CN213240339U - 一种电子元件测试用连接装置 - Google Patents

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吴宗元
贺勇
李宇
李建军
张泽
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Abstract

本实用新型涉及电子元件检测领域,其具体公开一种电子元件测试用连接装置,适用于电性连接具有多连接端子的电子元件和测试机,它包括:第一端,该第一端具有:第一面板,其具有若干第一电极点;第一接插件,其具有用于与被测电子元件电连接的引脚,该引脚数量大于100,且该第一接插件与第一电极点电连接;第二端,该第二端具有:第二面板,其具有若干第二电极点;第二接插件,其具有用于插入测试机以传输电信号的输出端口,且该第二接插件与第二电极点电连接;连接件,其为探针或导电胶;且该连接件电连接在第二电极点上并在第一端接入时与第一电极点电连接以形成被测电子元件至测试机的测试通路。以使电子元件在不同测试机上测试时,或者不同电子元件更换到测试机测试时,无需重复插拔排线与连接器,增加测试效率,减小连接器的损坏率。

Description

一种电子元件测试用连接装置
技术领域
本实用新型涉及电子元件检测领域,尤其涉及一种电子元件测试用连接装置,尤其适于电性连接具有多连接端子的电子元件和测试机。
背景技术
随着生活品质的不断提高,电子产品成为我们生活中不可或缺的一部分,各种电子元件的生产也得到了长足进步与发展。
电子元件生产出来后,需要经过多步工序以对电子元件的各种性能进行测试。一般现有测试设备与电子元件之间的连接,都是采用连接器和排线连接,当连接通道大于单个连接器通道数量时,会采用多个连接器并联使用,当测试通道达到几百几千个通道时,需要的连接器数量会很多;这样会导致电子元件在每一步检测工序中,都要在连接器与排线的插拔过程中花费大量时间,效率低,而且一般的连接器经过多次插拔后,会出现连接器的引脚变形及损坏的情况,使用寿命短,损坏后维修困难。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题在于克服现有技术的不足,而提供一种电子元件测试用连接装置。
为了达到上述目的,本实用新型采用的技术方案如下:
一种电子元件测试用连接装置,可用于电性连接具有多个连接端子的电子元件和测试机,它包括:第一端,该第一端具有:第一面板,其具有若干第一电极点;第一接插件,其具有用于与被测电子元件电连接的引脚,该引脚数量大于100,且该第一接插件与第一电极点电连接;第二端,该第二端具有:第二面板,其具有若干第二电极点;第二接插件,其具有用于插入测试机以传输电信号的输出端口,且该第二接插件与第二电极点电连接;连接件,其为探针或导电胶;且该连接件电连接在第二电极点上并在第一端接入时与第一电极点电连接以形成被测电子元件至测试机的测试通路。
进一步地,所述第一面板为一层或多层PCB板,且该第一面板上还具有第一金属触点,以及连接第一金属触点和第一电极点的第一印刷电路。
进一步地,所述第一接插件固定设置在第一面板上以便于电子元件接入。
进一步地,所述第二面板为一层或多层PCB板,且该第二面板上还具有第二金属触点,以及连接第二金属触点和第二电极点的第二印刷电路。
进一步地,所述第二接插件固定设置在第二面板上以便于接入至测试机。
进一步地,所述连接件为若干弹簧探针,所述第二端上设有探针座;且该弹簧探针在探针座作用下与第二电极点电连接并在第一电极点接入时形成测试通路。
进一步地,该探针座内部对应于弹簧探针位置设有通孔。
进一步地,所述连接件为设于第二端的导电胶,该导电胶与第二电极点电连接并在第一电极点接入时形成测试通路。
进一步地,所述第一面板在第一电极点处设有保护罩,所述第二面板在第二电极点处设有保护罩;以避免电极点受到损伤和短路。
由于采用了以上技术方案,本实用新型具有以下有益效果:
实用新型的电子元件测试用连接装置,其具有用于连接待测电子元件的第一端,用于连接测试机的第二端和用于连接第一端和第二端的连接件,且所述第一接插件上具有与被测电子元件电连接的引脚,该引脚的数目大于100,以使电子元件在不同测试机上测试时,或者不同电子元件更换到测试机测试时,无需重复插拔排线与连接器,增加测试效率,减小连接器的损坏率。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案,下面将对实施例的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅涉及本实用新型的一些实施例,而非对本实用新型的限制。
图1为实施例一的结构示意图;
图2为实施例一中第一端的结构示意图;
图3为实施例一中第一面板的结构示意图;
图4为实施例一中第二端的结构示意图;
图5为实施例一中第二面板的结构示意图;
图6为实施例一中探针与探针座的结构示意图;
图7为实施例三的结构示意图。
附图标记:
1.第一端;11.第一面板;111.第一电极点;112.第一印刷电路;113.第一金属触点;12.第一接插件;121.引脚;2.第二端;21第二面板;211.第二电极点;212.第二印刷电路;213.第二金属触点;22.第二接插件;221.输出端子;3固定柱;4.弹簧探针座;5.保护罩;6.弹簧探针。
具体实施方式
为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本实用新型做进一步详细说明。通常在此处附图中描述和示出的本实用新型实施例的组件可以各种不同的配置来布置和设计。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
应注意到:相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项,因此,一旦某一项在一个附图中被定义,则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。
除非另作定义,本专利文件中所使用的技术术语或者科学术语应当为本实用新型所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本实用新型专利说明书以及权利要求书中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性,而只是用来区分不同的组成部分。同样,“一个”、“一”或者“该”等类似词语也不表示数量限制,而是表示存在至少一个。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现在“包括”或者“包含”前面的元件或者物件涵盖出现在“包括”或者“包含”后面列举的元件或者物件及其等同,并不排除其他元件或者物件。“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等仅用于表示相对位置关系,当被描述对象的绝对位置改变后,则该相对位置关系也可能相应地改变,其仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。
下面结合附图,对本实用新型的一些实施方式作详细说明。在不冲突的情况下,下述的实施例中的特征可以相互组合。
实施例一:
请参阅图1至6,本实用新型提供一种电子元件测试用连接装置,可用于电性连接具有多个连接端子的电子元件和测试机,也可用于电性连接较少连接端子的电子元件和测试机,它包括:第一端1,该第一端1具有:第一面板11,其具有若干第一电极点111;第一接插件12,其具有用于与被测电子元件电连接的引脚121,该引脚121数量为1000个,且该第一接插件12与第一电极点111电连接;第二端2,该第二端2具有:第二面板21,其具有若干第二电极点211;第二接插件22,其具有用于插入测试机以传输电信号的输出端口221,且该第二接插件22与第二电极点211电连接;连接件,其为弹簧探针6;且该连接件电连接在第二电极点211上并在第一端1接入时与第一电极点111电连接以形成被测电子元件至测试机的测试通路。所述第一端1接入指的是插接有电子元件的第一端1连接至探针座4上使第一电极点111与弹簧探针6一一电连接。所述测试通路指的是被测电子元件将自身电信号传输至测试机的通路。
需要说明的是,本实施例中所述的电子元件可以是芯片或FPC电路板或覆晶薄膜,其通过压接在第一接插件12的引脚121上以将自身的电性信号传输至连接装置。
需要说明的是,本实施例中的连接装置装入测试机后,所述测试机可对第一接插接件上的每一个引脚121都进行电路检测。例如,当第一引脚121至第五百引脚121被接插如电子元件的连接端子后,若电子元件无故障,将形成五百条测试通路;若第一百引脚121上的通路未形成,则第一百引脚121所对应的连接端子可能发生损坏。
此外,还需要说明的是,本实施例中的连接装置可连接多个电子元件,例如,第一个电子元件插接的是第一引脚121至第三百引脚121,第二电子元件可插接三百零一引脚121至第一千引脚121。
此外,还需要说明的是,本实施中的连接装置在检测电子元件时,其部分引脚121可不插接电子元件也可插接电子元件。
第一端1的结构:
如图2和3所示,本实施例中,所述第一面板11为一层PCB板,且该第一面板11上具有用于电连接第一电极点111、第一印刷电路112和第一金属触点113;所述第一金属触点113和第一电极点111通过第一印刷电路112连接以将第一接插件12上的信号传递至弹簧探针6。所述第一接插件12固定设置在第一面板11上以便于电子元件接入,该第一接插件12为牛角座,所述牛角座上的引脚121数量与第一电极点111的数量相适配;所述电子元件可通过压接设备插接在牛角座上以将自身信息传输给牛角座。
需要说明的是,在其它实施例中,所述第一电极点和第一金属触点和可以用焊接排线的方式连接。
需要说明的是,本实施例中,第一面板1上设置的牛角座数量为4个,在其它实施例中,若4个牛角座的引脚数量不足以满足电子元件的连接端子数量时,可在第一面板11上设置更多数量的牛角座以增加引脚121数量。
如图1和2所示,本实施例中第一接插件12设置在第一面板11的四周。
第二端2的结构:
如图4和5所示,本实施例中,所述第二面板21为一层PCB板,且该第二面板11上具有用于电连接第二电极点211、第二印刷电路212和第二金属触点213;所述第二金属触点213和第二电极点211通过第二印刷电路212连接以将弹簧探针6上的信号传递至第二接插件22。所述第二接插件22固定设置在第二面板21上以便于电子元件接入,该第二接插件22为牛角座,该牛角座上的输出端口221与第二电极点211电连接;所述连接装置可通过第二接插件22接插在测试机上以将从电子元件中接收到的电信号传输给测试机。
需要说明的是,在其它实施例中,所述第二电极点和第二金属触点和可以用焊接排线的方式连接。
需要说明的是,本实施例中,第二面板21上设置的牛角座数量为4个;在其它实施例中,若4个牛角座的引脚数量不足以满足第一接插件中引脚的数量时,可在第二面板21上设置更多数量的牛角座。
如图1和4所示,本实施例中,所述第二接插件22设置在第二面板21的四周。
连接件的结构:
如图1所示,所述连接件为弹簧探针6,该连接件的两端分别用于连接第一电极点111和第二电极点211。所述第一面板11和第二面板21之间设有探针座4,该探针座4为弹簧探针矩阵座,且其内部对应于弹簧探针6位置设有通孔。在连接件连接第一端1和第二端2时,所述弹簧探针6先一一安装在弹簧探针6座4的通孔内部,随后将含有弹簧探针6的探针座4整体固定在第一端1上,使弹簧探针6与第二电极点211一一对应设置,当电子元件测试时,电连接有测试元件连接端子的第一端1被接入至探针座4,以使第一电极点111与弹簧探针一一对应设置,形成测试通路。
需要说明的是,通过弹簧探针6连接第一电极点111和第二电极点211仅为本实用新型的一种连接方式,在其它实施例中,也可通过导电胶将第一电极点111和第二电极点211连接。
此外,所述第一面板11和第二面板21之间设有固定柱3,以增加该连接装置的结构稳定性。本实施例中,所述固定柱3有4个,分别位于第一面板11和第二面板21的四角。更进一步的,本实施例中,所述导向柱3的靠近第一面板11端设有导向部,以使第一端1在接入探针座4时可使第一电极点111和弹簧探针6间形成与电子元件连接端子数量相适应的测试通路。
此外,所述第一面板11在第一电极点111处设有保护罩5,所述第二面板21在第二电极点211处设有保护罩5;以避免电极点受到损伤和短路。
实施例二:
本实施例的结构与实施例一基本相同,所不同之处在于,所述第一面板11和第二面板21为多层,以在电极板上形成更多的电极点。
实施例三:
如图7所示,本实施例与实施例一的结构基本相同,所不同之处在于,本实施例中第一面板11侧向延伸形成第一延伸部,并在该第一延伸部上阵列排布设置有4个第一接插件12;本实施例中第二面板21侧向延伸形成第二延伸部,并在该第二延伸部上阵列排布设置有4个第二接插件22
本实用新型的工作原理如下:
首先,将固定有弹簧探针的探针座设置在第二端2,将固定座设置在第二端2,以形成测试端组合体;将电子元件插接在第一端1。
在检测时,将上述插接有电子元件的第一端接入至测试端组合体的探针座上,以使第一电极点111与弹簧探针6一一连接以形成依次从电子元件、连接端子、第一接插件12、引脚121、第一电极点111、弹簧探针6、第二电极点211、输出端口221进入至测试机的测试通路;
在下一检测工位时,仅需要将插接有电子元件的第一端整体取下接插至下一检测工位的测试端组合体即可,有效避免了现有技术中电子元件与连接件的频繁插拔。
以上所述,仅为本实用新型的具体实施方式,但本实用新型的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内,可轻易想到的变化或替换,都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此,本实用新型的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种电子元件测试用连接装置,可用于电性连接具有多个连接端子的电子元件和测试机,其特征在于,它包括:
第一端,该第一端具有:
第一面板,其具有若干第一电极点;
第一接插件,其具有用于与被测电子元件电连接的引脚,该引脚数量大于100,且该第一接插件与第一电极点电连接;
第二端,该第二端具有:
第二面板,其具有若干第二电极点;
第二接插件,其具有用于插入测试机以传输电信号的输出端口,且该第二接插件与第二电极点电连接;
连接件,其为探针或导电胶;且该连接件电连接在第二电极点上并在第一端接入时与第一电极点电连接以形成被测电子元件至测试机的测试通路。
2.根据权利要求1所述的连接装置,其特征在于,所述第一面板为一层或多层PCB板,且该第一面板上还具有第一金属触点,以及连接第一金属触点和第一电极点的第一印刷电路。
3.根据权利要求2所述的连接装置,其特征在于,所述第一接插件固定设置在第一面板上以便于电子元件接入。
4.根据权利要求1所述的连接装置,其特征在于,所述第二面板为一层或多层PCB板,且该第二面板上还具有第二金属触点,以及连接第二金属触点和第二电极点的第二印刷电路。
5.根据权利要求4所述的连接装置,其特征在于,所述第二接插件固定设置在第二面板上以便于接入至测试机。
6.根据权利要求1所述的连接装置,其特征在于,所述连接件为若干弹簧探针,所述第二端上设有探针座;且该弹簧探针在探针座作用下与第二电极点电连接并在第一电极点接入时形成测试通路。
7.根据权利要求6所述的连接装置,其特征在于,该探针座内部对应于弹簧探针位置设有通孔。
8.根据权利要求1所述的连接装置,其特征在于,所述连接件为设于第二端的导电胶,该导电胶与第二电极点电连接并在第一电极点接入时形成测试通路。
9.根据权利要求1所述的连接装置,其特征在于,所述第一面板和第二面板之间设有固定柱,以增加该连接装置的结构稳定性。
10.根据权利要求1所述的连接装置,其特征在于,所述第一面板在第一电极点处设有保护罩,所述第二面板在第二电极点处设有保护罩;以避免电极点受到损伤和短路。
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