CN109030949A - 一种四线测试电阻的装置及方法 - Google Patents

一种四线测试电阻的装置及方法 Download PDF

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王礼忠
方明
张科峰
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    • G01R27/02Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant

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Abstract

本发明涉及电路元件测试技术领域,特别涉及一种四线测试电阻的装置及方法,用于测试待测电阻的电阻值,电源板、测试通道板、ATM板分别与母板相连接,开关电源与电源板相连接,ATM板与机架外部的控制盒、计算机、MUX板相连接,测试通道板与待测电阻相连接,打印机与计算机相连接,测试通道板包括第一通道板和第二通道板,第一通道板和第二通道板上均设置有多个测试通道,待测电阻分别与第一通道板和第二通道板上的两条测试通道相连接。与现有技术相比,本发明的四线测试电阻的装置及方法可以根据待测电阻的数量灵活配置通道板,达到自动化和批量化测试的目的,测试效率高,灵活性强,解决了测试线的内阻对测试结果的影响。

Description

一种四线测试电阻的装置及方法
【技术领域】
本发明涉及电路元件测试技术领域,特别涉及一种四线测试电阻的装置及方法。
【背景技术】
目前电阻的检测方法有使用专用测试仪、LCR电桥或者万用表来测量,现有测试方法都是单通道量测,每次测试都只能对一个电阻进行量测,不能自动化和批量化的对电阻参数进行量测。
【发明内容】
为了克服上述问题,本发明提出一种能有效解决上述问题的四线测试电阻的装置及方法。
本发明解决上述技术问题提供的一种技术方案是:提供一种四线测试电阻的装置,用于测试待测电阻的电阻值,包括一机架、控制盒、MUX板、计算机和打印机,所述机架包括开关电源、电源板、母板、测试通道板和ATM板,所述电源板、测试通道板、ATM板分别与母板相连接,所述开关电源与电源板相连接,所述ATM板与机架外部的控制盒、计算机、MUX板相连接,所述测试通道板与待测电阻相连接,所述打印机与计算机相连接,所述测试通道板包括第一通道板和第二通道板,第一通道板和第二通道板上均设置有多个测试通道,所述待测电阻分别与第一通道板和第二通道板上的两条测试通道相连接,第一通道板和第二通道板之间可以连接多个待测电阻。
优选地,所述测试通道板还可以包括第三通道板、第四通道板、第五通道板和第六通道板,第三通道板、第四通道板、第五通道板和第六通道板均设置有多个测试通道,第一通道板、第二通道板、第三通道板、第四通道板、第五通道板和第六通道板之间可以两两组合形成三组测试端,每组测试端之间可连接多个待测电阻。
优选地,所述母板包括处理器、电压采样模块、数模转换模块和信号源,所述电压采样模块、数模转换模块分别与处理器相连接,信号源与数模转换模块相连接,电压采样模块与母板外部的第二通道板相连接,信号源与母板外部的第一通道板相连接。
优选地,所述处理器为高速CPLD处理器。
优选地,所述电压采样模块为ADC采样电路。
优选地,所述数模转换模块为高速DAC。
优选地,所述信号源为高精度恒流源。
优选地,所述第一通道板、第二通道板、第三通道板、第四通道板、第五通道板、第六通道板上的测试通道分别为128个。
优选地,所述一种四线测试电阻的方法,包括如下步骤:步骤S1:处理器发出初始数字信号,并将所述初始数字信号传输至数模转换模块;步骤S2:数模转换模块接收到初始数字信号将初始数字信号转换成模拟电流信号,并将模拟电流信号传输至信号源;步骤S3:所述模拟电流信号控制信号源输出一个已知的固定的电流,所述电流经过第一通道板并加在待测电阻两端,所述电流经过待测电阻产生一个电压,所述电压经过第二通道板;步骤S4:所述电压传输至电压采样模块,所述电压采样模块将电压转换成结束数字信号,并将结束数字信号传输至处理器;步骤S5:处理器收到结束数字信号后根据欧姆定律计算出待测电阻的电阻值。
与现有技术相比,本发明的四线测试电阻的装置及方法可以根据待测电阻的数量灵活配置通道板,达到自动化和批量化测试的目的,测试效率高,灵活性强,解决了测试线的内阻对测试结果的影响。
【附图说明】
图1为本发明一种四线测试电阻的装置结构模块图;
图2为本发明一种四线测试电阻的装置母板与结构模块图。
【具体实施方式】
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施实例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅用于解释本发明,并不用于限定本发明。
需要说明,本发明实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅限于指定视图上的相对位置,而非绝对位置。
另外,在本发明中如涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中,“多个”的含义是至少两个,例如两个,三个等,除非另有明确具体的限定。
请参阅图1和图2,本发明的一种四线测试电阻的装置,用于测试待测电阻的电阻值,包括一机架、控制盒、MUX板、计算机和打印机,所述机架包括开关电源、电源板、母板、测试通道板和ATM板,所述电源板、测试通道板、ATM板分别与母板相连接,所述开关电源与电源板相连接。所述ATM板与机架外部的控制盒、计算机、MUX板相连接,所述测试通道板与待测电阻相连接,所述打印机与计算机相连接。所述测试通道板包括第一通道板和第二通道板,第一通道板和第二通道板上均设置有多个测试通道,所述待测电阻分别与第一通道板和第二通道板上的两条测试通道相连接,第一通道板和第二通道板之间可以连接多个待测电阻,实现批量化测试,提高效率。所述测试通道板还可以包括第三通道板、第四通道板、第五通道板和第六通道板,第三通道板、第四通道板、第五通道板和第六通道板均设置有多个测试通道,第一通道板、第二通道板、第三通道板、第四通道板、第五通道板和第六通道板之间可以两两组合形成三组测试端,每组测试端之间可连接多个待测电阻,实现更大批量的同时测试。所述第一通道板、第二通道板、第三通道板、第四通道板、第五通道板、第六通道板上的测试通道分别为128个。
所述母板包括处理器、电压采样模块、数模转换模块和信号源,所述电压采样模块、数模转换模块分别与处理器相连接,信号源与数模转换模块相连接,电压采样模块与母板外部的第二通道板相连接,信号源与母板外部的第一通道板相连接。所述处理器为高速CPLD处理器,所述电压采样模块为ADC采样电路,所述数模转换模块为高速DAC,所述信号源为高精度恒流源。
所述ATM板用于处理测试过程中所需的模拟和数字信号、控制其他电路板工作,控制控制盒和上位机的通信。所述MUX板用于检测IC和连接器引脚虚焊、假焊,利用电容原理放大微弱的交流信号检测引脚焊接状态,大大提高电路的可靠性和可测率。所述电源板采用+24V直流电源,输出四种直流电压至其他电路板。
一种四线测试电阻的方法,包括如下步骤:
步骤S1:处理器发出初始数字信号,并将所述初始数字信号传输至数模转换模块;
步骤S2:数模转换模块接收到初始数字信号将初始数字信号转换成模拟电流信号,并将模拟电流信号传输至信号源;
步骤S3:所述模拟电流信号控制信号源输出一个已知的固定的电流,所述电流经过第一通道板并加在待测电阻两端,所述电流经过待测电阻产生一个电压,所述电压经过第二通道板;
步骤S4:所述电压传输至电压采样模块,所述电压采样模块将电压转换成结束数字信号,并将结束数字信号传输至处理器;
步骤S5:处理器收到结束数字信号后根据欧姆定律计算出待测电阻的电阻值。
与现有技术相比,本发明的四线测试电阻的装置及方法可以根据待测电阻的数量灵活配置通道板,达到自动化和批量化测试的目的,测试效率高,灵活性强,解决了测试线的内阻对测试结果的影响。
以上所述仅为本发明的较佳实施例,并非因此限制本发明的专利范围,凡是在本发明的构思之内所作的任何修改,等同替换和改进等均应包含在本发明的专利保护范围内。

Claims (9)

1.一种四线测试电阻的装置,用于测试待测电阻的电阻值,其特征在于,包括一机架、控制盒、MUX板、计算机和打印机,所述机架包括开关电源、电源板、母板、测试通道板和ATM板,所述电源板、测试通道板、ATM板分别与母板相连接,所述开关电源与电源板相连接,所述ATM板与机架外部的控制盒、计算机、MUX板相连接,所述测试通道板与待测电阻相连接,所述打印机与计算机相连接;
所述测试通道板包括第一通道板和第二通道板,第一通道板和第二通道板上均设置有多个测试通道,所述待测电阻分别与第一通道板和第二通道板上的两条测试通道相连接,第一通道板和第二通道板之间可以连接多个待测电阻。
2.如权利要求1所述的四线测试电阻的装置及方法,其特征在于,所述测试通道板还可以包括第三通道板、第四通道板、第五通道板和第六通道板,第三通道板、第四通道板、第五通道板和第六通道板均设置有多个测试通道,第一通道板、第二通道板、第三通道板、第四通道板、第五通道板和第六通道板之间可以两两组合形成三组测试端,每组测试端之间可连接多个待测电阻。
3.如权利要求1所述的四线测试电阻的装置及方法,其特征在于,所述母板包括处理器、电压采样模块、数模转换模块和信号源,所述电压采样模块、数模转换模块分别与处理器相连接,信号源与数模转换模块相连接,电压采样模块与母板外部的第二通道板相连接,信号源与母板外部的第一通道板相连接。
4.如权利要求3所述的四线测试电阻的装置及方法,其特征在于,所述处理器为高速CPLD处理器。
5.如权利要求3所述的四线测试电阻的装置及方法,其特征在于,所述电压采样模块为ADC采样电路。
6.如权利要求3所述的四线测试电阻的装置及方法,其特征在于,所述数模转换模块为高速DAC。
7.如权利要求3所述的四线测试电阻的装置及方法,其特征在于,所述信号源为高精度恒流源。
8.如权利要求2所述的四线测试电阻的装置及方法,其特征在于,所述第一通道板、第二通道板、第三通道板、第四通道板、第五通道板、第六通道板上的测试通道分别为128个。
9.一种四线测试电阻的方法,其特征在于,包括如下步骤:
步骤S1:处理器发出初始数字信号,并将所述初始数字信号传输至数模转换模块;
步骤S2:数模转换模块接收到初始数字信号将初始数字信号转换成模拟电流信号,并将模拟电流信号传输至信号源;
步骤S3:所述模拟电流信号控制信号源输出一个已知的固定的电流,所述电流经过第一通道板并加在待测电阻两端,所述电流经过待测电阻产生一个电压,所述电压经过第二通道板;
步骤S4:所述电压传输至电压采样模块,所述电压采样模块将电压转换成结束数字信号,并将结束数字信号传输至处理器;
步骤S5:处理器收到结束数字信号后根据欧姆定律计算出待测电阻的电阻值。
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