CN104977521A - 检测模块及其跳线装置 - Google Patents
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Abstract
一种跳线装置,包含有一壳体及二电传导组件,壳体以绝缘材质制成,并具有一容置空间及二插孔,且二插孔与容置空间连通。二电传导组件以导体制成,并设置于容置空间中,且分别具有一导接部及一受力部;二受力部分别位于容置空间中对应二插孔的位置上,而二导接部相互接抵,而当一物体插入二插孔中而顶推二受力部时,二导接部相互分离,除可导接电路外,在电性检测时,还具有自动断开电路的效果,有效提升检测的速度与效率。此外,本发明还公开了一个具有上述跳线装置的检测模块。
Description
技术领域
本发明是与电气连接的结构设计有关;特别是指一种检测模块及在电性检测时可断开以及可自动回复的跳线装置。
背景技术
一般来说,电子装置的电路基板,电路布局中的部分线路通常会以预设的节点加以分隔,但另外焊接0奥姆电阻(又称跳线)加以电性连接,以导接二节点两端的电路。
而后,当工程人员要量测相关电气特性(例如电流)时或者电子装置故障时,检测人员便会将对应的跳线解焊,并利用检测装置的探测件(如探针或探棒等)接抵于二节点上,进行此线路后续的检测。当检测完毕时,则必须重新将0奥姆电阻焊回,由此,以跳线的设置,在通常的运作下,维持电路连接的连贯,又保有对于特定节点进行检测工作的弹性空间。
然而,上述解焊与重焊的作业不仅费工费时,在作业过程中,更容易有焊接点因温度掌握不佳而导致脱落或是烧熔的情形发生。
发明内容
本发明的目的在于提供一种检测模块及其跳线装置,除可达到导接电路的目的外,进一步能在进行检测时,不需要解焊跳线,仍具有断开电路的效果,而能有效地提升检测的速度与效率,不会有接点损坏的情形发生。此跳线装置可单独使用或与检测模块配搭使用。
为实现上述目的,本发明提供的跳线装置包含有一壳体以及二电传导组件。其中,壳体以绝缘材质制成,并具有一容置空间以及二插孔,且二插孔与容置空间连通。二电传导组件设置于容置空间中,且分别具有一导接部以及一受力部;二受力部分别位于容置空间中对应二插孔的位置上,而二导接部相互接抵。
由此,当一物体插入二插孔中而顶推二受力部时,二导接部相互分离,形成如同解焊跳线而分隔线路的效果,且物体与二插孔分离后,二导接部相互接抵,以维持线路的正常连接。
依据上述构思,本发明还提供有一种检测模块,是用以对一电路基板进行检测,且电路基板上具有二接点;检测模块包括包含有一跳线装置以及一检测装置。其中,跳线装置设于电路基板上,且包含有一壳体以及二电传导组件;壳体以绝缘材质制成,并具有一容置空间以及二插孔,且二插孔与容置空间连通;二电传导组件是以导体制成,并设置于壳体的容置空间中,且分别与二接点电性连接;另外,二电传导组件各具有一导接部以及一受力部,且二受力部分别位于容置空间中对应二插孔的位置上,而二导接部相互接抵,使二接点相互电性连接。
检测装置用以产生电讯号并具有二探测件,且二探测件是以导体制成;当二探测件分别插入二插孔中而顶推二受力部时,二导接部相互分离,且二探测件分别与二电传导组件电性连接,使二接点相互电性分离,而电讯号则流经些探测件与些电传导组件而传至二接点;另外,二探测件与二插孔分离时,二导接部重新相互接抵,使二接点重新相互电性连接。
通过上述设计,跳线装置除可达到导接电路的目的外,还能在进行电性检测时,具有自动断开电路与自动回复的效果,进而能有效地提升检测的速度与效率,同时不会有接点损坏的情形发生。
附图说明
图1是本发明第一较佳实施例检测模块的立体图。
图2是图1的检测模块的分解图。
图3是跳线装置的结构图。
图4是跳线装置与探测件结合时的结构图。
图5是本发明第二较佳实施例跳线装置的结构图。
图6是本发明第三较佳实施例跳线装置的结构图。
图7是本发明第四较佳实施例跳线装置的结构图。
附图中主要组件符号说明:
10跳线装置,12壳体,121容置空间,122插孔,123穿孔,124隔板,14电传导组件,140支撑部,141受力部,142导接部,143垫部,16垫片,20检测装置,22检测机,24探测件,25绝缘套,30跳线装置,32壳体,322插孔,323穿孔,34电传导组件,340支撑部,342导接部,36顶针,38弹簧,100电路基板,110接点,120接点,121孔。
具体实施方式
为能更清楚地说明本发明,举较佳实施例并配合附图作详细说明。
请参阅图1至图2所示,为本发明一较佳实施例的检测模块,用以对一电路基板100进行检测,且电路基板100上具有二接点110,且二接点110各别电性连接一电路布局(图未示)。检测模块包括一跳线装置10以及一检测装置20。
请参阅图3,跳线装置10包含有一壳体12、二电传导组件14以及二垫片16。于本实施例中,壳体12是以塑料制成,且呈一空心长方体,而使内部具有一容置空间121,当然,在实际实施上,亦可呈其它形状且利用其他绝缘材料制作,并不以长方体以及塑料为限,尺寸亦对应实际电路需要而有不同。另外,壳体12顶部的相反两侧处各具有一插孔122,而壳体12底部的相反两侧处则各具有一穿孔123,且二插孔122与二穿孔123皆与容置空间121连通,而在实际实施上,除设置于顶、底侧外,亦可依需求设置于其他侧上。再者,壳体12还具有一隔板124设置于容置空间121中,且位于二插孔122间。
二电传导组件14于本实施例是以铜制作而成,当然,在实际的其他实施上,亦可选用其他导体制成,并不以铜为限。二电传导组件14设置于壳体12的容置空间121中,且电传导件14具有一体成型的作动单元与支撑部140,作动单元弯折挠曲而形成有一受力部141以及一导接部142,且支撑部140一端分别穿设于二穿孔123中,而二作动单元的受力部141分别位于容置空间121中对应二插孔122的位置上,且各受力部141朝向插孔122的面因弯折挠曲而呈斜面设计。另外,各电传导组件14的导接部142因弯折挠曲而朝另一电传导组件14的方向延伸,并利用电传导件14弯折的形状以及本身金属弯折结构的弹性,使二导接部142相互接抵。值得一提的是,于本实施例中,前述二导接部142的主要功能用以与另一导接部142抵接,而二导接部142的形状可以依据不同需求如图3所示呈现不同形状,也可以设计呈现相同形状。
二垫片16同样以铜制作而成,且分别设于壳体12底部对应二穿孔123处,而分别与二电传导组件14穿设于各穿孔123的一端的支撑部140连接。
如此一来,于组装时,便可将二垫片16分别焊接于二接点110上,以通过二垫片16以及相连接的二导接件14达到0奥姆电阻(即跳线)的目的,而使二接点110对应的电路布局通过垫片16与电传导组件14而可相互电性连接。
检测装置20具有一检测机22以及二探测件24。检测机22用以产生或接收电讯号,于本实施例中为三用电表,但不以此为限。二探测件24以金属制成,并被包覆于一绝缘套25中,且一端呈尖端而凸伸至绝缘套25外。另外,二探测件24另一端则各别通过一导线与检测机22电性连接。值得一提的是,于本实施例中,二探测件24凸伸至绝缘套25外的一端的间距等于隔板124的厚度(即二插孔122的间距)。当然,在实际实施上,二探测件24的间距亦可略大于隔板124的厚度。
请参阅图4,当工程人员要量测电性或者故障发生时,检测人员便可将二探测件24分别插入二插孔122中,使二探测件24分别顶推二受力部141,二受力部141因为弯折挠的结构而有一定弹性,使二受力部141因为受顶推而变形位移,连带使得二导接部142受到二受力部141带动而分离,且通过二探测件24的间距、以及受力部141上的斜面设计,还可使二探测件24插入二插孔122中时能更加快速地进行对位结合,而不会有阻碍感。如此一来,二接点110将因为二导接部142分离而电性断开连接,且二探测件24分别与二电传导组件14电性连接,而使得检测机22输出的电讯号则流经等探测件24与等电传导组件14、垫片16而传至二接点110进行检测,且通过隔板124的设计,进一步可避免二探测件24间产生短路的意外。
而通过上述跳线装置10的设计,检测人员不须要进行解焊与重焊的作业,仅将二探测件24插入二插孔122中即可达到使接点110间呈现断路的效果,同时亦可进行电性检测的作业,不仅方便快速,而能有效地提升检测的速度与效率,不会有接点110损坏的情形发生。
而后,当检测完成后,检测人员将二探测件24自二插孔122拔除时,二电传导组件14通过本身因为弯折挠曲的弹性使受力部141回复受顶推前的形状,连带使得受力部141所相连的导接部142朝另一电传导组件14的方向移动,使得二导接部142重新相互接抵,进而使二接点110重新相互电性连接件,以重新达到0奥姆电阻的目的。
此外,除上述将垫片16与电传导组件14呈两件式分离式设计外,亦可如图5所示,将电传导组件14的支撑部140一端弯折而呈现平垫状的垫部143,并使垫部143位于壳体12上对应二穿孔123处,并可直接与接点110焊接,而省略上述的垫片16结构。
另外,除上述以垫片16与接点110连接的表面连接黏着的设计外(即SMT工艺),也可用在传统零件插件的设计(即DIP工艺)。请参阅图6,电路基板上的接点120是呈中心有孔121的设计,而本发明的跳线装置10亦可不须设置垫片16而设计电传导组件14的支撑部140一端直接穿过各穿孔123而凸伸至壳体12外,而可直接穿过接点120中心的孔121中而达到固定与方便焊接的目的。
另外,图7为本发明另一较佳实施例的跳线装置30,壳体32与前述壳体12相同,于此不再赘述,而与前述跳线装置10不同的地方,在于各电传导组件34的支撑部340与作动单元是呈现相互分离的结构,且还设有一弹性传导部,在本实施例是一弹簧38连接作动单元与支撑部340,而支撑部340同样穿设于对应的穿孔323处中,并通过弹簧38电性连接作动单元外,此外,弹簧38还可各别提供一弹力推抵对应的各作动单元,使导接部342相互接抵,进而使得电传导组件34的支撑部340与作动单元不必限制于以弯折挠曲的结构制成。值得说明的是,在本实施例中,弹性传导部虽以弹簧38作为说明,但是本发明并不以此为限,本发明的弹性传导部可以是一导电泡棉,或者,本发明的弹性传导部也可以是导电橡胶。
另外,跳线装置30的底部对应穿孔323处则分别设有二个以导体制成的顶针36,而使跳线装置30可用于中心具有孔121的接点120上,且二电传导组件34的支撑部340同样分别穿设于二穿孔323并与二顶针36连接,而达到使二接点120电性连接的效果,且上述的分离式的电传导组件34结构设计同样可达到将探测件24插入插孔322中即可达到接点120呈现断路,同时亦可进行电性检测的作业的目的,而可同样具有检测方便快速、检测速度与效率提升、以及不会有接点损坏的优点。
必须说明的是,以上所述仅为本发明较佳可行实施例而已,举凡应用本发明说明书及申请专利范围所为的等效结构变化,理应包含在本发明的专利范围内。
Claims (10)
1.一种跳线装置,其特征在于,所述跳线装置包括:
一壳体,以绝缘材质制成,并具有一容置空间、二穿孔以及二插孔,且所述二穿孔与所述二插孔与所述容置空间连通;以及
二电传导组件,以导体制成,并设置于所述容置空间中,且分别具有一支撑部、一导接部以及一受力部;所述二受力部分别位于所述容置空间中对应所述二插孔的位置上,所述二支撑部分别设置于所述容置空间中对应所述二穿孔的位置上,所述受力部分别电性连接所述支撑部与所述导接部,而所述二导接部相互接抵;
当一物体插入所述二插孔中而顶推所述二受力部偏移时,所述二导接部相互分离,且所述物体抽离所述二插孔后,所述二导接部恢复相互接抵。
2.根据权利要求1所述的跳线装置,其特征在于,各所述电传导组件包含有一弹性传导部,一端连接所述支撑部,另一端连接所述受力部,使所述受力部通过所述弹性传导部电性连接所述支撑部,并各别提供一弹力推抵对应的各所述受力部,使所述二导接部相互接抵。
3.根据权利要求1所述的跳线装置,其特征在于,各所述电传导组件包含有一垫部,所述二垫部则设于所述壳体上对应所述二穿孔处。
4.根据权利要求1所述的跳线装置,其特征在于,所述二电传导组件的一端各别穿过各所述穿孔而凸伸至所述壳体外。
5.根据权利要求1所述的跳线装置,其特征在于,包含有二垫片,以导体材质制成,所述二垫片则设于所述壳体上对应所述二穿孔处;所述二电传导组件分别与所述二垫片连接。
6.根据权利要求1所述的跳线装置,其特征在于,包含有二顶针,以导体制成,所述二顶针则设于所述壳体上对应所述二穿孔处;所述二电传导组件分别穿过所述二穿孔并与所述二顶针连接。
7.根据权利要求1所述的跳线装置,其特征在于,所述壳体包含有一隔板,设置于所述容置空间中,且位于所述二插孔间。
8.一种检测模块,用以对一电路基板进行检测,且所述电路基板上具有二接点;其特征在于,所述所述检测模块包括:
一跳线装置,设于所述电路基板上,且包含有一壳体以及二电传导组件;所述壳体以绝缘材质制成,并具有一容置空间、二穿孔以及二插孔,且所述二穿孔与所述二插孔与所述容置空间连通;所述二电传导组件是以导体制成,并设置于所述壳体的容置空间中;所述二电传导组件各具有一支撑部、一导接部以及一受力部,且所述二受力部分别位于所述容置空间中对应所述二插孔的位置上,所述二支撑部分别设置于所述容置空间中对应所述二穿孔的位置上分别与所述二接点电性连接,且所述受力部分别电性连接所述支撑部与所述导接部,而所述二导接部相互接抵,使所述二接点相互电性连接;以及
一检测装置,用以产生电讯号并具有二探测件,且所述二探测件是以导体制成;当所述二探测件分别插入所述二插孔中而顶推所述二受力部时,所述二导接部相互分离,使所述二接点相互电性分离,且所述二探测件分别与所述二电传导组件电性连接,而所述电讯号则流经所述些探测件与所述些电传导组件而传至所述二接点;另外,所述二探测件与所述二插孔分离时,所述二导接部重新相互接抵,使所述二接点重新相互电性连接。
9.根据权利要求8所述的检测模块,其特征在于,所述壳体包含有一隔板,设置于所述容置空间中,且位于所述二插孔间。
10.根据权利要求8所述的检测模块,其特征在于,各所述电传导组件包含有一弹性传导部,一端连接所述支撑部,另一端连接所述受力部,使所述受力部通过所述弹性传导部电性连接所述支撑部,并各别提供一弹力推抵对应的各所述受力部,使所述二导接部相互接抵。
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication | ||
WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Application publication date: 20151014 |