CN201255745Y - 中介测试板 - Google Patents
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Abstract
本实用新型是有关于一种中介测试板，其包括第一连接板与第二连接板；其中，第二连接板之导电孔是焊接在第一连接板之焊垫上，使得第二连接板电性连接至第一连接板；第一连接板是透过多个第一接点而与测试机台电性连接，第二连接板则是透过多个第二接点而与待测物电性连接；由于第一连接板与第二连接板的厚度可以分别依据其欲连接之连接器的规格而定，因此中介测试板无须额外透过任何转接头即可电性连接在待测物与测试机台之间，以利于进行待测物的自动化测试，同时有效地降低测试耗材的成本，非常适于实用。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种测试板，特别是涉及一种连接在待测物与测试机台之间的中介测试板。
背景技术
当前，软性排线具有极佳的可挠性，以及可以配合组件内部空间配置的优势，因此现今已广泛地应用在各项电子产品中。这些利用软性排线来与其它装置电性连接的电子产品在出厂前均需经过一连串的测试，以确保产品的质量。在习知的测试过程中，即是直接利用软性排线来连接测试机台与待测的电子产品。
图1为现有习知待测的电子产品连接至测试机台的示意图。请参阅图1所示，软性排线110的一端是连接至待测的电子产品120的连接器(connector)130，另一端则是连接至测试机台140的连接器150，以使待测试的电子产品120透过软性排线110而与测试机台140电性连接。如此一来，即可利用测试机台140对电子产品120进行测试。
一般来说，目前常见的测试机台140的连接器150与电子产品120的连接器130的规格并不相同，所以软性排线100必须先在其欲连接至测试机台140的一端接上转接头(图未示)后，再透过转接头连接至测试机台140的连接器150。由于电子产品120在出厂前必须经由多台不同的测试机台140分别对其进行不同项目的测试，因此在测试过程中必须以人工的方式从测试机台140的连接器150中多次插拔软性排线110。但习知这种以人工插拔连接器130与软性排线110的方式需耗费较多时间，且不易导入自动化测试。
此外，由于软性排线110在历经多次插拔后容易因接点损坏而无法使用，其高损耗率亦会增加电子产品120的测试成本。
由此可见，上述现有的测试板在结构与使用上，显然仍存在有不便与缺陷，而亟待加以进一步改进。为了解决上述存在的问题，相关厂商莫不费尽心思来谋求解决之道，但长久以来一直未见适用的设计被发展完成，而一般产品又没有适切结构能够解决上述问题，此显然是相关业者急欲解决的问题。因此如何能创设一种新型结构的中介测试板，实属当前重要研发课题之一，亦成为当前业界极需改进的目标。
有鉴于上述现有的测试板存在的缺陷，本发明人基于从事此类产品设计制造多年丰富的实务经验及专业知识，并配合学理的运用，积极加以研究创新，以期创设一种新型结构的中介测试板，能够改进一般现有的测试板，使其更具有实用性。经过不断的研究、设计，并经过反复试作样品及改进后，终于创设出确具实用价值的本实用新型。
发明内容
本实用新型的主要目的在于，克服现有的测试板存在的缺陷，而提供一种新型结构的中介测试板，所要解决的技术问题是提供一种中介测试板，以利于进行待测物的自动化测试，同时还有效地降低测试耗材的成本，非常适于实用。
本实用新型的目的及解决其技术问题是采用以下的技术方案来实现的。依据本实用新型提出的一种中介测试板，适于电性连接至一待测物与一测试机台之间，该中介测试板包括：一第一连接板，具有多个焊垫、多条第一引线以及多个第一接点，各该第一引线分别连接在对应的该第一接点与该第一焊垫之间，且该第一连接板是透过该些第一接点而与该测试机台电性连接；以及一第二连接板，具有多个导电孔、多条第二引线以及多个第二接点，其中各该导电孔适于分别焊接在对应的该焊垫上，而各该第二引线分别连接在对应的该导电孔与该第二接点之间，且该第二连接板是透过该些第二接点而与该待测物电性连接。
本实用新型的目的以及解决其技术问题还可以采用以下的技术措施来进一步实现。
前述的中介测试板，其中所述的该第一连接板的厚度与该第二连接板的厚度不同。
前述的中介测试板，其中所述的该第一连接板的厚度大于该第二连接板的厚度。
前述的中介测试板，其中所述的该第一连接板的该些第一接点构成一金手指界面。
前述的中介测试板，其中所述的该第一连接板的该些第一接点为探针测试点。
前述的中介测试板，其中所述的该第二连接板的该些第二接点构成一金手指界面。
前述的中介测试板，其中所述的该些导电孔为贯穿该第二连接板的贯孔，且位于该第二连接板边缘。
前述的中介测试板，其中所述的该些导电孔为贯穿该第二连接板的贯孔，且位于该第二连接板近边缘处。
借由上述技术方案，本实用新型中介测试板至少具有下列优点及有益效果：
1、本实用新型的中介测试板无须额外透过任何转接头即可以直接电性连接在待测物与测试机台之间，利于进行待测物的自动化测试。
2、当本实用新型的中介测试板之接点损坏时，可以仅更换掉接点损坏的第一连接板或第二连接板，而毋须丢弃整块中介测试板，因此可降低测试耗材的成本。
3、在测试过程中利用本实用新型的中介测试板来连接待测物与测试机台，可有效地降低测试耗材的成本。
本实用新型具有上述诸多优点及实用价值，其不论在产品结构或功能上皆有较大的改进，在技术上有显著的进步，并且产生了好用及实用的效果，且较现有的测试板具有增进的功效，从而更加适于实用，诚为一新颖、进步、实用的新设计。
上述说明仅是本实用新型技术方案的概述，为了能够更清楚了解本实用新型的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本实用新型的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。
附图说明
图1是现有习知待测的电子产品连接至测试机台的示意图。
图2A是本实用新型的中介测试板在一实施例中的分解示意图。
图2B是本实用新型的中介测试板在一实施例中的组合示意图。
图3是本实用新型的第一连接板在另一实施例中的示意图。
图4是图2A的中介测试板的剖面示意图。
图5是本实用新型的中介测试板在另一实施例中的分解示意图。
110：软性排线
120：电子产品
130、150、203、207：连接器
140、201：测试机台
200、500：中介测试板 205：待测物
210：第一连接板 212：焊垫
214：第一引线 216：第一接点
220、520：第二连接板
221：弧形沟槽 222：导电孔
223、523：导电金属 224：第二引线
226：第二接点 521：贯孔
具体实施方式
为更进一步阐述本实用新型为达成预定发明目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本实用新型提出的中介测试板其具体实施方式、结构、特征及其功效，详细说明如后。
有关本实用新型的前述及其他技术内容、特点及功效，在以下配合参考图式的较佳实施例的详细说明中将可清楚的呈现。为了方便说明，在以下的实施例中，相同的元件以相同的编号表示。
请参阅图2A所示，图2A是本实用新型的中介测试板在一实施例中的分解示意图。
该中介测试板200适于连接在测试机台201与待测物205之间，且中介测试板200包括第一连接板210与第二连接板220，其中第一连接板210与第二连接板220的材质例如是一般印刷电路板(PrintedCircuit Board，PCB)所使用的材质。
请继续参阅图2A，第一连接板210具有多个焊垫212、多条第一引线214以及多个第一接点216。每一第一接点216均透过一条第一引线214而连接至一焊垫212，而第一连接板210则是透过这些第一接点216电性连接至测试机台201。在本实施例中，这些第一接点216例如是构成一金手指(golden finger)接口，以适于插入至测试机台201的连接器(connector)203的插槽(图未示)内，而使第一连接板210与测试机台201电性连接。
请参阅图3所示，在本实用新型的另一实施例中，第一连接板210上的第一接点216也可以是探针(probe)测试点，如图3所示，以适用于探针式的自动化测试机台。
请再次参阅图2A，第二连接板220具有多个导电孔(conductingvia)222、多条第二引线224以及多个第二接点226。其中，每一第二接点226均透过一条第二引线224而连接至一导电孔222，且第二连接板220是透过这些第二接点226而与待测物205电性连接。在本实施例中，这些第二接点226例如是构成一金手指接口，以适于插入待测物205的连接器207的插槽(图未示)内，而使第二连接板220与待测物205电性连接。
承上所述，第二连接板220是透过导电孔222而电性连接至第一连接板210。详细来说，第二连接板220的这些导电孔222可以焊接在第一连接板210的焊垫212上，以使第二连接板220与第一连接板210电性连接，如图2B所示。在本实施例中，为搭配第一连接板210的圆形焊垫212，导电孔222例如是位于第二连接板220边缘的弧形导电孔，如图2A所示。其中，形成这些导电孔222的方法例如是先在第二连接板220的侧壁形成弧形沟槽221，然后再在弧形沟槽221内镀上导电金属223，并且使导电金属223由弧形沟槽221延伸至第二连接板220的上表面及下表面，如图4所示。
请参阅图4所示，需要注意的是，图4所绘示的中介测试板仅为本实用新型的一实施例，实际上本实用新型并未限定导电孔在第二连接板上的位置，以下将举另一实施例说明。
请参阅图5所示，图5绘示为本实用新型的中介测试板在另一实施例中的分解示意图。请参照图5，中介测试板500包括第一连接板210与第二连接板520，其中第二连接板520上的导电孔522例如是由贯穿第二连接板520的贯孔521以及镀在贯孔521中并延伸至第二连接板520之上、下表面的导电金属523所组成。其中，这些导电孔522例如是位于第二连接板520的近边缘处。
请参阅图2B所示，以下将以图2B所示的中介测试板200为例说明本实用新型的特点，但下述特点并非限定为图2B的中介测试板200所拥有，本实用新型的所有实施例中的中介测试板均具有下述的特点。
请再次参阅图2A及图2B所示，在待测物205的测试过程中，因中介测试板200需在待测物205与测试机台201之间历经多次插拔，所以容易导致第一连接板210的第一接点216或第二连接板220的第二接点226的损坏。但由于中介测试板200是由彼此独立的第一连接板210与第二连接板220所组成，因此当第一连接板210或第二连接板220受损时，仅需对中介测试板200依序进行拆焊及重焊，即可将受损的第一连接板210或第二连接板220更换为未受损的第一连接板210或第二连接板220。换言之，中介测试板200在受损后可以仅针对受损部分进行更换，以节省测试过程中所耗费的成本。
此外，由于中介测试板200是由第一连接板210与第二连接板220所构成，且第一连接板210与第二连接板220可以分别以不同的制程制作而成，因此第一连接板210与第二连接板220的厚度可以相同，也可以不同。具体来说，第一连接板210与第二连接板220的厚度是视其所欲插入的插槽的高度而决定。在本实施例中，第二连接板220的厚度可以依据待测物205的连接器207的插槽高度来决定。同样地，第一连接板210的厚度也可以依据测试机台201的连接器203的插槽高度来决定。
举实例来说，若测试机台201为无线通讯的测试机台，则其连接器203的插槽(如PCI插槽或PCI-E插槽)与待测物205上的连接器207的插槽相较之下，连接器203的插槽高度是大于连接器207的插槽高度。在这种情况下，则可将中介测试板200设计为第一连接板210的厚度大于第二连接板220的厚度(如图4所示)，以使其分别与欲插入的插槽的高度相符。
综上所述，由于本实用新型的中介测试板是由第一连接板与第二连接板所构成，且第一连接板与第二连接板的厚度可以分别依据其欲连接的连接器的规格而定，因此本实用新型的中介测试板无须额外透过任何转接头即可直接电性连接在待测物与测试机台之间。
而且，当本实用新型的中介测试板因历经多次插拔而导致第一连接板或第二连接板的接点损坏时，仅需透过简单的拆焊及重焊步骤将接点受损的第一连接板或第二连接板更换为接点未受损的第一连接板或第二连接板，并不需要更换整块中介测试板。由此可知，透过本实用新型的中介测试板来进行电子产品的测试可有效地降低测试耗材的成本。
此外，本实用新型还可以将用来使中介测试板电性连接至测试机台的第二接脚设计为探针测试点，以利于使用自动化的探针测试机台来测试与中介测试板电性连接的待测物，进而减少人工插拔中介测试板所耗费的时间。
以上所述，仅是本实用新型的较佳实施例而已，并非对本实用新型作任何形式上的限制，虽然本实用新型已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本实用新型，任何熟悉本专业的技术人员在不脱离本实用新型技术方案范围内，当可利用上述揭示的技术内容作出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本实用新型技术方案的内容，依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本实用新型技术方案的范围内。
Claims (8)
1、一种中介测试板，适于电性连接至一待测物与一测试机台之间，其特征在于：该中介测试板包括：
一第一连接板，具有多个焊垫、多条第一引线以及多个第一接点，各该第一引线分别连接在对应的该第一接点与该第一焊垫之间，且该第一连接板是透过该些第一接点而与该测试机台电性连接；以及
一第二连接板，具有多个导电孔、多条第二引线以及多个第二接点，其中各该导电孔适于分别焊接在对应的该焊垫上，而各该第二引线分别连接在对应的该导电孔与该第二接点之间，且该第二连接板是透过该些第二接点而与该待测物电性连接。
2、根据权利要求1所述的中介测试板，其特征在于其中所述的该第一连接板的厚度与该第二连接板的厚度不同。
3、根据权利要求2所述的中介测试板，其特征在于其中所述的该第一连接板的厚度大于该第二连接板的厚度。
4、根据权利要求1所述的中介测试板，其特征在于其中所述的该第一连接板的该些第一接点构成一金手指界面。
5、根据权利要求1所述的中介测试板，其特征在于其中所述的该第一连接板的该些第一接点为探针测试点。
6、根据权利要求1所述的中介测试板，其特征在于其中所述的该第二连接板的该些第二接点构成一金手指界面。
7、根据权利要求1所述的中介测试板，其特征在于其中所述的该些导电孔为贯穿该第二连接板的贯孔，且位于该第二连接板边缘。
8、根据权利要求1所述的中介测试板，其特征在于其中所述的该些导电孔为贯穿该第二连接板的贯孔，且位于该第二连接板近边缘处。
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| CN101782616A (zh) * | 2010-03-02 | 2010-07-21 | 苏州日和科技有限公司 | 一种触摸屏测试装置 |
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