CN218298501U - 一种用于芯片测试机的校准机构 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种用于芯片测试机的校准机构，包括传送机构、固定板和检测机构，所述传送机构的背面固定连接有固定板，且固定板的正面固定安装有检测机构，所述传送机构的顶端表面固定安装有固定框。本实用新型通过设置有第一弹簧与夹持板，通过将芯片放置在支撑底板的表面，当芯片放置在支撑底板的表面，通过第一弹簧自身的弹力，可以使两组夹持板将芯片进行夹持，防止芯片在检测中发生偏移，该装置通过设置有支撑底板与取料块，通过检测机构对芯片检测时，会挤压芯片，这时通过第二弹簧自身的弹力吗，可以起到缓冲作用，避免挤压力过大，造成芯片损坏，并通过取料块可以推动支撑底板移动，可以有效的方便固定框内部的芯片取出。

Description

一种用于芯片测试机的校准机构

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种用于芯片测试机的校准机构。

背景技术

芯片是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构，

一般芯片在加工完成后，需要通过检测装置对其进行检测，现在大多数工厂都实现了半自动化，在检测的过程中只需要将芯片放置在传送带的表面，之后，传送至检测装置相应的位置进行自动检测，但是，在放置芯片时，需要人工手动反复的进行位置校对，导致检测的效率降低，并且极其容易导致芯片与检测装置之间的连接处产生偏移，从而导致芯片受到检测装置的破坏，而导致芯片的损坏。

为此，我们提出一种用于芯片测试机的校准机构来解决上述问题。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种用于芯片测试机的校准机构。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

一种用于芯片测试机的校准机构，包括传送机构、固定板和检测机构，所述传送机构的背面固定连接有固定板，且固定板的正面固定安装有检测机构，所述传送机构的顶端表面固定安装有固定框，且固定框的两侧表面对称插设有插杆，所述插杆的表面套设有第一弹簧，所述插杆的内侧表面固定连接有连接块，且连接块的内侧表面固定连接有夹持板，所述夹持板的内部插设有连接底板，且连接底板的顶端表面固定连接有第二弹簧，所述第二弹簧的顶端表面固定连接有支撑底板，所述连接底板的表面中心位置处插设有取料块，且取料块的内部插设有螺杆，所述螺杆的表面固定套设有第一锥形齿轮，所述固定框的正面贯穿插设有转动杆，且转动杆通过轴承安装在固定框的内部，所述转动杆插设在固定框内部的一侧表面固定连接有第二锥形齿轮。

优选的，所述固定框为矩形，所述固定框的两侧内壁开设有与连接块相对应的滑槽，所述连接块插设在滑槽的内部，所述连接块外侧的上下两端对称固定连接有滑块，所述滑槽的上下两端内壁开设有与滑块相对应的滑轨。

优选的，所述夹持板设置有两组，两组所述夹持板的底端内壁开设有与连接底板两侧相对应的内腔，所述连接底板的两侧分别插设在两组夹持板的内腔中。

优选的，所述夹持板为L形，所述夹持板的顶端内侧表面自下向上向外侧为倾斜状态。

优选的，所述第二弹簧设置有四组，四组所述第二弹簧均匀分布在支撑底板的底端四个角落。

优选的，所述取料块为矩形，所述取料块的中心位置处贯穿开设有圆形孔洞，且圆形孔洞的内壁开设有与螺杆外螺纹相对应的内螺纹，所述取料块与螺杆为螺纹滑动连接，所述连接底板的中心位置处开设有与取料块相对应的矩形滑槽，所述取料块与连接底板为滑动连接。

优选的，所述第一锥形齿轮与第二锥形齿轮之间相互啮合。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果为：

该装置通过设置有第一弹簧与夹持板，通过将芯片放置在支撑底板的表面，可以使芯片挤压夹持板，当夹持板受到挤压时，会向固定框的内壁移动，当芯片放置在支撑底板的表面，通过第一弹簧自身的弹力，可以使两组夹持板将芯片进行夹持，防止芯片在检测中发生偏移；

该装置通过设置有支撑底板与取料块，通过检测机构对芯片检测时，会挤压芯片，这时通过第二弹簧自身的弹力吗，可以起到缓冲作用，避免挤压力过大，造成芯片损坏，并通过取料块可以推动支撑底板移动，可以有效的方便固定框内部的芯片取出。

附图说明

图1为本实用新型提出的一种用于芯片测试机的校准机构的立体局部剖面示意图；

图2为本实用新型的固定框与夹持板的结构立体剖面示意；

图3为本实用新型的第一锥形齿轮与第二锥形齿轮的结构立体示意图；

图4为本实用新型的图1中A处的机构放大示意图。

图中：1、传送机构；2、固定板；3、检测机构；4、固定框；5、插杆；6、第一弹簧；7、连接块；8、夹持板；9、连接底板；10、第二弹簧；11、支撑底板；12、取料块；13、螺杆；14、第一锥形齿轮；15、第二锥形齿轮；16、转动杆。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。

参照图1-4，一种用于芯片测试机的校准机构，包括传送机构1、固定板2和检测机构3，传送机构1的背面固定连接有固定板2，且固定板2的正面固定安装有检测机构3，传送机构1的顶端表面固定安装有固定框4，且固定框4的两侧表面对称插设有插杆5，插杆5的表面套设有第一弹簧6，插杆5的内侧表面固定连接有连接块7，且连接块7的内侧表面固定连接有夹持板8，夹持板8的内部插设有连接底板9，且连接底板9的顶端表面固定连接有第二弹簧10，第二弹簧10的顶端表面固定连接有支撑底板11，连接底板9的表面中心位置处插设有取料块12，且取料块12的内部插设有螺杆13，螺杆13的表面固定套设有第一锥形齿轮14，固定框4的正面贯穿插设有转动杆16，且转动杆16通过轴承安装在固定框4的内部，转动杆16插设在固定框4内部的一侧表面固定连接有第二锥形齿轮15。

进一步的，参照图1和2可以得知，固定框4为矩形，固定框4的两侧内壁开设有与连接块7相对应的滑槽，连接块7插设在滑槽的内部，连接块7外侧的上下两端对称固定连接有滑块，滑槽的上下两端内壁开设有与滑块相对应的滑轨，通过设置有滑块，可以对夹持板8的滑动轨迹进行限位，不仅可以避免夹持板8与固定框4脱落，同时，可以避免夹持板8与连接底板9之间脱落。

进一步的，参照图2和4可以得知，夹持板8设置有两组，两组夹持板8的底端内壁开设有与连接底板9两侧相对应的内腔，连接底板9的两侧分别插设在两组夹持板8的内腔中，通过夹持板8在连接底板9的表面滑动，方便不同尺寸大小的新芯片进行夹持限位。

进一步的，参照图1和2可以得知，夹持板8为L形，夹持板8的顶端内侧表面自下向上向外侧为倾斜状态，通过倾斜状态设置，可以有效的避免芯片在夹持的过程中，与夹持板8发生卡顿的现象。

进一步的，参照图2可以得知，第二弹簧10设置有四组，四组第二弹簧10均匀分布在支撑底板11的底端四个角落，通过设置有四组第二弹簧10，可以增加其缓冲力，有效的降低芯片的损坏率。

进一步的，参照图2和3可以得知，取料块12为矩形，取料块12的中心位置处贯穿开设有圆形孔洞，且圆形孔洞的内壁开设有与螺杆13外螺纹相对应的内螺纹，取料块12与螺杆13为螺纹滑动连接，连接底板9的中心位置处开设有与取料块12相对应的矩形滑槽，取料块12与连接底板9为滑动连接，取料块12的表面与连接底板9表面的矩形滑槽配合使用，从而可以避免取料块12会随着螺杆13的转动而转动，导致装置无法使用。

进一步的，参照图2和3可以得知，第一锥形齿轮14与第二锥形齿轮15之间相互啮合，通过齿轮之间相互啮合作用，便于带动取料块12在连接底板9的内部直线向上滑动，从而方便对芯片取出。

工作原理:本实用新型在使用时，当需要对芯片进行检测时，根据附图1与附图2所示，相关的技术人员手动将芯片插设在两组固定框4之间，芯片的两侧与固定框4的内侧表面相抵触，夹持板8受到挤压后，向固定框4的内壁移动，并通过第一弹簧6的弹力将芯片夹持在固定框4的内部，防止芯片在检测中发生偏移，当检测机构3在检测的芯片的过程中，会向下滑动与芯片的端口处连接，从而进行数据检测，在检测机构3向下滑动的过程中，挤压芯片向下滑动，这时支撑底板11通过挤压向下滑动，使其底端的第二弹簧10为收缩状态，同时通过第二弹簧10自身的弹力作用，可以起到缓冲作用，避免挤压力过大，造成芯片损坏，当芯片需要取出时，相关的技术人员手动转动转动杆16，转动杆16转动带动第二锥形齿轮15转动，第二锥形齿轮15转动带动第一锥形齿轮14转动，第一锥形齿轮14转动带动螺杆13转动，螺杆13转动带动取料块12在连接底板9的内部移动，使支撑底板11向上滑动，从而可以有效的方便固定框4内部的芯片取出。

本实用新型中，以上所述所有部件的安装方式、连接方式或设置方式均为常见机械方式，并且其所有部件的具体结构、型号和系数指标均为其自带技术，只要能够达成其有益效果的均可进行实施，故不在多加赘述。

上述实施例为本实用新型较佳的实施方式，但本实用新型的实施方式并不受上述实施例的限制，其他的任何未背离本实用新型的精神实质与原理下所作的改变、修饰、替代、组合、简化，均应为等效的置换方式，都包含在本实用新型的保护范围之内。

本实用新型中，在未作相反说明的情况下，“上下左右、前后内外以及垂直水平”等包含在术语中的方位词仅代表该术语在常规使用状态下的方位，或为本领域技术人员理解的俗称，而不应视为对该术语的限制，与此同时，“第一”、“第二”和“第三”等数列名词不代表具体的数量及顺序，仅仅是用于名称的区分，而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。

Claims (7)

1.一种用于芯片测试机的校准机构，包括传送机构（1）、固定板（2）和检测机构（3），其特征在于，所述传送机构（1）的背面固定连接有固定板（2），且固定板（2）的正面固定安装有检测机构（3），所述传送机构（1）的顶端表面固定安装有固定框（4），且固定框（4）的两侧表面对称插设有插杆（5），所述插杆（5）的表面套设有第一弹簧（6），所述插杆（5）的内侧表面固定连接有连接块（7），且连接块（7）的内侧表面固定连接有夹持板（8），所述夹持板（8）的内部插设有连接底板（9），且连接底板（9）的顶端表面固定连接有第二弹簧（10），所述第二弹簧（10）的顶端表面固定连接有支撑底板（11），所述连接底板（9）的表面中心位置处插设有取料块（12），且取料块（12）的内部插设有螺杆（13），所述螺杆（13）的表面固定套设有第一锥形齿轮（14），所述固定框（4）的正面贯穿插设有转动杆（16），且转动杆（16）通过轴承安装在固定框（4）的内部，所述转动杆（16）插设在固定框（4）内部的一侧表面固定连接有第二锥形齿轮（15）。

2.根据权利要求1所述的一种用于芯片测试机的校准机构，其特征在于，所述固定框（4）为矩形，所述固定框（4）的两侧内壁开设有与连接块（7）相对应的滑槽，所述连接块（7）插设在滑槽的内部，所述连接块（7）外侧的上下两端对称固定连接有滑块，所述滑槽的上下两端内壁开设有与滑块相对应的滑轨。

3.根据权利要求1所述的一种用于芯片测试机的校准机构，其特征在于，所述夹持板（8）设置有两组，两组所述夹持板（8）的底端内壁开设有与连接底板（9）两侧相对应的内腔，所述连接底板（9）的两侧分别插设在两组夹持板（8）的内腔中。

4.根据权利要求1所述的一种用于芯片测试机的校准机构，其特征在于，所述夹持板（8）为L形，所述夹持板（8）的顶端内侧表面自下向上向外侧为倾斜状态。

5.根据权利要求1所述的一种用于芯片测试机的校准机构，其特征在于，所述第二弹簧（10）设置有四组，四组所述第二弹簧（10）均匀分布在支撑底板（11）的底端四个角落。

6.根据权利要求1所述的一种用于芯片测试机的校准机构，其特征在于，所述取料块（12）为矩形，所述取料块（12）的中心位置处贯穿开设有圆形孔洞，且圆形孔洞的内壁开设有与螺杆（13）外螺纹相对应的内螺纹，所述取料块（12）与螺杆（13）为螺纹滑动连接，所述连接底板（9）的中心位置处开设有与取料块（12）相对应的矩形滑槽，所述取料块（12）与连接底板（9）为滑动连接。

7.根据权利要求1所述的一种用于芯片测试机的校准机构，其特征在于，所述第一锥形齿轮（14）与第二锥形齿轮（15）之间相互啮合。

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