CN212750956U - 一体化设备 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种一体化设备,旨在提供一种能够提高生产效率及能够提高良品率的一体化设备。本实用新型包括机台,机台上设置有转盘机构、上料机构、性能测试机构、极耳滚平机构、喷码机构、裁切机构、极耳整平机构、极耳检测机构及下料机构,上料机构、极耳滚平机构、性能测试机构、喷码机构、裁切机构、极耳整平机构、极耳检测机构及下料机构依次配合设置在转盘机构的外部,转盘机构上设置有若干个产品定位夹具。本实用新型应用于电芯筛选测试设备的技术领域。
Description
技术领域
本实用新型涉及一体化设备,特别涉及一种聚合物笔记本锂离子电芯全自动分类筛选测试一体化设备。
背景技术
电芯在组装之前需要对电芯的性能进行测试以及极耳裁切整形,目前的测试方式为由作业员人工将电芯与测试仪器相连接,通过测试仪器的反馈结果判定电芯的筛选组别,然后由作业人员把不同组别分开放置。人工作业的效率较低,人工成本高,无法连贯的进行测试,同时人工操作在分选时会出现电芯漏测试,混料现象,导致分选不准确,人员接触电芯次数比较多,对电芯外观不良品质风险比较高。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术的不足,提供了一种能够提高生产效率及能够提高良品率的一体化设备。
本实用新型所采用的技术方案是:本实用新型包括机台,所述机台上设置有转盘机构、上料机构、性能测试机构、极耳滚平机构、喷码机构、裁切机构、极耳整平机构、极耳检测机构及下料机构,所述上料机构、所述极耳滚平机构、所述性能测试机构、所述喷码机构、所述裁切机构、极耳整平机构、所述极耳检测机构及所述下料机构依次配合设置在所述转盘机构的外部,所述转盘机构上设置有若干个产品定位夹具。
进一步,所述上料机构包括机械手机构,所述机械手机构的活动端上设置有伸出气缸,所述伸出气缸上配合设置有第一吸盘组件。
进一步,所述极耳滚平机构包括滚平支撑架,所述滚平支撑架上设置有水平滚平气缸,所述水平滚平气缸的活动端配合设置有竖直滚平气缸,所述竖直滚平气缸上设置有滚压组件。
进一步,所述性能测试机构包括第一测试基座,所述第一测试基座上设置有托极片气缸、探针下压气缸及第一产品下压气缸,所述托极片气缸的活动端上设置有托极片平台,所述探针下压气缸的活动端上配合设置有探针机构,所述探针机构位于所述托极片平台的上方,所述第一产品下压气缸的活动端上配合设置有第一下压板,所述第一下压板与所述托极片平台相配合。
进一步,所述喷码机构包括喷码基座,所述喷码基座上设置有第一X轴移动模组,所述第一X轴移动模组上设置有第一Y轴移动模组,所述第一Y轴移动模组上设置有喷码头。
进一步,所述裁切机构包括裁切基座,所述裁切基座上设置有裁切下压气缸、第二产品下压气缸及裁切支撑气缸,所述裁切支撑气缸上设置有裁切底板,所述裁切下压气缸的活动端设置有陶瓷裁切刀组件,所述陶瓷裁切刀组件位于所述裁切底板的上方,所述第二产品下压气缸的活动端上配合设置有第二下压板,所述第二下压板与所述裁切底板相配合。
进一步,所述极耳检测机构包括第二测试基座,所述第二测试基座上设置有光源、相机及镜头,所述镜头设置在所述相机上,所述光源位于所述相机的下方。
进一步,所述下料机构包括下料基座及下料输送线,所述下料基座上设置有第二X轴移动模组,所述第二X轴移动模组上设置有第二Y轴移动模组,所述第二Y轴移动模组上设置有Z轴移动模组,所述Z轴移动模组上设置有旋转电机,所述旋转电机的旋转端上设置有第二吸盘组件,所述下料输送线及所述转盘机构均与所述第二吸盘组件相配合。
进一步,所述极耳整平机构包括第三X轴运动模组,所述第三X轴运动模组上设置有整平基座,所述整平基座上设置有上整平气缸及下整平气缸,所述上整平气缸及所述下整平气缸上分别配合设置有上整平板及下整平板,所述下整平板位于所述上整平板的下方。
本实用新型的有益效果是:相对于现有技术的不足,在本实用新型中,所述上料机构配置于将产品移动到所述转盘机构上,所述极耳滚平机构配置于对电芯的极耳进行滚平,所述性能测试机构配置于对电芯的性能进行测试,所述喷码机构配置于对电芯进行喷码,所述裁切机构配置于对电芯的极耳进行裁切,所述极耳检测机构配置于对电芯极耳的尺寸进行检查,所述下料机构配置于对电芯进行下料,本实用新型通过所述上料机构、所述极耳滚平机构、所述性能测试机构、所述喷码机构、所述裁切机构、所述极耳整平机构、所述极耳检测机构及所述下料机构依次对电芯进行加工而使得本实用新型具有能够提高生产效率及能够提高良品率的优点,所以,本实用新型具有能够提高生产效率及能够提高良品率的优点。
附图说明
图1是本实用新型的立体结构示意图;
图2是本实用新型另一视角的立体结构示意图;
图3是本实用新型的平面结构示意图;
图4是转盘机构的立体结构示意图;
图5是上料机构的立体结构示意图;
图6是极耳滚平机构的立体结构示意图;
图7是性能测试机构的立体结构示意图;
图8是喷码机构的立体结构示意图;
图9是裁切机构的立体结构示意图;
图10是极耳整平机构的立体结构示意图;
图11是极耳检测机构的立体结构示意图;
图12是下料机构的立体结构示意图。
具体实施方式
如图1至图12所示,在本实施例中,本实用新型包括机台1,所述机台1上设置有转盘机构2、上料机构3、性能测试机构5、极耳滚平机构4、喷码机构6、裁切机构7、极耳整平机构201、极耳检测机构8及下料机构9,所述上料机构3、所述极耳滚平机构4、所述性能测试机构5、所述喷码机构6、所述裁切机构7、极耳整平机构201、所述极耳检测机构8及所述下料机构9依次配合设置在所述转盘机构2的外部,所述转盘机构2上设置有若干个产品定位夹具10。相对于现有技术的不足,在本实用新型中,所述上料机构3配置于将产品移动到所述转盘机构2上的所述产品定位夹具10中,所述极耳滚平机构4配置于对电芯的极耳进行滚平,所述性能测试机构5配置于对电芯的性能进行测试,所述喷码机构6配置于对电芯进行喷码,所述裁切机构7配置于对电芯的极耳进行裁切,所述极耳整平机构201配置于对电芯的极耳进行整平,所述极耳检测机构8配置于对电芯极耳的尺寸进行检查,所述下料机构9配置于对电芯进行下料,本实用新型通过所述上料机构3、所述极耳滚平机构4、所述性能测试机构5、所述喷码机构6、所述裁切机构7、所述极耳整平机构201、所述极耳检测机构8及所述下料机构9依次对电芯进行加工而使得本实用新型具有能够提高生产效率及能够提高良品率的优点。
在本实施例中,所述上料机构3包括机械手机构301,所述机械手机构301的活动端上设置有伸出气缸302,所述伸出气缸302上配合设置有第一吸盘组件303。所述伸出气缸302及所述第一吸盘组件303的数量均为两个,使得所述上料机构3能够同时抓取两个电芯到所述转盘机构2上进行上料。
在本实施例中,所述极耳滚平机构4包括滚平支撑架401,所述滚平支撑架401上设置有水平滚平气缸,所述水平滚平气缸的活动端配合设置有竖直滚平气缸403,所述竖直滚平气缸403上设置有滚压组件404。所述水平滚平气缸及所述竖直滚平气缸403能够带动所述滚压组件404对电芯的极耳进行滚平。
在本实施例中,所述性能测试机构5包括第一测试基座501,所述第一测试基座501上设置有托极片气缸502、探针下压气缸503及第一产品下压气缸,所述托极片气缸502的活动端上设置有托极片平台505,所述探针下压气缸503的活动端上配合设置有探针机构506,所述探针机构506位于所述托极片平台505的上方,所述第一产品下压气缸的活动端上配合设置有第一下压板,所述第一下压板与所述托极片平台505相配合。测试时,所述转盘机构2带动电芯转动到所述托极片平台505处,进一步通过所述第一下压板对电芯进行下压,从而所述探针下压气缸503带动所述探针机构506对电芯进行导通并测试。
在本实施例中,所述喷码机构6包括喷码基座601,所述喷码基座601上设置有第一X轴移动模组602,所述第一X轴移动模组602上设置有第一Y轴移动模组603,所述第一Y轴移动模组603上设置有喷码头604。所述第一X轴移动模组602及所述第一Y轴移动模组603带动所述喷码头604进行移动,并对芯片进行喷码,喷码完成后所述喷码头604复位。
在本实施例中,所述裁切机构7包括裁切基座701,所述裁切基座701上设置有裁切下压气缸702、第二产品下压气缸及裁切支撑气缸704,所述裁切支撑气缸704上设置有裁切底板705,所述裁切下压气缸702的活动端设置有陶瓷裁切刀组件,所述陶瓷裁切刀组件位于所述裁切底板705的上方,所述第二产品下压气缸的活动端上配合设置有第二下压板,所述第二下压板与所述裁切底板705相配合。测试时,所述转盘机构2带动电芯转动到所述裁切底板705处,并通过所述第二下压板对电芯进行下压,进一步通过所述裁切下压气缸702带动所述陶瓷裁切刀组件对电芯的极耳进行裁切。
在本实施例中,所述极耳检测机构8包括第二测试基座801,所述第二测试基座801上设置有光源、相机803及镜头,所述镜头设置在所述相机803上,所述光源位于所述相机803的下方。
在本实施例中,所述下料机构9包括下料基座901及下料输送线902,所述下料基座901上设置有第二X轴移动模组903,所述第二X轴移动模组903上设置有第二Y轴移动模组904,所述第二Y轴移动模组904上设置有Z轴移动模组905,所述Z轴移动模组905上设置有旋转电机906,所述旋转电机906的旋转端上设置有第二吸盘组件907,所述下料输送线902及所述转盘机构2均与所述第二吸盘组件907相配合。所述第二X轴移动模组903、所述第二Y轴移动模组904及所述Z轴移动模组905带动所述第二吸盘组件907将所述转盘机构2上的电芯吸取到所述下料输送线902上进行下料。
在本实施例中,所述极耳整平机构201包括第三X轴运动模组202,所述第三X轴运动模组202上设置有整平基座203,所述整平基座203上设置有上整平气缸204及下整平气缸205,所述上整平气缸204及所述下整平气缸205上分别配合设置有上整平板206及下整平板207,所述下整平板207位于所述上整平板206的下方。所述第三X轴运动模组202的数量为两个,使得所述极耳整平机构201能够同时对两个电芯进行极耳整平。
虽然本实用新型的实施例是以实际方案来描述的,但是并不构成对本实用新型含义的限制,对于本领域的技术人员,根据本说明书对其实施方案的修改及与其他方案的组合都是显而易见的。
Claims (9)
1.一种一体化设备,其特征在于:其包括机台(1),所述机台(1)上设置有转盘机构(2)、上料机构(3)、性能测试机构(5)、极耳滚平机构(4)、喷码机构(6)、裁切机构(7)、极耳整平机构(201)、极耳检测机构(8)及下料机构(9),所述上料机构(3)、所述极耳滚平机构(4)、所述性能测试机构(5)、所述喷码机构(6)、所述裁切机构(7)、极耳整平机构(201)、所述极耳检测机构(8)及所述下料机构(9)依次配合设置在所述转盘机构(2)的外部,所述转盘机构(2)上设置有若干个产品定位夹具(10)。
2.根据权利要求1所述的一体化设备,其特征在于:所述上料机构(3)包括机械手机构(301),所述机械手机构(301)的活动端上设置有伸出气缸(302),所述伸出气缸(302)上配合设置有第一吸盘组件(303)。
3.根据权利要求1所述的一体化设备,其特征在于:所述极耳滚平机构(4)包括滚平支撑架(401),所述滚平支撑架(401)上设置有水平滚平气缸,所述水平滚平气缸的活动端配合设置有竖直滚平气缸(403),所述竖直滚平气缸(403)上设置有滚压组件(404)。
4.根据权利要求1所述的一体化设备,其特征在于:所述性能测试机构(5)包括第一测试基座(501),所述第一测试基座(501)上设置有托极片气缸(502)、探针下压气缸(503)及第一产品下压气缸,所述托极片气缸(502)的活动端上设置有托极片平台(505),所述探针下压气缸(503)的活动端上配合设置有探针机构(506),所述探针机构(506)位于所述托极片平台(505)的上方,所述第一产品下压气缸的活动端上配合设置有第一下压板,所述第一下压板与所述托极片平台(505)相配合。
5.根据权利要求1所述的一体化设备,其特征在于:所述喷码机构(6)包括喷码基座(601),所述喷码基座(601)上设置有第一X轴移动模组(602),所述第一X轴移动模组(602)上设置有第一Y轴移动模组(603),所述第一Y轴移动模组(603)上设置有喷码头(604)。
6.根据权利要求1所述的一体化设备,其特征在于:所述裁切机构(7)包括裁切基座(701),所述裁切基座(701)上设置有裁切下压气缸(702)、第二产品下压气缸及裁切支撑气缸(704),所述裁切支撑气缸(704)上设置有裁切底板(705),所述裁切下压气缸(702)的活动端设置有陶瓷裁切刀组件,所述陶瓷裁切刀组件位于所述裁切底板(705)的上方,所述第二产品下压气缸的活动端上配合设置有第二下压板,所述第二下压板与所述裁切底板(705)相配合。
7.根据权利要求1所述的一体化设备,其特征在于:所述极耳检测机构(8)包括第二测试基座(801),所述第二测试基座(801)上设置有光源、相机(803)及镜头,所述镜头设置在所述相机(803)上,所述光源位于所述相机(803)的下方。
8.根据权利要求1所述的一体化设备,其特征在于:所述下料机构(9)包括下料基座(901)及下料输送线(902),所述下料基座(901)上设置有第二X轴移动模组(903),所述第二X轴移动模组(903)上设置有第二Y轴移动模组(904),所述第二Y轴移动模组(904)上设置有Z轴移动模组(905),所述Z轴移动模组(905)上设置有旋转电机(906),所述旋转电机(906)的旋转端上设置有第二吸盘组件(907),所述下料输送线(902)及所述转盘机构(2)均与所述第二吸盘组件(907)相配合。
9.根据权利要求1所述的一体化设备,其特征在于:所述极耳整平机构(201)包括第三X轴运动模组(202),所述第三X轴运动模组(202)上设置有整平基座(203),所述整平基座(203)上设置有上整平气缸(204)及下整平气缸(205),所述上整平气缸(204)及所述下整平气缸(205)上分别配合设置有上整平板(206)及下整平板(207),所述下整平板(207)位于所述上整平板(206)的下方。
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CN116626476A (zh) * | 2023-07-26 | 2023-08-22 | 珠海市申科谱工业科技有限公司 | 一种激光芯片探针测试机构 |
CN116699369A (zh) * | 2023-07-27 | 2023-09-05 | 珠海市申科谱工业科技有限公司 | 一种高低温激光芯片测试设备 |
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CN116626476A (zh) * | 2023-07-26 | 2023-08-22 | 珠海市申科谱工业科技有限公司 | 一种激光芯片探针测试机构 |
CN116626476B (zh) * | 2023-07-26 | 2023-10-20 | 珠海市申科谱工业科技有限公司 | 一种激光芯片探针测试机构 |
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