CN219065658U - 一种测试用电路模块 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及半导体测试技术领域，具体公开了一种测试用电路模块，包括测试座和固定板，测试座底部设置有导电板和探针插座公座，固定板上设置有电路单元和通电插座母座；其中，导电板上设置有多个不同的导电区域，电路单元包括叠层母排、多个设置在叠层母排内的电路组以及多个分别电性连接不同电路组的弹性导电结构，多个导电区域与多个弹性导电结构一一正对并接触；探针插座公座底面设置有插条，通电插座母座顶面设置有插孔，插条正对插孔并且卡入插孔中。本实用新型具有提高检测效率和检测稳定可靠的优点。

Description

一种测试用电路模块

技术领域

本实用新型涉及半导体测试技术领域，特别涉及一种测试用电路模块。

背景技术

目前在针对半导体器件进行电性测试时，需要利用各种引线进行接电，以完成不同项目的测试过程，但是由于引线的连接和断开需要时间，引线之间容易发生电磁干扰，影响整个测试过程的稳定进行。

实用新型内容

针对现有技术中的缺陷，本实用新型提供一种测试用电路模块。

本实用新型所采用的技术方案是，一种测试用电路模块，包括测试座和固定板，所述测试座底部设置有导电板和探针插座公座，所述固定板上设置有电路单元和通电插座母座；其中，所述导电板上设置有多个不同的导电区域，所述电路单元包括叠层母排、多个设置在叠层母排内的电路组以及多个分别电性连接不同电路组的弹性导电结构，多个所述导电区域与多个所述弹性导电结构一一正对并接触；探针插座公座底面设置有插条，所述通电插座母座顶面设置有插孔，所述插条正对所述插孔并且卡入所述插孔中。通电插座母座底部连接供电设备，探针插座公座顶部连接PCB探针。整个电路模块中，在进行测试时，直接将固定板对准测试座，使通电插座母座与探针插座公座之间的插条和插孔对齐，然后相互靠近，首先通电插座母座和探针插座公座之间的插孔和插针一一插设一体，实现对PCB探针和供电设备之间的电性连接，进一步地，利用导电板的设置，能够让导电板上的多个不同的导电区域分别与多个弹性导电结构一一正对并接触，从而实现叠层母排中不同的电路组与不同导电区域进行电性连接，最终形成可靠稳定的多种测试回路，测试完成后，再直接取下固定板即可，整个电路模块不需要使用引线，一定程度上消除了电磁干扰，同时让测试回路连接和断开过程迅速，提高了测试效率和测试稳定性。

优选地，弹性导电结构包括：电性连接所述电路组的基片；和设置在基片上的铍铜弹片；其中，所述铍铜弹片中央上凸并使其形成可变形区，所述铍铜弹片两端穿过基片并卡在基片背部。铍铜弹片中央上凸并使其形成可变形区，也就是说，铍铜弹片上可变形区被挤压后，铍铜弹片两端会展开，再通过让铍铜弹片两端卡在基片背部，就能让展开后的铍铜弹片也被固定牢靠，从而形成稳定地接触式电性连接。

优选地，不同电路组分布在叠层母排不同导电层中，相邻导电层之间设置有绝缘层。不同导电层形成不同的电路组，绝缘层保证各个电路组之间不会相互干扰。

优选地，测试座底部设置有导向结构，所述固定板上设置有多个导向孔，所述导向结构正对所述导向孔并且穿入所述导向孔内部。导向结构和导向孔的设置，能够进一步提高测试座和固定板之间的接触准确性。

优选地，导向结构包括多个固定在测试座底面的导向柱，多个导向柱分别正对多个导向孔并且分别穿入多个所述导向孔内部。导向柱穿入导向孔，让导电板更准确地对准固定板上的电路单元。

优选地，导向柱底面高度低于探针插座公座底面高度和导电板底面高度。当导向柱底面高度低于探针插座公座底面高度，在平时未测试时放置整个测试座，让探针插座公座底面不会接触到外界平面，从而对探针插座公座进行一定程度的保护；同样的，当导向柱底面高度低于导电板底面高度，在平时未测试时放置整个测试座，让导电板底面不会接触到外界平面，从而对导电板进行一定程度的保护。

本实用新型的有益效果是：

在本实用新型中，在进行测试时，直接将固定板对准测试座，使通电插座母座与探针插座公座之间的插条和插孔对齐，然后相互靠近，首先通电插座母座和探针插座公座之间的插孔和插针一一插设一体，实现对PCB探针和供电设备之间的电性连接，进一步地，利用导电板的设置，能够让导电板上的多个不同的导电区域分别与多个弹性导电结构一一正对并接触，从而实现叠层母排中不同的电路组与不同导电区域进行电性连接，最终形成可靠稳定的多种测试回路，测试完成后，再直接取下固定板即可，整个电路模块不需要使用引线，一定程度上消除了电磁干扰，同时让测试回路连接和断开过程迅速，提高了测试效率和测试稳定性。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。在所有附图中，类似的元件或部分一般由类似的附图标记标识。附图中，各元件或部分并不一定按照实际的比例绘制。

图1为本实用新型测试座未接触固定板时的结构立体图；

图2为本实用新型图1中A处的结构放大图；

图3为本实用新型图1在另一个方向下的结构立体图。

附图标记：

1-测试座，12-探针插座公座，121-插条，2-固定板，21-导向孔，3-导电板，31-导电区域，4-电路单元，41-叠层母排，42-通电插座母座，421-插孔，43-弹性导电结构，431-基片，432-铍铜弹片，4321-可变形区，5-导向结构，51-导向柱。

具体实施方式

为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和出示的本实用新型实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。

因此，以下对在附图中提供的本实用新型的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本实用新型的范围，而是仅仅表示本实用新型的选定实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本实用新型实施方式的描述中，需要说明的是，术语“内”、“外”、“上”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该实用新型产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

请参考图1至图3，本实施例提供的一种测试用电路模块，包括测试座1和固定板2，测试座1底部设置有导电板3和探针插座公座12，固定板2上设置有电路单元4和通电插座母座42；其中，导电板3上设置有多个不同的导电区域31，电路单元4包括叠层母排41、多个设置在叠层母排41内的电路组以及多个分别电性连接不同电路组的弹性导电结构43，多个导电区域31与多个弹性导电结构43一一正对并接触；探针插座公座12底面设置有插条121，通电插座母座42顶面设置有插孔421，插条121正对插孔421并且卡入插孔421中。

在本实施方式中，需要说明的是，通电插座母座42底部连接供电设备，探针插座公座12顶部连接PCB探针。整个电路模块中，在进行测试时，直接将固定板2对准测试座1，使通电插座母座42与探针插座公座12之间的插条121和插孔421对齐，然后相互靠近，首先通电插座母座42和探针插座公座12之间的插孔421和插针一一插设一体，实现对PCB探针和供电设备之间的电性连接，进一步地，利用导电板3的设置，能够让导电板3上的多个不同的导电区域31分别与多个弹性导电结构43一一正对并接触，从而实现叠层母排41中不同的电路组与不同导电区域31进行电性连接，最终形成可靠稳定的多种测试回路，测试完成后，再直接取下固定板2即可，整个电路模块不需要使用引线，一定程度上消除了电磁干扰，同时让测试回路连接和断开过程迅速，提高了测试效率和测试稳定性。

具体地，弹性导电结构43包括：电性连接电路组的基片431；和设置在基片431上的铍铜弹片432；其中，铍铜弹片432中央上凸并使其形成可变形区4321，铍铜弹片432两端穿过基片431并卡在基片431背部。

在本实施方式中，需要说明的是，铍铜弹片432中央上凸并使其形成可变形区4321，也就是说，铍铜弹片432上可变形区4321被挤压后，铍铜弹片432两端会展开，再通过让铍铜弹片432两端卡在基片431背部，就能让展开后的铍铜弹片432也被固定牢靠，从而形成稳定地接触式电性连接。

具体地，不同电路组分布在叠层母排41不同导电层中，相邻导电层之间设置有绝缘层。

在本实施方式中，需要说明的是，不同导电层形成不同的电路组，绝缘层保证各个电路组之间不会相互干扰。

具体地，测试座1底部设置有导向结构5，固定板2上设置有多个导向孔21，导向结构5正对导向孔21并且穿入导向孔21内部。

在本实施方式中，需要说明的是，导向结构5和导向孔21的设置，能够进一步提高测试座1和固定板2之间的接触准确性。

具体地，导向结构5包括多个固定在测试座1底面的导向柱51，多个导向柱51分别正对多个导向孔21并且分别穿入多个导向孔21内部。

在本实施方式中，需要说明的是，导向柱51穿入导向孔21，让导电板3更准确地对准固定板2上的电路单元4。

具体地，导向柱51底面高度低于探针插座公座12底面高度和导电板3底面高度。

在本实施方式中，需要说明的是，当导向柱51底面高度低于探针插座公座12底面高度，在平时未测试时放置整个测试座1，让探针插座公座12底面不会接触到外界平面，从而对探针插座公座12进行一定程度的保护；同样的，当导向柱51底面高度低于导电板3底面高度，在平时未测试时放置整个测试座1，让导电板3底面不会接触到外界平面，从而对导电板3进行一定程度的保护。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的范围，其均应涵盖在本实用新型的权利要求和说明书的范围当中。

Claims (6)

1.一种测试用电路模块，其特征在于，包括测试座和固定板，所述测试座底部设置有导电板和探针插座公座，所述固定板上设置有电路单元和通电插座母座；其中，

所述导电板上设置有多个不同的导电区域，所述电路单元包括叠层母排、多个设置在叠层母排内的电路组以及多个分别电性连接不同电路组的弹性导电结构，多个所述导电区域与多个所述弹性导电结构一一正对并接触；

探针插座公座底面设置有插条，所述通电插座母座顶面设置有插孔，所述插条正对所述插孔并且卡入所述插孔中。

2.根据权利要求1所述的测试用电路模块，其特征在于，所述弹性导电结构包括：

电性连接所述电路组的基片；和

设置在基片上的铍铜弹片；其中，

所述铍铜弹片中央上凸并使其形成可变形区，所述铍铜弹片两端穿过基片并卡在基片背部。

3.根据权利要求1所述的测试用电路模块，其特征在于，不同电路组分布在叠层母排不同导电层中，相邻导电层之间设置有绝缘层。

4.根据权利要求1所述的测试用电路模块，其特征在于，所述测试座底部设置有导向结构，所述固定板上设置有多个导向孔，所述导向结构正对所述导向孔并且穿入所述导向孔内部。

5.根据权利要求4所述的测试用电路模块，其特征在于，所述导向结构包括多个固定在测试座底面的导向柱，多个导向柱分别正对多个导向孔并且分别穿入多个所述导向孔内部。

6.根据权利要求5所述的测试用电路模块，其特征在于，所述导向柱底面高度低于探针插座公座底面高度和导电板底面高度。

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