершенствованием изобретени по основному авт.св. № 1213443.
Цель изобретени - расширение функциональных возможностей за счет возможности определени исправности бипол рного транзистора и его типа проводимости при использовании генератора любой скважности.
На чертеже приведена функциональна схема устройства контрол полупроводниковых приборов.
Устройство контрол полупроводниковых приборов содержит первый, второй и третий щупы 1-3, генератор 4 импульсов с
парафазными выходами, элементы 5.1, 5.2, 5.3 индикации из последовательно включенных резисторов и светодиода, первый и второй диодные мосты 6 и 7, при этом диагональ диодных мостов 6 и 7 подключена между вторым выходом генератора 4 и соответственно щупами 2 и 3, а во вторую диагональ мостов 6 и 7 включены элементы 5.2 и 5.3 индикации, первый выход генератора 4 соединен с щупом 1, а между вторым выходом генератора 4 и земл ной шиной включен элемент 5.1 индикации.
Устройство работает следующим образом .
На первом и втором выходах генератора 4 формируютс импульсные последовательности в противофазе с уровн ми.
к о о
00
соответствующими нулевому напр жению, и например, положительному напр жению Е.
При проведении контрол бипол рного ;транзистора последний своими трем вьшо- |дами подключаетс к щупам 1-3. При этом |база транзистора подключаетс к щупу 1, а коллектор и эмиттер соотьетственно, на- |пример, к щупам 2 и 3 или наоборот. I При контроле транзистора типа р-п-р, в моменты времени, когда на втором выходе генератора 4 присутствует нагф жение, равй,ое.+ на первом выходе - нулю, гор т всё три элемента 5.1, 5.2, 5.3 индикации. В режиме, когда на втором выходе генератора 4 присутствует напр жение, равное нулю, а на первом выходе - равное +Е, то все три |элемента 5,1, 5.2, 5.3 индикации не гор т.
При конт|эоле транзистора типа в |моменты времени, когда на втором выходе 1генератора 4 присутствует напр жение, ipasHoe +Т, а на первом выходе - нулю, горит |только первый элемент 5,1 индикации. В iпротивофазном состо нии генератора 4, на- :оборот, гор т второй и третий элементы 5.2 и 5.3 индикации, а первый не горит.
В случае наличи короткого замыкани |или обрыва в цепи база-эмиттер или база- |коллектор испытуемого транзистора элементы 5.2 и 5.3 индикации диодных мостов 6 и 7 в неисправной цепи вместо режима Iпериодического мигани с частотой следо |вани импульсов генератора 4, свойствен- iHoro исправному транзистору, наход тс соответственно в состо нии непрерывного горени или негорени .
При проведении контрол диода последний своими ,двум выводами подключаетс к щупам 1 и 2 или щупам 1 и 3. Если испытуемый диод подключен к щупу 1, то
первый 5.1 и второй 5.2 или третий 5,3 элементы индикации гор т в фазе, а при обратном включении диода - в противофазе.
При наличии в контролируемом диоде неисправности - короткое замыкание или
обрыв - элементы 5.2 и 5.3 индикации дисд- ного моста 6 и 7 наход тс в состо нии соответственно непрерывного горени или негорени .
Таким образом, технико-экономические
преимущества изобретени вы вл ютс за счет расширени област11 применени устройства дл выполнени им контрол бипол рных транзисторов и диодов при использовании генератора любой скважности .
Claims (1)
- Формула изобретени Устройство дл контрол полупроводниковых приборов по авт.св. № 1213443, отличаю at еес тем, что, с целью расширени функциональных возможностей путем обеспечени возможности определени исправности бипол рного транзистора и его типа проводимости, при использовании генератора любой скважности, введены второй диодный мост с индикаторным элёмен-. том в диагонали, подключенный между выходом генератора и дополнительным щупом , и цепь, состо ща из последовательно включенных светодиода и резистора, подключенна между выходами генератора.Редактор С.Патрушева- -CZbJ J-t-Составитель В.ДворниковТехред М.МоргенталКорректор А.Обручар
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU853919490A SU1612268A2 (ru) | 1985-05-30 | 1985-05-30 | Устройство дл контрол полупроводниковых приборов |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU853919490A SU1612268A2 (ru) | 1985-05-30 | 1985-05-30 | Устройство дл контрол полупроводниковых приборов |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU1213443A Addition SU240786A1 (ru) |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1612268A2 true SU1612268A2 (ru) | 1990-12-07 |
Family
ID=21185764
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU853919490A SU1612268A2 (ru) | 1985-05-30 | 1985-05-30 | Устройство дл контрол полупроводниковых приборов |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1612268A2 (ru) |
-
1985
- 1985-05-30 SU SU853919490A patent/SU1612268A2/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Авторское свидетельство СССР N21213443, кл.С 01 R 31/26. 1983. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4160206A (en) | Audible voltage-impedance tester | |
US4129825A (en) | Electrical conductor and short circuit locator | |
SU1612268A2 (ru) | Устройство дл контрол полупроводниковых приборов | |
DE69430304D1 (de) | Anordnung zum testen von verbindungen mit pulling-widerständen | |
US3689838A (en) | Semiconductor tester having visual and audible display | |
SU1647477A1 (ru) | Устройство дл контрол исправности транзисторов | |
US3601698A (en) | Semiconductor tester having visual display | |
JPH09252079A (ja) | 過電流過熱保護機能内蔵半導体スイッチング素子の遮断表示装置 | |
SU1164636A1 (ru) | Устройство дл разбраковки полупроводниковых диодов | |
US4686462A (en) | Fast recovery power supply | |
SU1434375A1 (ru) | Устройство дл контрол контактировани | |
KR950010494Y1 (ko) | 집적회로의 누설전류 테스트 회로 | |
SU932523A1 (ru) | Устройство дл контрол амплитуды входного сигнала | |
SU633019A1 (ru) | Устройство дл контрол логических блоков цвм | |
SU901945A1 (ru) | Устройство дл контрол электрического монтажа радиоэлектронных изделий | |
KR900001467B1 (ko) | 휴대용 전자회로 시험장치 | |
SU1705781A2 (ru) | Зонд дл проверки сигналов цифровых микросхем | |
SU1388818A1 (ru) | Устройство дл контрол работы логических блоков | |
KR890004531Y1 (ko) | 로직체크 및 집적소자 불량 감지회로 | |
SU487467A2 (ru) | Устройство дл контрол исправности цепей в коммутационных приборах | |
SU779932A1 (ru) | Устройство дл контрол правильности электрических соединений | |
SU1242907A1 (ru) | Устройство контрол тока утечки КМОП-микросхем в динамическом режиме | |
SU580514A1 (ru) | Устройство дл контрол логических блоков | |
JP2566758B2 (ja) | Icテスタにおけるテスト用信号発生回路 | |
JPH0438297Y2 (ru) |