CN201159757Y - 可测试精密电阻的万用测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型为一种可测试精密电阻的万用测试装置，其包含有：一针盘组，一端与测试设备连接，其针盘组上布设有矩阵排列的测试点，每一测试点上预先定义有独立编号。一测试盘，其上布设有复数导接点，每一导接点上预先定义有独立编号，用以与针盘组上相同编号的测试点连接。一转接盒，其底座设有与测试盘导接点对应的转接部，其一端设有测试部，所述的转接点与测试部依测试料号的不同而电性导接。测试装置不仅可测试一般电路，亦可同时用于测量精密电阻，可大大减少制作专用测试治具成本。

Description

可测试精密电阻的万用测试装置

技术领域

本实用新型为一种可测试精密电阻的万用测试装置，特别是指于利用测试盘的导接点与预先定义相对应且独立的编号万用测试机的测试点相连接，在通过依不同料号所制作的转接盒与测试盘相组合，使被测试点的电性信号可确实借由测试部连接至四线式电阻测量机(或功能相同的电子电路)上进行精密电阻的测量，以达到减少专用测试治具制作成本的目的测试装置。

背景技术

请参见图1至图4所示，一般电路板测试用的万用测试机针盘A上的复数电子检测点A1是成点矩阵排列，其整体构造是由被测物的被测点和多层导引板B所组成，其导引板多层导引板B间有间隔支柱B1隔开一段距离，且治具上面插有线针，所述的线针被导引板B导引成垂直或倾斜的导引到万用测试机的点矩阵电子检测点上。

而现有的万用测试机针盘A的电子检测点A1制作方法大多区分为下列两种；其中一种是先制作出一点矩阵排列的针盘A，再通过电线把探针A2与电子检测卡片C上的检测点C1，形成一连结(如图3所示)。另一种制作方法是将电子检测卡片C上的检测点C1制作成点矩阵的排列状，再将所述的电子检测卡片C一片一片的排列并相连结组合，借以形成一更大面积的点矩阵检测点(请参见图4所示)。

上述现有万用测试机虽可测量一般电路板，但并无法测量精密电阻的原因如下：

因测试精密电阻时需使用四线式的测试方法，也就是在一个测试点D上需要扎(连接)两根探针D1，一条导线上具有两个测试点，所以必须扎(连接)四根探针D1(如图5所示)连接至四线式电阻测量电表E。而现今万用测试机上的电子检测点是通过晶体管来做开关切换，把要测量电阻用的电表或电路通过晶体管开关F的切换动作，切换到要测量的点上(如图6所示)。但由于晶体管的物理特性，会有漏电流现象及阻抗等问题产生，所以电表测量到的被测线路阻值就不是很准。

如果要从改良万用测试机上来达到可进行测量四线式电阻的目的，实际上有相当的困难度及不便，因为万用测试机上的点矩阵检测点在制作时已作好且锁在机台上，如果要从某些测试点上来进行四线式电阻测量，需从万用测试机的机台上的点矩阵检测点拉线到四线式电阻测量电表(或电路)。而且每个被测料号的被测点地址都不尽相同，每当测试到不同料号时就必须把线材重复的拆装，导致在实际上改装上增加许多困难度，所以在业界几乎不太可能采取此等做法，即利用现有万用测试机上点矩阵检测点把欲测试的线路拉线到四线式电阻测量电表(或电路)。

为解决四线式电阻测量问题则必须依照每组不同的料号来制作出专用的测试治具，一般测试动作完成后，再将被测物移到四线式电阻测量专用测试治具上来进行测试。但专用测试治具在开模或制作的成本相当高，实际上对于测试业在成本上造成相当的负担，为解决专用测试治具的高成本或对于测试结构、方法进行改良，实为产业界一个相当重要的课题。

发明内容

本实用新型的主要目的系提供一种可测试精密电阻的万用测试装置，利用测试盘将万用测试机台上的被测点转换至转接盒，通过转接盒连接至四线式电阻测量机进行测试，使所述的万用测试机台可测试一般电路外亦可测试精密电阻值，可大大降低制作专用测试治具(设备)的成本。

为达上述目的，本实用新型为一种可测试精密电阻的万用测试装置，其包含有：

一针盘组，一端与测试设备连接，其针盘组上布设有矩阵排列的测试点，每一测试点上预先定义有独立编号。

一测试盘，其上布设有复数导接点，每一导接点上预先定义有独立编号，用以与针盘组上相同编号的测试点连接。

一转接盒，其底座设有与测试盘导接点对应的转接部，其一端设有测试部，所述的转接点与测试部依测试料号的不同而电性导接。

其中，所述的针盘组上可进一步设置复数的导引板，每一导引板间以间隔支柱来区隔，每一片导引板上设有对应的孔洞，并布设有不同尺寸的线针，用于对应被测物(电路板)上的被测试点。

所述的针盘组上测试点可进一步延伸一探针，供连接导线及测试设备用。

在一较佳实施例中，所述的导接点可进一步延伸一探针，供连接导线至针盘组。且所述的导接点为一凹槽或孔洞状，供转接盒转接点可对应置入结合。

在一理想实例中，所述的转接部为一探针或棒状导电体，以利对应导接点置入结合。

所述的测试部一端以外接线材、排线或连接器的其一连接至四线式电阻测量机供进行测量。

在一可行实例中，所述的转接盒其底座外可进一步加设一外盖，供保护内部线路。

为使贵审查委员能了解本实用新型的技术内容，及所能达成的功效，现配合附图列举诸较佳实施例详细说明如后。

本实用新型提供的测试装置不仅可测试一般电路，亦可同时用于测量精密电阻，可大大减少制作专用测试治具成本。

附图说明

图1，为现有万用测试针盘上的测试点布设示意图；

图2，为现有万用测试治具结构示意图；

图3，为现有针盘与电子式检测卡连接的示意图；

图4，为现有电子式检测卡相互组合连接的示意图；

图5，为现有四线式电阻测量电表的测试示意图；

图6，为现有万用测试机电表的测试示意图；

图7，为本实用新型结构的示意图；

图8，为本实用新型针盘组与测试盘构造及连接的示意图；

图9，为本实用新型测试盘与转接盒的构造示意图；

图10，为本实用新型转接盒的构造示意图；

图11，为本实用新型转接盒与测试盘的组合示意图；

图12，为本实用新型的测试示意图。

附图标号

A   针盘        A1   电子检测点

A2  探针        B    导引板

B1  间隔支柱    C    电子检测卡片

C1  检测点      D    测试点

D1  探针        E    四线式电阻测量电表

F   晶体管开关  H    控制电路

1   针盘组      11   测试点

111 探针        12   导引板

121 间隔支柱    2    测试盘

21  导接点      22   探针

3   转接盒      31   底座

311 转接点      32   测试部

33  外盖        4    四线式电阻测量机

5   切换开关    6    电表

7   计算机      8    被测物

具体实施方式

为便于贵审查委员能更进一步对本实用新型的构造、使用及其特征有更深一层，明确、详实的认识与了解，创作人举出较佳的实施例，配合附图详细说明如下：

请参考图7至图10所示，本实用新型的可测试精密电阻的万用测试装置，包含有：

一针盘组1，一端与测试设备连接，其针盘组1上布设有矩阵排列的测试点11，每一测试点11上预先定义有独立编号。

一测试盘2，其上布设有复数导接点21，每一导接点21上预先定义有独立编号，用以与针盘组1上相同编号的测试点11连接。

一转接盒3，其底座31设有与测试盘2导接点21对应的转接部31，其一端设有测试部32，所述的转接点31与测试部32依测试料号的不同而电性导接。

其中，所述的针盘组1上可进一步设置复数的导引板12，每一导引板12间以间隔支柱121来区隔，每一片导引板12上设有对应的孔洞，并布设有不同尺寸的线针，用于对应被测物(电路板)上的被测点(请参考图12所示)。

所述的测试点11可进一步延伸一探针111，供连接导线及测试设备用。

在一较佳实施例中，所述的导接点21可进一步延伸一探针22，供连接导线至针盘组1。且所述的导接点21为一凹槽或孔洞状，供转接盒3转接点311可对应置入结合。

在一理想实例中，所述的转接部311为一探针或棒状导电体，以利对应导接点21置入结合。

所述的测试部32一端以外接线材、排线或连接器的其一连接至四线式电阻测量机供进行测量。

在一可行实例中，所述的转接盒3其底座31外可进一步加设一外盖33，供保护内部线路。

本实用新型于测试前需先组合，其中针盘组1上布设的测试点11底部利用导线连接至测试设备。为使测试精密电阻值时不致发生测试点误接的问题，需于每个待测用的测试点11预先定义独立标号，以避免后续与导接点21连接产生误接的现象(参后续说明)。

再者，通过测试盘2来连接针盘组1上全部的测试点11，而测试盘2在制作时需与针盘组1相对应，其中所述的测试盘2包含复数的导接点21，所述的导接点21排列方式可用任何方式或态样排列，只需明确界定出每一点测试点的相对地址即可，为使被测试点导接时不致发生错误，可进一步将每个导接点21都编上一独立的编号，其目的就是要利用导线拉到针盘组1相同号码的测试点11上，使所述的检测盘2在连接万用测试机时可以对应到相同的待测试点，而且适用每个测试料号的待测物。

其范例可参照图8所示，针盘组1有复数的测试点11，举例而言，将测试点11预先编号有1、5、9、13的编号，所述的测试盘2上亦具有相同编号的导接点21，利用导线连接使其电性导通(如图面表示相同编号的测试点11及导接点21相互连接)。在本实施例中利用探针111及22以导线作电性导接，且针盘组1所有测试点11与测试盘2的导接点21电性导接仅在首次制作时完成所述的导接动作，无须重复进行。

一般而言，针盘组1上的的点矩阵排列的测试点11在测试被测物时不见得每一个测试点11都会被使用，且一般测试时所使用到的测试点11又不见得每一个点都需要进行四线式电阻测量，通常在测量四线式电阻测量的检测点数没有针盘组1上所布设的测试点111那么多，有鉴于此，本实用新型的另一重点是通过转接盒3来针对要进行测四线式电阻测量的待测试点作一转接动作。

请参图9及图10所示，本实用新型的转接盒3其目的是用于转接要检测四线式电阻测量的点，因待测物型号不同所需测试的测试点也会有差异，所以本案转接盒3的设计为具有一底座31及一覆盖于底座31上的外盖33，所述的底座31上布设有但单一料(型)号的转接点311。

在本实施例中，其中所述的测试部32设置于外盖33上，以便于用来外接导线或排线连接至四线式电阻测量机4进行测量，所述的转接点311以导线连接至测试部32，形成测试时电性信号导通的路径。

但为了对应待测物型号不同，所述的转接盒3底座31的转接点311的位置及所对应编号需与测试盘2一致，举例而言如果四线式电阻测量机4(或有此功能的电子电路)的第一点要测试万用测试机针盘组1上第100号电性测试点111，转接盒3其转接点311要与测试盘2第100号的导接点21相对应(如图11所示)。而转接盒3其测试部32则利用外接导线或排线连接至四线式电阻测量机4进行测量。

由上述可知，所述的转接盒3会因为测试料号的不同而必需将每个待测料号都制做一个转接盒3(其内线路及测试点都不同)，整体来说，为对应每个待测料号而制作的转接盒3成本都大大低于制作一测量精密电阻的专用治具或测试机台。

请参图11所示，为本实用新型转接盒3与测试盘2组合的示意图。为使在测试过程中测试到正确的信号，转接盒3与测试盘2组合时系可利用夹具夹固或螺丝等组接零件使转接盒3紧密结合于测试盘2，使转接盒3上转接点311向下对应到测试盘2上导接点21，例如第100号转接点311使其确实接触到测试盘2上第100号导接点21位置，方可确保待测点可正确导接。

请配合图12所示，本实用新型测试精密电阻的步骤如下：所述的万用测试机针盘组1的接线会有两个不同的连接路径，一条是接往万用测试机切换开关5并与计算机7相连接，所述的切换开关5系由晶体管所制成的。而另一路径系接往测试盘2，将万用测试机针盘组1上相同编号的测试点11与测试盘2上的导接点21预先以导线相连接，在利用转接盒3正确导接至测试盘2上，借由转接盒3上的测试部32外接排线或连接器至四线式电阻测量机4(或有此功能的电子电路)，进而使万用测试机上的待测点可将电性信号传递至四线式电阻测量机4。

于测试前需先将复数的导引板12置放于万用测试机的针盘组1上，当被测物8放在导引板12时，测试机压床下压就把被测物8紧密的与导引板12结合在一起，并与线针相接触(因线针为导引板12上本身即有的导电介面，且非本案的重点，故图示未绘制，仅以文字说明之)。在本实施例中，如果要测量被测物8第1、2号被测点，则计算机7就先控制切换开关5切换要测量的点，使电表6(或有此功能的电子电路)的检测点通过电线到切换开关5，再通过导线到万用测试机针盘组1检测点11，因为针盘组1检测点11有被导引板12上的线针一端接触到，而线针的另一端接触到被测点，如此即形成一条可导通的电路，使电表6可以检测到被测物，而电表6检测完成的结果通过数据传输给计算机7，此时计算机7即会进行第一次初步判断，判断结果有2种，例如连结被测物第1、2被测点的线若是断线，那计算机7即不会再进行四线式电阻精密测量的相关动作，若判断结果线路无断线现象，则计算机就通知四线式电阻测量机进行被测物电阻精密测量。

而四线式电阻测量机4的其检测点是通过外接排线或连接器连接到转接盒3的测试部，再通过转接盒3连接到测试盘2，利用测试盘2与针盘组1检测点11相导接，借由导引板1的线针接触到被测物上的被测点，如此一来即可形成导通通路，供四线式电阻测量机4来对被测物进行电阻精密测量，待测量完的结果通过数据传输至计算机7，供工程人员判读。

综上述，本实用新型利用测试盘2的导接点21与万用测试机针盘组1测试点11相连接，因所述的导接点21及测试点11已预先定义相对应且独立的编号，而可确保被测试点的正确性，在通过依不同料号所制作的转接盒3与测试盘2相组合，使被测试点的电性信号可确实借由测试部32连接至四线式电阻测量机4上，来进行精密电阻的测量，使万用测试机不仅可测试一般电路，亦可同时用于测量精密电阻，可大大减少制作专用测试治具的成本。

以上所述，仅为本实用新型的较佳实施例而已，不能以此限定本实用新型实施的范围，即大凡依本实用新型权利要求书及实用新型说明书内容所作的简单的等效变化与修饰，皆应仍属本实用新型专利涵盖的范围内。

Claims (9)

1.一种可测试精密电阻的万用测试装置，其特征在于，所述的可测试精密电阻的万用测试装置包含有：

一针盘组，一端与测试设备连接，其针盘组上布设有矩阵排列的测试点，每一测试点上预先定义有独立编号；

一测试盘，其上布设有复数导接点，每一导接点上预先定义有独立编号，用以与针盘组上相同编号的测试点连接；

一转接盒，其底座设有与测试盘导接点对应的转接部，其一端设有测试部，所述的转接点与测试部依测试料号的不同而电性导接。

2.如权利要求1所述的可测试精密电阻的万用测试装置，其特征在于，其中所述的针盘组上可进一步设置复数的导引板，每一导引板间以间隔支柱来区隔，每一片导引板上设有对应的孔洞，并布设有不同尺寸的探针，用于对应被测物上的被测试点。

3.如权利要求1所述的可测试精密电阻的万用测试装置，其特征在于，其中所述的测试点可进一步延伸一探针，供连接导线及测试设备用。

4.如权利要求1所述的可测试精密电阻的万用测试装置，其特征在于，其中所述的导接点可进一步延伸一探针，供连接导线至针盘组。

5.如权利要求1所述的可测试精密电阻的万用测试装置，其特征在于，其中所述的导接点为一凹槽或孔洞状，供转接盒转接点可对应置入结合。

6.如权利要求1所述的可测试精密电阻的万用测试装置，其特征在于，其中所述的转接部为一探针或棒状导电体，以利对应导接点置入结合。

7.如权利要求1所述的可测试精密电阻的万用测试装置，其特征在于，其中测试部一端以外接线材、排线或连接器的其一连接至四线式电阻测量机供进行测量。

8.如权利要求1所述的可测试精密电阻的万用测试装置，其特征在于，其中所述的转接盒其底座外可进一步加设一外盖，供保护内部线路。

9.如权利要求8所述的可测试精密电阻的万用测试装置，其特征在于，其中所述的测试部设置于外盖，以便于用来外接导线或排线连接至四线式电阻测量机进行测量。

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