SU1612268A2 - Устройство дл контрол полупроводниковых приборов - Google Patents

Устройство дл контрол полупроводниковых приборов Download PDF

Info

Publication number
SU1612268A2
SU1612268A2 SU853919490A SU3919490A SU1612268A2 SU 1612268 A2 SU1612268 A2 SU 1612268A2 SU 853919490 A SU853919490 A SU 853919490A SU 3919490 A SU3919490 A SU 3919490A SU 1612268 A2 SU1612268 A2 SU 1612268A2
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
generator
probes
output
diode
diagonal
Prior art date
Application number
SU853919490A
Other languages
English (en)
Inventor
Владимир Ильич Турченков
Original Assignee
В.И. Турченков
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by В.И. Турченков filed Critical В.И. Турченков
Priority to SU853919490A priority Critical patent/SU1612268A2/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1612268A2 publication Critical patent/SU1612268A2/ru

Links

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к устройствам контрол  полупроводниковых приборов - диодов и бипол рных транзисторов. Целью изобретени   вл етс  расширение функциональных возможностей за счет возможности определени  исправности бипол рного транзистора и его типа проводимости при использовании генератора любой скважности. Устройство содержит генератор импульсов с парафазными выходами, первый, второй и третий щупы, первый, второй и третий элементы индикации, первый и второй диодные мосты, при этом перва  диагональ первого и второго диодных мостов подключена между вторым выходом генератора и соответственно вторым и третьим щупами, а втора  диагональ первого и второго диодных мостов подключена между первым и вторым выводами соответственно второго и третьего элементов индикации, первый выход генератора соединен с первым щупом, а первый элемент индикации включен между вторым выходом генератора и земл ной шиной. При подключении испытуемого транзистора базой к первому щупу, а коллектором и эмиттером ко второму и третьему щупам по комбинации состо ни  трех элементов индикации осуществл етс  контроль исправности и типа проводимости бипол рного транзистора. При контроле диода последний включаетс  между первым и вторым или третьим щупами. 1 ил.

Description

Изобретение относитс  к устройствам контрол  полупроводниковых приборов, в частности диодов и бипол рных транзисторов , и  вл етс  усовершенствованием изобретени  по основному авт.св. № 1213443.
Цель изобретени  - расширение функциональных возможностей за счет возможности определени  исправности бипол рного транзистора и его типа проводимости при использовании генератора любой скважности.
На чертеже приведена функциональна  схема устройства контрол  полупроводниковых приборов.
Устройство контрол  полупроводниковых приборов содержит первый, второй и третий щупы 1-3, генератор 4 импульсов с
парафазными выходами, элементы 5.1, 5.2, 5.3 индикации из последовательно включенных резисторов и светодиода, первый и второй диодные мосты 6 и 7, при этом диагональ диодных мостов 6 и 7 подключена между вторым выходом генератора 4 и соответственно щупами 2 и 3, а во вторую диагональ мостов 6 и 7 включены элементы 5.2 и 5.3 индикации, первый выход генератора 4 соединен с щупом 1, а между вторым выходом генератора 4 и земл ной шиной включен элемент 5.1 индикации.
Устройство работает следующим образом .
На первом и втором выходах генератора 4 формируютс  импульсные последовательности в противофазе с уровн ми.
к о о
00
соответствующими нулевому напр жению, и например, положительному напр жению Е.
При проведении контрол  бипол рного ;транзистора последний своими трем  вьшо- |дами подключаетс  к щупам 1-3. При этом |база транзистора подключаетс  к щупу 1, а коллектор и эмиттер соотьетственно, на- |пример, к щупам 2 и 3 или наоборот. I При контроле транзистора типа р-п-р, в моменты времени, когда на втором выходе генератора 4 присутствует нагф жение, равй,ое.+ на первом выходе - нулю, гор т всё три элемента 5.1, 5.2, 5.3 индикации. В режиме, когда на втором выходе генератора 4 присутствует напр жение, равное нулю, а на первом выходе - равное +Е, то все три |элемента 5,1, 5.2, 5.3 индикации не гор т.
При конт|эоле транзистора типа в |моменты времени, когда на втором выходе 1генератора 4 присутствует напр жение, ipasHoe +Т, а на первом выходе - нулю, горит |только первый элемент 5,1 индикации. В iпротивофазном состо нии генератора 4, на- :оборот, гор т второй и третий элементы 5.2 и 5.3 индикации, а первый не горит.
В случае наличи  короткого замыкани  |или обрыва в цепи база-эмиттер или база- |коллектор испытуемого транзистора элементы 5.2 и 5.3 индикации диодных мостов 6 и 7 в неисправной цепи вместо режима Iпериодического мигани  с частотой следо |вани  импульсов генератора 4, свойствен- iHoro исправному транзистору, наход тс  соответственно в состо нии непрерывного горени  или негорени .
При проведении контрол  диода последний своими ,двум  выводами подключаетс  к щупам 1 и 2 или щупам 1 и 3. Если испытуемый диод подключен к щупу 1, то
первый 5.1 и второй 5.2 или третий 5,3 элементы индикации гор т в фазе, а при обратном включении диода - в противофазе.
При наличии в контролируемом диоде неисправности - короткое замыкание или
обрыв - элементы 5.2 и 5.3 индикации дисд- ного моста 6 и 7 наход тс  в состо нии соответственно непрерывного горени  или негорени .
Таким образом, технико-экономические
преимущества изобретени  вы вл ютс  за счет расширени  област11 применени  устройства дл  выполнени  им контрол  бипол рных транзисторов и диодов при использовании генератора любой скважности .

Claims (1)

  1. Формула изобретени  Устройство дл  контрол  полупроводниковых приборов по авт.св. № 1213443, отличаю at еес  тем, что, с целью расширени  функциональных возможностей путем обеспечени  возможности определени  исправности бипол рного транзистора и его типа проводимости, при использовании генератора любой скважности, введены второй диодный мост с индикаторным элёмен-. том в диагонали, подключенный между выходом генератора и дополнительным щупом , и цепь, состо ща  из последовательно включенных светодиода и резистора, подключенна  между выходами генератора.
    Редактор С.Патрушева
    - -CZbJ J-t-Составитель В.Дворников
    Техред М.МоргенталКорректор А.Обручар
SU853919490A 1985-05-30 1985-05-30 Устройство дл контрол полупроводниковых приборов SU1612268A2 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU853919490A SU1612268A2 (ru) 1985-05-30 1985-05-30 Устройство дл контрол полупроводниковых приборов

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU853919490A SU1612268A2 (ru) 1985-05-30 1985-05-30 Устройство дл контрол полупроводниковых приборов

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU1213443A Addition SU240786A1 (ru)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1612268A2 true SU1612268A2 (ru) 1990-12-07

Family

ID=21185764

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU853919490A SU1612268A2 (ru) 1985-05-30 1985-05-30 Устройство дл контрол полупроводниковых приборов

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1612268A2 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР N21213443, кл.С 01 R 31/26. 1983. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4160206A (en) Audible voltage-impedance tester
US4129825A (en) Electrical conductor and short circuit locator
SU1612268A2 (ru) Устройство дл контрол полупроводниковых приборов
DE69430304D1 (de) Anordnung zum testen von verbindungen mit pulling-widerständen
US3689838A (en) Semiconductor tester having visual and audible display
SU1647477A1 (ru) Устройство дл контрол исправности транзисторов
US3601698A (en) Semiconductor tester having visual display
JPH09252079A (ja) 過電流過熱保護機能内蔵半導体スイッチング素子の遮断表示装置
SU1164636A1 (ru) Устройство дл разбраковки полупроводниковых диодов
US4686462A (en) Fast recovery power supply
SU1434375A1 (ru) Устройство дл контрол контактировани
KR950010494Y1 (ko) 집적회로의 누설전류 테스트 회로
SU932523A1 (ru) Устройство дл контрол амплитуды входного сигнала
SU633019A1 (ru) Устройство дл контрол логических блоков цвм
SU901945A1 (ru) Устройство дл контрол электрического монтажа радиоэлектронных изделий
KR900001467B1 (ko) 휴대용 전자회로 시험장치
SU1705781A2 (ru) Зонд дл проверки сигналов цифровых микросхем
SU1388818A1 (ru) Устройство дл контрол работы логических блоков
KR890004531Y1 (ko) 로직체크 및 집적소자 불량 감지회로
SU487467A2 (ru) Устройство дл контрол исправности цепей в коммутационных приборах
SU779932A1 (ru) Устройство дл контрол правильности электрических соединений
SU1242907A1 (ru) Устройство контрол тока утечки КМОП-микросхем в динамическом режиме
SU580514A1 (ru) Устройство дл контрол логических блоков
JP2566758B2 (ja) Icテスタにおけるテスト用信号発生回路
JPH0438297Y2 (ru)