CN201163699Y - Pcb测试用密度转换器 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种PCB测试用密度转换器，它包括壳体，壳体上端面设有测试脚，侧面设有与其相连的引脚，引脚间距大于测试脚间距；上端面测脚与被测PCB板相连，侧面引脚与检测电路相连；所述壳体截面成倒L形；倒L形壳体上设有凸起，用于连接相邻转换器的固定片通过其上的凹槽卡接于壳体上。本实用新型的通过端子垂直折弯控制改变其两端引脚间距，使得引脚的密度发生改变，使得其便于连接和保养，且引脚采用直接注塑固于机壳内，其端子间的绝缘性和牢固性大大增强，通过每个机壳上设有的固定片，还实现了可随意搭配连接多个转换器的目的。
Description
【技术领域】
本实用新型涉及一种印刷电路板(Printed Circuit Board；PCB)测试领域，尤其是指一种PCB测试机上用于改变端子引脚密度的转换器。
【背景技术】
在PCB测试行业里，有一种标准通用的测试点规范——四密度(即在1平方英寸均匀地排列400个测试接触点)，而每个测试点必须与等测试电路连接，而现有的PCB板测试器械均是通过连线将测试电路引脚直接焊接至测试接触点进行测试工作，然而随着电路板的集成度越来越高，焊点越来越小，密度越密时，无疑大大增加了其测试焊接的难度。由于对于通用测试点的焊接难度已经较高，如果出现损坏需要维修时也很不方便，且不便于扩展。
【发明内容】
本实用新型的目的在于克服了上述缺陷，提供一种便于扩展，可将高密集焊点转换至较低密度密度便于焊接的PCB测试用密度转换器。
本实用新型的目的是这样实现的：一种PCB测试用密度转换器，其改进之处在于：它包括壳体，壳体上端面设有测试脚，侧面设有与其相连的引脚，引脚间距大于测试脚间距；上端面测脚与被测PCB板相连，侧面引脚与检测电路相连；
所述壳体截面成倒L形；
倒L形壳体上设有凸起，用于连接相邻转换器的固定片通过其上的凹槽卡接于壳体上。
本实用新型的有益效果在于通过端子垂直折弯控制改变其两端引脚间距，使得原本高密度引脚转换为较低密度的测试脚，从而达到便于连接、保养的目的。且由于转换端子是直接通过注塑固于机壳内，其端子间的绝缘性和牢固性大大增强，通过每个机壳上设有的固定片，还实现了可随意搭配连接多个转换器的目的。
【附图说明】
下面结合附图及实施例对本实用新型做进一步说明。
图1为本实用新型的侧面结构示意图。
图2为本实用新型多个转换器相连的结构示意图。
【具体实施方式】
如图1所示，本实用新型一种具体实施方式，它包括壳体1、端子2及固定片3，端子2固定于壳体1内，此处测试脚与引脚分别为一个端子的两个端头，端子2中段通过折弯实现垂直转换后其一侧为标准密度的测试脚201，另一侧为间距较大的引脚202。用于水平连接多个壳体的固定片3通过其上的凹槽与壳体1上凸起配合紧扣。
参见图2为多个转换器相连时的结构示意图，多个转换器是通过其上的固定片3相互连接从而形成一个测试阵列。如此通过单个转换器两端测试脚201与引脚202的间距差别从而实现了整体测试阵列两端的密度改变，从而大大方便了PCB测试的接线和后期维护问题，降低接插件焊接时的虚焊率和不良率。
此处端子2是通过顶针注塑方式直接镶嵌入壳体1的中心位置的，通过该种工艺，保证了端子2端面在受力情况下不会下沉，且其两端引脚不易弯曲松动。
本产品在使用时，搭配若干个转换器后形成测试所需转换阵列，将端子2一端较低密度的测试脚202插入测试电路PCB板，另一端高密度的引脚201与被测试PCB板测试点接触。与习知PCB测试情况相比，本实用新型可满足针对不同测试范围的要求，有效简化了端子的组装焊接工艺，提高了测试可靠度。
Claims (3)
1.一种PCB测试用密度转换器，其特征在于：它包括壳体，壳体上端面设有测试脚，侧面设有与其相连的引脚，引脚间距大于测试脚间距；上端面测脚与被测PCB板相连，侧面引脚与检测电路相连。
2.如权利要求1所述的PCB测试用密度转换器，其特征在于：所述壳体截面成倒L形。
3.如权利要求2所述的PCB测试用密度转换器，其特征在于：倒L形壳体上设有凸起，用于连接相邻转换器的固定片通过其上的凹槽卡接于壳体上。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CNU2008200031546U CN201163699Y (zh) | 2008-01-30 | 2008-01-30 | Pcb测试用密度转换器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| CNU2008200031546U CN201163699Y (zh) | 2008-01-30 | 2008-01-30 | Pcb测试用密度转换器 |
Publications (1)
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| CN201163699Y true CN201163699Y (zh) | 2008-12-10 |
Family
ID=40184627
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CNU2008200031546U Expired - Lifetime CN201163699Y (zh) | 2008-01-30 | 2008-01-30 | Pcb测试用密度转换器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN201163699Y (zh) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104090135A (zh) * | 2014-06-26 | 2014-10-08 | 中国航天科工集团第三研究院第八三五七研究所 | 一种适用于多种引脚微小间距的芯片测试探针 |
| CN104112924A (zh) * | 2013-04-19 | 2014-10-22 | 深圳麦逊电子有限公司 | 一种高密度针座连接器结构及其制作工艺 |
| CN111213061A (zh) * | 2017-09-08 | 2020-05-29 | 恩普乐股份有限公司 | 电连接用插座 |
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2008
- 2008-01-30 CN CNU2008200031546U patent/CN201163699Y/zh not_active Expired - Lifetime
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| CN111213061A (zh) * | 2017-09-08 | 2020-05-29 | 恩普乐股份有限公司 | 电连接用插座 |
| CN111213061B (zh) * | 2017-09-08 | 2022-10-28 | 恩普乐股份有限公司 | 电连接用插座 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C14 | Grant of patent or utility model | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| CX01 | Expiry of patent term |
Granted publication date: 20081210 |
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| CX01 | Expiry of patent term |