CS209284B1 - Connexion of logical circuits exciter - Google Patents
Connexion of logical circuits exciter Download PDFInfo
- Publication number
- CS209284B1 CS209284B1 CS661779A CS661779A CS209284B1 CS 209284 B1 CS209284 B1 CS 209284B1 CS 661779 A CS661779 A CS 661779A CS 661779 A CS661779 A CS 661779A CS 209284 B1 CS209284 B1 CS 209284B1
- Authority
- CS
- Czechoslovakia
- Prior art keywords
- resistor
- transistor
- diode
- cathode
- collector
- Prior art date
Links
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
Podstatou vynálezu jsou dva zdroje proudu ovládané generátorem zkušebního signálu, jejichž výstupy jsou spojené se stejnojmennými vývody srovnávaných obvodů. Spojené konce prvního a druhého odporu jsou připojené na kladné napětí. Druhý konec prvního odporu je spojený s kolektorem prvního tranzistoru a druhý konec druhého odporu je spojený s kolektoremdruhého tranzistoru. Spojené konce třetího a čtvrtého odporu jsou připojeny na záporné napětí. Druhý konec třetího odporu je spojený s emitorem prvního tranzistoru a s katodou druhé diody. Druhý konec čtvrtého odporu je spojený s emitorem druhého tranzistoru a s katodou třetí diody, jejíž anoda je spojena s anodou druhé diody s katodou první diody. Báze prvního i druhého tranzistoru jsou uzemněny.The invention is based on two current sources controlled by a test signal generator the outlets are connected to the same terminals comparing circuits. The united ends of the first and the second resistor are connected to a positive voltage. The other end of the first resistor is connected to the collector the first transistor and the other the resistor is connected to the collector of the second transistor. The combined ends of the third and fourth resistance are connected to negative voltage. The other end of the third the resistor is coupled to the emitter of the first transistor and with the cathode of the second diode. The second end of the fourth the resistor is coupled to the emitter of the second transistor and with the cathode of the third diode, the anode of which is connected with the anode of the second diode with the cathode of the first diode. Base the first and second transistors are grounded.
Description
Vynález se týkázapojení budiěe;l®gi»kých obvodů vhodného pro přivádění zkušebního signálu ke srovnávaným obvodům při testování logických obvodů srovnávacím testem.The invention relates to the connection of an excitation circuit suitable for supplying a test signal to a comparison circuit when testing a logic circuit by a comparative test.
Dosud známá zapojení spojují vstup testovaného obvodu s odpovídajícím vstupem normálového obvodu a s generátorem zkušebního signálu bud přímo nebo přes odpor. V prvním případě není možné zjistit zkrat na vstupu testovaného obvodu a v obou případech je nutné např. pomocí přepínačů rozlišovat vstupy a výstupy srovnávaných obvodů.The known circuits connect the input of the test circuit to the corresponding input of the normal circuit and to the test signal generator either directly or via a resistor. In the first case, it is not possible to detect a short circuit at the input of the tested circuit and in both cases it is necessary, for example, to distinguish the inputs and outputs of the compared circuits using switches.
Uvedené nevýhody odstraňuje zapojení budiče logických obvodů podle vynálezu, jehož podstatou je, že spojené konce prvního a druhého odporu jsou připojené na svorku kladného napětí. Druhý konec prvního odporu je spojený s kolektorem prvního tranzistoru a druhý konec druhého odporu je spojený s kolektorem druhého tranzistoru. Spojené konce třetího a čtvrtého odporu jsou připojeny na svorku záporného napětí. Druhý konec třetího odporu je spojený s emitorem prvního tranzistoru a s katodou druhé diody. Druhý konec čtvrtého odporu je spojený s emitorem druhého tranzistoru a s katodou třetí diody, jejíž anoda je spojená s anodou druhé diody a s katodou první diody. Báze prvního i druhého tranzistoru jsou uzemněny.These disadvantages are overcome by the connection of the logic circuit exciter according to the invention, which is based on the fact that the connected ends of the first and second resistors are connected to a positive voltage terminal. The second end of the first resistor is connected to the collector of the first transistor and the second end of the second resistor is connected to the collector of the second transistor. The connected ends of the third and fourth resistors are connected to the negative voltage terminal. The other end of the third resistor is connected to the emitter of the first transistor and to the cathode of the second diode. The other end of the fourth resistor is connected to the emitter of the second transistor and the cathode of the third diode, the anode of which is connected to the anode of the second diode and the cathode of the first diode. The bases of the first and second transistors are grounded.
Zapojení dokonale odděluje vývody srovnávaných obvodů a to od sebe navzájem i od generátoru zkušebního signálu. Vstupy srovnávaných obvodů jsou buzeny logickými úrovněmi, zatímco výstupy nejsou ovlivňovány a proto nejsou nutné přepínače pro rozlišení vstupů a výstupů, což velmi zjednoduší obsluhu testerů a zabrání omylům při obsluze.The circuit perfectly separates the circuits of the compared circuits from each other and from the test signal generator. The inputs of the compared circuits are driven by logic levels, while the outputs are unaffected and therefore no switches are required to differentiate the inputs and outputs, which greatly simplifies the operation of the testers and avoids operating errors.
Na přiloženém výkrese je znázorněno konkrétní provedení budiče pro jednu dvojici vývodů srovnávaných obvodů.The accompanying drawing shows a particular exciter embodiment for one pair of terminals of the circuit being compared.
Spojené konce prvního odporu 1 a druhéhoConnected ends of the first resistor 1 and the second
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CS661779A CS209284B1 (en) | 1979-10-01 | 1979-10-01 | Connexion of logical circuits exciter |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CS661779A CS209284B1 (en) | 1979-10-01 | 1979-10-01 | Connexion of logical circuits exciter |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CS209284B1 true CS209284B1 (en) | 1981-11-30 |
Family
ID=5413631
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CS661779A CS209284B1 (en) | 1979-10-01 | 1979-10-01 | Connexion of logical circuits exciter |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CS (1) | CS209284B1 (en) |
-
1979
- 1979-10-01 CS CS661779A patent/CS209284B1/en unknown
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR850008222A (en) | Semiconductor test device | |
KR900002086A (en) | Method for testing multiple power connections of integrated circuits and apparatus therefor | |
KR920020521A (en) | Semiconductor integrated circuit | |
US11077755B2 (en) | Self-test circuit, and corresponding device, vehicle and method | |
US5909034A (en) | Electronic device for testing bonding wire integrity | |
US4611123A (en) | High voltage analog solid state switch | |
JPH04213074A (en) | Power-supply monitoring circuit | |
EP0863611A1 (en) | A short-circuit detecting device | |
JP3279645B2 (en) | Circuit configuration for converting a potential drop taken from a test object from a predetermined input voltage range to a desired output voltage range | |
US20080036539A1 (en) | Power amplifier circuit and test apparatus | |
US4578637A (en) | Continuity/leakage tester for electronic circuits | |
US5101152A (en) | Integrated circuit transfer test device system utilizing lateral transistors | |
JP3928908B2 (en) | Semiconductor device | |
KR950001318A (en) | Test circuit of semiconductor integrated circuit | |
CS209284B1 (en) | Connexion of logical circuits exciter | |
CA1072637A (en) | Source related potential indicating continuity tester | |
US6744271B2 (en) | Internal generation of reference voltage | |
KR960701373A (en) | Device for testing connections provided with pulling resistors | |
US4967151A (en) | Method and apparatus for detecting faults in differential current switching logic circuits | |
KR950001875A (en) | Semiconductor integrated circuit device | |
US4604531A (en) | Imbalance circuits for DC testing | |
JP2588244B2 (en) | Semiconductor device | |
US7271600B2 (en) | Semiconductor switch circuit | |
EP0356365B1 (en) | Method and apparatus for detecting faults in differential current switching logic circuits | |
JPS6337268A (en) | Tester of semiconductor device |