CN218382955U - 一种电子元件的大容量老化座 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种电子元件的大容量老化座，包括老化座本体，老化座本体的顶部外壁上一体成型有检测腔，且检测腔底部内壁的轴心处一体成型有柱块。本实用新型老化座本体顶部一体成型的检测腔内部焊接有四个插接导电座，使得四个电子元件可同时进行检测，在提升老化座本体的检测容量的同时，有效的提升了老化座对电子元件进行老化检测的效率，盖板翻转一端契合在定位槽的内部，此时，定位板的底部外壁在限位板和第一弹簧的作用下与盖板顶部外壁的一端相贴合并对盖板起到很好的限位，使得盖板对插接在插接导电座内部的电子元件起到很好的压持，从而提升了插接导电座内部电子元件进行老化检测时的稳定性。
Description
技术领域
本实用新型涉及老化座技术领域，具体涉及一种电子元件的大容量老化座。
背景技术
在电子元件(电阻、电容、电感和芯片)出厂时，为了保证电子元件的品质，都需要对电子元件进行老化测试，电子元件进行老化试验时，需要将待测样品安装到老化板上，实现待测样品与老化板的电学连接；要完成待测样品与老化板的可靠电学连接，老化座就起到了电学连接和机械固定的作用。
如授权公告号为CN215339981U，授权公告日为2021-12-28的一种老化座，包括座体、夹持部和与所述夹持部电性连接的插接部，所述夹持部和所述插接部分别设置在所述座体的两端，所述夹持部包括多个一一相对设置的卡接端，所述插接部包括多个一一相对设置的插针，同一条线上的卡接端与插针形成导电件。
目前，老化座的检测容量较小，一个老化座只能对一个电子元件进行电学连接和机械固定，降低了电子元件老化检测的效率，而老化检测的电子元件与导电座之间连接的稳定性较差，很容易出现老化检测数据不准确的情况出现。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种电子元件的大容量老化座，以解决现有技术中的上述不足之处。
为了实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：
一种电子元件的大容量老化座，包括老化座本体，所述老化座本体的顶部外壁上一体成型有检测腔，且检测腔底部内壁的轴心处一体成型有柱块，所述检测腔底部内壁的四周焊接有围绕柱块分布的插接导电座，且老化座本体顶部外壁四周的中心处均通过铰链活动连接有盖板，所述柱块四周外壁中心处的顶部均开设有定位槽，且定位槽一侧内壁的顶部开设有连通槽，所述连通槽的内部开设有矩形槽，且连通槽的内部插接有延伸至矩形槽内部的定位板，所述定位板处于矩形槽内部的一端焊接有限位板，且限位板远离定位板的另一侧焊接有第一弹簧，所述盖板的一端契合在定位槽的内部，且定位板的底部外壁在限位板和第一弹簧的作用下与盖板顶部外壁的一端之间相贴合。
进一步的，所述老化座本体四周外壁的中心处均一体成型有凸块，且凸块远离老化座本体另一侧外壁的中心处设置有接线端。
进一步的，所述接线端通过接线与插接导电座之间呈电性连接，且插接导电座位于盖板的正下方。
进一步的，所述盖板底部外壁的中心处一体成型有压块，且压块底部外壁的中心处开设有条状槽。
进一步的，所述条状槽的内部开设有限位槽，且条状槽的内部插接有延伸至限位槽内部的抵持块，所述抵持块的底部外壁上焊接有压板，且压板的底部外壁上粘接有橡胶垫。
进一步的，所述抵持块延伸至限位槽内部的一侧焊接有凸板，且凸板远离抵持块的另一侧焊接有第二弹簧。
在上述技术方案中，本实用新型提供的一种电子元件的大容量老化座，(1)通过设置的老化座本体，老化座本体顶部一体成型的检测腔内部焊接有四个插接导电座，使得四个电子元件可同时进行检测，在提升老化座本体的检测容量的同时，有效的提升了老化座对电子元件进行老化检测的效率。(2)通过设置的设置盖板，盖板翻转一端契合在定位槽的内部，此时，定位板的底部外壁在限位板和第一弹簧的作用下与盖板顶部外壁的一端相贴合并对盖板起到很好的限位，使得盖板对插接在插接导电座内部的电子元件起到很好的压持，从而提升了插接导电座内部电子元件进行老化检测时的稳定性。(3)通过设置的压板，抵持块在凸板和第二弹簧的作用下沿条状槽推动压板与插接在插接导电座内部的电子元件进行压持，进一步提升了插接导电座内部电子元件进行老化检测时的稳定性。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本实用新型一种电子元件的大容量老化座实施例提供的立体结构示意图。
图2为本实用新型一种电子元件的大容量老化座实施例提供的盖板局部放大结构示意图。
图3为本实用新型一种电子元件的大容量老化座实施例提供的定位槽结构示意图。
图4为本实用新型一种电子元件的大容量老化座实施例提供的压块剖视结构示意图。
附图标记说明：
1、老化座本体；2、凸块；3、接线端；4、检测腔；5、插接导电座；6、柱块；7、盖板；8、定位槽；9、定位板；10、连通槽；11、矩形槽；12、第一弹簧；13、限位板；14、压块；15、条状槽；16、限位槽；17、第二弹簧；18、凸板；19、抵持块；20、压板。
具体实施方式
为了使本领域的技术人员更好地理解本实用新型的技术方案，下面将结合附图对本实用新型作进一步的详细介绍。
如图1-4所示，本实用新型提供的一种电子元件的大容量老化座，包括老化座本体1，老化座本体1的顶部外壁上一体成型有检测腔4，且检测腔4底部内壁的轴心处一体成型有柱块6，检测腔4底部内壁的四周焊接有围绕柱块6分布的插接导电座5，且老化座本体1顶部外壁四周的中心处均通过铰链活动连接有盖板7，柱块6四周外壁中心处的顶部均开设有定位槽8，且定位槽8一侧内壁的顶部开设有连通槽10，连通槽10的内部开设有矩形槽11，且连通槽10的内部插接有延伸至矩形槽11内部的定位板9，定位板9处于矩形槽11内部的一端焊接有限位板13，且限位板13远离定位板9的另一侧焊接有第一弹簧12，盖板7的一端契合在定位槽8的内部，且定位板9的底部外壁在限位板13和第一弹簧12的作用下与盖板7顶部外壁的一端之间相贴合，老化座本体1顶部一体成型的检测腔4内部焊接有四个插接导电座5，使得四个电子元件可同时进行检测，在提升老化座本体1的检测容量的同时，有效的提升了老化座本体1对电子元件进行老化检测的效率，然后检测人员将需要进行老化检测的电子元件的插脚插接在插接导电座5的内部，随后翻转盖板7，盖板7翻转一端契合在定位槽8的内部，此时，定位板9的底部外壁在限位板13和第一弹簧12的作用下与盖板7顶部外壁的一端相贴合并对盖板7起到很好的限位，使得盖板7对插接在插接导电座5内部的电子元件起到很好的压持，在老化检测的电子元件得到固定后，检测人员将老化座本体1放入老化室，并通过接线端3经插接导电座5给电子元件加上直流偏压(静态老化)并升高温度，168个小时之后将电子元件取出进行测试，如果经100％测试后仍然性能完好，就可以保证电子元件质量可靠，如果电子元件在老化时出现故障，则会被送去故障分析实验室进行故障分析。
本实用新型提供的另一个实施例中，如图1和图2所示的，老化座本体1四周外壁的中心处均一体成型有凸块2，且凸块2远离老化座本体1另一侧外壁的中心处设置有接线端3，接线端3通过接线与插接导电座5之间呈电性连接，且插接导电座5位于盖板7的正下方，接线端3与插接导电座5之间通过接线呈电性连接，方便通过接线端3经插接导电座5对插接在插接导电座5内部的电子元件连接直流偏压电流。
本实用新型提供的再一个实施例中，如图2和图4所示的，盖板7底部外壁的中心处一体成型有压块14，且压块14底部外壁的中心处开设有条状槽15，条状槽15的内部开设有限位槽16，且条状槽15的内部插接有延伸至限位槽16内部的抵持块19，抵持块19的底部外壁上焊接有压板20，且压板20的底部外壁上粘接有橡胶垫，抵持块19延伸至限位槽16内部的一侧焊接有凸板18，且凸板18远离抵持块19的另一侧焊接有第二弹簧17，压块14在盖板7的作用下转入检测腔4的内部时，抵持块19在凸板18和第二弹簧17的作用下沿条状槽15推动压板20与插接在插接导电座5内部的电子元件进行压持，进一步提升了插接导电座5内部电子元件进行老化检测时的稳定性。
工作原理：老化座本体1顶部一体成型的检测腔4内部焊接有四个插接导电座5，使得四个电子元件可同时进行检测，在提升老化座本体1的检测容量的同时，有效的提升了老化座本体1对电子元件进行老化检测的效率，然后检测人员将需要进行老化检测的电子元件的插脚插接在插接导电座5的内部，随后翻转盖板7，盖板7翻转一端契合在定位槽8的内部，此时，定位板9的底部外壁在限位板13和第一弹簧12的作用下与盖板7顶部外壁的一端相贴合并对盖板7起到很好的限位，使得盖板7对插接在插接导电座5内部的电子元件起到很好的压持，压块14在盖板7的作用下转入检测腔4的内部时，抵持块19在凸板18和第二弹簧17的作用下沿条状槽15推动压板20与插接在插接导电座5内部的电子元件进行压持，进一步提升了插接导电座5内部电子元件进行老化检测时的稳定性，在老化检测的电子元件得到固定后，检测人员将老化座本体1放入老化室，并通过接线端3经插接导电座5给电子元件加上直流偏压(静态老化)并升高温度，168个小时之后将电子元件取出进行测试，如果经100％测试后仍然性能完好，就可以保证电子元件质量可靠，如果电子元件在老化时出现故障，则会被送去故障分析实验室进行故障分析。
以上只通过说明的方式描述了本实用新型的某些示范性实施例，毋庸置疑，对于本领域的普通技术人员，在不偏离本实用新型的精神和范围的情况下，可以用各种不同的方式对所描述的实施例进行修正。因此，上述附图和描述在本质上是说明性的，不应理解为对本实用新型权利要求保护范围的限制。
Claims (6)
1.一种电子元件的大容量老化座，包括老化座本体(1)，其特征在于，所述老化座本体(1)的顶部外壁上一体成型有检测腔(4)，且检测腔(4)底部内壁的轴心处一体成型有柱块(6)，所述检测腔(4)底部内壁的四周焊接有围绕柱块(6)分布的插接导电座(5)，且老化座本体(1)顶部外壁四周的中心处均通过铰链活动连接有盖板(7)，所述柱块(6)四周外壁中心处的顶部均开设有定位槽(8)，且定位槽(8)一侧内壁的顶部开设有连通槽(10)，所述连通槽(10)的内部开设有矩形槽(11)，且连通槽(10)的内部插接有延伸至矩形槽(11)内部的定位板(9)，所述定位板(9)处于矩形槽(11)内部的一端焊接有限位板(13)，且限位板(13)远离定位板(9)的另一侧焊接有第一弹簧(12)，所述盖板(7)的一端契合在定位槽(8)的内部，且定位板(9)的底部外壁在限位板(13)和第一弹簧(12)的作用下与盖板(7)顶部外壁的一端之间相贴合。
2.根据权利要求1所述的一种电子元件的大容量老化座，其特征在于，所述老化座本体(1)四周外壁的中心处均一体成型有凸块(2)，且凸块(2)远离老化座本体(1)另一侧外壁的中心处设置有接线端(3)。
3.根据权利要求2所述的一种电子元件的大容量老化座，其特征在于，所述接线端(3)通过接线与插接导电座(5)之间呈电性连接，且插接导电座(5)位于盖板(7)的正下方。
4.根据权利要求1所述的一种电子元件的大容量老化座，其特征在于，所述盖板(7)底部外壁的中心处一体成型有压块(14)，且压块(14)底部外壁的中心处开设有条状槽(15)。
5.根据权利要求4所述的一种电子元件的大容量老化座，其特征在于，所述条状槽(15)的内部开设有限位槽(16)，且条状槽(15)的内部插接有延伸至限位槽(16)内部的抵持块(19)，所述抵持块(19)的底部外壁上焊接有压板(20)，且压板(20)的底部外壁上粘接有橡胶垫。
6.根据权利要求5所述的一种电子元件的大容量老化座，其特征在于，所述抵持块(19)延伸至限位槽(16)内部的一侧焊接有凸板(18)，且凸板(18)远离抵持块(19)的另一侧焊接有第二弹簧(17)。
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