CN201327520Y - 连接器测试治具 - Google Patents
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Abstract
一种连接器测试治具，治具下支架上设有若干组探针容纳孔，探针容纳孔的数量组与连接器定位槽的个数对应相同，治具下支架探针护板上设有与探针容纳孔相对应的探针保护孔，每组探针容纳孔与线路板上连接器焊接线路所引出的待测焊盘相对应，探针容纳孔内固设有探针，探针上部伸出探针容纳孔且容置于探针保护孔中，探针与外界电测机电连接；治具上支架上形成有与连接器定位槽相同数量的感应片定位槽，感应片定位于感应片定位槽靠近治具下支架的一侧，感应片与外界电测机电连接；感应片定位槽与连接器定位槽配合对位。导电的感应片和待测连接器紧密接触而形成感应电场，通过感应电场的电场强度值放大处理后得到的测试值判断连接器的焊接导通状态。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种测试治具，尤其是一种连接器测试治具。
背景技术
目前大家公知的应用的连接器测试治具是采用与待测线路板上连接器相对的测试连接器(待测连接器为公端则采用母端作为其测试连接器，待测连接器为母端则采用公端作为其测试连接器)，通过测试连接器转接焊接在待测线路板上的连接器，测试其导通状态。此种测试方法因连接器的插接次数限制即插接过程中所引起的连接器损坏而导致测试寿命短，一个连接器能够测试的次数在200-400次之间，其成本高，且待测线路板上连接器与测试连接器的对位插接需消耗一定时间，相对的效率较低。
发明内容
为了克服上述缺陷，本实用新型提供一种连接器测试治具，该测试治具测试寿命长、测试时间短，因此相对成本较低、效率较高。
本实用新型为了解决其技术问题所采用的技术方案是：
一种连接器测试治具，以使用方向为基准，包括治具上支架和与治具上支架配合的治具下支架，所述治具下支架上端面固设一治具下支架探针护板，所述治具下支架上形成有至少一个连接器定位槽，治具下支架探针护板上形成有与连接器定位槽对应的连接器定位开口，所述治具下支架上设有若干组探针容纳孔，所述探针容纳孔的数量组与连接器定位槽的个数对应相同，所述治具下支架探针护板上设有与所述探针容纳孔相对应的探针保护孔，所述的每组探针容纳孔与线路板上连接器焊接线路所引出的待测焊盘相对应，所述探针容纳孔内固设有探针，探针上部伸出探针容纳孔且容置于探针保护孔中，所述探针与外界电测机电连接；所述治具上支架上形成有与连接器定位槽相同数量的感应片定位槽，感应片定位于感应片定位槽靠近治具下支架的一侧，所述感应片与外界电测机电连接；所述感应片定位槽与连接器定位槽配合对位。
还包括有上支架连接接口、下支架连接接口和导线，所述探针与外界电测机电连接的结构是：所述治具下支架上固定定位有下支架连接接口，所述探针通过导线和下支架连接接口相连接，下支架连接接口与外界电测机电连接；所述感应片与外界电测机电连接的结构是：所述治具上支架上固定定位有上支架连接接口，所述感应片通过导线和上支架连接接口相连接，上支架连接接口与外界电测机电连接。
所述感应片上设有同步检波放大器。
本实用新型的有益效果是：本实用新型通过探针与待测焊盘的连接而通电于待测线路板上的连接器，又通过导电的感应片紧密接触待测线路板的连接器使待测线路板的连接器与感应片之间形成感应电场，即可通过感应电场的电场强度值放大处理后得到的测试值判断连接器的焊接导通状态，有效避免了原有的测试治具测试时连接器间的插接耗损以及减短了测试时间，因此相对成本较低、效率较高。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图；
图2为本实用新型所述治具上支架的示意图；
图3为本实用新型所述治具下支架的示意图；
图4为本实用新型所述感应片的放大示意图。
具体实施方式
实施例：一种连接器测试治具，以使用方向为基准，包括治具上支架1和与治具上支架1配合的治具下支架2，所述治具下支架2上端面固设一治具下支架探针护板3，所述治具下支架2上形成有至少一个连接器定位槽4，治具下支架探针护板3上形成有与连接器定位槽4对应的连接器定位开口，所述治具下支架2上设有若干组探针容纳孔，所述探针容纳孔的数量组与连接器定位槽4的个数对应相同，所述治具下支架探针护板上设有与所述探针容纳孔相对应的探针保护孔，所述的每组探针容纳孔与线路板上连接器焊接线路所引出的待测焊盘相对应，所述探针容纳孔内固设有探针5，探针5上部伸出探针容纳孔且容置于探针保护孔中，所述探针5与外界电测机电连接；所述治具上支架1上形成有与连接器定位槽4相同数量的感应片定位槽6，感应片7定位于感应片定位槽6靠近治具下支架2的一侧，所述感应片7与外界电测机电连接；所述感应片定位槽6与连接器定位槽4配合对位。
还包括有上支架连接接口11、下支架连接接口12和导线，所述探针5与外界电测机电连接的结构是：所述治具下支架2上固定定位有下支架连接接口12，所述探针5通过导线和下支架连接接口12相连接，下支架连接接口12与外界电测机电连接；所述感应片7与外界电测机电连接的结构是：所述治具上支架1上固定定位有上支架连接接口11，所述感应片7通过导线和上支架连接接口11相连接，上支架连接接口11与外界电测机电连接。
所述感应片上设有同步检波放大器17。
本实用新型的测试原理是：探针5和感应片7与外界电测机电连接，将待测线路板上的连接器定位放置于治具下支架探针护板3的连接器定位槽4上，将线路板上连接器焊接线路所引出的待测焊盘对位置于连接器探针保护孔上使各待测焊盘与对应探针5连接，治具下支架2下移至感应片7紧密接触待测线路板的连接器，待测线路板的连接器与感应片7之间形成感应电场，通过该感应电场的电场强度值放大处理后得到的测试值判断连接器的焊接导通状态。当正常测试时，如果被测线路板上的连接器的引脚有与其它焊点短路，则测试到的值会偏高；如果被测引脚有空焊，则测试到的值会偏小。
Claims (3)
1.一种连接器测试治具，以使用方向为基准，包括治具上支架(1)和与治具上支架(1)配合的治具下支架(2)，所述治具下支架(2)上端面固设一治具下支架探针护板(3)，所述治具下支架(2)上形成有至少一个连接器定位槽(4)，治具下支架探针护板(3)上形成有与连接器定位槽(4)对应的连接器定位开口，其特征是：所述治具下支架(2)上设有若干组探针容纳孔，所述探针容纳孔的数量组与连接器定位槽(4)的个数对应相同，所述治具下支架探针护板上设有与所述探针容纳孔相对应的探针保护孔，所述的每组探针容纳孔与线路板上连接器焊接线路所引出的待测焊盘相对应，所述探针容纳孔内固设有探针(5)，探针(5)上部伸出探针容纳孔且容置于探针保护孔中，所述探针(5)与外界电测机电连接；所述治具上支架(1)上形成有与连接器定位槽(4)相同数量的感应片定位槽(6)，感应片(7)定位于感应片定位槽(6)靠近治具下支架(2)的一侧，所述感应片(7)与外界电测机电连接；所述感应片定位槽(6)与连接器定位槽(4)配合对位。
2.根据权利要求1所述的连接器测试治具，其特征是：还包括有上支架连接接口(11)、下支架连接接口(12)和导线，所述探针(5)与外界电测机电连接的结构是：所述治具下支架(2)上固定定位有下支架连接接口(12)，所述探针(5)通过导线和下支架连接接口(12)相连接，下支架连接接口(12)与外界电测机电连接；所述感应片(7)与外界电测机电连接的结构是：所述治具上支架(1)上固定定位有上支架连接接口(11)，所述感应片(7)通过导线和上支架连接接口(11)相连接，上支架连接接口(11)与外界电测机电连接。
3.根据权利要求1或2所述的连接器测试治具，其特征是：所述感应片上设有同步检波放大器(17)。
Priority Applications (1)
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Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102297707A (zh) * | 2010-06-23 | 2011-12-28 | 昆山意力电路世界有限公司 | 多方位目测连接器定位治具 |
| CN103869106A (zh) * | 2012-12-12 | 2014-06-18 | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 | 测试用连接器 |
| CN108760819A (zh) * | 2018-05-22 | 2018-11-06 | 广州兴森快捷电路科技有限公司 | 焊接质量检测装置及其检测方法 |
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2008
- 2008-12-25 CN CNU2008202375596U patent/CN201327520Y/zh not_active Expired - Fee Related
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