CN210090565U - 一种电容测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种电容测试装置，其兼容性好。其包括测试机主体，所述测试机主体包括充电工位，漏电流测试工位，容量、损耗、ESR测试工位，筛选工位，测试机轨道连接所述充电工位、所述漏电流测试工位、所述容量、损耗、ESR测试工位，所述充电工位、所述漏电流测试工位、所述容量、损耗、ESR测试工位分别包括驱动装置，所述驱动装置连接有探针板，其特征在于：其还包括载盒，用于放置电容条带或者成品单颗电容，所述载盒的种类等于所述电容条带的种类和所述成品单颗电容的种类之和，不同种类的所述载盒的宽度相等，所述测试机轨道与所述载盒宽度相对应。

Description

一种电容测试装置

技术领域

本实用新型涉及电子元件检测技术领域，具体为一种电容测试装置。

背景技术

电容尤其是片式电解电容正向小型化、大容量、低ESR方向发展，对测试设备的要求向高速、高精度、能测量低至10毫欧甚至几毫欧的ESR值（等效串联电阻）的方向发展。在高等级、高可靠性应用领域，电容测试设备必须满足小批量、多品种的测试要求。目前被测片式电解电容通常有两种形式，一种是成品单颗形式，另一种是还连在引线框上的条带形式（还是一种半成品）。

现有技术针对条带形式的电容，采用直接将电容条带放入自动测试机的测试轨道中，将条带在轨中被按顺序移向各个充电、测量、筛选等工位，其中充电及漏电流测试工位是由整体一字排列的探针阵列，以整体同时压在条带上每个电容的电极上；采用自动测试机对电容条带进行测试，每台测试机的部件例如轨道宽度、轨道上运输条带状电容的部件都严格与电容壳号也就是电容条带的尺寸相对应，不同宽度的电容条带无法在一台测试机上完成测试，即不同壳号的电容条带不能用现有测试设备以兼容方式进行测试，同样，也无法兼容以成品单颗电容形式存在的电容。

实用新型内容

针对传统测试机兼容性差的问题，本实用新型提供了一种电容测试装置，其兼容性好。

其技术方案是这样的：一种电容测试装置，其包括测试机主体，所述测试机主体包括充电工位，漏电流测试工位，容量、损耗、ESR测试工位，筛选工位，测试机轨道连接所述充电工位、所述漏电流测试工位、所述容量、损耗、ESR测试工位，所述充电工位、所述漏电流测试工位、所述容量、损耗、ESR测试工位分别包括驱动装置，所述驱动装置连接有探针板，其特征在于：其还包括载盒，用于放置电容条带或者成品单颗电容，所述载盒的种类等于所述电容条带的种类和所述成品单颗电容的种类之和，不同种类的所述载盒的宽度相等，所述测试机轨道与所述载盒宽度相对应。

其进一步特征在于：

所述载盒内设有放置槽，所述放置槽用于容纳所述电容条带或者所述成品单颗电容，所述探针板上的探针分布与电容的电极分布相对应；

所述载盒内设有放置槽，所述放置槽用于容纳所述成品单颗电容，所述放置槽内设有与所述成品单颗电容的电极相对应的探针，所述放置槽内的探针分别与所述载盒上表面两侧的触点连接，所述探针板上的探针分布与所述触点分布相对应；

所述载盒内设有放置槽，所述放置槽用于容纳所述成品单颗电容，所述放置槽内设有与所述成品单颗电容的电极相对应的导电弹性触点，所述放置槽内的导电弹性触点分别与所述载盒上表面两侧的触点连接，所述探针板上的探针分布与所述触点分布相对应；

所述放置槽内的探针有四个并且为弹性探针并且不同种类的所述载盒上的触点位置一致；

每个电容分别与所述容量、损耗、ESR测试工位的探针板的四根弹性探针相对应；

所述容量、损耗、ESR测试工位分为容量损耗测试工位和ESR测试工位，每个电容分别与所述ESR测试工位的探针板的四根弹性探针相对应；

每对触点分别与所述容量、损耗、ESR测试工位的探针板的四根弹性探针相对应；

所述容量、损耗、ESR测试工位分为容量损耗测试工位和ESR测试工位，每对触点分别与所述ESR测试工位的探针板的四根弹性探针相对应；

所述筛选工位为切刀式或者吸头式或者同时包括切刀式和吸头式；

其还包括上料装置和下料装置。

采用了这样的结构后，将不同壳号的电容条带或者不同尺寸的成品单颗电容分别放入宽度相等的载盒中，通过载盒与测试机轨道的兼容，就能在更换不同的电容时，只需要对载盒进行更换，必要时对探针板进行更换，而不需要对整机进行更换，从而使得测试机兼容性好。

附图说明

图1为测试机结构示意图；

图2 为条带式载盒示意图；

图3为成品单颗电容式载盒示意图；

图4为成品单颗电容式载盒省略其中的一个电容后的示意图。

具体实施方式

如图1所示的一种电容测试装置，其包括测试机主体，测试机主体包括上料装置7，充电工位1，漏电流测试工位2，容量、损耗、ESR测试工位，筛选工位4，下料装置8，其中，充电工位1可以大于等于1个，容量、损耗、ESR测试工位可以分为容量损耗测试工位3-1和ESR测试工位3-2，采用多工位可以提升测试速度，漏电流测试工位2外接有电流表用于测试电容漏电流，容量、损耗、ESR测试工位外接有LCR表用于测试相关参数，控制器通过控制继电器开关阵列的开闭来实现每个电容的测试回路的通断，具体测试方式与申请号为201721084196.2的一种电容自动测试装置中采用的测试方式一致；测试机轨道5连接充电工位1、漏电流测试工位2、容量、损耗、ESR测试工位，充电工位1、漏电流测试工位、容量、损耗、ESR测试工位分别包括驱动装置，驱动装置连接有探针板，通过驱动装置控制探针板下压；其还包括载盒6，用于放置电容条带或者成品单颗电容，载盒6的种类等于电容条带的种类和成品单颗电容的种类之和，不同种类的载盒6的宽度相等，测试机轨道5与载盒6宽度相对应。

采用了这样的结构后，将不同壳号的电容条带或者不同尺寸的成品单颗电容分别放入宽度相等的载盒中，通过载盒与测试机轨道的兼容，就能在更换不同的电容时，只需要对载盒进行更换，必要时对探针板进行更换，而不需要对整机进行更换，从而使得测试机兼容性好。

如图2所示，载盒6内设有放置槽6-1，放置槽6-1用于容纳电容条带6-2或者成品单颗电容6-3，载盒6的放置槽6-1也可以设置与成品单颗电容6-3尺寸相对应，此时电容电极朝上置于放置槽6-1内，探针板上的探针分布与载盒中的电容的电极分布相对应，通过驱动装置使探针板下压从而使探针与电容电极接触实现充电或者测试，而如果要更换不同壳号的电容条带6-2或者成品单颗电容6-3，不仅需要更换具有不同尺寸放置槽6-1的载盒6，也需要更换探针板，以保证探针板与电容的电极分别相对应。

如图3、图4所示，载盒6内设有放置槽6-1，放置槽6-1用于容纳成品单颗电容6-3，放置槽6-1内设有与成品单颗电容6-3的电极相对应的探针6-4，此探针6-4也可替换为导电弹性触点例如弹簧片，放置槽6-1内的探针6-4分别与载盒6上表面两侧的触点6-5连接，探针板上的探针分布与载盒6上的触点6-5分布相对应，不同种类的载盒6的触点6-5位置一致，采用这种结构，将电容电极朝下置入放置槽6-1，此时如果采用不同种类的电容，只需要更换载盒6而不需要去更好探针板，兼容性更好。

另外，放置槽6-1内的探针6-4为4根弹性探针，同时容量、损耗、ESR测试工位的探针或者ESR测试工位3-2的探针为弹性探针，四个一组，同时压在电容的一对电极或者一对触点上，利用开尔文测试来实现低ESR值的测试，实现低ESR值的精确测量，而采用弹性探针能够保证四个探针均与电容电极接触，进一步提升测试精度。

另外，如果测试机仅针对条带电容进行测试，则筛选工位4为切刀式，通过前面测试工位将测试参数传递至控制器，通过控制器控制切刀对不合格的电容进行切除；如果仅针对成品单颗电容进行测试，则筛选工位4为吸头式，直接吸取不合格的成品单颗电容，如果需要对条带电容或者成品单颗电容进行测试，则可以同时设置切刀式筛选工位和吸头式筛选工位，根据需要启动进行筛选。

装载盒6通过上料装置7自动上料至测试机轨道5上，运输至充电工位1进行充电，充电时控制探针板下压，一次性对整个装载盒6中的电容进行充电，同样运输至漏电流测试工位2一次性对整个装载盒6中的电容进行漏电流测试，如果需要的话再运输至容量损耗测试工位3-1一次性对整个装载盒6中的电容进行容损测试，当运输至容量、损耗、ESR测试工位或者ESR测试工位3-2时，此时探针板上的探针可以仅设有4根，4根探针分别与载盒6中的一个电容的电极或者一个触点6-5相对应，一次检测一个电容，也可以将探针板上的探针与载盒6中所有的电容的电极相对应或者所有的触点6-5相对应，一次检测一盒，在检测时通过继电器开关切换将每个电容接入测试电路中。

以上，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉该技术的人在本实用新型所揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。

Claims (11)

1.一种电容测试装置，其包括测试机主体，所述测试机主体包括充电工位，漏电流测试工位，容量、损耗、ESR测试工位，筛选工位，测试机轨道连接所述充电工位、所述漏电流测试工位、所述容量、损耗、ESR测试工位，所述充电工位、所述漏电流测试工位、所述容量、损耗、ESR测试工位分别包括驱动装置，所述驱动装置连接有探针板，其特征在于：其还包括载盒，用于放置电容条带或者成品单颗电容，所述载盒的种类等于所述电容条带的种类和所述成品单颗电容的种类之和，不同种类的所述载盒的宽度相等，所述测试机轨道与所述载盒宽度相对应。

2.根据权利要求1所述的一种电容测试装置，其特征在于：所述载盒内设有放置槽，所述放置槽用于容纳所述电容条带或者所述成品单颗电容，所述探针板上的探针分布与电容的电极分布相对应。

3.根据权利要求1所述的一种电容测试装置，其特征在于：所述载盒内设有放置槽，所述放置槽用于容纳所述成品单颗电容，所述放置槽内设有与所述成品单颗电容的电极相对应的探针，所述放置槽内的探针分别与所述载盒上表面两侧的触点连接，所述探针板上的探针分布与所述触点分布相对应。

4.根据权利要求1所述的一种电容测试装置，其特征在于：所述载盒内设有放置槽，所述放置槽用于容纳所述成品单颗电容，所述放置槽内设有与所述成品单颗电容的电极相对应的导电弹性触点，所述放置槽内的导电弹性触点分别与所述载盒上表面两侧的触点连接，所述探针板上的探针分布与所述触点分布相对应。

5.根据权利要求3所述的一种电容测试装置，其特征在于：所述放置槽内的探针有四个并且为弹性探针并且不同种类的所述载盒上的触点位置一致。

6.根据权利要求2所述的一种电容测试装置，其特征在于：每个电容的电极分别与所述容量、损耗、ESR测试工位的探针板的四根弹性探针相对应。

7.根据权利要求2所述的一种电容测试装置，其特征在于：所述容量、损耗、ESR测试工位分为容量损耗测试工位和ESR测试工位，每个电容的电极分别与所述ESR测试工位的探针板的四根弹性探针相对应。

8.根据权利要求3-5任一所述的一种电容测试装置，其特征在于：载盒上表面两侧的触点分别与所述容量、损耗、ESR测试工位的探针板的四根弹性探针相对应。

9.根据权利要求3-5任一所述的一种电容测试装置，其特征在于：所述容量、损耗、ESR测试工位分为容量损耗测试工位和ESR测试工位，载盒上表面两侧的触点分别与所述ESR测试工位的探针板的四根弹性探针相对应。

10.根据权利要求1所述的一种电容测试装置，其特征在于：所述筛选工位为切刀式或者吸头式或者同时包括切刀式和吸头式。

11.根据权利要求1所述的一种电容测试装置，其特征在于：其还包括上料装置和下料装置。

Images