CN214988415U - 一种用于sop8芯片外观检测的自动翻面机构 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及芯片外观检测技术领域，具体的说是一种用于SOP8芯片外观检测的自动翻面机构，包括支撑柜，所述支撑柜一侧固定连接有第二传输机，所述第二传输机一侧固定连接有第一传输机，所述第一传输机和第二传输机上侧分别设有传送带，所述支撑柜上表面固定安装有翻转组件，所述翻转组件一侧固定连接有夹具；通过第一传输机可以进行芯片传输，通过翻转组件一侧固定连接有夹具可以将第一传输机上的芯片进行夹取，通过翻转组件进行翻面操作，然后松开夹具，使得芯片掉落至第二传输机的传送带，使得使用者可以通过本实用新型完成对芯片翻转，不需要人工进行芯片翻面，加快了工作效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及芯片外观检测技术领域，具体而言，涉及一种用于SOP8芯片外观检测的自动翻面机构。
背景技术
芯片是将电路制造在半导体芯片表面上的集成电路又称薄膜集成电路。在芯片生产中容易受到损坏，需要对芯片进行外观检测，但是，传统的芯片在进行外观检测时，需要人工进行翻面检查，加大了工人的任务量，芯片由于体积原因，不容易进行收取，使得在检查芯片拿起芯片费时费力，加大了工作难度。
实用新型内容
本实用新型的主要目的在于提供一种用于SOP8芯片外观检测的自动翻面机构，可以有效解决背景技术中的问题。
为实现上述目的，本实用新型采取的技术方案为：
一种用于SOP8芯片外观检测的自动翻面机构，包括支撑柜，所述支撑柜一侧固定连接有第二传输机，所述第二传输机一侧固定连接有第一传输机，所述第一传输机和第二传输机上侧分别设有传送带，所述支撑柜上表面固定安装有翻转组件，所述翻转组件一侧固定连接有夹具，所述支撑柜上侧固定连接有外壳。
作为优选，所述翻转组件包括有固定板，所述固定板设于外壳上表面，所述固定板一侧表面固定连接有第一电动推杆，所述第一电动推杆输出端固定连接有活动板。
作为优选，所述活动板下侧固定连接有限位板，所述支撑柜上侧设有限位槽，所述限位板滑动连接有限位槽。
作为优选，所述限位板一侧固定连接有连接柱，所述连接柱远离限位板的一侧活动安装有齿轮，所述齿轮啮合连接有齿轨，所述齿轨设于支撑柜上表面，所述齿轮远离连接柱的一侧表面固定安装夹具。
作为优选，所述夹具包括有第二电动推杆，所述第二电动推杆固定安装于齿轮远离连接柱的一侧表面，所述第二电动推杆输出端固定连接有支撑架。
作为优选，所述支撑架内部活动连接有上夹板，所述支撑架下侧固定连接有下夹板，所述支撑架上侧固定安装有第三电动推杆，所述第三电动推杆输出端固定连接有上夹板。
与现有技术相比，本实用新型具有如下有益效果：
本实用新型通过控制第三电动推杆可以让上夹板和下夹板做夹紧动作，通过支撑架上侧固定安装有第三电动推杆，且第二电动推杆输出端固定连接有支撑架，使得第二电动推杆可以带着支撑架进行上升下降，使得齿轮在进行转动时，防止下夹板与第一传输机的传送带接触影响翻转；
本实用新型通过控制第一电动推杆，可以控制夹具进行翻转，从而实现对芯片进行翻转，然后松开夹具，使得芯片掉落至第二传输机的传送带，其传动带上表面可以黏贴一层弹性防护垫，保护芯片不会受到损伤，使得使用者可以通过本实用新型完成对芯片翻转，不需要人工进行芯片翻面，加快了工作效率。
附图说明
图1为本实用新型一种用于SOP8芯片外观检测的自动翻面机构的整体结构示意图；
图2为本实用新型一种用于SOP8芯片外观检测的自动翻面机构的翻转组件结构示意图；
图3为本实用新型一种用于SOP8芯片外观检测的自动翻面机构的夹具结构示意图；
图4为本实用新型一种用于SOP8芯片外观检测的自动翻面机构的图3中A处放大结构示意图。
图中：1、支撑柜；2、翻转组件；201、固定板；202、第一电动推杆；203、活动板；204、限位板；205、连接柱；206、齿轮；207、齿轨；208、限位槽；3、第一传输机；4、传送带；5、第二传输机；6、夹具；601、第二电动推杆；602、支撑架；603、第三电动推杆；604、上夹板；605、下夹板；7、外壳。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
实施例
如图1-4所示，一种用于SOP8芯片外观检测的自动翻面机构，包括支撑柜1，支撑柜1一侧固定连接有第二传输机5，第二传输机5一侧固定连接有第一传输机3，第一传输机3和第二传输机5上侧分别设有传送带4，支撑柜1上表面固定安装有翻转组件2，翻转组件2一侧固定连接有夹具6，支撑柜1上侧固定连接有外壳7。
通过上述技术方案，通过第一传输机3可以进行芯片传输，通过翻转组件2一侧固定连接有夹具6可以将第一传输机3上的芯片进行夹取，通过翻转组件2进行翻面操作，然后松开夹具6，使得芯片掉落至第二传输机5的传送带4，其传动带上表面可以黏贴一层弹性防护垫，保护芯片不会受到损伤，使得使用者可以通过本实用新型完成对芯片翻转，不需要人工进行芯片翻面，加快了工作效率。
在本实施例中，翻转组件2包括有固定板201，固定板201设于外壳7上表面，固定板201一侧表面固定连接有第一电动推杆202，第一电动推杆202输出端固定连接有活动板203，活动板203下侧固定连接有限位板204，支撑柜1上侧设有限位槽208，限位板204滑动连接有限位槽208，限位板204一侧固定连接有连接柱205，连接柱205远离限位板204的一侧活动安装有齿轮206，齿轮206啮合连接有齿轨207，齿轨207设于支撑柜1上表面，齿轮206远离连接柱205的一侧表面固定安装夹具6。通过第一电动推杆202可以拉动活动板203进行移动，通过活动板203下侧固定连接有限位板204，且限位板204滑动连接有限位槽208，可以进行限位移动，通过限位板204一侧固定连接有连接柱205，且连接柱205远离限位板204的一侧活动安装有齿轮206，使得第一电动推杆202可以拉动齿轮206在齿轨207上进行转动，通过齿轮206远离连接柱205的一侧表面固定安装夹具6，使得使用者可以通过控制第一电动推杆202，可以控制夹具6进行翻转，从而实现对芯片进行翻转。
在本实施例中，夹具6包括有第二电动推杆601，第二电动推杆601固定安装于齿轮206远离连接柱205的一侧表面，第二电动推杆601输出端固定连接有支撑架602，支撑架602内部活动连接有上夹板604，支撑架602下侧固定连接有下夹板605，支撑架602上侧固定安装有第三电动推杆603，第三电动推杆603输出端固定连接有上夹板604。通过第三电动推杆603输出端固定连接有上夹板604，使得使用者通过控制第三电动推杆603可以让上夹板604和下夹板605做夹紧动作，通过支撑架602上侧固定安装有第三电动推杆603，且第二电动推杆601输出端固定连接有支撑架602，使得第二电动推杆601可以带着支撑架602进行上升下降，使得齿轮206在进行转动时，防止下夹板605与第一传输机3的传送带4接触影响翻转。
该一种用于SOP8芯片外观检测的自动翻面机构的工作原理：
使用时，首先通过第一传输机3可以进行芯片传输，通过第三电动推杆603输出端固定连接有上夹板604，使得使用者通过控制第三电动推杆603可以让上夹板604和下夹板605做夹紧动作，通过支撑架602上侧固定安装有第三电动推杆603，且第二电动推杆601输出端固定连接有支撑架602，使得第二电动推杆601可以带着支撑架602进行上升下降，使得齿轮206在进行转动时，防止下夹板605与第一传输机3的传送带4接触影响翻转，通过第一电动推杆202可以拉动活动板203进行移动，通过活动板203下侧固定连接有限位板204，且限位板204滑动连接有限位槽208，可以进行限位移动，通过限位板204一侧固定连接有连接柱205，且连接柱205远离限位板204的一侧活动安装有齿轮206，使得第一电动推杆202可以拉动齿轮206在齿轨207上进行转动，通过齿轮206远离连接柱205的一侧表面固定安装夹具6，使得使用者可以通过控制第一电动推杆202，可以控制夹具6进行翻转，从而实现对芯片进行翻转，然后松开夹具6，使得芯片掉落至第二传输机5的传送带4，其传动带上表面可以黏贴一层弹性防护垫，保护芯片不会受到损伤，使得使用者可以通过本实用新型完成对芯片翻转，不需要人工进行芯片翻面，加快了工作效率。
需要说明的是，第一电动推杆202、第二电动推杆601和第三电动推杆603具体的型号规格为F10-300BC，第一传输机3和第二传输机5具体的型号规格为5488。
以上显示和描述了本实用新型的基本原理和主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。
Claims (6)
1.一种用于SOP8芯片外观检测的自动翻面机构，包括支撑柜(1)，其特征在于：所述支撑柜(1)一侧固定连接有第二传输机(5)，所述第二传输机(5)一侧固定连接有第一传输机(3)，所述第一传输机(3)和第二传输机(5)上侧分别设有传送带(4)，所述支撑柜(1)上表面固定安装有翻转组件(2)，所述翻转组件(2)一侧固定连接有夹具(6)，所述支撑柜(1)上侧固定连接有外壳(7)。
2.根据权利要求1所述的一种用于SOP8芯片外观检测的自动翻面机构，其特征在于：所述翻转组件(2)包括有固定板(201)，所述固定板(201)设于外壳(7)上表面，所述固定板(201)一侧表面固定连接有第一电动推杆(202)，所述第一电动推杆(202)输出端固定连接有活动板(203)。
3.根据权利要求2所述的一种用于SOP8芯片外观检测的自动翻面机构，其特征在于：所述活动板(203)下侧固定连接有限位板(204)，所述支撑柜(1)上侧设有限位槽(208)，所述限位板(204)滑动连接有限位槽(208)。
4.根据权利要求3所述的一种用于SOP8芯片外观检测的自动翻面机构，其特征在于：所述限位板(204)一侧固定连接有连接柱(205)，所述连接柱(205)远离限位板(204)的一侧活动安装有齿轮(206)，所述齿轮(206)啮合连接有齿轨(207)，所述齿轨(207)设于支撑柜(1)上表面，所述齿轮(206)远离连接柱(205)的一侧表面固定安装夹具(6)。
5.根据权利要求1所述的一种用于SOP8芯片外观检测的自动翻面机构，其特征在于：所述夹具(6)包括有第二电动推杆(601)，所述第二电动推杆(601)固定安装于齿轮(206)远离连接柱(205)的一侧表面，所述第二电动推杆(601)输出端固定连接有支撑架(602)。
6.根据权利要求5所述的一种用于SOP8芯片外观检测的自动翻面机构，其特征在于：所述支撑架(602)内部活动连接有上夹板(604)，所述支撑架(602)下侧固定连接有下夹板(605)，所述支撑架(602)上侧固定安装有第三电动推杆(603)，所述第三电动推杆(603)输出端固定连接有上夹板(604)。
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