CN215844322U - 一种元件检测设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种元件检测设备，包括转台，转台的周向设置有若干检测单元、至少一个气动组件；检测单元包括支架、表面检测相机以及光源，表面检测相机以及光源固定在支架上，其中，至少一个检测单元还集成有分拣相机，一个检测单元中的表面检测相机与分拣相机共用一个光源；表面检测相机、分拣相机以及气动组件与控制单元相连接，控制单元配置为根据表面检测相机、分拣相机的检测图像控制气动组件动作，对元件进行分类。基于本实用新型提出的元件检测设备可以避免已进行检测的元件和未进行检测的元件发生混料的问题。

Description

一种元件检测设备

技术领域

本实用新型实施例涉及检测技术，尤其涉及一种元件检测设备。

背景技术

元件检测设备可用于微小型电子元器件的外观检测，进行外观检测时，传送装置带动待检测元件移动到指定的位置进行检测，以确定元件的表面是否存在瑕疵，根据检测结果，传送装置上的元件最终被回收到合格品回收盒或者不合格回收盒内。

目前，元件检测设备中的检测装置只能对位于传送装置上一定检测区域内的元件进行检测，由于待检测元件的个体差异，待检测元件送入到传送装置上时可能位于检测区域之外，此时可能会出现没有进行外观检测的元件与已进行外观检测的元件一起被回收到相同的回收盒内的问题，进而导致存在合格产品内混有有瑕疵品的风险。

实用新型内容

本实用新型提供一种元件检测设备，以避免发生已进行检测的元件和未进行检测的元件发生混料的问题。

本实用新型实施例提供了一种元件检测设备，包括转台，所述转台的周向设置有若干检测单元、至少一个气动组件；

所述检测单元包括支架、表面检测相机以及光源，所述表面检测相机以及光源固定在所述支架上，其中，至少一个检测单元还集成有分拣相机，一个检测单元中的表面检测相机与分拣相机共用一个光源；

所述表面检测相机、分拣相机以及气动组件与控制单元相连接，所述控制单元配置为根据所述表面检测相机、分拣相机的检测图像控制所述气动组件动作，对元件进行分类。

进一步的，所述转台配置有圆形透明转盘；

所述圆形透明转盘的周向配置有环形检测区，所述环形检测区用于放置待检测的元件。

进一步的，包括六个所述检测单元，所述检测单元分别用于检测六面体元件的六个表面；

所述分拣相机集成在用于检测六面体元件下表面的检测单元上，其中，六面体元件的下表面为与所述圆形透明转盘接触的一个表面。

进一步的，还包括振动盘，所述振动盘上配置有料斗以及进料槽；

待检测元件通过所述料斗置于所述振动盘上，所述进料槽用于将所述振动盘上的待检测元件送入所述环形检测区。

进一步的，还包括导正机构，所述导正机构用于导正进入所述环形检测区的待检测元件。

进一步的，包括第一气动组件、第二气动组件、第三气动组件；

所述第一气动组件用于将通过检测的元件吹入第一收集盒，所述第二气动组件用于将未通过检测的元件吹入第二收集盒，所述第三气动组件用于将未进行检测的元件吹入第三收集盒。

进一步的，沿所述圆形透明转盘的径向，所述分拣相机的视野覆盖所述环形检测区、所述环形检测区内侧、外侧的设定区域。

进一步的，一个检测单元上的光源用于六面体元件一个表面的补光。

进一步的，所述表面检测相机以及所述分拣相机采用工业相机。

进一步的，所述控制单元为DSP控制器。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果在于：本实用新型提出的元件检测设备配置有表面检测相机、分拣相机、控制单元以及气动组件，基于分拣相机获取的图像，控制单元可以确定待检测元件是否处在表面检测相机可以获取其表面图像的区域，当待检测元件不处于上述区域时，控制单元控制气动组件将对应的元件吹入未检测元件收集盒内，可以避免已进行检测的元件和未进行检测的元件发生混料的问题，同时，分拣相机集成在配置有表面检测相机的检测单元上，元件检测设备的集成度高。

附图说明

图1为实施例中的元件检测设备结构示意图；

图2是实施例中的另一视角元件检测设备结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本实用新型，而非对本实用新型的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本实用新型相关的部分而非全部结构。

本实施例提出一种元件检测设备，元件检测设备用于元件的表面检测，其包括转台，转台的周向设置有若干检测单元、至少一个气动组件。

示例性的，本实施例中，转台用于放置待检测的元件，转台转动时带动待检测元件自上料口处运动至下料口处。

示例性的，本实施例中，检测单元用于获取待检测元件的表面图像，检测单元置于转台的周向且独立于转台。

本实施例中，配置若干检测单元，检测单元的数量根据元件的待检测表面数量确定，例如，若元件包含四个待检测表面，则配置四个检测单元；

示例性的，每个检测单元包括支架、表面检测相机以及光源，各支架固定在转台周向的指定位置，表面检测相机以及光源固定在支架上，一个表面检测相机用于获取待检测元件的一个表面的图像，一个光源用于待检测元件一个表面的补光；

示例性的，根据检测表面的不同，不同支架上固定的表面检测相机的相对位置不同，不同支架上固定的光源的相对位置也不同。

示例性的，本实施例中，在至少一个检测单元上集成分拣相机，分拣相机固定在检测单元的支架上，分拣相机获取的图像用于确定待检测元件在转台上的相对位置。

示例性的，本实施例中，气动组件用于将下料口处的元件吹入收集盒内，配置一个气动组件时，可以通过控制气动组件的吹气力度将不同的元件吹入对应的收集盒内，配置多个气动组件时，可以配置一个气动组件将一类元件吹入对应的收集盒内。

示例性的，本实施例中，表面检测相机、分拣相机以及气动组件与控制单元相连接，控制单元用于：

获取表面检测相机采集的图像，根据该图像确定元件的表面是否存在缺陷，若存在缺陷则将该元件标记为缺陷元件，缺陷元件运动至下料口处时，控制单元控制气动组件将缺陷元件吹入缺陷元件收集盒内；

若不存在缺陷则将该元件标记为正常元件，正常元件运动至下料口处时，控制单元控制气动组件将正常元件吹入正常元件收集盒内；

获取分拣相机采集的图像，根据该图像确定元件是否处于转台上指定的区域，若元件不处于指定的区域，则将该元件标记为未检测元件，未检测元件运动至下料口处时，控制单元控制气动组件将未检测元件吹入未检测元件收集盒内。

本实施例提出的元件检测设备配置有表面检测相机、分拣相机、控制单元以及气动组件，基于分拣相机获取的图像，控制单元可以确定待检测元件是否处在表面检测相机可以获取其表面图像的区域，当待检测元件不处于上述区域时，控制单元控制气动组件将对应的元件吹入未检测元件收集盒内，可以避免已进行检测的元件和未进行检测的元件发生混料的问题，同时，分拣相机集成在配置有表面检测相机的检测单元上，元件检测设备的集成度高。

图1为实施例中的元件检测设备结构示意图，图2是实施例中的另一视角元件检测设备结构示意图，作为一种可实施方案，本实施例中，元件检测设备用于六面体元件的表面检测，元件检测设备具体包括：

转台31，转台31配置有圆形透明转盘32，圆形透明转盘32外缘一侧的周向配置有环形检测区，环形检测区用于放置待检测的元件。

元件检测设备还包括振动盘13，振动盘13上配置有料斗11以及进料槽12，其中料槽12的出料口与环形检测区的位置相对应。

示例性的，检测时，待检测元件首先被置于料斗11内，振动盘12振动时，待检测元件从料斗11进入料槽12内，再进一步通过料槽12置于圆形透明转盘32上。

元件检测设备配置有前表面检测单元21、上表面检测单元22、后表面检测单元23、左表面检测单元24、下表面检测单元25、右表面检测单元26。

本方案中，每个检测单元均包括支架、表面检测相机以及光源，以下表面检测单元25为例，其配置有支架251、表面检测相机252以及光源253。

示例性的，元件置于圆形透明转盘32上时，圆形透明转盘32带动元件从前表面检测单元21处运动至右表面检测单元26处；

元件置于圆形透明转盘32上时，与圆形透明转盘32相接触的一面定义为下表面，与下表面相对的一面定义为上表面，靠近圆形透明转盘32外缘的一面定义为前表面，与前表面相对的一面定义为后表面，面对运动方向的一面定义为右表面，与右表面相对的一面定义为左表面。

本方案中，一个表面检测相机用于获取位于环形检测区内的，待检测元件的指定表面的图像，表面检测相机以及光源在支架上的位置与指定的表面的位置相关；

以下表面检测单元25为例，表面检测相机252用于获取元件下表面的图像，表面检测相机252置于圆形透明转盘32的下方，光源253置于圆形透明转盘32附近，用于元件下表面的补光。

本方案中，元件检测设备配置有一个分拣相机27，分拣相机27集成在下表面检测单元25上，具体的，分拣相机27固定在支架251上，且位于圆形透明转盘32的上方。

本方案中，表面检测相机和分拣相机均采用工业相机，以分拣相机27为例，其包括相机主体271以及镜头272。

本方案中，沿圆形透明转盘32的径向，分拣相机27的视野覆盖环形检测区以及环形检测区内侧、外侧的设定区域，分拣相机27获取的图像用于确定待检测元件是否处在环形检测区内。

本方案中，沿元件的运动方向，在右表面检测单元26的后方设置有第一气动组件(配置有第一收集盒)、第二气动组件(配置有第二收集盒)、第三气动组件(配置有第三收集盒)。

示例性的，本方案中，各表面检测相机、分拣相机、各气动组件与DSP控制器相连接，DSP控制器用于：

获取分拣相机采集的图像，根据该图像判断元件是否处在环形检测区内，若元件不在环形检测区内，则将该元件标记为未检测元件，未检测元件运动至第三气动组件处时，控制第三气动组件将未检测元件吹入第三收集盒内；

当元件处于环形检测区内时，获取各表面检测相机采集的图像，根据表面检测相机采集的图像确定元件的表面是否存在缺陷；

若存在缺陷则将该元件标记为缺陷元件，缺陷元件运动至第二气动组件处时，控制第二气动组件将缺陷元件吹入第二收集盒内；

若不存在缺陷则将该元件标记为正常元件，正常元件运动至第一气动组件处时，控制第一气动组件将正常元件吹入第一收集盒内。

示例性的，本实施例中，转台31的转速固定，DSP控制器控制气动组件的具体过程可以为：

当DSP控制器获取前表面检测单元21采集的前表面图像时，判断该元件在前表面图像中的位置，以判断该元件在圆形透明转盘32上的位置，进一步确定该元件运动至后续表面检测单元以及气动组件处时间，同时对当前的元件进行标号；

DSP控制器根据元件的运动时间确定与同一元件对应的前表面图像、上表面图像、后表面图像、左表面图像、下表面图像、右表面图像，以判断该元件是否存在缺陷；

DSP控制器根据元件是否存在缺陷确定该元件运动至第一气动组件或者第二气动组件的时间，以确定该元件是否运动到指定位置，当该元件运动到指定位置时，控制指定的气动组件动作；

当DSP控制器获取分拣相机27采集的图像时，将该元件标记为未检测元件，判断该元件在该图像中的位置，以判断该元件在圆形透明转盘32上的位置，进一步确定该元件运动至第三气动组件处时间；

DSP控制器根据运动时间确定未检测元件是否运动到第三气动组件处，当该元件运动到第三气动组件处时，控制第三气动组件动作。

作为一种可实施方案，本方案中，元件检测设备还可以包括导正机构，导正机构设置在料槽12的出料口处，导正机构用于导正从料槽12进入到环形检测区的待检测元件。

示例性的，导正机构可以包括真空发生器，真空发生器配置有带有凹槽的真空吸附头，真空吸附头设置料槽12的出料口后，且位于圆形透明转盘32上方的一定位置，当圆形透明转盘32上的元件通过真空吸附头的凹槽时，真空吸附头可以将倾斜的元件导正。

注意，上述仅为本实用新型的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本实用新型不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本实用新型的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本实用新型进行了较为详细的说明，但是本实用新型不仅仅限于以上实施例，在不脱离本实用新型构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本实用新型的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (10)

1.一种元件检测设备，其特征在于，包括转台，所述转台的周向设置有若干检测单元、至少一个气动组件；

所述检测单元包括支架、表面检测相机以及光源，所述表面检测相机以及光源固定在所述支架上，其中，至少一个检测单元还集成有分拣相机，一个检测单元中的表面检测相机与分拣相机共用一个光源；

所述表面检测相机、分拣相机以及气动组件与控制单元相连接，所述控制单元配置为根据所述表面检测相机、分拣相机的检测图像控制所述气动组件动作，对元件进行分类。

2.如权利要求1所述的元件检测设备，其特征在于，所述转台配置有圆形透明转盘；

所述圆形透明转盘的周向配置有环形检测区，所述环形检测区用于放置待检测的元件。

3.如权利要求2所述的元件检测设备，其特征在于，包括六个所述检测单元，所述检测单元分别用于检测六面体元件的六个表面；

所述分拣相机集成在用于检测六面体元件下表面的检测单元上，其中，六面体元件的下表面为与所述圆形透明转盘接触的一个表面。

4.如权利要求2所述的元件检测设备，其特征在于，还包括振动盘，所述振动盘上配置有料斗以及进料槽；

待检测元件通过所述料斗置于所述振动盘上，所述进料槽用于将所述振动盘上的待检测元件送入所述环形检测区。

5.如权利要求4所述的元件检测设备，其特征在于，还包括导正机构，所述导正机构用于导正进入所述环形检测区的待检测元件。

6.如权利要求1所述的元件检测设备，其特征在于，包括第一气动组件、第二气动组件、第三气动组件；

所述第一气动组件用于将通过检测的元件吹入第一收集盒，所述第二气动组件用于将未通过检测的元件吹入第二收集盒，所述第三气动组件用于将未进行检测的元件吹入第三收集盒。

7.如权利要求2所述的元件检测设备，其特征在于，沿所述圆形透明转盘的径向，所述分拣相机的视野覆盖所述环形检测区、所述环形检测区内侧、外侧的设定区域。

8.如权利要求3所述的元件检测设备，其特征在于，一个检测单元上的光源用于六面体元件一个表面的补光。

9.如权利要求1所述的元件检测设备，其特征在于，所述表面检测相机以及所述分拣相机采用工业相机。

10.如权利要求1所述的元件检测设备，其特征在于，所述控制单元为DSP控制器。

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