CN115097228A - 高低温自动测试系统 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种高低温自动测试系统,属于高低温测试技术领域,包括高低温测试单元和自动上下料单元;高低温测试单元包括烘箱、设于烘箱内的测试夹具以及多维取放机构,多维取放机构用于将送入烘箱内料盘上的待测产品移动至测试夹具进行测试,并将测试后的产品取回至料盘上;烘箱的侧面设有供料盘进入的进料门;自动上下料单元包括上下料机构、物料传输机构、进料机构及进料门自动打开机构;上下料机构将料盘送入物料传输机构,进料门自动打开机构将进料门打开,进料机构将料盘经进料门送入烘箱;测试后的产品料盘经进料机构、物料传输机构返回至上下料机构,下料取走。本发明提供的高低温自动测试系统,自动化程度高,测试效率高,测试精度高。
Description
技术领域
本发明属于高低温测试技术领域,具体涉及一种高低温自动测试系统。
背景技术
半导体电子元器件产品通常需要进行高、低温应用环境的可靠性试验。搭载电子元器件的整机设备要求能够应用于各种极端天气环境,则要求保证各类电子元器件能够在极端环境中保持正常性能,因此需要对各类电子元器件,在高、低温的环境中,检验其各项性能指标。
现有的高低温测试机为内置温度控制系统的箱体结构,打开箱体门,将若干待测产品放入箱体内,然后关闭箱体门,通过温度控制系统对箱体内的高低温度变化设置,使产品处于高低温环境中。上述现有的高低温测试机存在如下的缺陷:①自动化测试程度低,只能通过人力进行待测产品的取放;②对于测试夹具不能置于烘箱内的待测产品,需待产品达到预期温度后将其取出烘箱再进行测试,导致测试时待测产品温度发生变化;③对于需取出后进行测试的待测产品,烘箱在低温环境下打开箱体门会导致烘箱内部和待测产品表面结霜,妨碍待测产品的性能测试和烘箱的连续使用。目前针对这些问题并没有很好的解决方案,因此,电子元器件产品在高低温环境下的自动测试一直是电子元器件生产和测试的瓶颈,且市场上的制冷设备昂贵、人力短缺,导致电子元器件的测试成本较高且测试效率低下。
发明内容
本发明实施例提供一种高低温自动测试系统,旨在解决现有的电子元器件在高低温测试过程中存在的自动化程度低、测试效率低下、产品测试温度不准确、测试烘箱不能长时间连续工作等问题。
为实现上述目的,本发明采用的技术方案是:提供一种高低温自动测试系统,包括:高低温测试单元和自动上下料单元;
所述高低温测试单元包括烘箱、设于所述烘箱内的测试夹具以及多维取放机构,所述多维取放机构用于将送入烘箱内料盘上的待测产品移动至所述测试夹具进行测试,并将测试后的产品取回至所述料盘上;所述烘箱的侧面设有供料盘进入的进料门;
所述自动上下料单元,包括上下料机构、物料传输机构、进料机构及进料门自动打开机构;所述上下料机构将料盘送入所述物料传输机构,所述进料门自动打开机构将所述进料门打开,所述进料机构将所述物料传输机构传输的料盘经所述进料门送入所述烘箱,所述进料门自动打开机构将所述进料门关闭测试;
测试后的产品料盘经所述进料机构、所述物料传输机构返回至所述上下料机构,下料取走。
在一种可能的实现方式中,所述上下料机构包括上料升降模组、水平上料模组以及料箱,所述上料升降模组的上端设有料箱托板,所述水平上料模组将处于同一水平的料盘推入所述物料传输机构。
在一种可能的实现方式中,所述物料传输机构包括传输子机构、用于顶升料盘的顶料模组、用于将返回的料盘送入所述料箱的水平下料模组以及设置于所述顶料模组上的升降板,所述顶料模组顶升处于所述升降板上的料盘,以使所述进料机构夹持进料;其中,所述顶料模组处于靠近所述进料门的一侧,所述水平下料模组处于所述顶料模组近所述料箱的一侧,所述顶料模组和所述水平下料模组处于所述传输子机构的传输底板上,所述顶料模组的推杆向上穿过所述传输底板以支撑所述升降板。
在一种可能的实现方式中,所述水平下料模组包括下料滑轨、与所述下料滑轨滑动配合的水平下料气缸以及连接于所述水平下料气缸的弹性推杆,所述弹性推杆朝向所述料箱的一侧伸缩,通过移动将料盘推送回所述料箱,所述上料升降模组配合升降使所述料盘层叠于所述料箱内。
在一种可能的实现方式中,所述物料传输机构还包括限位杆,所述限位杆装配于所述传输子机构的支撑板上,所述弹性推杆压制于所述限位杆下,以避免干扰处于传输线上的料盘。
在一种可能的实现方式中,所述弹性推杆为弹片结构,其端部设有橡胶块;所述限位杆上设有于所述弹片抵压接触的限位滑轮。
在一种可能的实现方式中,所述进料机构包括进料底板、装配于所述进料底板下方的水平进料模组、连接于所述水平进料模组的进料升降模组以及连接于所述进料升降模组的夹紧气缸;所述夹紧气缸的夹爪夹持处于所述物料传输机构上的料盘,送入所述烘箱。
在一种可能的实现方式中,所述进料门自动打开机构包括直线推杆,所述直线推杆的底座铰接于所述自动上下料单元的上下料支架上,所述直线推杆的伸缩杆铰接于所述进料门的上端,所述进料门的下端通过门轴转动连接于所述烘箱的外侧。
在一种可能的实现方式中,所述多维取放机构包括X轴驱动子机构、Y轴驱动子机构和Z轴驱动子机构,所述Z轴驱动子机构的驱动杆上设有用于吸取待测产品的吸嘴;
所述高低温测试单元还包括移动平台,所述移动平台包括固定底板、平行于所述固定底板的立板、沿X轴移动的X向移动板、沿Y轴移动的Y向移动板,所述X向移动板、所述Y向移动板立板上,所述测试夹具位于所述固定底板上,所述X向移动板的移动方向与所述物料传输机构的输送方向平行,所述Y向移动板位于所述X向移动板上。
在一种可能的实现方式中,所述移动平台还包括X向拉紧弹簧和Y向拉紧弹簧,所述X向拉紧弹簧连接于所述立板或所述固定底板与所述X向移动板之间,所述Y向拉紧弹簧连接于所述X向移动板与所述Y向移动板之间。
本发明提供的高低温自动测试系统,与现有技术相比,有益效果在于:通过自动上下料单元的上下料机构完成待测产品的上下料,并经过物料传输机构、进料机构及进料门自动打开机构,实现将待测产品由常温区送入高低温测试单元,进而通过多维取放机构实现待测产品在测试区烘箱内的连续自动测试,根本性地解决了待测产品无法在高低温测试环境下进行连续测试的难题,保证了高低温测试的准确性,提升了测试效率。
附图说明
图1为本发明实施例提供的高低温自动测试系统的结构示意图一;
图2为本发明实施例提供的高低温自动测试系统的结构示意图二;
图3为本发明实施例提供的自动上下料单元的结构示意图一;
图4为本发明实施例提供的自动上下料单元的结构示意图二;
图5为本发明实施例提供的自动上下料单元的结构示意图三;
图6为本发明实施例提供的自动上下料单元的结构示意图四;
图7为本发明实施例提供的自动上下料单元的上料升降模组的结构示意图;
图8为本发明实施例提供的自动上下料单元的物料传输机构的结构示意图一;
图9为本发明实施例提供的自动上下料单元的物料传输机构的结构示意图二;
图10为本发明实施例提供的自动上下料单元的进料机构的结构示意图一;
图11为本发明实施例提供的自动上下料单元的进料机构的结构示意图二;
图12为本发明实施例提供的高低温测试单元的外观结构示意图;
图13为本发明实施例提供的高低温测试单元的内部结构示意图一;
图14为本发明实施例提供的高低温测试单元的内部结构示意图二;
图15为本发明实施例提供的高低温测试单元的内部结构示意图三;
图16为本发明实施例提供的高低温测试单元的内部结构示意图四;
附图标记说明:
1、氮气置换舱;101、取料门;
2、烘箱;201、箱门;202;进料门;
3、进料机构;301、夹紧气缸;302、进料升降模组;303、水平进料模组;304、进料底板;305、导向杆;
4、水平上料模组;5、上料升降模组;
6、物料传输机构;601、传输底板;602、水平下料气缸;603、弹性推杆;604、皮带轮组;605、限位挡块;606、升降板;607、限位滑轮;608、限位杆;609、橡胶块;610、下料滑轨;
7、进料门自动打开机构;
8、Z轴驱动子机构;801、吸嘴;802、承板;
9、移动平台;901、X向移动板;902、Y向拉紧弹簧;903、X向拉紧弹簧;904、固定底板;905、Y向移动板;
10、控制箱;11、制冷机组;12、支脚;13、万向轮;14、上下料支架;15、控制系统;16、顶料模组;17、料盘;18、料箱;19、料箱托板;20、高低温测试支架;21、Y轴驱动子机构;22、X轴驱动子机构;23、测试夹具。
具体实施方式
为了使本发明所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
请一并参阅图1至图16,现对本发明提供的高低温自动测试系统进行说明。所述高低温自动测试系统,包括高低温测试单元和自动上下料单元;高低温测试单元包括烘箱2、设于烘箱2内的测试夹具23以及多维取放机构,多维取放机构用于将送入烘箱2内料盘17上的待测产品移动至所述测试夹具进行测试,并将测试后的产品取回至料盘17上;烘箱2的侧面设有供料盘17进入的进料门202。
参见图1至图11,自动上下料单元包括上下料机构、物料传输机构6、进料机构3及进料门自动打开机构7;上下料机构将料盘17送入物料传输机构6,进料门自动打开机构7将进料门202打开,进料机构3将物料传输机构6传输的料盘17经进料门202送入烘箱2,进料门自动打开机构7将进料门202关闭测试。
测试后的产品料盘17经进料机构3、物料传输机构6返回至上下料机构,下料取走。
本实施例提供的高低温自动测试系统,与现有技术相比,通过自动上下料单元的上下料机构完成待测产品的上下料,并经过物料传输机构6、进料机构3及进料门自动打开机构7,实现将待测产品由常温区送入高低温测试单元,进而通过多维取放机构实现待测产品在测试区烘箱2内的连续自动测试,根本性地解决了待测产品无法在高低温测试环境下进行连续测试的难题,保证了高低温测试的准确性,提升了测试效率。
本发明提供的高低温自动测试系统,不仅能够实现待测产品的自动上料,还能够实现测试后的产品的自动下料,也即,经测试的产品料盘17原路返回到上下料机构的料箱18内。测试过程无需人力参与,自动化程度高;测试夹具置于高低温测试的烘箱2内,通过多维取放机构,将待测产品取放到测试夹具上,再将测试后的产品取放回料盘17上,测试产品无需取出烘箱2,大大提高了测试的电子元器件的测试精准性,降低了测试成本,提高了测试效率。
可选地,整个系统还包括氮气置换舱1,自动上下料单元全部在氮气置换舱1内,氮气为惰性气体,不会对产品造成污染,舱体内的氮气氛围,可避免仓体内气体含有水蒸气的问题。在完成待测产品的上下料之后,通过氮气置换舱1降低高低温烘箱2与外界连接处的水汽含量从而达到防止结霜的效果,进而实现待测产品在常温区与高低温测试区之间的运送,实现待测产品在高低温区内的连续自动测试,根本性地解决了待测产品无法在高低温测试环境下进行连续测试的难题,有效地防止了低温区在接触常温气体后的结霜现象。
氮气置换舱1内氮气可采用现有氮气置换技术即可实现。氮气置换舱1的正对料箱18的位置设有取料门101,以便于将待检测产品的料盘17放入,并将检测后的产品料盘17取出。
本发明提供的高低温测试系统,其中,自动上下料单元的个机构安装于上下料支架14上,高低温测试单元的各部分安装于高低温测试支架20上。
参见图1及图2,为了便于支撑和移动,在氮气置换舱1的底部及高低温测试单元箱体的底部均设有支脚12和万向轮13,同时,在烘箱2上设有箱门201及箱门201上设有观察窗口。烘箱2内的温度根据预设要求调节。烘箱2选用现有的设备,示例性地,本实施例烘箱2包括制冷机组11、控制箱10和保温内胆,所述保温内胆用于安放移动平台9,制冷机组11为烘箱2提供热空气与冷空气,并与保温内胆制造测试所需的高低温环境,控制箱10对测试区烘箱2进行程序控制。
作为本发明实施例提供的高低温自动测试系统的一种具体实施方式,参见图3至图7,上下料机构包括上料升降模组5、水平上料模组4以及料箱18,上料升降模组5的上端设有料箱托板19,水平上料模组4将处于同一水平的料盘17推入物料传输机构6。
本实施例中,参见图6所示,料箱18至少包括相对的两个挡板和一个料箱底板,多个料盘17层叠于两个挡板之间,对料盘17实现限位,防止料盘17倾斜滑落,其中,在两个挡板上对应的设有多个对料盘17支撑并限位的导向槽,通过导向槽的支撑及导向,控制料盘17之间的距离,并便于将任一层料盘17推出或将测试后的料盘17推入;料箱托板19随上料升降模组5上下移动,当水平上料模组4按照预设顺序顶推任一层料盘17进入传输机构后,上料升降模组5顶升料箱18托板一个料盘17的位置,以使水平上料模组4继续推送下一个具有待测产品的料盘17。同理地,当测试后的产品料盘17返回到料箱18时,通过上料升降模组5的升降,以实现水平下料模组水平的将测试后的产品料盘17推送入料箱18内,完成测试料盘17的自动复位。
上料升降模组5和水平上料模组4可以选用电动滑台、电动推杆、液压缸、气缸、丝杆升降、滚珠传动、链传动等线性执行器中的任一种。其中,上料升降模组5和水平上料模组4均安装于上下料支架14上。
料盘17上设有多个放置测试产品的支撑位,本实施例中支撑位为适配待测产品的凹槽。凹槽呈矩形阵列或圆形阵列分布。
在一些实施例中,参见图8及图9,物料传输机构6包括传输子机构、用于顶升料盘17的顶料模组16、用于将返回的料盘17送入料箱18的水平下料模组以及设置于顶料模组16上的升降板606,顶料模组16顶升处于升降板606上的料盘17,以使进料机构3夹持进料;其中,顶料模组16处于靠近进料门202的一侧,水平下料模组处于顶料模组16近料箱18的一侧,顶料模组16和水平下料模组处于传输子机构的传输底板601上,顶料模组16的推杆向上穿过传输底板601以支撑升降板606。
物料传输机构6将待测产品的料盘17传输至进料机构3夹持的位置,并将防止于该位置的测试产品的料盘17传输至靠近料箱18,以便于水平下料模组将料盘17推送至料箱18内。
可选地,参见图8及图9,传输子机构采用链传动或带传动,示例性地,传输子机构包括传输底板601、设置于传输底板601上的支撑板、位于支撑板内侧的皮带轮组604、位于支撑板外侧的驱动电机以及位于支撑板上的限位挡块605,被水平上料模组4推送至皮带轮组604上,向前输送至进料位置后,被限位挡块605止挡,此时,料盘17处于顶料模组16及升降板606的正上方,通过顶料模组16的顶升,料盘17离开皮带轮组604,以便于进料机构3的夹爪的夹持。
本实施例中,参见图8及图9,皮带轮组604包括一个主动轮和四个从动轮,主动轮经由驱动电机驱动后进行转动,通过皮带轮组604带动皮带进行运动,驱动电机的正反转可实现皮带的往复运动;待测产品料盘17通过皮带的带动向前运行,碰到限位挡块605后顶停止向前,此时,固定于传输底板601上的顶料模组16带动升降板606进行升降动作,升降板606将待测产品料盘17抬升到指定高度,进而由进料机构3将其取走。
当料盘17返回时,皮带轮组604向料箱18方向输送料盘17,此过程中皮带无法将料盘17全部送回至料箱18内,当料盘17越过水平下料模组的弹性推杆603后,水平下料气缸602脱离限位滑轮607的限制弹起,并带动弹性推杆603向前推出,并推动料盘17向料箱18内移动,直至料盘17层叠在料箱18内,测试后的料盘17在弹性推杆603的推动作用下充分回到料箱18内。
可选地,顶料模组16和水平下料模组可以选用电动滑台、直线滑台、电动推杆、液压缸、气缸、丝杆升降、滚珠丝杠等线性执行器中的任一种。其中,顶料模组16安装在传输底板601的下面,水平下料模组安装在传输底板601的上面。
在本实施例中,参见图8及图9,水平下料模组包括下料滑轨610、与下料滑轨610滑动配合的水平下料气缸602以及连接于水平下料气缸602的弹性推杆603,弹性推杆603朝向料箱18的一侧伸缩,通过移动将料盘17推送回料箱18,上料升降模组5配合升降使料盘17层叠于料箱18内。利用弹性推杆603的弹性,在料盘17向烘箱2方向移动时,可避免对料盘17的干涉;在料盘17向料箱18方向移动时,首先避免对料盘17的干涉,当料盘17移动越过弹性推杆603后,水平下料气缸602沿下料滑轨610向料箱18方向移动,带动弹性推杆603推动料盘17向料箱18移动。如图6所示,为水平下料气缸602两种状态的示意图,也即弹性推杆603在限位杆608下压制状态的示意图以及下料气缸向前移动,将料盘17推入料箱18状态的示意图。
在一些可能的实施例中,参见图8及图9,物料传输机构6还包括限位杆608,限位杆608装配于传输子机构的支撑板上,弹性推杆603压制于限位杆608下,以避免干扰处于传输线上的料盘17。当弹性推杆603随水平下料气缸602向烘箱2方向移动,直至弹性推杆603压制在限位杆608下;当水平下料气缸602向料箱18方向移动,回收料盘17时,弹性推杆603移动直至脱离限位杆608的压制,将料盘17推送至料箱18内。可选地,弹性推杆603与下料气缸通过轴铰接相连,其中下料气缸也可以为滑块即可,滑块沿下料滑轨610往复移动。
可选地,参见图8及图9,弹性推杆603为弹片结构,其端部设有橡胶块609;限位杆608上设有于弹片抵压接触的限位滑轮607。通过设置的橡胶块609推动料盘17,可避免对料盘17的损坏,同时,弹性推杆603向烘箱2方向移动时,橡胶块609与限位杆608相接形成止挡限位,对下料气缸实现限位的作用。而限位滑轮607与弹性推杆603的滚动摩擦,降低了弹性推杆603运动的阻力。
作为一种可能的实现方式,参见图10及图11,进料机构3包括进料底板304、装配于进料底板304下方的水平进料模组303、连接于水平进料模组303的进料升降模组302以及连接于进料升降模组302的夹紧气缸301;夹紧气缸301的夹爪夹持处于物料传输机构6上的料盘17,送入烘箱2。水平进料模组303为直线滑台、滚珠丝杠、齿轮齿条等直线导轨的任一种,进料升降模组302为升降气缸、电动推杆等直线执行器中的任一种,水平进料模组303水平直线往复移动,进料升降模组302升降实现料盘17的夹取和放开,夹爪便于通过进料门202将料盘17放入烘箱2内的移动平台9上,也便于伸入烘箱2将移动平台9上的测试后的料盘17取走。
作为一种可能的实现方式,参见图2至图6,进料门自动打开机构7包括直线推杆,直线推杆的底座铰接于自动上下料单元的上下料支架14上,直线推杆的伸缩杆铰接于进料门202的上端,进料门202的下端通过门轴转动连接于烘箱2的外侧。通过设置的进料门自动打开机构7,实现自动上下料单元与高低温测试单元之间的连接,可选地,直线推杆的底座铰接在氮气置换舱1的底板上。通过直线推杆的伸缩,实现进料门202的向下向上旋转,进而将进料门202打开或闭合。其中,直线推杆为电动推杆、气缸、液压缸中的任一种。
作为一种可能的实现方式,参见图12至图16,多维取放机构包括X轴驱动子机构22、Y轴驱动子机构21和Z轴驱动子机构8,Z轴驱动子机构8的驱动杆上设有用于吸取待测产品的吸嘴801。本实施例提供的多维取放机构为三自由度移动,X轴驱动子机构22采用齿轮齿条的移动方式,Y轴驱动子机构21为电动推杆或气缸;Z轴驱动子机构8包括电动推杆或气缸的直线执行器,以及旋转电机带动的旋转杆,吸嘴801安装在旋转杆端部的承板802上,通过升降和旋转的动作,实现吸嘴801的取放。吸嘴801吸取电子元件,防止对电子元件的破坏,通过三维移动及一个旋转的运动,将待测产品放置在测试夹具上,再将经测试的产品取回到料盘17的原始位置。
作为本发明实施例提供的高低温自动测试系统的一种具体实施方式,参见图13至图16,高低温测试单元还包括移动平台9,移动平台9包括固定底板904、平行于固定底板904的立板、沿X轴移动的X向移动板901、沿Y轴移动的Y向移动板905,X向移动板901、Y向移动板905立板上,测试夹具23均位于固定底板904上,X向移动板901的移动方向与所述物料传输机构6的输送方向平行,Y向移动板905位于X向移动板901上。
作为一种可能的实现方式,参见图16,移动平台9还包括X向拉紧弹簧903和Y向拉紧弹簧902,X向拉紧弹簧903连接于立板或固定底板904与X向移动板901之间,Y向拉紧弹簧902连接于X向移动板901与Y向移动板905之间。X向拉紧弹簧903和Y向拉紧弹簧902可使X向移动板901和Y向移动板905紧靠在驱动元件的一侧,该布置有助于消除驱动元件的回程误差,从而提升X向移动板901和Y向移动板905的移动精度。
在上述实施例中,对各个实施例的描述都各有侧重,某个实施例中没有详述或记载的部分,可以参见其它实施例的相关描述。
本发明实施例还提供一种高低温自动测试方法,该方法步骤包括:
监测料盘17位置信息;
若监测到有一料盘17处于第一预设位置,则水平上料模组4推动该料盘17水平移动至物料传输机构6上;
若监测到与第一预设位置最近的一料盘17位置错位,则判断该料盘17相对第一预设位置的高低信息;
根据该料盘17高低信息,控制上料升降模组5升降,调节料盘17至第一预设位置,再将该料盘17水平推至物料传输机构6上的第二预设位置;
物料传输机构6获取料盘17的信号,向后传输;
当料盘17触碰限位挡块605,或到达第三预设位置,物料传输机构6停止传输;
顶料模组16根据第三预设位置料盘17信号,顶升料盘17至预设高度;
控制系统15获取料盘17高度信息,控制进料机构3的夹紧气缸301向下向后移动至第三预设位置,夹持料盘17,并向后移动至料盘17到达第四预设位置;
进料门自动打开机构7的直线推杆回缩,将进料门202向下旋转打开,进料机构3的夹紧气缸301继续向后移动至料盘17放置于移动平台9上;
夹紧气缸301回收,进料门202关闭;
监测移动平台9上料盘17的位置信号;
控制X轴驱动子机构22、Y轴驱动子机构21,至料盘17处于第五预设位置后,Z轴驱动子机构8向下移动及旋转,按预设顺序至吸嘴801吸取第一待测产品;
Z轴驱动子机构8上移并继续旋转至到达测试夹具23位置,下移将第一待测产品放置于测试夹具上测试;
Z轴驱动子机构上移旋转离开测试夹具23,开始测试;同时烘箱2温度根据预设温度调节;
获取测试料盘17的信息,测试完成后,控制Z轴驱动子机构8将测试后的产品吸取到原始位置,按照预设顺序吸取第二个产品的测试;依次循环直至料盘17上的产品全部测试完毕;
获取料盘17的产品信息,控制X轴驱动子机构22和Y轴驱动子机构21移动;此时进料门202打开,夹紧气缸301伸入将料盘17取走并返回放入物料传输机构6的第三预设位置上;
获取料盘17的信息,控制物料传输机构6向前传输;
当料盘17返回到达第二预设位置后,控制水平下料模组向前推动料盘17至料箱18内,返回到原始位置;水平上料模组4继续推出此时处于第一预设位置的料盘17,循环进行下一个料盘17上产品的测试。
在氮气置换舱内设置控制系统,整个测试过程自动完成,省时省力,且避免对测试过程的干扰,提高测试的精准性。
本发明的控制系统包括存储器、处理器以及存储在存储器中并可在处理器上运行的计算机程序。处理器可以是中央处理单元(Central Processing Unit,CPU),还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor,DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit,ASIC)、现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array,FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种高低温自动测试系统,其特征在于,包括:高低温测试单元和自动上下料单元;
所述高低温测试单元包括烘箱(2)、设于所述烘箱(2)内的测试夹具(23)以及多维取放机构,所述多维取放机构用于将送入烘箱(2)内料盘(17)上的待测产品移动至所述测试夹具(23)进行测试,并将测试后的产品取回至所述料盘(17)上;所述烘箱(2)的侧面设有供料盘(17)进入的进料门(202);
所述自动上下料单元,包括上下料机构、物料传输机构(6)、进料机构(3)及进料门自动打开机构(7);所述上下料机构将料盘(17)送入所述物料传输机构(6),所述进料门自动打开机构(7)将所述进料门(202)打开,所述进料机构(3)将所述物料传输机构(6)传输的料盘(17)经所述进料门(202)送入所述烘箱(2),所述进料门自动打开机构(7)将所述进料门(202)关闭测试;
测试后的产品料盘(17)经所述进料机构(3)、所述物料传输机构(6)返回至所述上下料机构,下料取走。
2.如权利要求1所述的高低温自动测试系统,其特征在于,所述上下料机构包括上料升降模组(5)、水平上料模组(4)以及料箱(18),所述上料升降模组(5)的上端设有料箱托板(19),所述水平上料模组(4)将处于同一水平的料盘(17)推入所述物料传输机构(6)。
3.如权利要求2所述的高低温自动测试系统,其特征在于,所述物料传输机构(6)包括传输子机构、用于顶升料盘(17)的顶料模组(16)、用于将返回的料盘(17)送入所述料箱(18)的水平下料模组以及设置于所述顶料模组(16)上的升降板(606),所述顶料模组(16)顶升处于所述升降板(606)上的料盘(17),以使所述进料机构(3)夹持进料;其中,所述顶料模组(16)处于靠近所述进料门(202)的一侧,所述水平下料模组处于所述顶料模组(16)近所述料箱(18)的一侧,所述顶料模组(16)和所述水平下料模组处于所述传输子机构的传输底板(601)上,所述顶料模组(16)的推杆向上穿过所述传输底板(601)以支撑所述升降板(606)。
4.如权利要求3所述的高低温自动测试系统,其特征在于,所述水平下料模组包括下料滑轨(610)、与所述下料滑轨(610)滑动配合的下料气缸以及连接于所述下料气缸的弹性推杆(603),所述弹性推杆(603)朝向所述料箱(18)的一侧伸缩,通过移动将料盘(17)推送回所述料箱(18),所述上料升降模组(5)配合升降使所述料盘(17)层叠于所述料箱(18)内。
5.如权利要求4所述的高低温自动测试系统,其特征在于,所述物料传输机构(6)还包括限位杆(608),所述限位杆(608)装配于所述传输子机构的支撑板上,所述弹性推杆(603)压制于所述限位杆(608)下,以避免干扰处于传输线上的料盘(17)。
6.如权利要求5所述的高低温自动测试系统,其特征在于,所述弹性推杆(603)为弹片结构,其端部设有橡胶块(609);所述限位杆(608)上设有于所述弹片抵压接触的限位滑轮(607)。
7.如权利要求1所述的高低温自动测试系统,其特征在于,所述进料机构(3)包括进料底板(304)、装配于所述进料底板(304)下方的水平进料模组(303)、连接于所述水平进料模组(303)的进料升降模组(302)以及连接于所述进料升降模组(302)的夹紧气缸(301);所述夹紧气缸(301)的夹爪夹持处于所述物料传输机构(6)上的料盘(17),送入所述烘箱(2)。
8.如权利要求1所述的高低温自动测试系统,其特征在于,所述进料门自动打开机构(7)包括直线推杆,所述直线推杆的底座铰接于所述自动上下料单元的上下料支架(14)上,所述直线推杆的伸缩杆铰接于所述进料门(202)的上端,所述进料门(202)的下端通过门轴转动连接于所述烘箱(2)的外侧。
9.如权利要求1所述的高低温自动测试系统,其特征在于,所述多维取放机构包括X轴驱动子机构(22)、Y轴驱动子机构(21)和Z轴驱动子机构(8),所述Z轴驱动子机构(8)的驱动杆上设有用于吸取待测产品的吸嘴(801);
所述高低温测试单元还包括移动平台(9),所述移动平台(9)包括固定底板(904)、平行于所述固定底板(904)的立板、沿X轴移动的X向移动板(901)、沿Y轴移动的Y向移动板(905),所述X向移动板(901)、所述Y向移动板(905)立板上,所述测试夹具(23)位于所述固定底板(904)上,所述X向移动板(901)的移动方向与所述物料传输机构(6)的输送方向平行,所述Y向移动板(905)位于所述X向移动板(901)上。
10.如权利要求9所述的高低温自动测试系统,其特征在于,所述移动平台(9)还包括X向拉紧弹簧(903)和Y向拉紧弹簧(902),所述X向拉紧弹簧(903)连接于所述立板或所述固定底板(904)与所述X向移动板(901)之间,所述Y向拉紧弹簧(902)连接于所述X向移动板(901)与所述Y向移动板(905)之间。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202210164489.0A CN115097228A (zh) | 2022-02-22 | 2022-02-22 | 高低温自动测试系统 |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publication Number | Publication Date |
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CN115097228A true CN115097228A (zh) | 2022-09-23 |
Family
ID=83286983
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202210164489.0A Pending CN115097228A (zh) | 2022-02-22 | 2022-02-22 | 高低温自动测试系统 |
Country Status (1)
Country | Link |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN116062374A (zh) * | 2023-04-06 | 2023-05-05 | 深圳市镭沃自动化科技有限公司 | 上下料控制方法、自动上料设备及存储介质 |
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