CN217191025U - 一种ic芯片测试分选机构 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及芯片生产测试技术领域，涉及一种IC芯片测试分选机构。要点包括底板，所述底板的顶部固定连接于顶起机构，所述顶起机构的顶部固定连接有支撑座，所述支撑座的顶部转动连接有测试分选机主体，所述测试分选机主体的底部设置有驱动机构，所述驱动机构的底部与顶起机构固定连接。该实用新型通过底板对装置进行支撑，当需要调节测试分选机主体的高度时，只需要启动顶起机构带动支撑座和测试分选机主体垂直运动，实现高度调节，并且启动驱动机构可带动测试分选机主体水平转动，方便其进料口与产线对接，方便调节测试分选机主体的方位，从而实现了装置具备便于移动，并且方便调节高度和方位，适用性广的优点。

Description

一种IC芯片测试分选机构

技术领域

本实用新型涉及芯片生产测试技术领域，更具体地说，涉及一种IC芯片测试分选机构。

背景技术

IC芯片完成加工制造工序后，需要一一进行测试和分类，芯片分类存放有利于芯片的合理使用，最初，人们对芯片测试后，是靠人工分类放置的，不仅效率低，还容易发生错误，目前已有自动测试分选机替代人工。

但是现有的测试分选机一般都是固定安装在生产车间内，无法移动，不便有迁移设备，并且无法进行高度调节，以适用不同生产线的高度，局限性较大，因此我们提出一种IC芯片测试分选机构。

实用新型内容

针对上述背景技术中存在的相关问题，本实用新型的目的在于提供一种IC芯片测试分选机构。

为解决上述问题，本实用新型采用如下的技术方案。

一种IC芯片测试分选机构，包括底板，所述底板的顶部固定连接于顶起机构，所述顶起机构的顶部固定连接有支撑座，所述支撑座的顶部转动连接有测试分选机主体，所述测试分选机主体的底部设置有驱动机构，所述驱动机构的底部与顶起机构固定连接，所述底板底部的四角分别转动连接有万向轮，所述底板的底部安装有定位机构，所述底板的顶部固定连接有工具柜。

作为上述技术方案的进一步描述：所述顶起机构包括两个液压缸、支撑架和两个限位套，两个所述限位套相对的一侧分别固定连接至工具柜的左右两侧，所述支撑架的底部两端分别贯穿并滑动连接至两个限位套的内部，两个所述液压缸的底部与底板固定连接，两个所述液压缸的顶端分别支撑架的两个底端固定连接，所述支撑架的顶部与支撑座的底部。

作为上述技术方案的进一步描述：所述驱动机构包括伺服电机、齿轮和齿环，所述伺服电机的输出端通过联轴器与齿轮固定连接，所述伺服电机的底部与支撑座固定连接，所述齿环的内部固定连接至支撑座的外层，所述齿轮的外侧与齿环的底部相啮合。

作为上述技术方案的进一步描述：所述定位机构包括螺纹柱、螺纹套和接地盘，所述；螺纹柱的顶端与底板固定连接，所述螺纹柱的底端贯穿并螺纹连接至螺纹套的内部，所述螺纹套的底部与接地盘转动连接。

作为上述技术方案的进一步描述：所述螺纹套的外侧固定连接有把手环。

作为上述技术方案的进一步描述：所述支撑架的底部固定连接有两个橡胶垫块，所述工具柜的顶部开设有两个契合槽，所述契合槽与橡胶垫块相配合。

相比于现有技术，本实用新型的优点在于：

本方案通过底板对装置进行支撑，当需要调节测试分选机主体的高度时，只需要启动顶起机构带动支撑座和测试分选机主体垂直运动，实现高度调节，并且启动驱动机构可带动测试分选机主体水平转动，方便其进料口与产线对接，方便调节测试分选机主体的方位，然后通过万向轮可以方便移动整个装置，当装置移动到指定位置时，此时转动定位机构使其与地面紧密接触，实现对整个设备的稳定定位，使得装置使用平稳性更好，从而实现了装置具备便于移动，并且方便调节高度和方位，适用性广的优点。

附图说明

图1为本实用新型的正视剖面结构示意图；

图2为本实用新型的结构示意图；

图3为本实用新型的结构示意图。

图中标号说明：

1、底板；2、顶起机构；21、液压缸；22、支撑架；221、橡胶垫块；23、限位套；3、支撑座；4、测试分选机主体；5、驱动机构；51、伺服电机；52、齿轮；53、齿环；6、万向轮；7、定位机构；71、螺纹柱；72、螺纹套；721、把手环；73、接地盘；8、工具柜；81、契合槽。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述；

请参阅图1～3，本实用新型中，一种IC芯片测试分选机构，包括底板1，底板1的顶部固定连接于顶起机构2，顶起机构2的顶部固定连接有支撑座3，支撑座3的顶部转动连接有测试分选机主体4，测试分选机主体4的底部设置有驱动机构5，驱动机构5的底部与顶起机构2固定连接，底板1底部的四角分别转动连接有万向轮6，底板1的底部安装有定位机构7，底板1的顶部固定连接有工具柜8。

本实用新型中，通过底板1对装置进行支撑，当需要调节测试分选机主体4的高度时，只需要启动顶起机构2带动支撑座3和测试分选机主体4垂直运动，实现高度调节，并且启动驱动机构5可带动测试分选机主体4水平转动，方便其进料口与产线对接，方便调节测试分选机主体4的方位，然后通过万向轮6可以方便移动整个装置，当装置移动到指定位置时，此时转动定位机构7使其与地面紧密接触，实现对整个设备的稳定定位，使得装置使用平稳性更好，从而实现了装置具备便于移动，并且方便调节高度和方位，适用性广的优点，解决了现有技术中都是固定安装在生产车间内，无法移动，不便有迁移设备，并且无法进行高度调节，以适用不同生产线的高度，局限性较大的问题。

请参阅图1，其中：顶起机构2包括两个液压缸21、支撑架22和两个限位套23，两个限位套23相对的一侧分别固定连接至工具柜8的左右两侧，支撑架22的底部两端分别贯穿并滑动连接至两个限位套23的内部，两个液压缸21的底部与底板1固定连接，两个液压缸21的顶端分别支撑架22的两个底端固定连接，支撑架22的顶部与支撑座3的底部。

本实用新型中，通过两个液压缸21、支撑架22和两个限位套23的配合使用，启动液压缸21带动支撑架22沿着两个限位套23垂直上升，支撑架22将支撑座3带动上升，支撑座3则带动测试分选机主体4垂直上升，以调节装置的高度，适配不同的产线。

请参阅图2，其中：驱动机构5包括伺服电机51、齿轮52和齿环53，伺服电机51的输出端通过联轴器与齿轮52固定连接，伺服电机51的底部与支撑座3固定连接，齿环53的内部固定连接至支撑座3的外层，齿轮52的外侧与齿环53的底部相啮合。

本实用新型中，通过伺服电机51、齿轮52和齿环53的配合使用，启动伺服电机51带动齿轮52转动，齿轮52带动齿环53转动，齿环53测试分选机主体4转动，以调节测试分选机主体4进料口的方位，方便对接产线，使用更加方便合理。

请参阅图1与图3，其中：定位机构7包括螺纹柱71、螺纹套72和接地盘73，螺纹柱71的顶端与底板1固定连接，螺纹柱71的底端贯穿并螺纹连接至螺纹套72的内部，螺纹套72的底部与接地盘73转动连接。

本实用新型中，通过螺纹柱71、螺纹套72和接地盘73的配合使用，需要定位时，只需转动螺纹套72沿着螺纹柱71下降，螺纹套72则带动接地盘73下降并使其接地，当接地盘73接地后，拧紧螺纹套72使其对接地盘73压紧，使得接地盘73与地面接触更加稳定，定位效果更好。

请参阅图1与图3，其中：螺纹套72的外侧固定连接有把手环721。

本实用新型中，把手环721方便转动螺纹套72，使得装置操作更加省力方便。

请参阅图1，其中：支撑架22的底部固定连接有两个橡胶垫块221，工具柜8的顶部开设有两个契合槽81，契合槽81与橡胶垫块221相配合。

本实用新型中，通过两个橡胶垫块221，配合两个契合槽81使用，当支撑架22的位置下降至其内侧与工具柜8接触时，橡胶垫块221和契合槽内81可以起到导向和缓冲的作用，减少装置的磨损，延长装置使用寿命。

工作原理：使用时，首先当需要调节测试分选机主体4的高度时，只需要启动液压缸21带动支撑架22沿着两个限位套23垂直上升，支撑架22将支撑座3带动上升，支撑座3则带动测试分选机主体4垂直上升，实现高度调节，并且启动伺服电机51带动齿轮52转动，齿轮52带动齿环53转动，齿环53测试分选机主体4转动，以调节测试分选机主体4进料口的方位，方便其进料口与产线对接，方便调节测试分选机主体4的方位，然后通过万向轮6可以方便移动整个装置，当装置移动到指定位置时，此时只需转动螺纹套72沿着螺纹柱71下降，螺纹套72则带动接地盘73下降并使其接地，当接地盘73接地后，拧紧螺纹套72使其对接地盘73压紧，使得接地盘73与地面接触更加稳定，实现对整个设备的稳定定位，使得装置使用平稳性更好，从而实现了装置具备便于移动，并且方便调节高度和方位，适用性广的优点，解决了现有技术中都是固定安装在生产车间内，无法移动，不便有迁移设备，并且无法进行高度调节，以适用不同生产线的高度，局限性较大的问题。

以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式；但本实用新型的保护范围并不局限于此。任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其改进构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围内。

Claims (6)

1.一种IC芯片测试分选机构，包括底板(1)，其特征在于：所述底板(1)的顶部固定连接于顶起机构(2)，所述顶起机构(2)的顶部固定连接有支撑座(3)，所述支撑座(3)的顶部转动连接有测试分选机主体(4)，所述测试分选机主体(4)的底部设置有驱动机构(5)，所述驱动机构(5)的底部与顶起机构(2)固定连接，所述底板(1)底部的四角分别转动连接有万向轮(6)，所述底板(1)的底部安装有定位机构(7)，所述底板(1)的顶部固定连接有工具柜(8)。

2.根据权利要求1所述的一种IC芯片测试分选机构，其特征在于：所述顶起机构(2)包括两个液压缸(21)、支撑架(22)和两个限位套(23)，两个所述限位套(23)相对的一侧分别固定连接至工具柜(8)的左右两侧，所述支撑架(22)的底部两端分别贯穿并滑动连接至两个限位套(23)的内部，两个所述液压缸(21)的底部与底板(1)固定连接，两个所述液压缸(21)的顶端分别支撑架(22)的两个底端固定连接，所述支撑架(22)的顶部与支撑座(3)的底部。

3.根据权利要求1所述的一种IC芯片测试分选机构，其特征在于：所述驱动机构(5)包括伺服电机(51)、齿轮(52)和齿环(53)，所述伺服电机(51)的输出端通过联轴器与齿轮(52)固定连接，所述伺服电机(51)的底部与支撑座(3)固定连接，所述齿环(53)的内部固定连接至支撑座(3)的外层，所述齿轮(52)的外侧与齿环(53)的底部相啮合。

4.根据权利要求1所述的一种IC芯片测试分选机构，其特征在于：所述定位机构(7)包括螺纹柱(71)、螺纹套(72)和接地盘(73)，所述；螺纹柱(71)的顶端与底板(1)固定连接，所述螺纹柱(71)的底端贯穿并螺纹连接至螺纹套(72)的内部，所述螺纹套(72)的底部与接地盘(73)转动连接。

5.根据权利要求4所述的一种IC芯片测试分选机构，其特征在于：所述螺纹套(72)的外侧固定连接有把手环(721)。

6.根据权利要求2所述的一种IC芯片测试分选机构，其特征在于：所述支撑架(22)的底部固定连接有两个橡胶垫块(221)，所述工具柜(8)的顶部开设有两个契合槽(81)，所述契合槽(81)与橡胶垫块(221)相配合。

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