CN211437088U - 一种晶元芯片检测装置 - Google Patents

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Abstract

本实用新型涉及芯片检测设备技术领域,尤其涉及一种晶元芯片检测装置,包括芯片上料工位、检测工位和芯片下料工位,检测工位包括工作台,工作台的一端设置有支架,支架的上端设置有检测口,检测口的正下方设置有载具和驱动载具移动的第一驱动机构,载具的上端设置有安置槽,工作台的上端设置有移动支架和驱动移动支架移动的第二驱动机构,移动支架的上端设置有第一滑座和驱动第一滑座升降的第三驱动机构,第一滑座设置有CCD检测仪,工作台上端还设置有显示器;本实用新型结构简单,操作方便,提高工作效率,降低劳动力的消耗,提高了产品品质,提高劳动效率。

Description

一种晶元芯片检测装置
技术领域
本实用新型涉及芯片检测设备技术领域,尤其涉及一种晶元芯片检测装置。
背景技术
芯片,又称微电路、微芯片、集成电路,芯片是指内含集成电路的硅片,体积很小,常常是计算机或其他电子设备的一部分,芯片就是半导体元件产品的统称,是集成电路的载体,由晶圆分割而成。
目前市场上的芯片因功能齐全、方便小巧等优点得到广泛的使用,加快了社会的进步,方便人们的生活,但是,由于芯片小巧,制造起来很麻烦,造成生产后残次品数量较多,在将晶元芯片装设在U盘的PCB板上前,需要将芯片移动至检测装置下进行检测。
现有检测方式均通过人工进行肉眼识别,这样造成人力物力的损耗,不利于芯片的固定,容易使得芯片发生偏移;且检测出不良产品后不能及时分类处理,容易造成产品混淆,影响产品品质。因此,针对上述问题提出一种芯片的检测装置。
发明内容
本实用新型的目的在于针对现有技术的不足提供一种晶元芯片检测装置,本实用新型结构简单,操作方便,通过将芯片放置在载具上,通过载具的移动使得芯片移动,有利于芯片的输送,芯片输送至检测口的下方,通过对CCD检测仪进行XZ轴方向的位移调节,使得CCD检测仪对准芯片,CCD检测仪拍摄的芯片图像传输至显示器上进行辨别,通过对比判断该芯片是否合格,提高工作效率,降低劳动力的消耗,提高了产品品质,提高劳动效率。
本实用新型是通过以下技术方案来实现的,一种晶元芯片检测装置,根据检测工序依次包括芯片上料工位、检测工位和芯片下料工位,所述芯片下料工位位于芯片上料工位与检测工位之间,所述检测工位包括工作台,所述工作台的一端设置有支架,所述支架的上端设置有检测口,所述检测口的正下方设置有用于放置芯片的载具和用于驱动载具沿Y轴方向移动的第一驱动机构,所述载具的上端设置有用于放置芯片的安置槽,所述工作台的上端设置有移动支架和用于驱动移动支架沿X轴方向移动的第二驱动机构,所述移动支架的上端设置有第一滑座和用于驱动第一滑座沿Z轴升降的第三驱动机构,所述第一滑座设置有CCD检测仪;所述工作台上端还设置有显示器,所述显示器与CCD检测仪电连接。
作为优选,所述第一驱动机构包括第一丝杆和用于驱动第一丝杆转动的第一电机,所述载具的下端设置有第二滑座,所述第二滑座与第一丝杆传动连接。
作为优选,所述载具的上端还设置有用于压住芯片的压片,所述压片设置有开槽,所述压片的下方设置有用于驱动压片转动的第五驱动机构。
作为优选,所述第五驱动机构包括转轴,所述转轴的一端与压片驱动连接,所述转轴的另一端设置有驱动齿轮,所述载具的侧端设置有无杆气缸,所述无杆气缸的运动件设置有L形连接块,所述L形连接块的一端与无杆气缸的运动件固定连接,所述L形连接块的另一端设置有齿条,所述齿条与驱动齿轮啮合。
作为优选,所述第二驱动机构包括设置于工作台上端的第一滑轨,所述移动支架与第一滑轨滑动连接。
作为优选,所述第三驱动机构包括第二丝杆和用于驱动第二丝杆转动的第二电机,所述第一滑座与第二丝杆传动连接。
作为优选,所述芯片下料工位包括成品收料框和NG品收料框,所述成品收料框的前端和所述NG品收料框的前端均设置有机械手传料机构。
作为优选,所述机械手传料机构包括固定基台,所述固定基台的上端设置有转盘和用于驱动转盘转动的第二电机,所述转盘的上端设置有机械手。
本实用新型的有益效果:一种晶元芯片检测装置,根据检测工序依次包括芯片上料工位、检测工位和芯片下料工位,所述芯片下料工位位于芯片上料工位与检测工位之间,所述检测工位包括工作台,所述工作台的一端设置有支架,所述支架的上端设置有检测口,所述检测口的正下方设置有用于放置芯片的载具和用于驱动载具沿Y轴方向移动的第一驱动机构,所述载具的上端设置有用于放置芯片的安置槽,所述工作台的上端设置有移动支架和用于驱动移动支架沿X轴方向移动的第二驱动机构,所述移动支架的上端设置有第一滑座和用于驱动第一滑座沿Z轴升降的第三驱动机构,所述第一滑座设置有CCD检测仪;所述工作台上端还设置有显示器,所述显示器与CCD检测仪电连接,本实用新型结构简单,操作方便,通过将芯片放置在载具上,通过载具的移动使得芯片移动,有利于芯片的输送,芯片输送至检测口的下方,通过对CCD检测仪进行XZ轴方向的位移调节,使得CCD检测仪对准芯片,CCD检测仪拍摄的芯片图像传输至显示器上进行辨别,通过对比判断该芯片是否合格,提高工作效率,降低劳动力的消耗,提高了产品品质,提高劳动效率。
附图说明
图1为本实用新型的立体结构示意图。
图2为本实用新型载具和第一驱动机构的立体结构示意图。
图3为本实用新型载具的立体结构示意图。
图4为本实用新型检测工位的立体结构示意图。
图5为本实用新型机械手传料机构的立体结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图1至附图5,以及具体实施方式对本实用新型做进一步地说明。
如图1所示,一种晶元芯片检测装置,根据检测工序依次包括芯片上料工位1、检测工位2和芯片下料工位3,所述芯片下料工位3位于芯片上料工位1与检测工位2之间,所述检测工位2包括工作台21,所述工作台21的一端设置有支架22,所述支架22的上端设置有检测口23,所述检测口23的正下方设置有用于放置芯片的载具4和用于驱动载具4沿Y轴方向移动的第一驱动机构5,所述载具4的上端设置有用于放置芯片的安置槽41,所述工作台21的上端设置有移动支架24和用于驱动移动支架24沿X轴方向移动的第二驱动机构,所述移动支架24的上端设置有第一滑座25和用于驱动第一滑座25沿Z轴升降的第三驱动机构,所述第一滑座25设置有CCD检测仪6;所述工作台上21端还设置有显示器7,所述显示器7与CCD检测仪6电连接。
本实施例通过将芯片放置在载具4上,通过载具4的移动使得芯片移动,有利于芯片的输送,芯片输送至检测口23的下方,通过对CCD检测仪6进行XZ轴方向的位移调节,使得CCD检测仪6对准芯片,CCD检测仪6拍摄的芯片图像传输至显示器7上进行辨别,通过对比判断该芯片是否合格,提高工作效率,降低劳动力的消耗,提高了产品品质,提高劳动效率。
如图2所示,本实施例中,所述第一驱动机构5包括第一丝杆51和用于驱动第一丝杆51转动的第一电机52,所述载具4的下端设置有第二滑座42,所述第二滑座42与第一丝杆51传动连接,通过第一电机52驱动第一丝杆51转动,载具4的移动使得芯片移动,有利于芯片的输送。
为了避免芯片在移动过程中发生偏移,如图3所示,本实施例中,所述载具4的上端还设置有用于压住芯片的压片45,所述压片45设置有开槽451,所述压片45的下方设置有用于驱动压片45转动的第五驱动机构,第五驱动机构驱动压片45转动180度,将安置槽41打开,将芯片放入安置槽41内,第五驱动机构再驱动压片45反转动180度,压片45将安置槽41的开口盖住并固定芯片,开槽451的作用是便于CCD检测仪6拍摄芯片,压片45有利于芯片的固定,方便芯片的安全输送,避免输送时发生偏移,有利于CCD检测仪6准确对芯片,提高一体化程度。
进一步的,本实施例中,所述第五驱动机构包括转轴461,所述转轴461的一端与压片45驱动连接,所述转轴461的另一端设置有驱动齿轮462,所述载具4的侧端设置有无杆气缸463,所述无杆气缸463的运动件设置有L形连接块464,所述L形连接块464的一端与无杆气缸463的运动件固定连接,所述L形连接块464的另一端设置有齿条465,所述齿条465与驱动齿轮462啮合,无杆气缸463的运动件运动,带动L形连接块464一起运动,L形连接块464一端的齿条465驱动驱动齿轮462转动,带动转轴461转动,驱动压片45转动180度。
如图4所示,本实施例中,所述第二驱动机构包括设置于工作台21上端的第一滑轨26,所述移动支架24与第一滑轨26滑动连接,通过螺杆传动机构驱动移动支架24沿第一滑轨26移动。
本实施例中,所述第三驱动机构包括第二丝杆27和用于驱动第二丝杆27转动的第二电机28,所述第一滑座25与第二丝杆27传动连接,第二电机28驱动第二丝杆27转动,第一滑座25带动CCD检测仪6上下移动对检测口23下对准芯片, CCD检测仪6拍摄的芯片图像传输至显示器7上进行辨别,通过对比判断该芯片是否合格,提高工作效率,降低劳动力的消耗,提高了产品品质,提高劳动效率。
本实施例中,所述芯片下料工位3包括成品收料框31和NG品收料框32,所述成品收料框31的前端和所述NG品收料框32的前端均设置有机械手传料机构33,CCD检测仪6拍摄的芯片图像传输至显示器7上进行辨别,通过对比判断该芯片是否合格,合格的芯片,载具4移动至成品收料框31的前端,通过机械手传料机构33将该芯片放入成品收料框31内;NG的芯片,载具4移动至NG品收料框32的前端,通过机械手传料机构33将该芯片放入NG品收料框32内。
如图5所示,本实施例中,所述机械手传料机构33包括固定基台331,所述固定基台331的上端设置有转盘332和用于驱动转盘332转动的第二电机(图未标出),所述转盘332的上端设置有机械手333,机械手333夹取载具4上的芯片,第二电机驱动转盘332转动180度,该芯片放入成品收料框31或NG品收料框32内。
以上内容仅为本实用新型的较佳实施例,对于本领域的普通技术人员,依据本实用新型的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处,本说明书内容不应理解为对本实用新型的限制。

Claims (8)

1.一种晶元芯片检测装置,其特征在于:根据检测工序依次包括芯片上料工位、检测工位和芯片下料工位,所述芯片下料工位位于芯片上料工位与检测工位之间,所述检测工位包括工作台,所述工作台的一端设置有支架,所述支架的上端设置有检测口,所述检测口的正下方设置有用于放置芯片的载具和用于驱动载具沿Y轴方向移动的第一驱动机构,所述载具的上端设置有用于放置芯片的安置槽,所述工作台的上端设置有移动支架和用于驱动移动支架沿X轴方向移动的第二驱动机构,所述移动支架的上端设置有第一滑座和用于驱动第一滑座沿Z轴升降的第三驱动机构,所述第一滑座设置有CCD检测仪;
所述工作台上端还设置有显示器,所述显示器与CCD检测仪电连接。
2.根据权利要求1所述的一种晶元芯片检测装置,其特征在于:所述第一驱动机构包括第一丝杆和用于驱动第一丝杆转动的第一电机,所述载具的下端设置有第二滑座,所述第二滑座与第一丝杆传动连接。
3.根据权利要求2所述的一种晶元芯片检测装置,其特征在于:所述载具的上端还设置有用于压住芯片的压片,所述压片设置有开槽,所述压片的下方设置有用于驱动压片转动的第五驱动机构。
4.根据权利要求3所述的一种晶元芯片检测装置,其特征在于:所述第五驱动机构包括转轴,所述转轴的一端与压片驱动连接,所述转轴的另一端设置有驱动齿轮,所述载具的侧端设置有无杆气缸,所述无杆气缸的运动件设置有L形连接块,所述L形连接块的一端与无杆气缸的运动件固定连接,所述L形连接块的另一端设置有齿条,所述齿条与驱动齿轮啮合。
5.根据权利要求1所述的一种晶元芯片检测装置,其特征在于:所述第二驱动机构包括设置于工作台上端的第一滑轨,所述移动支架与第一滑轨滑动连接。
6.根据权利要求1所述的一种晶元芯片检测装置,其特征在于:所述第三驱动机构包括第二丝杆和用于驱动第二丝杆转动的第二电机,所述第一滑座与第二丝杆传动连接。
7.根据权利要求1所述的一种晶元芯片检测装置,其特征在于:所述芯片下料工位包括成品收料框和NG品收料框,所述成品收料框的前端和所述NG品收料框的前端均设置有机械手传料机构。
8.根据权利要求7所述的一种晶元芯片检测装置,其特征在于:所述机械手传料机构包括固定基台,所述固定基台的上端设置有转盘和用于驱动转盘转动的第二电机,所述转盘的上端设置有机械手。
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CN112934739A (zh) * 2020-12-28 2021-06-11 刘根 Sic集成电路芯片多维立体光影检测分拣设备

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