CN218383155U - 三温分选设备 - Google Patents

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CN218383155U CN202221771632.4U CN202221771632U CN218383155U CN 218383155 U CN218383155 U CN 218383155U CN 202221771632 U CN202221771632 U CN 202221771632U CN 218383155 U CN218383155 U CN 218383155U
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王强
翁水才
尹默
胡勇强
张新
韩笑
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Abstract

本实用新型涉及集成电路测试技术领域,尤其涉及一种三温分选设备。一种三温分选设备包括底座、拾取机构及吸附机构,所述拾取机构及所述吸附机构均设于所述底座上,所述吸附机构包括支座及吸附组件,所述吸附组件连接于所述支座,所述拾取机构包括安装板和拾取组件,所述拾取组件连接于所述安装板,所述安装板及所述支座分别朝向靠近所述拾取机构及所述吸附机构的方向延伸,并相互连接,所述拾取机构的运动方向与所述吸附机构的运动方向平行设置。本实用新型的优点在于:能够简化结构,减小三温分选设备整体的体积。

Description

三温分选设备
技术领域
本实用新型涉及集成电路测试技术领域,尤其涉及一种三温分选设备。
背景技术
三温分选设备是对于芯片的性能进行测试的设备,能够在高温、底温、常温三种环境中测试芯片的性能。
现有的三温分选设备结构存在复杂、设备庞大的问题。
实用新型内容
有鉴于此,为解决背景技术中提出的技术问题,有必要提供一种三温分选设备。
一种三温分选设备包括底座、拾取机构及吸附机构,所述拾取机构及所述吸附机构均设于所述底座上,所述吸附机构包括支座及吸附组件,所述吸附组件连接于所述支座,所述拾取机构包括安装板和拾取组件,所述拾取组件连接于所述安装板,所述安装板及所述支座分别朝向靠近所述拾取机构及所述吸附机构的方向延伸,并相互连接,所述拾取机构的运动方向与所述吸附机构的运动方向平行设置。
如此设置,能够简化结构,减小三温分选设备整体的体积,通过安装板及支座的延伸连接,使得拾取组件和吸附组件能够各自运动而不会发生相互干涉。
在其中一个实施方式中,所述拾取组件连接于所述安装板靠近所述吸附组件的侧面,所述支座连接于所述安装板的顶部,所述支座远离所述安装板的一端连接于所述吸附组件的侧面。
如此设置,使得三温分选设备结构紧凑。
在其中一个实施方式中,所述拾取组件包括夹爪本体、第二连接板和支撑板,所述支撑板连接于所述安装板,所述第二连接板连接于所述支撑板的侧面,所述夹爪本体连接于所述第二连接板的底部。
如此设置,能够防止夹爪本体与第一横梁组件形成干涉。
在其中一个实施方式中,所述支座包括第一段和第二段,所述第一段与所述第二段垂直设置,所述第一段连接于所述安装板,所述吸附组件连接于所述第二段远离所述第一段的侧面。
在其中一个实施方式中,所述三温分选设备还包括第一横梁组件及导向机构,所述第一横梁组件能够沿着所述底座的宽度方向移动,所述支座与所述第一横梁组件滑动连接,所述吸附组件和所述拾取组件分别设于所述第一横梁组件的两侧且在所述第一横梁组件上滑动,所述导向机构设于所述第一横梁组件的一端并与所述底座连接,用于导向所述第一横梁组件的运动。
如此设置,吸附组件和拾取组件分别在第一横梁组件的两侧运动,能够加长吸附组件和拾取组件在第一横梁组件长度上的移动路径,并且,导向机构不仅对于第一横梁组件起到支撑作用,还起到导向作用。
在其中一个实施方式中,所述吸附组件为两个,两个所述吸附组件相互平行地连接于所述支座。
如此设置,能够加快对于芯片的吸附和释放的效率。
在其中一个实施方式中,所述三温分选设备还包括安装在底座(10)上的密封罩,所述密封罩形成密封的腔室,所述拾取机构(20)及所述吸附机构(30)均设于所述腔室外,所述密封罩上设有用于吸附机构(30)工作的开合门(411)。
如此设置,能够缓解结霜问题。
在其中一个实施方式中,当所述开合门(411)开启时,所述吸附机构(30)经所述开合门(411)伸入腔室内;当吸附机构(30)移出所述开合门(411)时,所述开合门(411)关闭。
如此设置,通过合理的布局,提高三温分选设备的工作效率。
在其中一个实施方式中,所述三温分选设备包括供收料区(402)、预温区(403)及测试区(404),所述供收料区(402)、所述预温区(403)均设于所述腔室外,所述测试区设于所述腔室内,且所述预温区(403)位于所述供收料区(402)及所述测试区(404)之间,所述拾取机构(20)和所述吸附机构(30)能够往返于所述供收料区(402)、所述预温区(403)及所述测试区(404)。
如此设置,通过合理的布局,减小三温分选设备的体积。
与现有技术相比,本实用新型通过将吸附机构集成在拾取机构上,并同时运动,不仅能够简化结构、减小三温分选设备的体积,还能够降低成本;通过连接板和支座延伸连接,能够使得吸附组件和拾取组件各自运动而不会发生干涉。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或传统技术中的技术方案,下面将对实施例或传统技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员而言,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本实用新型的拾取机构及吸附机构连接于第一横梁组件的立体图;
图2为图1中的A处的局部放大图;
图3为拾取机构和吸附机构连接于第一横梁组件的另一视角的立体图;
图4为第一横梁组件的部分结构示意图;
图5为拾取机构和吸附机构的立体图;
图6为拾取机构的一视角的立体图;
图7为拾取机构的另一视角的立体图;
图8为三温分选设备的俯视图;
图9为三温分选设备的后视图;
图10为三温分选设备的立体图;
图11为第一座体和第二座体的示意图。
图中各符号表示含义如下:
100、三温分选设备;10、底座;20、拾取机构;201、拾取组件;21、第一横梁组件;211、第一支架;2111、第一滑轨;2112、限位块;212、第一驱动轮;213、第一从动轮;214、第一传送带;215、第一支撑座;2151、第一滑槽;2152、第二凹槽;2153、滑块;2154、抵接块;22、第二横梁组件;231、支撑板;2311、第二滑轨;2321、第二滑槽;2322、第二支撑座;233、驱动模块;2331、第一驱动件;2332、第二驱动轮;2333、第二从动轮;2334、第二传送带;234、第二连接板;235、第二气缸;236、夹爪本体;2361、夹爪;237、安装板;30、吸附机构;301、吸附组件;31、支座;302、第一段;303、第二段;311、第一通孔;3111、第二凸起;312、第三滑轨;33、第一连接板;34、第一气缸;35、吸附模头;40、第一座体;401、第二座体;402、供收料区;403、预温区;404、测试区;411、开合门;430、测试机构;43、测压驱动结构;44、风琴管;50、制冷机;60、导向机构;61、导向板;62、导向轮;63、导向杆;70、干燥机构;80、供收料机构;81、供料仓;82、收料仓。
具体实施方式
为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂,下面结合附图对本实用新型的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本实用新型。但是本实用新型能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施,本领域技术人员可以在不违背本实用新型内涵的情况下做类似改进,因此本实用新型不受下面公开的具体实施例的限制。
需要说明的是,当组件被称为“固定于”或“设置于”另一个组件,它可以直接在另一个组件上或者也可以存在居中的组件。当一个组件被认为是“连接”另一个组件,它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中组件。本实用新型的说明书所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“上”、“下”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的,并不表示是唯一的实施方式。
此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本实用新型的描述中,“多个”的含义是至少两个,例如两个,三个等,除非另有明确具体的限定。
在本实用新型中,除非另有明确的规定和限定,第一特征在第二特征“上”、“下”可以是第一特征直接和第二特征接触,或第一特征和第二特征间接地通过中间媒介接触。而且,第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方,或仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方,或仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
除非另有定义,本实用新型的说明书所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的,不是旨在于限制本实用新型。本实用新型的说明书所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
请参见图8及图10,本实用新型提供的三温分选设备100,能够对于集成电路的芯片进行高温、低温及常温环境的性能测试。
具体地,三温分选设备100包括底座10、拾取机构20及吸附机构30,拾取机构20及吸附机构30均设于底座10上,拾取机构20用于对装有芯片的料盘进行抓取或下放,吸附机构30用于对于芯片进行吸附抓取或释放。
请参见图1及图3,吸附机构30能够运动,吸附机构30连接于拾取机构20,拾取机构20能够与吸附机构30同步运动。本实用新型通过将吸附机构30集成于拾取机构20上,能够简化结构,减小三温分选设备100整体的体积,使得三温分选设备100能够进出写字楼的电梯,实现小型化设计。
三温分选设备100还包括第一横梁组件21,第一横梁组件21能够沿着底座10的宽度方向运动。吸附机构30与第一横梁组件21可滑动地连接,拾取机构20与吸附机构30固定连接,吸附机构30能够沿着第一横梁组件21的往复移动,并带动拾取机构20运动。
第一横梁组件21包括第一支架211、第一驱动轮212、第一从动轮213及第一传送带214,第一驱动轮212及第一从动轮213分别连接于第一支架211的两端,并通过第一传送带214传动连接。吸附机构30连接于第一传送带214,第一驱动轮212带动第一传送带214传动,从而带动吸附机构30沿着第一支架211的长度方向运动。
在一实施例中,第一传送带214上设有多个间隔设置的第一凸起(图未示),第一驱动轮212及第一从动轮213均为带轮,第一传送带214通过第一凸起与第一驱动轮212及第一从动轮213啮合传动。
请参见图4,第一横梁组件21还包括第一支撑座215,第一支架211上设有第一滑轨2111,第一支撑座215上开设有第一滑槽2151,第一支撑座215通过第一滑槽2151在第一滑轨2111上运动,吸附机构30连接于第一支撑座215,以使吸附机构30沿着第一滑轨2111运动。
在一实施例中,第一支撑座215为两个,从而加强对于吸附机构30的导向及支撑作用。
第一支撑座215包括滑块2153及两个抵接块2154,两个抵接块2154分别连接于滑块2153的两端,第一支架211上设有限位块2112,限位块2112与其中一个抵接块2154抵接,对于第一支撑座215起到限位作用。
三温分选设备100还包括第二横梁组件22,第二横梁组件22连接于底座10,第一支架211连接于第二横梁组件22,使得第二横梁组件22能够带动第一横梁组件21沿着底座10的宽度方向,从而加大吸附机构30和拾取机构20的运动范围。
第一横梁组件21与第二横梁组件22垂直设置,使得拾取机构20和吸附机构30能够沿着X轴及Y轴方向运动。
请参见图6及图7,拾取机构20包括拾取组件201及安装板237,拾取组件201连接于安装板237,吸附机构30包括吸附组件301及支座31,吸附组件301与支座31连接;安装板237朝向吸附组件301的方向延伸,支座31朝向拾取组件201的方向延伸,安装板237连接于支座31,使得吸附机构30与拾取机构20集成,而拾取组件201吸附组件301不会发生相互干涉。
拾取组件201和吸附组件301分别设于第一横梁组件21的两侧,能够进一步加强三温分选设备100的结构紧凑性。
请参见图5,拾取组件201连接于安装板237靠近吸附组件301的侧面,支座31连接于安装板237的顶部,支座31远离安装板237的一端连接于吸附组件301的侧面。拾取组件201靠近吸附组件301设置,加强结构的紧凑性。
在一实施例中,安装板237呈“7”型,其一侧不会相对于顶部凸出,能够节省空间。
进一步地,拾取组件201包括支撑板231、夹爪本体236及第二连接板234,夹爪本体236连接于支撑板231靠近吸附组件301的侧面。第二连接板234可滑动地连接于安装板237的侧面,夹爪本体236连接于第二连接板234的底部。
在一实施例中,第二连接板234呈“L”型,“L”型的第二连接板234能够加大夹爪本体236与第二连接板234的接触面积,从而加强夹爪本体236的连接强度,还能够防止夹爪本体236与第一横梁组件21形成干涉。
夹爪本体236包括第二气缸235及两个夹爪2361,第二气缸235连接于第二连接板234,两个夹爪2361分别连接于第二气缸235,第二气缸235带动两个夹爪2361相对或相向运动,以抓取或释放料盘。
拾取组件201还包括驱动模块233,驱动模块233设于支撑板231上,驱动模块233连接于第二连接板234,能够驱动第二连接板234沿着垂直于第一横梁组件21的轴向及第二横梁组件22的轴向运动,即,驱动第二连接板234并带动夹爪本体236上下运动(Z轴),以抓取料盘或放置料盘。
驱动模块233包括第一驱动件2331、第二驱动轮2332、第二从动轮2333及第二传送带2334,第二驱动轮2332和第二从动轮2333均设于支撑板231上,第一驱动件2331连接于支撑板231,第一驱动件2331与第二驱动轮2332固定连接,第二驱动轮2332和第二从动轮2333通过第二传送带2334传动连接。
在一实施例中,第二传送带2334上设有多个间隔设置的第三凸起(图未示),第二驱动轮2332及第二从动轮2333均为带轮,第二传送带2334通过第三凸起与第二驱动轮2332及第二从动轮2333啮合传动。
第一驱动件2331为电机,电机的输出轴与第二驱动轮2332固定连接,且电机固定于支撑板231上。
支撑板231上设有第二滑轨2311,第二连接板234上开设有第二滑槽2321,第二滑轨2311设于第二滑槽2321内,第二连接板234连接于第二传送带2334,第二传送带2334带动第二连接板234沿着第二滑轨2311移动。第二驱动轮2332和第二从动轮2333上下相对设置,即,第二传送带2334的上下传送,从而带动夹爪本体236上下运动。
第二连接板234的一侧设有第二支撑座2322,第二支撑座2322内开设有第二通孔(图未示),第二通孔内壁设有多个间隔设置的第四凸起(图未示),位于第二通孔内的第三凸起与第四凸起相互配合卡接,即,第四凸起卡入第三凸起之间的间隙中,从而使得第二传送带2334能够带动第二连接板234及夹爪本体236运动。
支座31包括第一段302及第二段303,第二段303设于第一段302的一端并与第一段302垂直设置,第一段302和安装板237连接,吸附组件301连接于第二段303远离第一段302的侧面。如此,通过合理地布局,能够避免吸附组件301和第一横梁组件21及拾取组件201发生干涉。
第一段302和第二段303可形成“T”型、“7”型或“L”型。
支座31上开设有第一通孔311,第一传送带214穿设于第一通孔311内。第一通孔311内壁设有多个间隔设置的第二凸起3111,位于第一通孔311内的第一凸起与第二凸起3111配合,即,第二凸起3111卡入第一凸起之间的间隙内,使得第一传送带214运动带动的吸附组件301运动。
支座31的下表面开设有第一凹槽,部分第一支撑座215设于第一凹槽内,第一通孔311为两个,分别位于凹槽的两端,第一支撑座215与支座31固定连接,第一传送带214运动,带动支座31运动,从而带动第一支撑座215运动。
第一支撑座215上表面开设有第二凹槽2152,第二凹槽2152的两端贯穿第一支撑座215的侧面,第一传送带214依次穿设于其中一个第一通孔311、第二凹槽2152及另一个第一通孔311。
请参见图2,在一实施例中,吸附组件301为两个,两个吸附组件301平行地连接于支座31,能够分别对芯片进行拾取和释放,提高工作效率。
吸附组件301上开设有第三滑槽(图未示),支座31上设有第三滑轨312,第三滑轨312设于第三滑槽内。第三滑槽和第三滑轨312均沿着垂直于底座10的方向延伸,使得吸附组件301能够沿着第三滑轨312上下运动。
当吸附组件301为两个时,两个吸附组件301均设置有第三滑槽,两个第三滑槽平行设置,第三滑轨312也为两个,两个第三滑轨312平行且间隔设置。
吸附组件301包括第一连接板33、第一气缸34及吸附模头35,第三滑槽开设于第一连接板33上,第一气缸34设于第一连接板33上,吸附模头35连接于第一气缸34。第一气缸34能够产生负压,使得吸附模头35吸附芯片。
当吸附组件301为两个时,第一连接板33也为两个,两个第一连接板33平行且间隔设置,防止两个吸附模头35和两个第一气缸34上下运动时形成干涉。
吸附机构30还包括驱动组件(图未示),驱动组件连接于吸附组件301,用于驱动吸附组件301沿着第三滑轨312上下运动。
当吸附组件301为两个时,驱动组件也为两个,两个驱动组件分别连接一个吸附组件301,使得吸附组件301能够各种运动,互不干涉。
两个吸附组件301相互靠近,两个驱动组件分别设于吸附组件301远离相邻的吸附组件301的一侧。
驱动组件包括第三驱动件(图未示)、第三驱动轮(图未示)、第三从动轮(图未示)及第三传送带(图未示),第三驱动件与第三驱动轮固定连接,第三驱动轮与第三从动轮通过第三传动带传动连接。第三传动带上设有多个间隔设置的第四凸起(图未示),第三驱动轮及第二从动轮均为带轮,第三传送带通过第四凸起与第三驱动轮及第三从动轮啮合传动。
第三驱动件为电机,电机的输出轴与第三驱动轮固定连接。
请参见图11,三温分选设备100还包括安装在底座10上的密封罩以及形成于密封罩和底座10之间的密封腔室,所述密封罩可以是一体设置、也可以是分体设置。优选的实施例中密封罩包括第一座体40及第二座体401,第一座体40设于底座10上,第二座体401与第一座体40配合形成密封的腔室,密封的腔室能够减少外部气体的进入,能够缓解腔室内部的结霜现象。第二座体401上设有开合门411,开合门411能够打开或关闭,用于吸附机构30的工作,比如吸附芯片或释放芯片。
三温分选设备100包括供收料区402、预温区403及测试区404,供收料区402用于料盘的放置,预温区403用于对于芯片进行温度控制,测试区404用于对芯片进行测试。
供收料区402、预温区403均设于腔室外部,所述测试区设于腔室内部,预温区403位于供收料区402与测试区404之间,所述拾取机构20和所述吸附机构30能够往返于所述供收料区402、所述预温区403及所述测试区404。芯片需要常温测试环境时,所述拾取机构20和所述吸附机构30只需要往返于供收料区402和测试区404;芯片需要高温测试环境时,所述拾取机构20和所述吸附机构30需要往返于供收料区402和预温区403,然后所述拾取机构20和所述吸附机构30再往返于预温区403和测试区404;芯片需要低温测试环境时,所述拾取机构20和所述吸附机构30需要往返于供收料区402和测试区404,然后所述拾取机构20和所述吸附机构30再往返于预温区403和测试区404,最后所述拾取机构20和所述吸附机构30往返于预温区403和供收料区402;芯片需要常温测试环境时,所述拾取机构20和所述吸附机构30往返于供收料区402和测试区404通过合理的布局,能够减小三温分选设备100的体积。
三温分选设备100还包括测试机构430和与测试机构430配合输送芯片的输送机构(图未识),测试机构430和输送机构位于测试区404内,用于完成对芯片的性能进行测试。
吸附机构30可以从供收料区402或从预温区403向输送机构输送芯片的。吸附机构30也可以从输送机构向供收料区402或所述预温区403输送芯片。输送方式可以通过第二座体401的开合门411实现。优选的实施例一:当所述开合门411开启时,所述吸附机构30经所述开合门411伸入腔室内,将待测芯片放入到输送机构上或者从输送机构上吸附芯片;当吸附机构30空载移出或者吸附芯片移出所述开合门411时,所述开合门411关闭,保证腔室内测试环境的密封性能。优选的实施例二:当所述开合门411开启时,所述输送机构通过开合门411移出腔室外,所述吸附机构30运动到输送机构的等待位上进行释放芯片或吸附芯片;当所述输送机构空载或承载芯片移入到腔室内,所述开合门411关闭,保证腔室内测试环境的密封性能。不限于上述实施方式,只要能实现芯片可以转运到密封的腔室内的技术方案。同样实现芯片转运的吸附机构30也不限于本实用新型保护的吸附机构,只要是可以实现吸附或释放芯片的吸附机构均可。
请参见图8及图9,测试机构430包括测压驱动结构43、由测压驱动结构控制的测压头(图未识)及风琴管44,测压头设于测试区404内,风琴管44设于测压驱动结构43的一端。测压驱动结构43能够控制测压头从输送机构上取放芯片以及为测压头提供压力完成对芯片测试。由于风琴管44能够伸缩,从而能够随着测压头运动做伸缩运动,测压头与芯片接触,以给芯片施加所需的压力,风琴管44此时对于芯片起到缓冲保护作用。
测压头远离芯片的一端还可以设有缓冲件(图未示),在测压头压制住芯片时,测压头在缓冲件的作用下能够朝向远离芯片的方向微微运动,防止测压头压力损坏芯片。缓冲件可为弹性件、滚珠轴承或直线轴向。
三温分选设备100还包括外置的干燥机构70,干燥机构70连接于腔室,能够对腔室内吹气,保证腔室内干燥,缓解结霜问题。
三温分选设备100还包括外置的制冷机50及内置的加热棒,加热棒设于测试机构430内,制冷机50与测试机构430连通,加热棒用于控制高温环境,制冷机50用于控制低温环境。
将干燥机构70和制冷机50外置可以简化三温分选设备100的底座10上结构布局,实现小型化。三温分选设备100还包括导向机构60,导向机构60连接于第一支架211远离第二横梁组件22的一端,用于导向第一横梁组件21的运动。
导向机构60包括导向板61、导向杆63及多个导向轮62,导向杆63连接于底座10,导向板61连接于第一支架211,导向轮62设于导向杆63上,并能够在导向杆63上旋转。多个导向轮62间隔设置,并至少有两个导向轮62分别设于导向杆63的两侧,导向轮62的外侧与导向杆63的侧面抵接,导向轮62在导向杆63上滚动,既能够导向第一支架211的运动,还能够减少摩擦。
导向轮62为三个,三个导向轮62形成三角形结构,以加强导向的稳定性。
三温分选设备100还包括供收料机构80,供收料机构80设于供收料区402内,用于供料或收料。
供收料机构80包括供料仓81及收料仓82,待测的芯片存放至供料仓81内,测试完成后的芯片存放至收料仓82内。
供料仓81及收料仓82内的料盘均通过自动堆栈方式存放料盘,从而减少三温分选设备100的体积。
在高温测试过程中,通过吸附机构30将芯片从供料仓81运送至预温区403预温,预温完毕后,吸附机构30吸附芯片运输到输送机构上,测压头从输送机构上吸附芯片放到测试位,测压头继续向下运动对芯片进行测压,测试完毕后,测压头再将芯片放置于输送机构上,通过吸附机构30将测试后的芯片运送至供收料区402的收料仓82内存放,所述拾取机构20负责将供收料区402的供料仓81里空盘移转到收料仓82内。
在低温测试过程中,吸附机构30将芯片从供料仓81运送至测试区404内完成测试,运送的方式和测试过程与高温测试过程相同,测试完毕后,吸附机构30将测试后的芯片再运送到预温区403进行回温,使测试后的芯片进行温度调节,最后,吸附机构30将回温后的芯片运送到供收料区402的收料仓82内存放,拾取机构20工作过程与高温测试过程相同。
在常温测试过程中,吸附机构30将芯片从供料仓81运送至测试区404内完成测试,然后吸附机构30将测试后的芯片运送到供收料区402的收料仓82内存放,其余中间过程同上述两个测试过程。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对申请专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本实用新型的保护范围。因此,本实用新型的专利保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种三温分选设备,包括底座(10)、拾取机构(20)及吸附机构(30),所述拾取机构(20)及所述吸附机构(30)均设于所述底座(10)上,其特征在于:
所述吸附机构(30)包括支座(31)及吸附组件(301),所述吸附组件(301)连接于所述支座(31),所述拾取机构(20)包括安装板(237)和拾取组件(201),所述拾取组件(201)连接于所述安装板(237),所述安装板(237)及所述支座(31)分别朝向靠近所述拾取机构(20)及所述吸附机构(30)的方向延伸,并相互连接,所述拾取机构(20)的运动方向与所述吸附机构(30)的运动方向平行设置。
2.根据权利要求1所述的三温分选设备,其特征在于,所述拾取组件(201)连接于所述安装板(237)靠近所述吸附组件(301)的侧面,所述支座(31)连接于所述安装板(237)的顶部,所述支座(31)远离所述安装板(237)的一端连接于所述吸附组件(301)的侧面。
3.根据权利要求2所述的三温分选设备,其特征在于,所述拾取组件(201)包括夹爪本体(236)、第二连接板(234)和支撑板(231),所述支撑板(231)连接于所述安装板(237),所述第二连接板(234)连接于所述支撑板(231)的侧面,所述夹爪本体(236)连接于所述第二连接板(234)的底部。
4.根据权利要求1所述的三温分选设备,其特征在于,所述支座(31)包括第一段(302)和第二段(303),所述第一段(302)与所述第二段(303)垂直设置,所述第一段(302)连接于所述安装板(237),所述吸附组件(301)连接于所述第二段(303)远离所述第一段(302)的侧面。
5.根据权利要求1所述的三温分选设备,其特征在于,所述三温分选设备还包括第一横梁组件(21)及导向机构(60),所述第一横梁组件(21)能够沿着所述底座(10)的宽度方向移动,所述支座(31)与所述第一横梁组件(21)滑动连接,所述吸附组件(301)和所述拾取组件(201)分别设于所述第一横梁组件(21)的两侧且在所述第一横梁组件(21)上滑动,所述导向机构(60)设于所述第一横梁组件(21)的一端并与所述底座(10)连接,用于导向所述第一横梁组件(21)的运动。
6.根据权利要求5所述的三温分选设备,其特征在于,所述第一横梁组件(21)包括第一支架(211)、第一驱动轮(212)、第一从动轮(213)及第一传送带(214),所述第一驱动轮(212)及所述第一从动轮(213)分别设于所述第一支架(211)的两端,并通过所述第一传送带(214)传动连接,所述支座(31)连接于所述第一传送带(214),所述第一驱动轮(212)带动所述第一传送带(214)传动,以带动所述拾取机构(20)和所述吸附机构(30)运动。
7.根据权利要求1所述的三温分选设备,其特征在于,所述吸附组件(301)为两个,两个所述吸附组件(301)相互平行地连接于所述支座(31)。
8.根据权利要求1所述的三温分选设备,其特征在于,所述三温分选设备还包括安装在底座(10)上的密封罩,所述密封罩形成密封的腔室,所述拾取机构(20)及所述吸附机构(30)均设于所述腔室外,所述密封罩上设有用于吸附机构(30)工作的开合门(411)。
9.根据权利要求8所述的三温分选设备,其特征在于,当所述开合门(411)开启时,所述吸附机构(30)经所述开合门(411)伸入腔室内;当吸附机构(30)移出所述开合门(411)时,所述开合门(411)关闭。
10.根据权利要求8所述的三温分选设备,其特征在于,所述三温分选设备包括供收料区(402)、预温区(403)及测试区(404),所述供收料区(402)、所述预温区(403)均设于所述腔室外,所述测试区设于所述腔室内,且所述预温区(403)位于所述供收料区(402)及所述测试区(404)之间,所述拾取机构(20)和所述吸附机构(30)能够往返于所述供收料区(402)、所述预温区(403)及所述测试区(404)。
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