CN101093242A - 测试装置 - Google Patents

Abstract

本发明是有关于一种测试装置，是用以测试一第一电路板，第一电路板具有一第一连接器。测试装置是包括一保护壳体、一第二电路板、一第二连接器及一第三电路板。其中，第二电路板的至少一部分是置于保护壳体内。第二连接器是具有一第一侧与一第二侧，第一侧与第二电路板电性连接。第三电路板是具有一第三侧与一第四侧，第三侧是与第二连接器的第二侧电性连接，第四侧是与第一电路板电性连接。本发明特殊结构的测试装置，其能够提高测试效能及正确性，并降低制造成本，从而更加适于实用。

Description

测试装置

技术领域

本发明涉及一种测试装置，特别是涉及一种用以测试电路板的测试装置。

背景技术

现今的电路板在生产过程中都需要经过许多的测试。以主机板为例，在生产过程中，测试人员必须使用许多的设备及耗材来对主机板进行测试，以检查主机板的功能是否符合规范的要求。

请参照图1所示，于习知的电路板测试方法中，测试人员是将一记忆体11插入一电路板12上的一记忆体插槽13中，藉以测试记忆体11与电路板12之间的运作是否正常。

然而，当测试人员手持记忆体11对电路板12进行插拔动作时，常会造成记忆体11的损坏，进而导致测试异常。例如：在反复插拔记忆体11的过程中，会造成记忆体11上零件111发生锡裂而故障。另外，记忆体11与记忆体插槽13接触的元件(例如金手指112)亦会造成严重磨损以及氧化，进而导致元件阻抗增高及形变的情形。此外，测试人员在拿取记忆体11的过程中亦有可能发生碰撞而造成记忆体11的损坏。是以，当记忆体11发生上述情形而损坏时，需要更换新的记忆体11而导致制造成本增加。

因此，如何提供一种测试装置以解决上述问题，进而提高测试效能及正确性，并降低制造成本，实为当前重要课题之一。

由此可见，上述现有的测试装置在结构与使用上，显然仍存在有不便与缺陷，而亟待加以进一步改进。为了解决测试装置存在的问题，相关厂商莫不费尽心思来谋求解决之道，但长久以来一直未见适用的设计被发展完成，而一般产品又没有适切的结构能够解决上述问题，此显然是相关业者急欲解决的问题。

有鉴于上述现有的测试装置存在的缺陷，本发明人基于从事此类产品设计制造多年丰富的实务经验及专业知识，并配合学理的运用，积极加以研究创新，以期创设一种新型结构的测试装置，能够改进一般现有的测试装置，使其更具有实用性。经过不断的研究、设计，并经反复试作样品及改进后，终于创设出确具实用价值的本发明。

发明内容

本发明的目的在于，克服现有的测试装置存在的缺陷，而提供一种新型结构的测试装置，所要解决的技术问题是使其可提高测试效能及正确性，并降低制造成本，从而更加适于实用。

本发明的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。依据本发明提出的、一种测试装置，是用以测试一第一电路板，该第一电路板具有一第一连接器，该测试装置包括：一保护壳体；一第二电路板，该第二电路板的至少一部分是置于该保护壳体内；一第二连接器，是具有一第一侧与一第二侧，该第一侧与该第二电路板电性连接；以及一第三电路板，是具有一第三侧与一第四侧，该第三侧是与该第二连接器的该第二侧电性连接，该第四侧是与该第一连接器电性连接。

本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现

前述的测试装置，其中所述的第二连接器的该第一侧具有一凹槽，该第二电路板是插设于该凹槽内。

前述的测试装置，其中所述的第二连接器的该第二侧具有复数个第一接合部，该第三电路板的该第三侧具有复数个第二接合部，该等第一接合部与该等第二接合部是分别对应接合。

前述的测试装置，其中所述的第一连接器具有一凹槽，该第三电路板的该第四侧是插设于该凹槽内。

前述的测试装置，其中所述的保护壳体是包覆该第二电路板、该第二连接器及该第三电路板的一部分。

前述的测试装置，其中所述的第二连接器是固定于该保护壳体内。

前述的测试装置，其中所述的保护壳体内侧是具有一凹陷部，该凹陷部是与该第二连接器的设置位置相对应，该第二连接器是部分容置于该凹陷部内。

前述的测试装置，其中所述的第一电路板是为一主机板，该第一连接器是为一记忆体插槽，该第二电路板是为一记忆体模组。

本发明与现有技术相比具有明显的优点和有益效果。由以上技术方案可知，本发明的主要技术内容如下：

本发明的一种测试装置是用以测试一第一电路板，第一电路板具有一第一连接器。测试装置是包括一保护壳体、一第二电路板、一第二连接器及一第三电路板。其中，第二电路板的至少一部分是置于保护壳体内；第二连接器是具有一第一侧与一第二侧，第一侧与第二电路板电性连接；第三电路板是具有一第三侧与一第四侧，第三侧是与第二连接器的第二侧电性连接，第四侧是与第一连接器电性连接。

借由上述技术方案，本发明测试装置至少具有下列优点：

本发明的测试装置是将用来测试的第二电路板，藉由第二连接器及第三电路板而与第一电路板电性连接。此外，测试装置更具有一保护壳体以保护第二电路板。与习知技术相比，测试人员在进行测试时，不会直接接触且施力于第二电路板，而是接触保护壳体，所以第二电路板上的电子元件完全不会受损，且由于保护壳体的保护，第二电路板亦不会受到碰撞而损坏。

另外，当测试人员在进行插拔动作时，第三电路板是插至第一电路板上的第一连接器，或自第一连接器拔起，所以第二电路板亦不会因多次插拔而产生磨损。因此，在测试过程中，第二电路板不会受到损坏，故可提高测试的效能及正确性，并降低制造成本。

综上所述，本发明特殊结构的测试装置，其能够提高测试效能及正确性，并降低制造成本，从而更加适于实用。其具有上述诸多的优点及实用价值，并在同类产品中未见有类似的结构设计公开发表或使用而确属创新，其不论在产品结构或功能上皆有较大的改进，在技术上有较大的进步，并产生了好用及实用的效果，且较现有的测试装置具有增进的多项功效，从而更加适于实用，而具有产业的广泛利用价值，诚为一新颖、进步、实用的新设计。

上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。

附图说明

图1为一种习知电路板测试方法的一示意图。

图2为依据本发明较佳实施例的测试装置的一部份爆炸示意图。

图3为依据本发明较佳实施例的测试装置的一剖面图。

图4A至图4C为依据本发明较佳实施例的测试装置的组装图。

图5为依据本发明较佳实施例的测试装置与测试机台搭配使用的一示意图。

11：记忆体        111：零件

112：金手指       12：电路板

13：记忆体插槽    2：测试装置

21：保护壳体      211：凹陷部

212：第一壳体     213：第二壳体

214：预留空间     22：第二电路板

23：第二连接器    231：第一侧

2311、311：凹槽   232：第二侧

233：第一接合部     24：第三电路板

241：第三侧         242：第四侧

243：第二接合部     3：第一电路板

31：第一连接器      4：测试机台

41：第一测试单元    42：第二测试单元

421：夹持元件       422：驱动元件

具体实施方式

为更进一步阐述本发明为达成预定发明目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本发明提出的测试装置其具体实施方式、结构、特征及其功效，详细说明如后。

以下将参照相关图式，说明依本发明较佳实施例的一种测试装置。

请参照图2及图3所示，本发明较佳实施例的一种测试装置2是用以测试一第一电路板3，其中，第一电路板3具有一第一连接器31。于本实施例中，第一电路板3可为一主机板，而第一连接器31可为一在主机板上的插槽，例如一周边零件连接界面(Peripheral Component Interconnect，PCI)插槽或一双直列记忆体模组(Dual in Line Memory Module，DIMM)插槽等等。

再请参照图2及图3，本实施例的测试装置2是包括一保护壳体21、一第二电路板22、一第二连接器23及一第三电路板24。

其中，第二电路板22是可为任何一种界面卡，例如一网路界面卡、一显示界面卡等等，或是一记忆体模组，而第二连接器23是为一与第二电路板22相配合的连接器，第三电路板24为一转接用的印刷电路板。

再请参照图2及图3，第二电路板22的至少一部分是置于保护壳体21内。第二连接器23是具有相对设置的一第一侧231及一第二侧232，且第一侧231是与第二电路板22电性连接。另外，第三电路板24是具有相对设置的一第三侧241与一第四侧242，其中，第三侧241是与第二连接器23的第二侧232电性连接。再者，第三电路板24的第四侧242是藉由插入第一连接器31而形成与第一电路板3的电性连接。

再请参照图3，于本实施例中，第二连接器23的第一侧231是具有一凹槽2311，而第二电路板22是插设于凹槽2311内，并与第二连接器23电性连接。另外，第二连接器23的第二侧232是具有复数个第一接合部233，而第三电路板24的第三侧241是具有复数个第二接合部243，此等第一接合部233与此等第二接合部243是分别对应接合，使第二连接器23与第三电路板24电性连接。于此，第一接合部233可为端子，而第二接合部243可为焊接点，此等第一接合部233与此等第二接合部243是可对应焊接。另外，第一连接器31是具有一凹槽311，而第三电路板24的第四侧242是可插设于凹槽311内，使第三电路板24与第一连接器31电性连接。

另外，再请参照图2与图3，在本实施例中，保护壳体21是由一上盖212及一下盖213所构成，且上盖212及下盖213是可藉由粘合、卡合、锁合等方式相结合。于此，保护壳体21是可包覆第二电路板22、第二连接器23及第三电路板24的一部分。

再者，如图3所示，本实施例的保护壳体21是具有一凹陷部211，凹陷部211是与第二连接器23的设置位置相对应，使第二连接器23可部分容置于凹陷部211内，是以凹陷部211可限制第二连接器23于保护壳体21内的位置。于此，保护壳体21是用以保护第二电路板22，使测试人员于施力时，力量是藉由保护壳体21施加于第二连接器23上，而非施加于第二电路板22，所以第二电路板22能受到良好的保护。此外，保护壳体21亦有预留空间214给第一接合部233及第二接合部243，以免第一接合部233及第二接合部243接触到保护壳体21而导致第一接合部233及第二接合部243损坏，或是保护壳体21的表面磨损。

在本实施例中，保护壳体21的材质可为氧化铝，氧化铝是具有高强度及良好的绝缘效果，当然，保护壳体21亦可使用其他具有高强度及良好绝缘效果的材质。

以下，是搭配图4A至图4C说明第二电路板22、第二连接器23及第三电路板24与保护壳体21组立的步骤。

首先，如图4A所示，测试人员先将保护壳体21的下盖213设置好。再如图4B所示，将组立完成的第二电路板22、第二连接器23与第三电路板24置放于下盖213内，其中，第二连接器23是位于凹陷部211内。最后，如图4c所示，结合保护壳体21的上盖212与下盖213，如此，就完成了测试装置2的组立。

此外，请参照图5所示，本实施例的测试装置2是可与一测试机台4搭配使用。于此，测试机台4具有一第一测试单元41与一第二测试单元42，其中第二测试单元42是位于第一测试单元41之上，且可相对于第一测试单元41靠近或远离地移动(亦即，可沿图5中的X轴移动)。

另外，第一电路板3是可设置于第一测试单元41上，而测试装置2是可设置于第二测试单元42下方，是以，第二测试单元42是可带动测试装置2朝第一测试单元41靠近，使第三电路板24与第一电路板3上的第一连接器31电性连接，以进行测试。

在本实施例中，第一测试单元41为一可放置平板的平台，而第二测试单元42是至少具有一夹持元件421以及一驱动元件422，其中，夹持元件421用以夹持测试装置2，而驱动元件422用以驱动第二测试单元42移动。

综上所述，因依本发明的一种测试装置是将一用来测试的第二电路板，藉由一第二连接器及一第三电路板而与第一电路板电性连接，此外，测试装置更具有一保护壳体以保护第二电路板。与习知的测试方式相比，测试人员在进行测试时，不会直接接触第二电路板，而是接触保护壳体，所以第二电路板上的电子元件完全不会受损，且由于保护壳体的保护，第二电路板亦不会受到碰撞而损坏。另外，当测试人员在进行插拔动作时，第三电路板是插至第一电路板上的第一连接器，或第三电路板自第一连接器拔起，所以第二电路板亦不会因多次插拔而产生磨损。因此，在测试过程中，第二电路板不会受到损坏，故可提高测试的效能及正确性，并降低制造成本。

以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制，虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本发明，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围内，当可利用上述揭示的技术内容作出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本发明技术方案的范围内。

Claims (8)

1、一种测试装置，是用以测试一第一电路板，该第一电路板具有一第一连接器，其特征在于该测试装置包括：

一保护壳体；

一第二电路板，该第二电路板的至少一部分是置于该保护壳体内；

一第二连接器，是具有一第一侧与一第二侧，该第一侧与该第二电路板电性连接；以及

一第三电路板，是具有一第三侧与一第四侧，该第三侧是与该第二连接器的该第二侧电性连接，该第四侧是与该第一连接器电性连接。

2、根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于其中该第二连接器的该第一侧具有一凹槽，该第二电路板是插设于该凹槽内。

3、根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于其中该第二连接器的该第二侧具有复数个第一接合部，该第三电路板的该第三侧具有复数个第二接合部，该等第一接合部与该等第二接合部是分别对应接合。

4、根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于其中该第一连接器具有一凹槽，该第三电路板的该第四侧是插设于该凹槽内

5、根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于其中该保护壳体是包覆该第二电路板、该第二连接器及该第三电路板的一部分。

6、根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于其中该第二连接器是固定于该保护壳体内。

7、根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于其中该保护壳体内侧是具有一凹陷部，该凹陷部是与该第二连接器的设置位置相对应，该第二连接器是部分容置于该凹陷部内。

8、根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于其中该第一电路板是为一主机板，该第一连接器是为一记忆体插槽，该第二电路板是为一记忆体模组。

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