CN207164093U - 一种电容自动测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供了一种电容自动测试装置,其通过让测试探针头处于静态接触电容的方式进行测试,避免了测试探针与电容接触不稳定导致测量不准确的情况发生,且测试速度快,精度高,包括输送轨道,输送轨道上设有电容阵列,电容阵列上排列设置有电容,沿输送轨道的输送方向设有测试工位,测试工位包括夹具板,夹具板上排布有与电容对应的阵列探针,测试夹具连接有驱动装置,驱动装置能够驱动夹具板运动,使得阵列探针接触电容阵列的电容,阵列探针分别在连接继电器开关后并联连接、且再连接测试仪表构成测试回路,继电器开关连接控制器,控制器通过控制继电器开关来实现电容的测试回路的通断,用于所述电容的容量、损耗、ESR、漏电流测试。
Description
技术领域
本实用新型涉及电容生产测试技术领域,具体为一种电容自动测试装置。
背景技术
在现有技术中,对容量较大的片式电解电容或陶瓷电容进行容量、损耗、ESR(等效串联电阻)及漏电流这4个参数测试时,为提高测试速度,通常采用对多个电容进行同时充电,以大幅缩短每个电容的平均漏电流测试时间,见附图1示意,现有的片式钽电解电容或片式铝电解电容全自动4参数测试机,采用的是用多个一字阵列探针头分别对多个电容阵列进行充电及漏电流测试,而对容量、损耗测试项目采用独立的单个电容探针测试头对一字排列的阵列电容进行移动式轮流扫描接触测试,对ESR测试项目采用另一个单个电容探针测试头进行同样方式的轮流扫描接触测试,在轮流扫描接触测试时,固定工位上设有测试探针,电容一个个移动,当单个电容分别运动到测试探针下方时探针下压进行测试,这种方案由于电容处于高速移动的状态,通过机械部件带动测试探针与电容进行接触,容易发生由于测试探针与电容接触不稳定导致测量不准确的情况,且机械部件长期运行容易磨损需要经常停机维护,效率低。
实用新型内容
针对上述问题,本实用新型提供了一种电容自动测试装置,其通过让测试探针头处于静态接触电容的方式进行测试,避免了测试探针与电容接触不稳定导致测量不准确的情况发生,且测试速度快,精度高。
其技术方案是这样的:一种电容自动测试装置,包括呈直线设置的输送轨道,所述输送轨道上设有能够沿所述输送轨道移动的电容阵列,所述电容阵列上排列设置有电容,其特征在于:沿所述输送轨道的输送方向设有至少一个测试工位,所述测试工位包括测试夹具,所述测试夹具包括夹具板,所述夹具板上排布有与所述电容对应的阵列探针,所述测试夹具连接有驱动装置,所述驱动装置能够驱动夹具板运动,使得所述阵列探针接触所述电容阵列的电容,所述阵列探针分别在连接继电器开关阵列后并联连接、且再连接测试仪表构成测试回路,所述继电器开关阵列连接有控制器,所述控制器通过控制继电器开关阵列的开闭来实现每个所述电容的测试回路的通断,用于所述电容的容量、损耗、ESR、漏电流测试。
进一步的,所述测试仪表包括LCR表和电流表,所述LCR表用于测试容量、损耗、ESR,所述电流表用于测试漏电流,所述阵列探针分别在连接继电器开关阵列后并联再连接有转换开关,所述LCR表和所述电流表分别连接转换开关的触点,所述转换开关连接所述控制器,所述控制器通过控制转换开关来切换所述电容的测试项目。
进一步的,所述阵列探针包括四根测试探针,所述测试探针分别下压在所述电容的两侧,所述电容的两侧对应下压有两根所述测试探针,所述LCR表包括Lf、Ls、Hf、Hs四个端口,四根所述测试探针分别连接所述LCR表的Lf、Ls、Hf、Hs端口,所述电流表设有与四根所述测试探针匹配的接口。
进一步的,所述电容阵列上的电容呈一字形排列,所述阵列探针对应呈一字形排列。
进一步的,所述电容阵列上的电容呈矩阵阵列排列,所述阵列探针呈一字形排列且与所述电容阵列的每一行所述电容相匹配。
进一步的,所述测试工位设置有两个,其中一个所述测试工位用于漏电流测试,另一个所述测试工位用于容量、损耗、ESR测试。
进一步的,所述输送轨道两端分别设有上料装置和下料装置。
进一步的,沿所述输送轨道的输送方向,在所述测试工位的前侧且位于所述上料装置的后侧设有浪涌测试工位。
进一步的,沿所述输送轨道的输送方向,在所述测试工位的后侧且位于所述下料装置的前侧设有筛选工位。
进一步的,所述输送轨道对称且平行设置有两组。
进一步的,所述测试仪表连接工控机,测试数据从所述测试仪表传送至工控机进行保存分析处理。
本实用新型的电容自动测试装置通过驱动装置驱动夹具板运动,使得夹具板的阵列探针整体接触电容阵列的电容,接触电容稳定后,通过控制器控制继电器的开关,以实现每个电容的测试线路的通断,从而实现了在一个测试工位完成了对多个电容的切换测试,机械运动较少,避免了现有技术中机械部件运动造成的磨损带来的经常维护,也解决了现有技术中机械部件运动速度不高,若提高运动速度又会导致测试探针和被测件之间接触不稳定的问题,采用本实用新型的电容自动测试装置测试精准,而采用继电器对多个电容的切换测试的切换稳定性高,速度快,寿命长。
附图说明
图1为现有的电容测试装置的示意图;
图2为本实用新型的具体实施例一的电容自动测试装置的示意图;
图3为本实用新型的具体实施例一夹具板与电容阵列接触的部分结构示意图;
图4为本实用新型的电容测试线路的示意图。
图5为本实用新型的具体实施例二的电容自动测试装置的示意图;
图6为本实用新型的具体实施例三的电容自动测试装置的示意图。
具体实施方式
具体实施例一:见图2、图4、图5,本实用新型的一种电容自动测试装置,包括呈直线设置的输送轨道1,输送轨道两端分别设有上料装置2和下料装置3,输送轨道1上设有通过上料装置2运送到输送轨道1上且随输送轨道1移动的电容阵列4,电容阵列4上排列设置有电容5,沿输送轨道的输送方向设有两个测试工位,一个测试工位61用于漏电流测试,另一个测试工位62用于容量、损耗、ESR测试,测试工位包括测试夹具,测试夹具包括夹具板7,夹具板7上排布有与电容5对应的阵列探针8,电容阵列4上的电容5呈一字形排列,阵列探针8对应呈一字形排列,测试夹具连接有驱动装置,驱动装置能够驱动夹具板运动,使得阵列探针8接触电容阵列4的电容5,阵列探针8分别在连接继电器开关阵列9后并联连接、且再连接测试仪表构成测试回路,继电器开关阵列9连接有控制器10,控制器10通过控制继电器开关阵列9的开闭来实现每个电容的测试回路的通断,测试仪表连接工控机,测试数据从测试仪表传送至工控机进行保存分析处理,测试仪表包括LCR表11和电流表12,LCR表11用于测试容量、损耗、ESR,电流表12用于测试漏电流,阵列探针8分别在连接继电器开关阵列9后并联再连接有转换开关13,LCR表11和电流表12分别连接转换开关13的触点,转换开关13连接控制器,控制器10通过控制转换开关13来切换电容的测试项目,阵列探针8包括四根测试探针14,测试探针14分别下压在电容5的两侧,电容5的两侧对应下压有两根测试探针14,LCR表11包括Lf、Ls、Hf、Hs四个端口,四根测试探针14分别连接LCR表11的Lf、Ls、Hf、Hs端口,电流表12设有与四根测试探针匹配的接口,沿输送轨道1的输送方向,在测试工位61的前侧且位于上料装置2的后侧设有浪涌测试工位15,沿输送轨道1的输送方向,在测试工位62的后侧且位于下料装置3的前侧设有筛选工位16。
以下描述本实施例的电容自动测试装置的测试过程,电容阵列通过上料装置运送至输送轨道并随输送轨道移动,当电容阵列移动到测试工位时,驱动装置驱动夹具板下压,使得阵列探针接触电容阵列的电容,控制器通过继电器开关阵列将需要测试的一组阵列探针的线路进行闭合,形成测试回路,再通过转换开关切换至LCR表或电流表,进行容量、损耗、ESR测试、漏电流测试,测试数据从相应的测试仪表传送至工控机进行保存分析处理,系统再进行电容阵列的其他电容的测试切换,测试数据从测试仪表端传送至工控机进行保存分析处理,当当前电容阵列所有电容均测试完毕后,驱动装置驱动夹具板上台,完成检测的电容阵列随输送轨道送走。
本实施例的电容自动测试装置,采用多个由多根探针构成的一字阵列阵列探针构成测试工位,每个测试工位上的阵列探针可以同时上下运动。在阵列探针下方,有一条与一字阵列探针头平行的输送轨道,在输送轨道中有可以沿轨道移动的、一字整齐排列的电容阵列与每个阵列探针对应。当被测电容阵列沿输送轨道移至测试工位后,探针测试头向下移动使阵列探针尖同时压在电容阵列中的每个电容的电极上,整个探针测试头静止不动,通过控制器控制继电器的开关,以实现每个电容的测试线路的通断,从而实现了在一个测试工位完成了对多个电容的切换测试,直至完成对整个电容阵列中每个电容进行所设定的所有测试项目,探针头即向上升起,其下方的电容阵列沿轨道移至下一个工位,由于多个阵列探针头呈纵向布置,多个电容阵列可以同时由前道工位移入或移出至下一个工位,使测试等待时间大幅度缩短,使整机综合测试速度大幅提高。在本方案中,被测的电容阵列可以是仍在引线框架上被切成一段的条带形式,也可以是引线成型后的多个单个成品被装入一字形条状盒的条盒形式,测试工位既可测试条带状产品,也可测试散粒的成品,兼容性强。
具体实施例二:见图3、图4、图5,一种电容自动测试装置,包括呈平行且对称呈直线设置的2条输送轨道1输送轨道两端分别设有上料装置2和下料装置3,输送轨道1上设有通过上料装置2运送到输送轨道1上且随输送轨道1移动的电容阵列4,电容阵列4上排列设置有电容5,沿输送轨道的输送方向设有两个测试工位,一个测试工位61用于漏电流测试,另一个测试工位62用于容量、损耗、ESR测试,测试工位包括测试夹具,测试夹具包括夹具板7,夹具板7上排布有与电容5对应的阵列探针8,电容阵列4上的电容5呈一字形排列,阵列探针8对应呈一字形排列,测试夹具连接有驱动装置,驱动装置能够驱动夹具板运动,使得阵列探针8接触电容阵列4的电容5,阵列探针8分别在连接继电器开关阵列9后并联连接、且再连接测试仪表构成测试回路,继电器9开关连接有控制器10,控制器10通过控制继电器开关阵列9的开闭来实现每个电容的测试回路的通断,测试仪表连接工控机,测试数据从测试仪表传送至工控机进行保存分析处理,测试仪表包括LCR表11和电流表12,LCR表11用于测试容量、损耗、ESR,电流表12用于测试漏电流,阵列探针8分别在连接继电器开关阵列9后并联再连接有转换开关13,LCR表11和电流表12分别连接转换开关13的触点,转换开关13连接控制器,控制器10通过控制转换开关13来切换电容的测试项目,阵列探针8包括四根测试探针14,测试探针14分别下压在电容5的两侧,电容5的两侧对应下压有两根测试探针14,LCR表11包括Lf、Ls、Hf、Hs四个端口,四根测试探针14分别连接LCR表11的Lf、Ls、Hf、Hs端口,电流表12设有与四根测试探针匹配的接口,沿输送轨道1的输送方向,在测试工位61的前侧且位于上料装置2的后侧设有浪涌测试工位15,沿输送轨道1的输送方向,在测试工位62的后侧且位于下料装置3的前侧设有筛选工位16。
本实用新型中采用双轨结构方案,这时对应的探针阵列测试头的数量增加一倍,附加的其它工位同时增加一倍,从而使综合测试速度提升一倍,因此本实用新型提出的方案,在保持测试精度的条件下,能够实现比现有技术方案更快的测试速度。
具体实施例三:见图4、图5、图6,本实用新型的一种电容自动测试装置,包括呈直线设置的输送轨道1,输送轨道1上设有沿输送轨道1移动的电容阵列4,电容阵列4上排列设置有电容5,沿输送轨道的输送方向设有一个测试工位6,用于漏电流、容量、损耗、ESR测试,测试工位6包括测试夹具,测试夹具包括夹具板7,夹具板7上排布有与电容5对应的阵列探针8,电容阵列4上的电容呈矩阵阵列排列,阵列探针8呈一字形排列且与电容阵列5的每一行电容相匹配,测试夹具连接有驱动装置17,驱动装置能够驱动夹具板运动,使得阵列探针8接触电容阵列4的电容5,阵列探针8分别在连接继电器开关阵列9后并联连接、且再连接测试仪表构成测试回路,继电器开关阵列9连接有控制器10,控制器10通过控制继电器开关阵列9的开闭来实现每个电容的测试回路的通断,测试仪表连接工控机,测试数据从测试仪表传送至工控机进行保存分析处理,测试仪表包括LCR表11和电流表12,LCR表11用于测试容量、损耗、ESR,电流表12用于测试漏电流,阵列探针8分别在连接继电器开关阵列9后并联再连接有转换开关13,LCR表11和电流表12分别连接转换开关13的触点,转换开关13连接控制器,控制器10通过控制转换开关13来切换电容的测试项目,阵列探针8包括四根测试探针14,测试探针14分别下压在电容5的两侧,电容5的两侧对应下压有两根测试探针14,LCR表11包括Lf、Ls、Hf、Hs四个端口,四根测试探针14分别连接LCR表11的Lf、Ls、Hf、Hs端口,电流表12设有与四根测试探针匹配的接口,沿输送轨道1的输送方向,在测试工位62的后侧且位于下料装置3的前侧设有筛选工位16。
本实用新型的具体实施例一和具体实施例二中,采用一个测试工位61用于漏电流测试,另一个测试工位62用于容量、损耗、ESR测试,由于漏电流测试的耗时大于容量、损耗、ESR测试三项测试的时间,这样设置两个测试工位可以进一步提高测试效率。
以上显示和描述了本实用新型的基本原理和主要特征和本使用新型的优点。本行业的技术人员应该了解,本实用新型不受上实例的限制,上述实例和说明书描述的只是说明本实用新型的原理,在不脱离本实用新型精神和范围的前提下,本实用新型还会有各种变化和改进,这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。
Claims (10)
1.一种电容自动测试装置,包括呈直线设置的输送轨道,所述输送轨道上设有能够沿所述输送轨道移动的电容阵列,所述电容阵列上排列设置有电容,其特征在于:沿所述输送轨道的输送方向设有至少一个测试工位,所述测试工位包括测试夹具,所述测试夹具包括夹具板,所述夹具板上排布有与所述电容对应的阵列探针,所述测试夹具连接有驱动装置,所述驱动装置能够驱动夹具板运动,使得所述阵列探针接触所述电容阵列的电容,所述阵列探针分别在连接继电器开关阵列后并联连接、且再连接测试仪表构成测试回路,所述继电器开关阵列连接有控制器,所述控制器通过控制继电器开关阵列的开闭来实现每个所述电容的测试回路的通断,用于所述电容的容量、损耗、ESR、漏电流测试。
2.根据权利要求1所述的一种电容自动测试装置,其特征在于:所述测试仪表包括LCR表和电流表,所述LCR表用于测试容量、损耗、ESR,所述电流表用于测试漏电流,所述阵列探针分别在连接继电器开关阵列后并联再连接有转换开关,所述LCR表和所述电流表分别连接转换开关的触点,所述转换开关连接所述控制器,所述控制器通过控制转换开关来切换所述电容的测试项目。
3.根据权利要求2所述的一种电容自动测试装置,其特征在于:所述阵列探针包括四根测试探针,所述测试探针分别下压在所述电容的两侧,所述电容的两侧对应下压有两根所述测试探针,所述LCR表包括Lf、Ls、Hf、Hs四个端口,四根所述测试探针分别连接所述LCR表的Lf、Ls、Hf、Hs端口,所述电流表设有与四根所述测试探针匹配的接口。
4.根据权利要求1所述的一种电容自动测试装置,其特征在于:所述电容阵列上的电容呈一字形排列,所述阵列探针对应呈一字形排列。
5.根据权利要求1所述的一种电容自动测试装置,其特征在于:所述电容阵列上的电容呈矩阵阵列排列,所述阵列探针呈一字形排列且与所述电容阵列的每一行所述电容相匹配。
6.根据权利要求4所述的一种电容自动测试装置,其特征在于:所述测试工位设置有两个,其中一个所述测试工位用于漏电流测试,另一个所述测试工位用于容量、损耗、ESR测试。
7.根据权利要求4所述的一种电容自动测试装置,其特征在于:所述输送轨道两端分别设有上料装置和下料装置。
8.根据权利要求7所述的一种电容自动测试装置,其特征在于:沿所述输送轨道的输送方向,在所述测试工位的前侧且位于所述上料装置的后侧设有浪涌测试工位,沿所述输送轨道的输送方向,在所述测试工位的后侧且位于所述下料装置的前侧设有筛选工位。
9.根据权利要求1所述的一种电容自动测试装置,其特征在于:所述测试仪表连接工控机,测试数据从所述测试仪表传送至工控机进行保存分析处理。
10.根据权利要求1所述的一种电容自动测试装置,其特征在于:所述输送轨道对称且平行设置有两组。
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| PE01 | Entry into force of the registration of the contract for pledge of patent right |
Denomination of utility model: A capacitance automatic testing device Granted publication date: 20180330 Pledgee: Bank of Shanghai Co.,Ltd. Wuxi Branch Pledgor: JIANGSU EEEST ADVANCED TECHNOLOGY Co.,Ltd. Registration number: Y2024980019059 |
|
| PE01 | Entry into force of the registration of the contract for pledge of patent right |