CN204595098U - 微电阻测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种微电阻测试装置，所述微电阻测试装置包括一个电压检测模块、一个电流输出模块、多个内接端口、多个开关模块和多个外接端口，所述多个内接端口并联于所述电压检测模块和所述电流输出模块之间，所述多个开关模块的一端分别对应连接所述多个内接端口，所述多个外接端口分别对应连接所述多个开关模块的另一端，所述多个外接端口连接多个待测试电阻。通过所述多个内接端口并联于所述电压检测模块和所述电流输出模块之间，所述多个外接端口用以连接多个待测试电阻，从而实现多个待测试电阻并联于所述电压检测模块和所述电流输出模块之间，进而实现对多个待测试电阻的电阻测试。

Description

微电阻测试装置

技术领域

本实用新型涉及电阻测试领域，尤其涉及一种微电阻测试装置。

背景技术

众所周知，所有的电子电气设备或控制系统都要用到印刷线路板，为确保线路板不发生开路或短路，印刷线路板在出货前均需通过PCB测试机的测试，将不合格的线路板检出。

随着电子技术的迅猛发展，印制线路板(PCB)的制作层数越来越高、线路密度越来越密、焊盘尺寸越做越小，客户对板的要求越来越严，尤其是PCB的安全性与稳定性，比如说关乎生命安全的汽车板，心系国防的航天控制系统电子板等。普通的两端子测试机，通常采用的是断线测试方法，是由已知的排线阻抗、电子控制阻抗及接触阻抗再加上被测PCB之阻抗植，所以无法测出被测PCB内真正的阻抗，以致孔内微小缺陷及线路微小缺口，更是无法被检测出来。当线路阻值小于20Ω时，已基本成为它的测试盲区。在实际生产中发现PCB的某些缺陷，如孔内无铜、空洞、铜薄、线幼、线路缺口等问题均会影响到线路阻值，当阻值小于20Ω时测试结果显示PASS，但客户经过高温焊接后阻值发生变化，导致开路问题发生，最终导致客户投诉，严重的还需向客户赔款。

现有的印刷线路板测试机电子卡主要有以下几种：双倍密通用测试机电子卡(标准网格间距为70mil)，四倍密通用测试机电子卡(标准网格间距为50mil)，六倍密通用测试机电子卡(标准网格间距为39.3mil)。上述设备能满足一般印刷电路板的测试要求，但在实际测试过程中不能针对批量电路板的测试，且测试精度不高。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种有效提高测试精度的微电阻测试装置。

为了解决上述技术问题，本实用新型提供了一种微电阻测试装置，其中，所述微电阻测试装置包括一个电压检测模块、一个电流输出模块、多个内接端口、多个开关模块和多个外接端口，所述多个内接端口并联于所述电压检测模块和所述电流输出模块之间，所述多个开关模块的一端分别对应连接所述多个内接端口，所述多个外接端口分别对应连接所述多个开关模块的另一端，所述多个外接端口用以通过测试夹具的连线及其探针连接多个待测试电阻。

其中，所述微电阻测试装置包括一组测试电路板，所述电压检测模块和所述电流输出模块集成于所述测试电路板上，所述测试电路板设置有并联所述电压检测模块和所述电流输出模块的测试接入端口，所述多个内接端口均电连接所述测试接入端口。

其中，所述微电阻测试装置还包括转接电路板组件，所述转接点板组件包括第一转接板和第二转接板，所述第一转接板和所述第二转接板相对设置，所述第一转接板设置有并接电路，所述并接电路包括一个连接端和多个并行端，所述多个并行端连接于所述一个连接端，所述连接端设置于所述第一转接板背离所述第二转接板一侧，所述多个并行端设置于所述第一转接板靠近所述第二转接板一侧，所述第二转接板设置多个并列的插接件，所述多个插接件的一端分别对应连接所述多个并行端，所述多个插接件的另一端穿过所述第二转接板，并分别对应设置多个所述内接端口。

其中，所述测试装置还包括多个开关电路板，所述多个开关模块分别对应集成于所述多个开关电路板上，所述多个开关电路板并列设置，所述多个开关电路板均包括一个开关接入端和一个开关接出端，所述多个开关电路板的开关接入端分别对应连接所述多个内接端口，所述多个开关电路板的开关接出端分别对应设置多个所述外接端口。

其中，所述微电阻测试装置还包括一个外接针盘，所述外接针盘包括相对设置第一侧和第二侧，所述第一侧设置多个引脚，每一引脚对应插接每一所述针管，所述第二侧设置多个弹簧针，每一弹簧针穿过所述外接针盘与每一所述引脚对应连接，多个所述弹簧针用于与多个待测试电阻连接。

其中，所述微电阻测试装置还包括线路转接板，所述线路转接板相对所述外接针盘滑动设置，所述测试版包括相对设置的第一连接侧和第二连接侧，所述第一连接侧设置多个触点，多个所述触点与多个所述弹簧针相对应，所述第二连接侧对应所述多个触点连接有多根线缆，多根所述线缆远离所述线路转接板的另一端连接多个探针，多个所述探针用于连接所述待测试电阻。

其中，所述微电阻测试装置还包括测试测试夹具，所述测试夹具用于固定待测试电路板，多个所述待测试电阻集成于所述待测试电路板上，多个所述探针设置于所述测试夹具上，用于接触多个所述待测试电阻。

其中，所述电压检测模块包括一个电压测试电路，所述电压测试电路用于测试所述待测试电阻两端的电压，所述电流输出模块包括一个电流源，所述电流源用于向所述待测试电阻输出恒定电流。

其中，所述微电阻测试装置包括控制模块，所述控制模块电连接所述多个开关模块，用以控制所述多个开关模块的通断，所述控制模块电连接所述电流输出模块，用以控制所述电流输出模块输出的电流值，所述控制模块电连接所述电压检测模块，用以控制所述电压检测模块的量程选择。

本实用新型的微电阻测试装置，通过所述多个内接端口并联于所述电压检测模块和所述电流输出模块之间，所述多个外接端口用以连接多个待测试电阻，从而实现多个待测试电阻并联于所述电压检测模块和所述电流输出模块之间，进而实现对多个待测试电阻的电阻测试。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型的技术方案，下面将对实施方式中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本实用新型提供的微电阻测试装置的示意图；

图2是本实用新型提供的微电阻测试装置的示意图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施方式中的附图，对本实用新型实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述。

请参阅图1和图2，本实用新型提供一种微电阻测试装置100，所述微电阻测试装置100包括一个电压检测模块10、一个电流输出模块20、多个内接端口30、多个开关模块40和多个外接端口50。所述多个内接端口30并联于所述电压检测模块10和所述电流输出模块20之间，所述多个开关模块40的一端分别对应连接所述多个内接端口30。所述多个外接端口50分别对应连接所述多个开关模块40的另一端，所述多个外接端口50用以连接多个待测试电阻1(未图示)。

通过所述多个内接端口30并联于所述电压检测模块10和所述电流输出模块20之间，所述多个外接端口50用以连接多个待测试电阻1，从而实现多个待测试电阻1并联于所述电压检测模块10和所述电流输出模块20之间，进而实现对多个待测试电阻1进行测试。可以理解的是，多个待测试电阻1可以集成于一个电路板上，通过一次连接多个待测试电阻的两端，实现对多个待测试电阻1的电阻测试。

本实施方式中，所述电压检测模块10具有多个电压检测线，多个所述电压检测线的两端分别对应连接待测试电阻1的正极和负极。即所述电压检测模块10具有一个电压测试电路。该测试回路具有较高的阻抗值，根据所述测试电路所测试的电压可以计算出待测试电阻1的电阻值。在其他实施方式中，所述电压检测模块10还可以是具有高输入阻抗的电压表。

具体的，所述电压检测模块10包括第一等效电阻11、一个电压测试电路12和第二等效电阻13。所述电压测试电路12的正负输入端分别连接第一等效电阻11和第二等效电阻12，即所述第一等效电阻11、电压测试电路12和第二等效电阻13形成串联的检测线路。所述第一等效电阻11和所述第二等效电阻13包含所述连接于所述待测试电阻的线缆电阻、开关的等效电阻，线缆各连接点的接触电阻。所述第一等效电阻11、电压测试电路12、第二等效电阻13和所述待测试电阻1形成检测回路。在所述电流输出模块20对所述待测试电阻1输入电流后，所述电压测试电路12所测的电压值为所述待测试电阻1正极和负极的电压。

本实施方式中，所述电流输出模块20具有多条激励线，每一所述激励线20的两端分别对应连接待测试电阻1的正极和负极。所述电流输出模块20利用所述电流源23输出电流以激励所述待测试电阻1，使待测试电阻1的两端产生电压，从而方便根据所述待测试电阻1的电压值测算所述待测试电阻1的电阻值。

具体的，所述电流输出模块20包括第三等效电阻22、等效电流源23和第四等效电阻24，所述电源21的两端分别连接所述第三等效电阻22和所述第四等效电阻24。所述第三等效电阻22、电源21、等效电流源23、第四等效电阻24和所述待测试电阻1形成电流回路。所述第三等效电阻22和所述第四等效电阻24包含连接于所述待测试电阻1的线缆电阻，开关的等效电阻，连接线缆的接触电阻。所述第三等效电阻22以及所述第四等效电阻串连于所述电流源23。由于所述电流源23串联于所述待测试电阻1，从而所述电流源23所输出的电流值等同于流经至所述待测试电阻1中的电流值，根据所述待测电路的电压值和电流值，即可以根据欧姆定律计算出所述待测电路的电阻，从而实现测试出所述待测电阻的阻值。

本实施方式中，每一所述内接端口30均包括多个内接端子组30a。每一内接端子组30a包括四个子内接端子组30b。每一子内接端子组30b包括第一内接正极31、第二内接正极32、第一内接负极33和第二内接负极34。所述第一内接正极31和所述第二内接正极32分别连接于所述电流源23的流出端和所述电压测试电路12的正极输入端，所述第一内接负极33和所述第二内接负极34分别连接于所述电流源23的流入端和所述电压测试电路12的负极输入端。从而每一子内接端子组30b均负责导引所述电压检测模块10的正负输入端和所述电流输出模块20流入端与流出端与所述待测试电阻1连接。

本实施方式中，每一所述开关模块40均包括多个开关组40a。每一开关组40a均包括四个子开关组40b。每一所述子开关组410b均包括第一开关41、第二开关42、第三开关43和第四开关44。每一所述开关组40a与每一所述内接端子组30a相对应，每一所述子开关组40b与所述子内接端子组30b相对应。每一所述开关组40a的所述第一开关41的一端和所述第二开关42的一端分别连接于所述第一内接正极31和第一内接负极33，所述第三开关43的一端和所述第四开关44的一端分别连接于所述第二内接正极32和第二内接负极34。所述第一开关41和第二开关42分别控制所述电流输出模块10与所述外接端口50的通断；所述第三开关43和第四开关44分别控制所述电压检测模块10与所述外接端口50的通断，从而通过多个所述开关组40a的相互协调，使得所述微电阻测试装置100可以实现对多个电阻的检测。

本实施方式中，每一所述外接端口50均包括多个外接端子组50a。每一外接端子组50a均包括第一触点51、第二触点52、第三触点53和第四触点54。每一所述外接端子组50a与每一所述开关组40a对应连接，即所述第一触点51、第二触点52、第三触点53和第四触点54依次与所述开关组40a的四个子开关组40b连接。从而使得每一所述外接端子组50a实现对一个所述待测试电阻1进行连接，进而每一所述外接端口50可以对多个待测试电阻1进行测试。具体的，将所述待测试电阻1的正极1a同时连接所述第一触点51和所述第二触点52，将所述待测试电阻1的负极1b同时连接所述第三触点53和第四触点54。将连接于所述第一触点51的子开关组40b中的第一开关41闭合，将连接于所述第二触点52的子开关组40b中的第三开关43闭合，即实现所述待测电阻1的正极1a同时连接于所述电压检测模块10的正输入端和所述电流输出模块20的流出端；将连接于所述第三触点53的子开关组40b中的第四开关44闭合，将连接于所述四触点54的子开关组40b中的第二开关42闭合，即实现所述待测电阻1的负输入端同时连接于所述电压检测模块10的负极和所述电流输出模块20的流出端，从而使得所述待测试电阻1并联于所述电压检测模块10和所述电流输出模块20之间，从而实现对所述待测试电阻1的电阻进行测试，通过控制多个所述开关组40a的通断，从而可以实现对多个待测试电阻进行测试。

进一步地，所述微电阻测试装置100包括一个测试电路板60，所述电压检测模块10和所述电流输出模块20集成于所述测试电路板60上，所述测试电路板60设置有并联所述电压检测模块10和所述电流输出模块20的测试接入端口61，所述多个内接端口30均电连接所述测试接入端口61。

本实施方式中，所述电压检测模块10和所述电流输出模块20相互独立。利用所述测试接入端口61向所述待测试电阻1输出电压和电流，从而方便对所述待测试电阻1的电阻进行测试。在其他实施方式中，所述测试电路板60还可以是设置两个测试接入端口61，从而方便对多批次的所述待测试电阻1进行电阻测试。

进一步地，所述微电阻测试装置100还包括转接电路板组件70，所述转接电路板组件70包括第一转接板71和第二转接板72。所述第一转接板71和所述第二转接板72相对设置，所述第一转接板71设置有并接电路，所述并接电路包括一个连接端(未图示)和多个并行端(未图示)。所述连接端设置于所述第一转接板71背离所述第二转接板72一侧。所述多个并行端连接于所述连接端，所述多个并行端设置于所述第一转接板71靠近所述第二转接板72一侧。所述第二转接板72设置多个并列的插接件721，所述多个插接件721的一端分别对应连接所述多个并行端，所述多个插接件721的另一端穿过所述第二转接板72，并分别对应设置多个所述内接端口30。

本实施方式中，所述第一转接板71和所述第二转接板72通过四根螺钉柱71a相对固定。利用所述转接电路板组件70实现所述一个测试电路板60可以并接多个所述待测试电阻1，并通过所述第一转接板71和所述第二转接板72分别连接所述测试电路板60和所述待测试电阻1，从而减小所述微电阻测试装置100的内阻，提高所述微电阻测试装置100的测试精确度。

进一步地，所述测试装置还包括多个开关电路板80，每一所述开关模块40集成于每一所述开关电路板80上，所述多个开关电路板80并列设置。所述多个开关电路板80均包括一个开关接入端81和一个开关接出端82，所述多个开关电路板80的开关接入端81分别对应连接所述多个内接端口30，所述多个开关电路板80的开关接出端82分别对应设置多个所述外接端口50。利用多个所述开关电路板80分别控制多个所述待测试电阻1与所述微电阻测试装置100的通断，每一所述开关电路板80分开控制所述微电阻测试装置100的通断，实现对多个所述待测试电阻1的精确度，进而减少所述微电阻测试装置100的测试误差，从而提高所述微电阻测试装置100的测试效率。

进一步地，所述多个开关电路板80的开关接出端82设置有插板82a，每一所述插板82a设置有多个并列的针管82b。所述多个外接端口50分别固定于所述多个开关电路板80的插板82a。每一所述外接端口50包括多根并列的外接线(未图示)，每一所述外接端口50的多个所述外接线对应连接每一所述插板82a的针管82b。利用所述针管82b可以与外接设备的引脚进行插接，从而方便所述外接端口50与多个所述待测试电阻1的连接，使得所述微电阻测试装置100的便捷性。

进一步地，所述测试装置100还包括一个外接针盘90，所述外接针盘90包括相对设置第一侧91和第二侧92，所述第一侧91设置多个引脚91a，每一引脚91a对应插接每一所述针管82b，所述第二侧92设置多个弹簧针91b，每一弹簧针91b穿过所述外接针盘90与每一所述引脚91a对应连接，多个所述弹簧针91b用于与多个待测试电阻1连接。具体的，所述外接针盘90呈矩形阵列设置多个所述弹簧针91b，所述多个弹簧针91b引导所述多个外接端口50对应连接所述多个待测试电阻1。利用所述外接针盘90对多个所述外接端口50进行引导，方便所述外接端口50连接所述测试模块，从而实现所述微电阻测试装置100方便与多个待测试电阻1的连接，进而提高所述微电阻测试装置100的测试速度。

进一步地，所述微电阻测试装置100还包括线路转接板(未图示)，所述线路转接板相对所述外接针盘90滑动设置，所述线路转接板包括相对设置的第一连接侧和第二连接侧，所述第一连接侧设置多个触点(未图示)，多个所述触点与多个所述弹簧针91b相对应，所述第二连接侧对应所述多个触点连接有多根线缆(未图示)，多根所述线缆远离所述线路转接板的另一端连接多个探针(未图示)，多个所述探针用于连接所述待测试电阻1。

进一步地，所述微电阻测试装置100还包括测试测试夹具(未图示)，所述测试夹具用于固定待测试电路板(未图示)，多个所述待测试电阻1集成于所述待测试电路板上，多个所述探针设置于所述测试夹具上，用于接触多个所述待测试电阻。

本实施方式中，所述测试夹具设置多个所述探针，多个所述探针通过线缆连接所述线路转接板的触点，多个所述探针的另一端用以接触所述待测试电阻1的测试点。本实施方式中，多个所述弹簧针91在所述外接针盘90上呈矩阵排列，当所述线路转接板靠近所述外接针盘90时，多个所述弹簧针91b与多个所述触点对应连接，从而实现多个所述弹簧针91b与多个所述探针连接，即通过所述外接针盘90和多个所述探针实现所述待测试电阻1与所述微电阻测试装置100的连接，从而方便利用所述外接针盘90实现对多个所述待测试电阻1的点接触，每一所述探针均精密连接于所述待测试电阻1的测试点，从而减小所述微电阻测试装置100的内阻，进一步提高所述微电阻测试装置100的测试精确度。具体的，当多个所述待测试电阻1集成于一块待检测电路板(未图示)时，将所述待检测电路板相对所述外接针盘90固定，并远离所述微电阻测试装置100，利用所述测试夹具上的多个探针与所述待检测电路板的各元器件接触，从而实现所述待检测电路板的各条线路均可以通过所述探针并接入所述电压检测模块10和所述电流输出模块20之间，从而可以实现一次性对所述待检测电路板上的多个待测试电阻1进行测试，提高电阻检测速度，以及准确有效。

进一步地，所述微电阻测试装置100包括控制模块101，所述控制模块101电连接所述多个开关模块40，并控制所述多个开关模块40的通断。具体的，所述控制模块101集成于所述测试电路板60上，利用所述控制模块101控制多个所述子开关组40b的第一开关41、第二开关42、第三开关43和第四开关44相互协调，从而实现多个所述待测试电阻1接入所述电压检测模块10和多个所述电流输出模块20之间，从而实现对多个所述待测试电阻1的测试。

本实用新型的微电阻测试装置，通过所述多个内接端口并联于所述电压检测模块和所述电流输出模块之间，所述多个外接端口用以连接多个待测试电阻，从而实现多个待测试电阻并联于所述电压检测模块和所述电流输出模块之间，进而实现对多个待测试电阻的微电阻测试。

以上所述是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也视为本实用新型的保护范围。

Claims (10)

1.一种微电阻测试装置，其特征在于，所述微电阻测试装置包括一个电压检测模块、一个电流输出模块、多个内接端口、多个开关模块和多个外接端口，所述多个内接端口并联于所述电压检测模块和所述电流输出模块之间，所述多个开关模块的一端分别对应连接所述多个内接端口，所述多个外接端口分别对应连接所述多个开关模块的另一端，所述多个外接端口用以连接多个待测试电阻。

2.根据权利要求1所述的微电阻测试装置，其特征在于，所述微电阻测试装置包括一组测试电路板，所述电压检测模块和所述电流输出模块集成于所述测试电路板上，所述测试电路板设置有并联所述电压检测模块和所述电流输出模块的测试接入端口，所述多个内接端口均电连接所述测试接入端口。

3.根据权利要求2所述的微电阻测试装置，其特征在于，所述微电阻测试装置还包括转接电路板组件，所述转接点板组件包括第一转接板和第二转接板，所述第一转接板和所述第二转接板相对设置，所述第一转接板设置有并接电路，所述并接电路包括一个连接端和多个并行端，所述多个并行端连接于所述一个连接端，所述连接端设置于所述第一转接板背离所述第二转接板一侧，所述多个并行端设置于所述第一转接板靠近所述第二转接板一侧，所述第二转接板设置多个并列的插接件，所述多个插接件的一端分别对应连接所述多个并行端，所述多个插接件的另一端穿过所述第二转接板，并分别对应设置多个所述内接端口。

4.根据权利要求3所述的微电阻测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括多个开关电路板，所述多个开关模块分别对应集成于所述多个开关电路板上，所述多个开关电路板并列设置，所述多个开关电路板均包括一个开关接入端和一个开关接出端，所述多个开关电路板的开关接入端分别对应连接所述多个内接端口，所述多个开关电路板的开关接出端分别对应设置多个所述外接端口。

5.根据权利要求4所述的微电阻测试装置，其特征在于，所述多个开关电路板的开关接出端设置有插板，每一所述插板设置有多个并列的针管，所述多个外接端口分别固定于所述多个开关电路板的插板，每一所述外接端口包括多根并列的外接线，每一所述外接端口的多个所述外接线对应连接每一所述插板的针管。

6.根据权利要求5所述的微电阻测试装置，其特征在于，所述微电阻测试装置还包括一个外接针盘，所述外接针盘包括相对设置第一侧和第二侧，所述第一侧设置多个引脚，每一引脚对应插接每一所述针管，所述第二侧设置多个弹簧针，每一弹簧针穿过所述外接针盘与每一所述引脚对应连接，多个所述弹簧针用于与多个待测试电阻连接。

7.根据权利要求6所述的微电阻测试装置，其特征在于，所述微电阻测试装置还包括线路转接板，所述线路转接板相对所述外接针盘滑动设置，所述测试版包括相对设置的第一连接侧和第二连接侧，所述第一连接侧设置多个触点，多个所述触点与多个所述弹簧针相对应，所述第二连接侧对应所述多个触点连接有多根线缆，多根所述线缆远离所述线路转接板的另一端连接多个探针，多个所述探针用于连接所述待测试电阻。

8.根据权利要求7所述的微电阻测试装置，其特张在于，所述微电阻测试装置还包括测试测试夹具，所述测试夹具用于固定待测试电路板，多个所述待测试电阻集成于所述待测试电路板上，多个所述探针设置于所述测试夹具上，用于接触多个所述待测试电阻。

9.根据权利要求1所述的微电阻测试装置，其特征在于，所述电压检测模块包括一个电压测试电路，所述电压测试电路用于测试所述待测试电阻两端的电压，所述电流输出模块包括一个电流源，所述电流源用于向所述待测试电阻输出恒定电流。

10.根据权利要求1所述的微电阻测试装置，其特征在于，所述微电阻测试装置包括控制模块，所述控制模块电连接所述多个开关模块，用以控制所述多个开关模块的通断，所述控制模块电连接所述电流输出模块，用以控制所述电流输出模块输出的电流值，所述控制模块电连接所述电压检测模块，用以控制所述电压检测模块的量程选择。