CN213516920U - 一种薄膜电容产品外观瑕疵检验装置 - Google Patents
一种薄膜电容产品外观瑕疵检验装置 Download PDFInfo
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Abstract
本实用新型提供了一种薄膜电容产品外观瑕疵检验装置，其包括操作台和支架，所述操作台上设有进料装置和转盘，所述转盘上设有多个产品位，所述进料装置的物料出口对着转盘，所述转盘的外侧沿圆周方向设有底部外观检测位、薄膜电容外观检测位、良品出料通道和不良品出料通道；所述底部外观检测位在位于转盘产品位的下方设有底部外观检测摄像头，所述支架位于转盘的一侧，所述支架上设有用于检测薄膜电容顶面、正面、背面、左侧面、右侧面、引线正面、引线背面外观的多个不同角度的摄像头；所述良品出料通道、不良品出料通道的上方或一侧分别设有出料机构。采用本实用新型的技术方案，极大的提升了检验灵活性与准确性，并且易于更新和维护。
Description
技术领域
本实用新型涉及电子元器件外观检测技术领域，尤其涉及一种薄膜电容产品外观瑕疵检验装置。
背景技术
随着工业生产的不断发展及人们对物质需求的不断增加，薄膜电容的全球年产量约600亿颗。目前主流的薄膜电容外观检测方法还是靠产线作业员人工目检，根据定义好的判断标准进行检测。现有的自动检测方法，大多是根据以前的经验和检测规范，靠技术人员来制定判断规则并用程序来实现。但是这种人工检测方案，需要大量人力，而且错误率高，效率低下，容易造成产能瓶颈和较高的返厂客诉。
现有自动检测方法虽然可以改善产品品质，但因为规则的制定主要依赖于作业人员的经验和过往测试数据，然而人工难以在大量数据间总结出具体的相互映射关系，导致规则定义有较大局限性，存在无法识别未定义的瑕疵等问题，因此检测效率与人工相比很难有明显提升。
实用新型内容
针对上述技术问题，本实用新型公开了一种薄膜电容产品外观瑕疵检验装置，克服现在检验方案灵活性差，检验精度低，误检率高等弊端。
对此，本实用新型的技术方案为：
一种薄膜电容产品外观瑕疵检验装置，其包括操作台和支架，所述操作台上设有进料装置和转盘，所述转盘上设有多个产品位，所述进料装置的物料出口对着转盘，
所述转盘的外侧沿圆周方向设有底部外观检测位、薄膜电容外观检测位、良品出料通道和不良品出料通道；
所述底部外观检测位在位于转盘产品位的下方设有底部外观检测摄像头，所述支架位于转盘的一侧，所述支架上设有用于检测薄膜电容顶面、正面、背面、左侧面、右侧面、引线正面、引线背面外观的多个不同角度的摄像头；
所述良品出料通道、不良品出料通道的上方或一侧分别设有出料机构。
采用此技术方案，通过进料装置将薄膜电容送料到转盘的产品位上，随着转盘的转动，转到底部外观检测位，通过底部外观检测摄像头进行底部的外观检测，然后依次转到薄膜电容外观检测位，通过多个不同角度的摄像头对薄膜电容的另外几个面以及引线进行拍照并识别是否有瑕疵，转盘继续转动，薄膜电容进入到良品出料位，如果料无瑕疵，通过良品出料通道送出；如果料有瑕疵，物料会继续被转到不良品出料位，并通过不良品出料通道排出，实现自动或半自动的外观检测。其中，采用图片进行对比视觉检测采用现有技术的方法。
作为本实用新型的进一步改进，所述产品位包括夹料构件，所述夹料构件包括底部镂空的支撑座，所述支撑座设有与薄膜电容外形尺寸匹配的凹槽。
作为本实用新型的进一步改进，所述支架上设有顶面外观摄像头、正面外观摄像头、背面外观摄像头、左侧面外观摄像头、右侧面外观摄像头，所述顶面外观摄像头位于产品位的正上方，所述正面外观摄像头、背面外观摄像头、左侧面外观摄像头和右侧面外观摄像头分别位于产品位的四周。
作为本实用新型的进一步改进，所述支架上设有引线正面外观摄像头和引线背面外观摄像头，所述引线正面外观摄像头和引线背面外观摄像头朝着产品位的上方。
作为本实用新型的进一步改进，所述进料装置包括振动盘和进料直振导轨，所述进料直振导轨的出口朝着转盘，所述转盘的上方在位于进料直振导轨的上方设有入料机构，所述入料机构将进料装置出口的薄膜电容产品送到转盘的产品位。
作为本实用新型的进一步改进，所述入料机构为推料气缸或夹具。
作为本实用新型的进一步改进，所述入料机构包括气缸、夹爪和固定板，所述气缸与夹爪连接，带动夹爪向着固定板移动，从而将薄膜电容夹取。
作为本实用新型的进一步改进，所述良品出料通道设有良品出料导轨，所述良品出料导轨的上方设有良品出料夹料机构，所述不良品出料通道设有不良品出料导轨，所述不良品出料导轨的上方设有不良品出料夹料机构。
作为本实用新型的进一步改进，所述转盘与步进电机连接。
作为本实用新型的进一步改进，所述底部外观检测摄像头的一侧设有补光LED灯，所述支架上设有给摄像头补光的LED灯。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果为：
本实用新型的技术方案提供了一套用于薄膜电容产品外观瑕疵检验的硬件装置，其采用转盘结构实现产品传送，便于设置检测环境与分拣工位，并极大的提升了检验灵活性与准确性，能够高速稳定识别薄膜电容各个面的外观瑕疵，并且易于更新和维护。
附图说明
图1是本实用新型一种薄膜电容表面瑕疵检测装置的结构示意图。
图2是本实用新型一种薄膜电容表面瑕疵检测装置的另一角度的结构示意图。
附图标记包括：
1-操作台，2-进料装置，3-转盘，4-产品位，5-底部外观检测位，6-薄膜电容外观检测位，7-底部外观检测摄像头，8-支架，9-入料机构，10-夹料构件，11-顶面外观摄像头，12-正面外观摄像头，13-背面外观摄像头，14-左侧面外观摄像头；18-良品出料导轨，19-不良品出料导轨，20-良品出料夹料机构，21-不良品出料夹料机构，22-步进电机；23-振动盘，24-进料直振导轨；91-气缸，92-夹爪，93-固定板。
具体实施方式
下面结合附图，对本实用新型的较优的实施例作进一步的详细说明。
如图1和图2所示，一种薄膜电容表面瑕疵检测装置，其包括操作台1和支架8，所述操作台1上设有进料装置2和转盘3，所述转盘3与步进电机22连接，所述转盘3上设有多个产品位4，所述进料装置2的物料出口对着转盘3，所述转盘3的外侧沿圆周方向设有底部外观检测位5、薄膜电容外观检测位6、良品出料通道和不良品出料通道，所述底部外观检测位5在位于转盘3产品位4的下方设有底部外观检测摄像头7，所述支架9位于转盘3的一侧，所述支架8上设有用于检测薄膜电容顶面、正面、背面、左侧面、右侧面、引线正面、引线背面外观的多个不同角度的摄像头。所述良品出料通道、不良品出料通道的上方或一侧分别设有出料机构。
具体而言，所述进料装置2包括振动盘23和进料直振导轨24，所述进料直振导轨24的出口朝着转盘3，所述转盘3的上方在位于进料直振导轨24的上方设有入料机构9，所述入料机构9将进料装置2出口的薄膜电容送到转盘3的产品位4。进一步的，所述产品位4包括夹料构件10，所述夹料构件10包括底部镂空的支撑座，所述支撑座设有与薄膜电容外形尺寸匹配的凹槽。
所述支架8上设有顶面外观摄像头11、正面外观摄像头12、背面外观摄像头13、左侧面外观摄像头14和右侧面外观摄像头，所述顶面外观摄像头11位于产品位的正上方，所述正面外观摄像头12、背面外观摄像头13、左侧面外观摄像头14和右侧面外观摄像头分别位于产品位的四周。所述支架8上设有引线正面外观摄像头和引线背面外观摄像头，所述引线正面外观摄像头和引线背面外观摄像头朝着产品位4的上方。
所述底部外观检测摄像头7的一侧设有补光LED灯，所述支架8上设有给摄像头补光的LED灯。
所述入料机构9包括推料气缸91或夹具。进一步的，所述入料机构9包括气缸91、夹爪92和固定板93，所述气缸91与夹爪92连接，带动夹爪92向着固定板93移动，从而将薄膜电容夹取。
所述良品出料通道设有良品出料导轨18，所述良品出料导轨18的上方设有良品出料夹料机构20，所述不良品出料通道设有不良品出料导轨19，所述不良品出料导轨19的上方设有不良品出料夹料机构21。所述良品出料夹料机构20与不良品出料夹料机构21的结构相同，与入料机构9类似。
采用此技术方案，通过进料装置2将薄膜电容送料到转盘3的产品位4上，随着步进电机22带动转盘3的转动，转到底部外观检测位5，通过底部外观检测摄像头进行底部的外观检测，然后转到薄膜电容外观检测位6，通过多个不同角度的摄像头对薄膜电容的另外5个面以及引线正面和背面进行拍照并识别是否有瑕疵，转盘3继续转动，薄膜电容进入到良品出料位，如果料无瑕疵，通过良品出料通道送出；如果料有瑕疵，物料会继续被转到不良品出料位，并通过不良品出料通道排出。采用此技术方案，可以先后将每一颗料送入检测位进行检测，根据检测结果导出对应通道。在检测过程中，可以采用人工参与检测判断的方式进行识别缺陷，也可以进一步采用现有的产品图片与良品图片对比进行视觉识别的方式识别缺陷，后一种方式为采用现有技术的方法。
以上所述之具体实施方式为本实用新型的较佳实施方式，并非以此限定本实用新型的具体实施范围，本实用新型的范围包括并不限于本具体实施方式，凡依照本实用新型之形状、结构所作的等效变化均在本实用新型的保护范围内。
Claims (9)
1.一种薄膜电容产品外观瑕疵检验装置，其特征在于：其包括操作台和支架，所述操作台上设有进料装置和转盘，所述转盘上设有多个产品位，所述进料装置的物料出口对着转盘，
所述转盘的外侧沿圆周方向设有底部外观检测位、薄膜电容外观检测位、良品出料通道和不良品出料通道；
所述底部外观检测位在位于转盘产品位的下方设有底部外观检测摄像头，所述支架位于转盘的一侧，所述支架上设有用于检测薄膜电容顶面、正面、背面、左侧面、右侧面、引线正面、引线背面外观的多个不同角度的摄像头；
所述良品出料通道、不良品出料通道的上方或一侧分别设有出料机构。
2.根据权利要求1所述的薄膜电容产品外观瑕疵检验装置，其特征在于：所述产品位包括夹料构件，所述夹料构件包括底部镂空的支撑座，所述支撑座设有与薄膜电容外形尺寸匹配的凹槽。
3.根据权利要求2所述的薄膜电容产品外观瑕疵检验装置，其特征在于：所述支架上设有顶面外观摄像头、正面外观摄像头、背面外观摄像头、左侧面外观摄像头、右侧面外观摄像头，所述顶面外观摄像头位于产品位的正上方，所述正面外观摄像头、背面外观摄像头、左侧面外观摄像头和右侧面外观摄像头分别位于产品位的四周。
4.根据权利要求3所述的薄膜电容产品外观瑕疵检验装置，其特征在于：所述支架上设有引线正面外观摄像头和引线背面外观摄像头，所述引线正面外观摄像头和引线背面外观摄像头朝着产品位的上方。
5.根据权利要求3所述的薄膜电容产品外观瑕疵检验装置，其特征在于：所述进料装置包括振动盘和进料直振导轨，所述进料直振导轨的出口朝着转盘，所述转盘的上方在位于进料直振导轨的上方设有入料机构，所述入料机构将进料装置出口的薄膜电容产品送到转盘的产品位。
6.根据权利要求5所述的薄膜电容产品外观瑕疵检验装置，其特征在于：所述入料机构包括气缸、夹爪和固定板，所述气缸与夹爪连接，带动夹爪向着固定板移动，从而将薄膜电容夹取。
7.根据权利要求1~6任意一项所述的薄膜电容产品外观瑕疵检验装置，其特征在于：所述良品出料通道设有良品出料导轨，所述良品出料导轨的上方设有良品出料夹料机构，所述不良品出料通道设有不良品出料导轨，所述不良品出料导轨的上方设有不良品出料夹料机构。
8.根据权利要求7所述的薄膜电容产品外观瑕疵检验装置，其特征在于：所述转盘与步进电机连接。
9.根据权利要求7所述的薄膜电容产品外观瑕疵检验装置，其特征在于：所述底部外观检测摄像头的一侧设有补光LED灯，所述支架上设有给摄像头补光的LED灯。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202022435672.9U CN213516920U (zh) | 2020-10-28 | 2020-10-28 | 一种薄膜电容产品外观瑕疵检验装置 |
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| CN202022435672.9U CN213516920U (zh) | 2020-10-28 | 2020-10-28 | 一种薄膜电容产品外观瑕疵检验装置 |
Publications (1)
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|---|---|
| CN213516920U true CN213516920U (zh) | 2021-06-22 |
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| CN202022435672.9U Active CN213516920U (zh) | 2020-10-28 | 2020-10-28 | 一种薄膜电容产品外观瑕疵检验装置 |
Country Status (1)
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN117630025A (zh) * | 2023-10-20 | 2024-03-01 | 苏州赛肯智能科技有限公司 | 一种圆柱体emc检测装置 |
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2020
- 2020-10-28 CN CN202022435672.9U patent/CN213516920U/zh active Active
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