CN218546823U - 一种半导体检测用探针平台 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种半导体检测用探针平台，涉及探针平台技术领域，包括固定底座，所述固定底座顶部的两侧均固定连接有固定架，所述固定底座的内部固定连接有伺服电机，所述伺服电机的输出端固定连接有转板，所述转板顶部的两侧均固定连接有电动伸缩杆，所述电动伸缩杆的顶部连接有工作台。本实用新型通过设置连接板、防护杆、防护板、弹簧、橡胶块、第二螺纹杆、移动杆和定位块，第二螺纹杆的转动定位块进行移动，从而对探针本体起到固定的效果，随后利用橡胶块和弹簧的设置起到防护效果，避免探针和被测样品会出现碰撞造成半导体损坏的情况，有利于提高半导体检测过程中的安全性，避免半导体资源浪费的情况。

Description

一种半导体检测用探针平台

技术领域

本实用新型涉及探针平台技术领域，尤其涉及一种半导体检测用探针平台。

背景技术

探针是用于测试PCBA的一种测试针，表面镀金，内部有平均寿命3万～10万次的高性能弹簧。

现有的半导体检测过程中需要更换探针进行检测，更换探针测试时因为长短不同，容易造成探针和被测样品会出现碰撞，从而造成半导体损坏的情况，造成半导体资源浪费的情况，并且不具备夹持和升降转动的效果，导致半导体在检测过程中存在检测不便的情况，从而降低半导体检测过程中的准确性，降低探针平台的使用率。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种半导体检测用探针平台。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

一种半导体检测用探针平台，包括固定底座，所述固定底座顶部的两侧均固定连接有固定架，所述固定底座的内部固定连接有伺服电机，所述伺服电机的输出端固定连接有转板，所述转板顶部的两侧均固定连接有电动伸缩杆，所述电动伸缩杆的顶部连接有工作台，所述工作台顶部的两侧均固定连接有固定板，所述固定板的内部连接有夹持机构；

所述固定架顶部底端固定连接有连接板，所述连接板底部的两侧均固定连接有防护杆，所述防护杆的底部连接有防护机构，所述连接板底部的中心处连接有探针本体，所述连接板的内部转动连接有定位机构，所述固定底座的侧壁连接有传送带。

优选地，所述夹持机构包括转动连接在固定板内部的第一螺纹杆，所述第一螺纹杆的一侧转动连接有夹持板。

优选地，所述防护机构包括固定连接在防护杆底部的防护板，所述防护板的底部固定连接有弹簧，所述弹簧的底部固定连接有橡胶块。

优选地，所述定位机构包括转动连接在连接板内部两侧的第二螺纹杆，所述第二螺纹杆的外表面转动连接有移动杆，所述移动杆一侧的底部固定连接有定位块。

优选地，所述固定底座内部开设有放置槽，所述伺服电机的尺寸与固定底座内部开设放置槽的尺寸相适配。

优选地，所述工作台的顶部开设有限位槽，所述夹持板的底部设置有与工作台顶部开设限位槽尺寸相适配的滑块。

优选地，所述固定板内部开设有通孔，所述通孔的内表面设置有内螺纹，所述第一螺纹杆的尺寸与通孔的尺寸相适配，所述第一螺纹杆外表面设置有与内螺纹尺寸相适配的外螺纹。

优选地，所述连接板的底部开设有滑槽，所述移动杆的尺寸与连接板底部开设滑槽的尺寸相适配。

优选地，所述移动杆的顶部开设有移动孔，所述移动孔的内表面设置有内螺纹，所述第二螺纹杆的尺寸与移动孔的尺寸相适配，所述第二螺纹杆外表面设置有与内螺纹尺寸相适配的外螺纹。

优选地，所述探针本体的两侧均设置有定位槽，所述定位块的尺寸与探针本体两侧设置定位槽的尺寸相适配。

相比现有技术，本实用新型的有益效果为：

1、通过设置连接板、防护杆、防护板、弹簧、橡胶块、第二螺纹杆、移动杆和定位块，第二螺纹杆的转动定位块进行移动，从而对探针本体起到固定的效果，随后利用橡胶块和弹簧的设置起到防护效果，避免探针和被测样品会出现碰撞造成半导体损坏的情况，有利于提高半导体检测过程中的安全性，避免半导体资源浪费的情况；

2、通过设置伺服电机、转板、电动伸缩杆、工作台、固定板、第一螺纹杆和夹持板，伺服电机的工作带动转板进行转动，电动伸缩杆带动工作台进行升降，夹持板对半导体进行夹持的效果，避免因为不具备夹持转动和升降导致半导体在检测过程中存在不便的情况，有利于提高半导体检测的准确性，提高探针平台的使用率。

附图说明

图1为本实用新型提出的一种半导体检测用探针平台的三维结构示意图；

图2为本实用新型提出的一种半导体检测用探针平台的剖视图；

图3为本实用新型提出的一种半导体检测用探针平台的连接板、防护杆、防护板、弹簧和橡胶块连接关系示意图；

图4为本实用新型提出的一种半导体检测用探针平台的连接板、第一螺纹杆、移动杆和探针本体连接关系示意图。

图中：1、固定底座；2、固定架；3、伺服电机；4、转板；5、电动伸缩杆；6、工作台；7、固定板；8、第一螺纹杆；9、夹持板；10、连接板；11、防护杆；12、防护板；13、弹簧；14、橡胶块；15、探针本体；16、第二螺纹杆；17、移动杆；18、定位块；19、传送带。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。

参照图1-4，一种半导体检测用探针平台，包括固定底座1，固定底座1顶部的两侧均固定连接有固定架2，固定底座1的内部固定连接有伺服电机3，伺服电机3的输出端固定连接有转板4，转板4顶部的两侧均固定连接有电动伸缩杆5，电动伸缩杆5的顶部连接有工作台6，工作台6顶部的两侧均固定连接有固定板7，固定板7的内部连接有夹持机构；

固定架2顶部底端固定连接有连接板10，连接板10底部的两侧均固定连接有防护杆11，防护杆11的底部连接有防护机构，连接板10底部的中心处连接有探针本体15，连接板10的内部转动连接有定位机构，固定底座1的侧壁连接有传送带19；

伺服电机3的工作带动转板4进行转动，转板4的转动带动电动伸缩杆5和工作台6进行转动，电动伸缩杆5的工作带动工作台6进行升降，利用夹持机构对半导体进行夹持效果，同时利用防护机构对探针本体15起到保护效果，定位机构的设置满足对探针本体15进行更换和夹持的作用。

参照图1-2，夹持机构包括转动连接在固定板7内部的第一螺纹杆8，第一螺纹杆8的一侧转动连接有夹持板9，第一螺纹杆8的转动带动夹持板9进行移动，从而满足对半导体进行夹持的效果。

参照图1-3，防护机构包括固定连接在防护杆11底部的防护板12，防护板12的底部固定连接有弹簧13，弹簧13的底部固定连接有橡胶块14，橡胶块14和弹簧13的设置满足对半导体进行防护效果，避免探针本体15对半导体产生损坏的情况。

参照图2-4,定位机构包括转动连接在连接板10内部两侧的第二螺纹杆16，第二螺纹杆16的外表面转动连接有移动杆17，移动杆17一侧的底部固定连接有定位块18，第二螺纹杆16的转动带动移动杆17进行移动，移动杆17的移动带动定位块18进行移动，从而带动定位块18进行移动，满足对探针本体15进行固定安装的效果。

参照图1-2,固定底座1内部开设有放置槽，伺服电机3的尺寸与固定底座1内部开设放置槽的尺寸相适配，放置槽的设置满足对伺服电机3进行放置的效果。

参照图1-2,工作台6的顶部开设有限位槽，夹持板9的底部设置有与工作台6顶部开设限位槽尺寸相适配的滑块，滑块和限位槽的设置满足夹持板9稳定的在工作台6上进行滑动。

参照图1-2,固定板7内部开设有通孔，通孔的内表面设置有内螺纹，第一螺纹杆8的尺寸与通孔的尺寸相适配，第一螺纹杆8外表面设置有与内螺纹尺寸相适配的外螺纹，通孔、内螺纹和外螺纹的设置满足第一螺纹杆8在固定板7内进行转动，从而带动夹持板9进行移动，满足对半导体进行夹持的效果。

参照图3-4,连接板10的底部开设有滑槽，移动杆17的尺寸与连接板10底部开设滑槽的尺寸相适配，滑槽的设置满足移动杆17在连接板10内部稳定的滑动，从而带动定位块18对探针本体15起到夹持的效果。

参照图3-4,移动杆17的顶部开设有移动孔，移动孔的内表面设置有内螺纹，第二螺纹杆16的尺寸与移动孔的尺寸相适配，第二螺纹杆16外表面设置有与内螺纹尺寸相适配的外螺纹，移动孔、内螺纹和外螺纹的设置满足第二螺纹杆16的转动带动移动杆17进行移动的效果，从而带动定位块18进行移动。

参照图3-4,探针本体15的两侧均设置有定位槽，定位块18的尺寸与探针本体15两侧设置定位槽的尺寸相适配，定位槽的设置便于定位块18对探针本体15起到固定拆卸的效果。

本实用新型中，使用时，利用橡胶块14和弹簧13的设置满足探针本体15和半导体之间的安全性，当半导体进行检测时利用传送带19的设置起到输送半导体的作用，将半导体放置在工作台6上，随后转动第一螺纹杆8带动夹持板9在工作台6上进行滑动，移动到合适夹持的位置对半导体起到夹持的效果；

随后伺服电机3的工作带动转板4进行转动，转板4的转动带动电动伸缩杆5和工作台6进行转动，从而满足对半导体转动检测的效果，当半导体需要进行升降检测时，电动伸缩杆5的工作带动工作台6进行升降，从而满足升降检测效果；

当探针本体15需要进行更换时，转动第二螺纹杆16带动移动杆17进行移动，移动杆17的移动带动定位块18从探针本体15内抽出，将需要更换的探针放置在连接板10的底部，随后转动第二螺纹杆16带动移动杆17进行移动，从而利用定位块18对更换后的探针本体15起到夹持效果。

以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种半导体检测用探针平台，包括固定底座(1)，其特征在于，所述固定底座(1)顶部的两侧均固定连接有固定架(2)，所述固定底座(1)的内部固定连接有伺服电机(3)，所述伺服电机(3)的输出端固定连接有转板(4)，所述转板(4)顶部的两侧均固定连接有电动伸缩杆(5)，所述电动伸缩杆(5)的顶部连接有工作台(6)，所述工作台(6)顶部的两侧均固定连接有固定板(7)，所述固定板(7)的内部连接有夹持机构；

所述固定架(2)顶部底端固定连接有连接板(10)，所述连接板(10)底部的两侧均固定连接有防护杆(11)，所述防护杆(11)的底部连接有防护机构，所述连接板(10)底部的中心处连接有探针本体(15)，所述连接板(10)的内部转动连接有定位机构，所述固定底座(1)的侧壁连接有传送带(19)。

2.根据权利要求1所述的一种半导体检测用探针平台，其特征在于，所述夹持机构包括转动连接在固定板(7)内部的第一螺纹杆(8)，所述第一螺纹杆(8)的一侧转动连接有夹持板(9)。

3.根据权利要求1所述的一种半导体检测用探针平台，其特征在于，所述防护机构包括固定连接在防护杆(11)底部的防护板(12)，所述防护板(12)的底部固定连接有弹簧(13)，所述弹簧(13)的底部固定连接有橡胶块(14)。

4.根据权利要求1所述的一种半导体检测用探针平台，其特征在于，所述定位机构包括转动连接在连接板(10)内部两侧的第二螺纹杆(16)，所述第二螺纹杆(16)的外表面转动连接有移动杆(17)，所述移动杆(17)一侧的底部固定连接有定位块(18)。

5.根据权利要求2所述的一种半导体检测用探针平台，其特征在于，所述固定底座(1)内部开设有放置槽，所述伺服电机(3)的尺寸与固定底座(1)内部开设放置槽的尺寸相适配。

6.根据权利要求2所述的一种半导体检测用探针平台，其特征在于，所述工作台(6)的顶部开设有限位槽，所述夹持板(9)的底部设置有与工作台(6)顶部开设限位槽尺寸相适配的滑块。

7.根据权利要求2所述的一种半导体检测用探针平台，其特征在于，所述固定板(7)内部开设有通孔，所述通孔的内表面设置有内螺纹，所述第一螺纹杆(8)的尺寸与通孔的尺寸相适配，所述第一螺纹杆(8)外表面设置有与内螺纹尺寸相适配的外螺纹。

8.根据权利要求4所述的一种半导体检测用探针平台，其特征在于，所述连接板(10)的底部开设有滑槽，所述移动杆(17)的尺寸与连接板(10)底部开设滑槽的尺寸相适配。

9.根据权利要求4所述的一种半导体检测用探针平台，其特征在于，所述移动杆(17)的顶部开设有移动孔，所述移动孔的内表面设置有内螺纹，所述第二螺纹杆(16)的尺寸与移动孔的尺寸相适配，所述第二螺纹杆(16)外表面设置有与内螺纹尺寸相适配的外螺纹。

10.根据权利要求4所述的一种半导体检测用探针平台，其特征在于，所述探针本体(15)的两侧均设置有定位槽，所述定位块(18)的尺寸与探针本体(15)两侧设置定位槽的尺寸相适配。

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