CN217544566U - 一种旋转芯片定位爪 - Google Patents
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Abstract
本实用新型一种旋转芯片定位爪，包括一转盘底座，所述转盘底座的周围设置有用于放置芯片的定位爪，所述定位爪中开设有用于定位芯片的定位槽，所述定位槽的下方开设有用于防止光源反光的斜槽，所述斜槽与所述定位槽连通。本实用新型通过在一装盘底座上设置多组定位爪，并在定位爪中开设多组定位槽的同时，在定位爪的下方设置斜槽，不仅提高了芯片的检测效率，而且避免了芯片封装测试光检时光源的反光，提高了对芯片边缘检测的准确性，大大降低了芯片封装测试光检时的误判。
Description
技术领域
本实用新型属于芯片光检技术领域，具体而言，涉及一种旋转芯片定位爪。
背景技术
集成电路芯片成品生产后为了避免环境对芯面造成污染，芯片直接封装在料盒内。料盒内的成品芯片要需要进行检测保证合格后才能包装入库，检测内容包括封装测试光检等等，将检测不合格芯片则进行回收。
而现有的封装测试光检前需要将芯片先放入芯片定位凹槽中，再向芯片进行打光，目前用于芯片定位的凹槽，在进行打光时，光源打光会被定位凹槽底部反射回来，从而导致芯片的边缘检测不到，一些不合的芯片无法检测出来，进而严重影响芯片的准确性。
实用新型内容
为了解决现有技术存在的问题，本实用新型旨在提供一种旋转芯片定位爪，避免光源打光时被反射回来，准确检测到芯片的边缘，提高芯片封装测试光检的准确性。
为达到上述技术目的及效果，本实用新型通过以下技术方案实现：
一种旋转芯片定位爪，包括一转盘底座，所述转盘底座的周围设置有用于放置芯片的定位爪，所述定位爪中开设有用于定位芯片的定位槽，所述定位槽的下方开设有用于防止光源反光的斜槽，所述斜槽与所述定位槽连通。
进一步的，所述定位爪的上表面上开设有四条所述定位槽，所述定位槽均匀围设在所述定位爪的轴心四周，位于每条所述定位槽的下方均开设有所述斜槽。
进一步的，所述定位槽相互交叉贯通；所述斜槽相互交叉贯通；所述定位槽和所述斜槽的两端均从所述定位爪的侧壁贯穿。
进一步的，所述定位槽的横截面呈“V”型。
进一步的，所述斜槽的横截面为长圆孔，所述斜槽的上端与所述定位槽的下端连通。
进一步的，所述斜槽与所述定位槽的夹角为120°~160°。
进一步的，所述转盘底座上设置有四个所述定位爪，所述定位爪均匀分布在所述转盘底座的四周。
进一步的，所述转盘底座与所述定位爪一体成型。
本实用新型的有益效果如下：
本实用新型通过在一装盘底座上设置多组定位爪，并在定位爪中开设多组定位槽的同时，在定位爪的下方设置斜槽，不仅提高了芯片的检测效率，而且避免了芯片封装测试光检时光源的反光，提高了对芯片边缘检测的准确性，大大降低了芯片封装测试光检时的误判。
上述说明仅是本实用新型技术方案的概述，为了能够更清楚了解本实用新型的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本实用新型的较佳实施例并配合附图详细说明如后。本实用新型的具体实施方式由以下实施例及其附图详细给出。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本实用新型的进一步理解，构成本申请的一部分，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中：
图1为本实用新型旋转芯片定位爪整体结构示意图；
图2为本实用新型旋转芯片定位爪俯视图；
图3为本实用新型旋转芯片定位爪正视图。
具体实施方式
下面将参考附图并结合实施例，来详细说明本实用新型。
需要说明，本实用新型实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后、上端、下端、顶部、底部……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。
参见图1-3所示，一种旋转芯片定位爪，包括一转盘底座1，所述转盘底座1的周围设置有用于放置芯片的定位爪2，所述定位爪2中开设有用于定位芯片的定位槽3，所述定位槽3的下方开设有用于防止光源反光的斜槽4，所述斜槽4与所述定位槽3连通。
进一步的，所述定位爪2的上表面上开设有四条所述定位槽3，所述定位槽3均匀围设在所述定位爪2的轴心四周，位于每条所述定位槽3的下方均开设有所述斜槽4，使用时，可以提升每次检测芯片的数量，有利于提高检测的效率。
进一步的，所述定位槽3相互交叉贯通；所述斜槽4相互交叉贯通；所述定位槽3和所述斜槽4的两端均从所述定位爪2的侧壁贯穿，主要方便有利于加工的方便性，降低生产成本。
进一步的，所述定位槽3的横截面呈“V”型，方便芯片的放置及对芯片的定位，从而方便对芯片的检测。
进一步的，所述斜槽4的横截面为长圆孔，所述斜槽4的上端与所述定位槽3的下端连通，能够有效的减少光源的反光，从而提高后道封装测试光检时对芯片边缘的检测的准确性。
进一步的，所述斜槽4与所述定位槽3的夹角为120°~160°，能够有效减少光源的反光。
进一步的，所述转盘底座1上设置有四个所述定位爪2，所述定位爪2均匀分布在所述转盘底座1的四周，有效的提高了芯片检测的效率。
进一步的，所述转盘底座1与所述定位爪2一体成型。
本实用新型的工作原理如下：
使用时，首先将旋转芯片定位爪安装到设备中，机械手将待检测的芯片分别装入到定位爪2中的定位槽3；然后，芯片封装测试光检对芯片进行检测。
具体工作时，每次芯片封装测试光检对其中一组定位爪2中的芯片进行检测，检测完成后，转盘底座1旋转，将另一组定位爪2中待检的芯片输送到封装测试光检中；而定位爪2中已经检测完成的芯片将根据封装测试光检的结果，机械手将芯片输送到不同的料盒中，同时机械手并向其中装入待检测芯片；就这样形成循环不间断检测。
本实用新型通过在一装盘底座上设置多组定位爪，并在定位爪中开设多组定位槽的同时，在定位爪的下方设置斜槽，不仅提高了芯片的检测效率，而且避免了芯片封装测试光检时光源的反光，提高了对芯片边缘检测的准确性，大大降低了芯片封装测试光检时的误判。
以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，对于本领域的技术人员来说，本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (8)
1.一种旋转芯片定位爪，其特征在于：包括一转盘底座（1），所述转盘底座（1）的周围设置有用于放置芯片的定位爪（2），所述定位爪（2）中开设有用于定位芯片的定位槽（3），所述定位槽（3）的下方开设有用于防止光源反光的斜槽（4），所述斜槽（4）与所述定位槽（3）连通。
2.根据权利要求1所述的旋转芯片定位爪，其特征在于：所述定位爪（2）的上表面上开设有四条所述定位槽（3），所述定位槽（3）均匀围设在所述定位爪（2）的轴心四周，位于每条所述定位槽（3）的下方均开设有所述斜槽（4）。
3.根据权利要求2所述的旋转芯片定位爪，其特征在于：所述定位槽（3）相互交叉贯通；所述斜槽（4）相互交叉贯通；所述定位槽（3）和所述斜槽（4）的两端均从所述定位爪（2）的侧壁贯穿。
4.根据权利要求3所述的旋转芯片定位爪，其特征在于：所述定位槽（3）的横截面呈“V”型。
5.根据权利要求4所述的旋转芯片定位爪，其特征在于：所述斜槽（4）的横截面为长圆孔，所述斜槽（4）的上端与所述定位槽（3）的下端连通。
6.根据权利要求5所述的旋转芯片定位爪，其特征在于：所述斜槽（4）与所述定位槽（3）的夹角为120°~160°。
7.根据权利要求1所述的旋转芯片定位爪，其特征在于：所述转盘底座（1）上设置有四个所述定位爪（2），所述定位爪（2）均匀分布在所述转盘底座（1）的四周。
8.根据权利要求6所述的旋转芯片定位爪，其特征在于：所述转盘底座（1）与所述定位爪（2）一体成型。
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| CN202221016073.6U CN217544566U (zh) | 2022-04-29 | 2022-04-29 | 一种旋转芯片定位爪 |
Applications Claiming Priority (1)
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Publications (1)
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|---|---|
| CN217544566U true CN217544566U (zh) | 2022-10-04 |
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Family Applications (1)
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Country Status (1)
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2022
- 2022-04-29 CN CN202221016073.6U patent/CN217544566U/zh active Active
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