TW201539000A - 檢測模組及其跳線裝置 - Google Patents

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Abstract

一種跳線裝置,包含有一殼體及二電傳導元件。殼體以絕緣材質製成,並具有一容置空間及二插孔,且二插孔與容置空間連通。二電傳導元件以導體製成,並設置於容置空間中,且分別具有一導接部及一受力部;二受力部分別位於容置空間中對應二插孔的位置上,而二導接部相互接抵,而當一物體插入二插孔中而頂推二受力部時,二導接部相互分離。此外,本發明更揭露一個具有上述跳線裝置的檢測模組。

Description

檢測模組及其跳線裝置
本發明係與電氣連接之結構設計有關;特別是指一種檢測模組及其在電性檢測時可斷開以及可自動回復的跳線裝置。
一般來說,電子裝置之電路基板,其電路佈局中的部分線路通常會以預設的節點加以分隔,但焊接0歐姆電阻(又稱跳線)將其電性連接,藉以導接二節點兩端之電路。
而後,當工程人員要量測相關電氣特性(例如電流)時或者電子裝置故障時,檢測人員便會將對應的跳線解焊,並利用檢測裝置之探測件(如探針或探棒等)接抵於二節點上,進行此線路後續之檢測。當檢測完畢時,則必須重新將0歐姆電阻焊回,藉此,以跳線的設置,在通常的運作下,維持電路連接的連貫,又保有對於特定節點進行檢測工作的彈性空間。
然而,上述解焊與重焊之作業不僅費工費時,在作業過程中,更容易有焊接點因溫度掌握不佳而導致脫落或是燒熔的情形發生。
有鑑於此,本發明之目的用於提供一種檢測模組及其跳線裝置,除可達到導接電路之目的外,更能在進行 檢測時,不需要解焊跳線,仍具有斷開電路之效果,而能有效地提升檢測之速度與效率,更不會有接點損壞之情形發生。此跳線裝置可單獨使用或與檢測模組配搭使用。
緣以達成上述目的,本發明所提供跳線裝置包含有一殼體以及二電傳導元件。其中,該殼體以絕緣材質製成,並具有一容置空間以及二插孔,且該二插孔與該容置空間連通。該二電傳導元件設置於該容置空間中,且分別具有一導接部以及一受力部;該二受力部分別位於該容置空間中對應該二插孔的位置上,而該二導接部相互接抵。
藉此,當一物體插入該二插孔中而頂推該二受力部時,該二導接部相互分離,形成如同解焊跳線而分隔線路的效果,且該物體與該二插孔分離後,該二導接部相互接抵,以維持線路的正常連接。
依據上述構思,本發明更提供有一種檢測模組,係用以對一電路基板進行檢測,且該電路基板上具有二接點;該檢測模組包括包含有一跳線裝置以及一檢測裝置。其中,該跳線裝置設於該電路基板上,且包含有一殼體以及二電傳導元件;該殼體以絕緣材質製成,並具有一容置空間以及二插孔,且該二插孔與該容置空間連通;該二電傳導元件係以導體製成,並設置於該殼體之容置空間中,且分別與該二接點電性連接;另外,該二電傳導元件各具有一導接部以及一受力部,且該二受力部分別位於該容置空間中對應該二插孔的位置上,而該二導接部相互接抵,使該二接點相互電性連接。
該檢測裝置用以產生電訊號並具有二探測件,且該二探測件係以導體製成;當該二探測件分別插入該二插孔中而頂推該二受力部時,該二導接部相互分離,且該二探測件分別與該二電傳導元件電性連接,使該二接點相互 電性分離,而該電訊號則流經該等探測件與該等電傳導元件而傳至該二接點;另外,該二探測件與該二插孔分離時,該二導接部重新相互接抵,使該二接點重新相互電性連接。
藉此,透過上述之設計,該跳線裝置除可達到導接電路之目的外,更能在進行電性檢測時,具有自動斷開電路與自動回復之效果,進而能有效地提升檢測之速度與效率,同時更不會有接點損壞之情形發生。
10‧‧‧跳線裝置
12‧‧‧殼體
121‧‧‧容置空間
122‧‧‧插孔
123‧‧‧穿孔
124‧‧‧隔板
14‧‧‧電傳導元件
140‧‧‧支撐部
141‧‧‧受力部
142‧‧‧導接部
143‧‧‧墊部
16‧‧‧墊片
20‧‧‧檢測裝置
22‧‧‧檢測機
24‧‧‧探測件
25‧‧‧絕緣套
30‧‧‧跳線裝置
32‧‧‧殼體
322‧‧‧插孔
323‧‧‧穿孔
34‧‧‧電傳導元件
340‧‧‧支撐部
342‧‧‧導接部
36‧‧‧頂針
38‧‧‧彈簧
100‧‧‧電路基板
110‧‧‧接點
120‧‧‧接點
121‧‧‧孔
圖1係本發明第一較佳實施例檢測模組之立體圖。
圖2係圖1之檢測模組的分解圖。
圖3係跳線裝置的結構圖。
圖4係跳線裝置與探測件結合時的結構圖。
圖5係本發明第二較佳實施例跳線裝置的結構圖。
圖6係本發明第三較佳實施例跳線裝置的結構圖。
圖7係本發明第四較佳實施例跳線裝置的結構圖。
為能更清楚地說明本發明,茲舉較佳實施例並配合圖示詳細說明如後。請參圖1至圖2所示,為本發明一較佳實施例之檢測模組,用以對一電路基板100進行檢測,且電路基板100上具有二接點110,且二接點110各別電性連接一電路佈局(圖未示)。檢測模組包括一跳線裝置10以及一檢測裝置20。
請參閱圖3,跳線裝置10包含有一殼體12、 二電傳導元件14以及二墊片16。於本實施例中,殼體12係以塑料製成,且呈一空心長方體,而使其內部具有一容置空間121,當然,在實際實施上,亦可呈其它形狀且利用其他絕緣材料製作,並不以長方體以及塑料為限,其尺寸亦對應實際電路需要而有不同。另外,殼體12頂部之相反兩側處各具有一插孔122,而殼體12底部之相反兩側處則各具有一穿孔123,且二插孔122與二穿孔123皆與容置空間121連通,而在實際實施上,除設置於頂、底側外,亦可依需求設置於其他側上。再者,殼體12更具有一隔板124設置於容置空間121中,且位於二插孔122之間。
二電傳導元件14於本實施例係以銅製作而成,當然,在實際的其他實施上,亦可選用其他導體製成,並不以銅為限。二電傳導元件14設置於殼體12之容置空間121中,且電傳導件14具有一體成型之作動單元與支撐部140,其作動單元彎折撓曲而形成有一受力部141以及一導接部142,且其支撐部140一端分別穿設於二穿孔123中,而二作動單元之受力部141分別位於容置空間121中對應二插孔122的位置上,且各受力部141朝向插孔122之面係因彎折撓曲而呈斜面設計。另外,各電傳導元件14之導接部142係因彎折撓曲而朝另一電傳導元件14之方向延伸,並利用電傳導件14彎折之形狀以及本身金屬彎折結構之彈性,使二導接部142相互接抵。值得一提的是,於本實施例中,前述二導接部142之主要功能用以與另一導接部142抵接,而二導接部142之形狀可以依據不同需求如圖3所示呈現不同形狀,也可以設計呈現相同形狀。
二墊片16同樣以銅製作而成,且分別設於殼體12底部對應二穿孔123處,而分別與二電傳導元件14穿設於各穿孔123的一端之支撐部140連接。
如此一來,於組裝時,便可將二墊片16分別焊接於二接點110上,以透過二墊片16以及相連接之二導接件14達到0歐姆電阻(即跳線)之目的,而使二接點110對應之電路佈局透過墊片16與電傳導元件14而可相互電性連接。
檢測裝置20具有一檢測機22以及二探測件24。檢測機22用以產生或接收電訊號,於本實施例中為三用電表,但不以此為限。二探測件24係以金屬製成,並被包覆於一絕緣套25中,且一端係呈尖端而凸伸至絕緣套25外。另外,二探測件24另一端則各別透過一導線與檢測機22電性連接。值得一提的是,於本實施例中,二探測件24凸伸至絕緣套25外之一端的間距等於隔板124之厚度(即二插孔122之間距)。當然,在實際實施上,二探測件24之間距亦可略大於隔板124之厚度。
請參閱圖4,當工程人員要量測電性或者故障發生時,檢測人員便可將二探測件24分別插入二插孔122中,使二探測件24分別頂推二受力部141,二受力部141因為彎折撓的結構而有一定彈性,使二受力部141因為受頂推而變形位移,連帶使得二導接部142受到二受力部141帶動而分離,且透過二探測件24之間距、以及受力部141上之斜面設計,更可使二探測件24插入二插孔122中時能更加快速地進行對位結合,而不會有阻礙感。如此一來,二接點110將因為二導接部142分離而電性斷開連接,且二探測件24分別與二電傳導元件14電性連接,而使得檢測機22輸出之電訊號則流經等探測件24與等電傳導元件14、墊片16而傳至二接點110進行檢測,且透過隔板124之設計,更可避免二探測件24間產生短路之意外。
而透過上述跳線裝置10之設計,檢測人員不 須要進行解焊與重焊之作業,僅將二探測件24插入二插孔122中即可達到使接點110間呈現斷路之效果,同時亦可進行電性檢測之作業,不僅方便快速,而能有效地提升檢測之速度與效率,更不會有接點110損壞之情形發生。
而後,當檢測完成後,檢測人員將二探測件24自二插孔122拔除時,二電傳導元件14透過本身因為彎折撓曲之彈性使受力部141回復其受頂推前的形狀,連帶使得其所相連的導接部142朝另一電傳導元件14之方向移動,使得二導接部142重新相互接抵,進而使二接點110重新相互電性連接件,藉以重新達到0歐姆電阻之目的。
除此之外,除上述將墊片16與電傳導元件14呈兩件式分離式設計外,亦可如圖5所示,將電傳導元件14之支撐部140一端彎折而呈現平墊狀的墊部143,並使墊部143位於該殼體12上對應該二穿孔123處,並可直接與接點110焊接,而省略上述之墊片16結構。
另外,除上述以墊片16與接點110連接之表面連接黏著的設計外(即SMT製程),也可用在傳統零件插件的設計(即DIP製程)。請參閱圖6,其電路基板上的接點120係呈中心有孔121的設計,而本發明之跳線裝置10亦可不須設置墊片16而設計其電傳導元件14之支撐部140一端直接穿過各穿孔123而凸伸至殼體12外,而可直接穿過接點120中心之孔121中而達到固定與方便銲接之目的。
另外,圖7為本發明另一較佳實施例之跳線裝置30,其殼體32與前述殼體12相同,於此不再贅述,而與前述跳線裝置10不同之處,在於各電傳導元件34之支撐部340與作動單元係呈現相互分離之結構,且更設有一彈性傳導部,在本實施例是一彈簧38連接作動單元與支撐部340,而支撐部340同樣穿設於對應之穿孔323處中,並透 過彈簧38電性連接作動單元外,除此之外,彈簧38更可各別提供一彈力推抵對應之各作動單元,使其導接部342相互接抵,進而使得電傳導元件34之支撐部340與作動單元不必限制於以彎折撓曲之結構製成。值得說明的是,在本實施例中,彈性傳導部雖以彈簧38作為說明,但是本發明並不以此為限,本發明的彈性傳導部可以是一導電泡棉,或者,本發明的彈性傳導部也可以是導電橡膠。
另外,跳線裝置30之底部對應穿孔323處則分別設有二個以導體製成之頂針36,而使跳線裝置30可適用於中心具有孔121之接點120上,且二電傳導元件34之支撐部340同樣分別穿設於二穿孔323並與二頂針36連接,而達到使二接點120電性連接之效果,且上述之分離式的電傳導元件34結構設計同樣可達到將探測件24插入插孔322中即可達到接點120呈現斷路,同時亦可進行電性檢測之作業之目的,而可同樣具有檢測方便快速、檢測速度與效率提升、以及不會有接點損壞之優點。
必須說明的是,以上所述僅為本發明較佳可行實施例而已,舉凡應用本發明說明書及申請專利範圍所為之等效結構變化,理應包含在本發明之專利範圍內。
10‧‧‧跳線裝置
12‧‧‧殼體
121‧‧‧容置空間
122‧‧‧插孔
123‧‧‧穿孔
124‧‧‧隔板
14‧‧‧電傳導元件
140‧‧‧支撐部
141‧‧‧受力部
142‧‧‧導接部
16‧‧‧墊片
100‧‧‧電路基板
110‧‧‧接點

Claims (10)

  1. 一種跳線裝置,包括:一殼體,以絕緣材質製成,並具有一容置空間、二穿孔以及二插孔,且該二穿孔與該二插孔與該容置空間連通;以及二電傳導元件,以導體製成,並設置於該容置空間中,且分別具有一支撐部、一導接部以及一受力部;該二受力部分別位於該容置空間中對應該二插孔的位置上,該二支撐部分別設置於該容置空間中對應該二穿孔的位置上,該受力部分別電性連接該支撐部與該導接部,而該二導接部相互接抵;藉此,當一物體插入該二插孔中而頂推該二受力部偏移時,該二導接部相互分離,且該物體抽離該二插孔後,該二導接部恢復相互接抵。
  2. 如請求項1所述之跳線裝置,其中各該電傳導元件更包含有一彈性傳導部,一端連接該支撐部,另一端連接該受力部,使該受力部透過該彈性傳導部電性連接該支撐部,並各別提供一彈力推抵對應之各該受力部,使該二導接部相互接抵。
  3. 如請求項1所述之跳線裝置,各該電傳導元件包含有一墊部,該二墊部則設於該殼體上對應該二穿孔處。
  4. 如請求項1所述之跳線裝置,其中該二電傳導元件之一端各別穿過各該穿孔而凸伸至該殼體外。
  5. 如請求項1所述之跳線裝置,更包含有二墊片,係以導體材質製成,該二墊片則設於該殼體上對應該二穿孔處;該二電傳導元件分別與該二墊片連接。
  6. 如請求項1所述之跳線裝置,更包含有二頂針,係以導體製成,該二頂針則設於該殼體上對應該二穿孔處;該二電傳導元件分別穿過該二穿孔並與該二頂針連接。
  7. 如請求項1所述之跳線裝置,其中該殼體更包含有一隔板,設置於該容置空間中,且位於該二插孔之間。
  8. 一種檢測模組,用以對一電路基板進行檢測,且該電路基板上具有二接點;該檢測模組包括:一跳線裝置,設於該電路基板上,且包含有一殼體以及二電傳導元件;該殼體以絕緣材質製成,並具有一容置空間、二穿孔以及二插孔,且該二穿孔與該二插孔與該容置空間連通;該二電傳導元件係以導體製成,並設置於該殼體之容置空間中;該二電傳導元件各具有一支撐部、一導接部以及一受力部,且該二受力部分別位於該容置空間中對應該二插孔的位置上,該二支撐部分別設置於該容置空間中對應該二穿孔的位置上分別與該二接點電性連接,且該受力部分別電性連接該支撐部與該導接部,而該二導接部相互接抵,使該二接點相互電性連接;以及一檢測裝置,用以產生電訊號並具有二探測件,且該二探測件係以導體製成;當該二探測件分別插入該二插孔中而頂推該二受力部時,該二導接部相互分離,使該二接點相互電性分離,且該二探測件分別與該二電傳導元件電 性連接,而該電訊號則流經該等探測件與該等電傳導元件而傳至該二接點;另外,該二探測件與該二插孔分離時,該二導接部重新相互接抵,使該二接點重新相互電性連接。
  9. 如請求項8所述之檢測模組,其中該殼體更包含有一隔板,設置於該容置空間中,且位於該二插孔之間。
  10. 如請求項8所述之檢測模組,其中各該電傳導元件更包含有一彈性傳導部,一端連接該支撐部,另一端連接該受力部,使該受力部透過該彈性傳導部電性連接該支撐部,並各別提供一彈力推抵對應之各該受力部,使該二導接部相互接抵。
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