CN215728530U - 一种用于电容检测的夹具 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种用于电容检测的夹具，其能够在测试、老化的整个过程中电容不需要重复放入、取出，并且能够便于记录其老化前后的元器件参数变化。其技术方案是这样的：一种用于电容检测的夹具，其包括电容存放盘，其特征在于：电容存放盘上开设有多个形状与待检测的电容的形状相对应的存放槽；其还包括分别于测试和老化时与电容存放盘连接的测试板和老化板；测试板上连接有测试探针，测试探针与位于存放槽内的电容的部分或者全部电极位置相对应并且用于在测试时压覆在电极上；老化板上连接有老化探针，老化探针与位于存放槽内的电容的部分或者全部电极位置相对应并且用于在老化时压覆在电极上。

Description

一种用于电容检测的夹具

技术领域

本实用新型涉及电容测试技术领域，具体为一种用于电容检测的夹具。

背景技术

当电容要应用于高可靠等级的领域时，除了要对其进行常规的参数测试外，还要按相关标准对其进行老化试验，以筛选出有缺陷的电容，同时还要求对比老化前后及其它试验前后的元器件参数变化，传统电容检测时，需对电容先进行测试，再进行老化，老化后再次测试，老化设备和测试设备均有对应的夹具来装载电容，老化、测试夹具之间不通用，例如：测试时需将电容装入测试夹具上进行测试，老化时再将这些电容取下装入老化夹具中进行老化，老化后再将电容取下重新装入测试夹具中进行测试，重复将电容放入取出十分耗费人力，而且一次测试或者老化所涉及的电容较多，不便于记录其老化前后的元器件参数变化。

实用新型内容

针对传统测试、老化时需要重复将电容从测试夹具中放入、取出耗费人力而且不便于记录其老化前后的元器件参数变化的问题，本实用新型提供了一种用于电容检测的夹具，其能够在测试、老化的整个过程中电容不需要重复放入、取出，并且能够便于记录其老化前后的元器件参数变化。

其技术方案是这样的：一种用于电容检测的夹具，其包括电容存放盘，其特征在于：所述电容存放盘上开设有多个形状与待检测的电容的形状相对应的存放槽；其还包括分别于测试和老化时与所述电容存放盘连接的测试板和老化板；

所述测试板上连接有测试探针，所述测试探针与位于所述存放槽内的电容的部分或者全部电极位置相对应并且用于在测试时压覆在电极上；

所述老化板上连接有老化探针，所述老化探针与位于所述存放槽内的电容的部分或者全部电极位置相对应并且用于在老化时压覆在电极上。

其进一步特征在于：

所述电容为异形电容；

所述异形电容为带有引线的穿心电容；所述存放槽包括用于容纳电容中间主体的主体槽和用于容纳引线的引线槽，所述测试探针、所述老化探针对应所述电容中间主体和至少一根所述引线设置；

所述异形电容为圆片状穿心电容；所述存放槽用于容纳电极朝上时的所述圆片状穿心电容，所述测试探针、所述老化探针对应所述圆片状穿心电容的穿心电极和外圆电极设置；

所述异形电容为三端电容；所述存放槽用于容纳三个电极同时朝上时的所述三端电容，所述测试探针、所述老化探针对应三个电极设置；

所述异形电容包括带有引线的穿心电容、圆片状穿心电容和三端电容；当所述电容为带有引线的穿心电容时，所述存放槽包括用于容纳电容中间主体的主体槽和用于容纳引线的引线槽，所述测试探针、所述老化探针对应所述电容中间主体和至少一根所述引线设置；当所述电容为圆片状穿心电容时，所述存放槽用于容纳电极朝上时的所述圆片状穿心电容，所述测试探针、所述老化探针对应所述圆片状穿心电容的穿心电极和外圆电极设置；当所述电容为三端电容时，所述存放槽用于容纳三个电极同时朝上时的所述三端电容，所述测试探针、所述老化探针对应三个电极设置；

所述引线槽的位置还开设有用于探针伸入的探针槽；

所述测试板与上下驱动机构连接，通过所述上下驱动机构控制所述测试板压覆在所述电容存放盘上；

所述老化板包括大于一个的装载区，所述电容存放盘分别通过定位组件与所述装载区连接，所述装载区内连接有所述老化探针，所述老化探针与所述老化板上的总接头连接；

所述电容存放盘上还设有识别组件，所述测试板、所述老化板上分别设有与所述识别组件对应的识别探针。

采用了这样的结构后，在测试前先将待检测的电容置于电容存放盘的存放槽内，之后可以通过连接测试板形成测试夹具并通过测试装置进行测试，之后将电容存放盘与老化板连接，置于老化设备中老化试验，之后再次装上测试板进行测试，整个过程电容不需要重复取出、放入节省了人力，同时电容由于位于电容存放盘中的位置不发生改变，能够根据其位置记录其测试数据并比对，从而便于记录其老化前后的元器件参数变化。

附图说明

图1为电容存放盘（用于带有引线的穿心电容）结构图；

图2为电容存放盘（用于圆片状穿心电容）结构图；

图3为电容存放盘（用于三端电容）结构图；

图4为带有引线的穿心电容结构图；

图5为圆片状穿心电容结构图；

图6为三端电容结构图；

图7为测试板（用于带有引线的穿心电容）结构示意图；

图8为测试板（用于带有引线的穿心电容）压覆于电容存放盘的结构示意图；

图9为测试板（用于圆片状穿心电容）结构示意图；

图10为测试板（用于圆片状穿心电容）压覆于电容存放盘的结构示意图；

图11为测试板（用于三端电容）结构示意图；

图12为测试板（用于三端电容）压覆于电容存放盘的结构示意图；

图13为老化板（用于带有引线的穿心电容）结构示意图；

图14为老化板（用于圆片状穿心电容）结构示意图；

图15为老化板（用于三端电容）结构示意图；

图16为老化板与电容存放盘连接示意图。

具体实施方式

如图1所示的一种用于电容检测的夹具，其包括电容存放盘1，电容存放盘1上开设有多个形状与待检测的电容的形状相对应的存放槽2；结合图7、图13所示，其还包括分别于测试和老化时与电容存放盘连接的测试板3和老化板4；

测试板3上连接有测试探针31，测试探针31与位于存放槽2内的电容的部分或者全部电极位置相对应并且用于在测试时压覆在电极上；

老化板4上连接有老化探针41，老化探针41与位于存放槽2内的电容的部分或者全部电极位置相对应并且用于在老化时压覆在电极上。

使用上述夹具，当需要进行检测时，将电容置入电容存放盘1的存放槽2，存放槽2上方开口并暴露出电容电极，当测试时将存放盘与测试板连接形成测试夹具，当老化时将存放盘与老化板连接形成老化夹具，这样在连接测试板3或老化板4后能够通过探针压覆在电极上从而将其接入测试电路、测试表中进行参数测试，或者接入老化加电电路中进行老化加电。在整个过程中电容可以始终保持在电容存放盘中，不需要取出再重新放入，便于使用，同时由于位置可以保持统一从而可以根据其盘号和盘中相对位置信息来对电容的参数进行记录，从而可以对参数进行比对。

而当电容为异形电容时，在现有技术中，测试和老化采用不同的夹具，因异形电容的品种规格较多，在测试时通常采用人工测试方式。在老化时采用针对每种尺寸、外形规格的异形电容，使用不同的老化座对异型电容进行弹片接触和固定。老化座的弹性电极对异形电容是有安装阻力的，需人工将异形电容装入老化座，很难实现自动化装载夹具。另外，因为老化座内含有弹片，必须将老化座固定焊接在老化板上，而老化板为了提高老化容量，通常会将多个电容并联起来进行老化加电，使这种老化板不能用于电容的测试设备，老化结束后还必须逐只将电容取出老化座，然后电容需被装入另一种测试夹具，才有可能用自动测试设备进行测试。因现有测试夹装载异形电容较费人工，所以现有技术采用人工测试。

而当本方案用于异形电容时：

异形电容为带有引线的穿心电容，电容结构如图4所示，其包括电容中间主体100和两端的引线101，此时结合图1、图7、图8、图13、图16，存放槽2包括用于容纳电容中间主体的主体槽21和用于容纳引线的引线槽22，存放槽形状能使穿心电容处于半陷入的状态，引线槽22的位置还开设有用于探针伸入的探针槽23，测试探针31、老化探针41对应电容中间主体100和至少一根引线101设置，图中每根引线均对应有一根引线（短接）。

异形电容为圆片状穿心电容，电容结构如图5所示，其包括位于中间的穿心电极200和位于外圆的环状外圆电极201；结合图2、图9、图10、图14、图16，存放槽2用于容纳电极朝上时的圆片状穿心电容，测试探针31、老化探针41对应圆片状穿心电容的穿心电极200和外圆电极201设置，图中外圆电极201上压有两根探针（短接），当然也可以只压一根。

异形电容为三端电容，电容结构如图6所示，图中300为其电极位置；结合图3、图11、图12、图15、图16所示，存放槽2用于容纳三个电极同时朝上时的三端电容，也就是存放槽尺寸与上述状态下的电容尺寸相对应，存放槽的形状能使三端电容以水平方式放入，露出的部分可确保三个电极露出载盒表面，测试探针31、老化探针41对应三个电极设置。

另外，异形电容并不是只能有一种，异形电容也可以包括带有引线的穿心电容、圆片状穿心电容和三端电容；当电容为带有引线的穿心电容时，存放槽包括用于容纳电容中间主体的主体槽和用于容纳引线的引线槽，引线槽的位置还开设有用于探针伸入的探针槽，测试探针、老化探针对应电容中间主体和至少一根引线设置；当电容为圆片状穿心电容时，存放槽用于容纳电极朝上时的圆片状穿心电容，测试探针、老化探针对应圆片状穿心电容的穿心电极和外圆电极设置；当电容为三端电容时，存放槽用于容纳三个电极同时朝上时的三端电容，测试探针、老化探针对应三个电极设置。

而对于测试板3和老化板4，如图7、图9、图11所示，测试板3与上下驱动机构5连接，通过上下驱动机构5（例如气缸）控制测试板3压覆在电容存放盘1上实现其连接，当然上述方式只是为了便于测试操作，通过气缸控制测试板3下压使测试探针压覆在电容电极上，这样就能将电容接到测试仪表中读取其参数，较为自动化并且操作便利，也可采用将测试板和存放盘相互通过螺栓连接固定后置入测试机进行测试，测试完成后再进行拆卸。

如图13、图14、图15、图16所示，为了进行大批量老化，老化板4（其主体可以为电路板）包括大于一个的装载区，电容存放盘1分别依靠人工通过定位组件（盘上的定位孔一11、老化板上的定位孔二12、螺栓）与装载区连接，装载区内连接有老化探针41，老化探针41与老化板上的总接头42连接；这样存放盘装在老化板4上后，将老化板4置入老化炉中，通过总接头42、老化板4上电路、探针对电容加电。

另外，电容存放盘1上还设有识别组件（用于编号、条码及设备读取的编码元件），测试板3、老化板4上分别设有与识别组件对应的识别探针（图中未示出），这样就可以在测试前对存放盘的信息（存放盘盘号）进行读取，并可以将测试信息录入电脑中便于对比。

以上，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉该技术的人在本实用新型所揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种用于电容检测的夹具，其包括电容存放盘，其特征在于：所述电容存放盘上开设有多个形状与待检测的电容的形状相对应的存放槽；其还包括分别于测试和老化时与所述电容存放盘连接的测试板和老化板；

所述测试板上连接有测试探针，所述测试探针与位于所述存放槽内的电容的部分或者全部电极位置相对应并且用于在测试时压覆在电极上；

所述老化板上连接有老化探针，所述老化探针与位于所述存放槽内的电容的部分或者全部电极位置相对应并且用于在老化时压覆在电极上。

2.根据权利要求1所述的一种用于电容检测的夹具，其特征在于：所述电容为异形电容。

3.根据权利要求2所述的一种用于电容检测的夹具，其特征在于：所述异形电容为带有引线的穿心电容；所述存放槽包括用于容纳电容中间主体的主体槽和用于容纳引线的引线槽，所述测试探针、所述老化探针对应所述电容中间主体和至少一根所述引线设置。

4.根据权利要求2所述的一种用于电容检测的夹具，其特征在于：所述异形电容为圆片状穿心电容；所述存放槽用于容纳电极朝上时的所述圆片状穿心电容，所述测试探针、所述老化探针对应所述圆片状穿心电容的穿心电极和外圆电极设置。

5.根据权利要求2所述的一种用于电容检测的夹具，其特征在于：所述异形电容为三端电容；所述存放槽用于容纳三个电极同时朝上时的所述三端电容，所述测试探针、所述老化探针对应三个电极设置。

6.根据权利要求2所述的一种用于电容检测的夹具，其特征在于：所述异形电容包括带有引线的穿心电容、圆片状穿心电容和三端电容；当所述电容为带有引线的穿心电容时，所述存放槽包括用于容纳电容中间主体的主体槽和用于容纳引线的引线槽，所述测试探针、所述老化探针对应所述电容中间主体和至少一根所述引线设置；当所述电容为圆片状穿心电容时，所述存放槽用于容纳电极朝上时的所述圆片状穿心电容，所述测试探针、所述老化探针对应所述圆片状穿心电容的穿心电极和外圆电极设置；当所述电容为三端电容时，所述存放槽用于容纳三个电极同时朝上时的所述三端电容，所述测试探针、所述老化探针对应三个电极设置。

7.根据权利要求3或6所述的一种用于电容检测的夹具，其特征在于：所述引线槽的位置还开设有用于探针伸入的探针槽。

8.根据权利要求1-6任一所述的一种用于电容检测的夹具，其特征在于：所述测试板与上下驱动机构连接，通过所述上下驱动机构控制所述测试板压覆在所述电容存放盘上。

9.根据权利要求1-6任一所述的一种用于电容检测的夹具，其特征在于：所述老化板包括大于一个的装载区，所述电容存放盘分别通过定位组件与所述装载区连接，所述装载区内连接有所述老化探针，所述老化探针与所述老化板上的总接头连接。

10.根据权利要求8所述的一种用于电容检测的夹具，其特征在于：所述电容存放盘上还设有识别组件，所述测试板、所述老化板上分别设有与所述识别组件对应的识别探针。

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