CN211980569U - 一种com芯片测试机设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体为一种COM芯片测试机设备，包括机台，所述机台的前部通过螺栓连接有测试夹具开合机构和待测品上料机构，所述机台的前部通过螺栓连接有机械手和启动板，所述机台的前部固定安装有显示屏，所述机台的前部通过螺栓连接有机门，所述机台的内壁通过螺栓连接有安装座，所述安装座的顶部通过螺栓连接有安装架。操作员只需要在入料为放入层叠的托盘待测料后机台就实现自动取料测试工作，成品自动放入成品收集托盘中自动送到成品下料区，不良品自动收集到不良品下料区，成品与不良品下料区全部按设定值放满后机台自动提示操作员取走存料托盘，避免员工作业中因不小心或其他不确定因素损坏产品。

Description

一种COM芯片测试机设备

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体为一种COM芯片测试机设备。

背景技术

随着现在科技的发展，芯片的发展也越来越前沿化，智能化，高端化。而芯片则是一种对集成电路的智能控制，相当于人体的“大脑”，尤为的重要，通过在客户现场了解，现有技术主要为以采用人工使用真空吸笔上下料方式将产品放置于测试台具模组18中测试芯片导通是否合格的方式来判断生产测试手机的摄像头芯片是否合格。

以上生产模式为现有工厂流水线模式生产，由于产品面积非常小，定位型腔大小的精度容易导致金线PIN脚错位，导致电路导通不良，当偏位时产品碰撞触碰治具定位型腔边缘易导致产品损坏，人工放置易出现损坏情况；人工取放的产品无法有效管控产品品质，且肉眼根本无法判定产品是否损坏，易导致后段检测难度加大以及可能制造出不良品，加大后续工序的制造检测难度无形增加了工作量与企业制造成本，鉴于此，我们提出一种COM芯片测试机设备。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种COM芯片测试机设备，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

一种COM芯片测试机设备，包括机台，所述机台的前部通过螺栓连接有测试夹具开合机构和待测品上料机构，所述机台的前部通过螺栓连接有机械手和启动板，所述机台的底部通过螺栓连接有支撑脚和万向轮，所述机台的前部固定安装有显示屏，所述机台的前部通过螺栓连接有机门，所述机台的内壁通过螺栓连接有安装座，所述安装座的顶部通过螺栓连接有安装架。

优选的，所述安装座的顶部设置有上下料机构模组、左不良品下料收集机构模组、右不良品下料收集机构模组和测试模组，所述上下料机构模组的顶部设置有吸取料机构模组，所述吸取料机构模组的右侧设置有直线电机。

优选的，所述左不良品下料收集机构模组和右不良品下料收集机构模组以安装座的中心线对称分布，且左不良品下料收集机构模组和右不良品下料收集机构模组分别位于测试模组的两侧，所述测试模组的数量设置为三个。

优选的，所述上下料机构模组和吸取料机构模组的数量均设置为两个，两个所述上下料机构模组和吸取料机构模组均以安装座的中心线对称分布，且两个吸取料机构模组的表面均设置在直线电机的输出端。

优选的，所述安装架的顶部设置有待测托盘相机检测机构模组，所述待测托盘相机检测机构模组的右侧设置有测试台具模组，所述待测托盘相机检测机构模组的后部设置有收料机构模组。

优选的，所述待测托盘相机检测机构模组和收料机构模组的数量均设置为两个，且两个待测托盘相机检测机构模组和收料机构模组均以安装架的中心线对称分布，所述测试台具模组位于两个待测托盘相机检测机构模组之间。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1.该COM芯片测试机设备，机台实现全自动化，操作员只需要在入料为放入层叠的托盘待测料后机台就实现自动取料测试工作，成品自动放入成品收集托盘中自动送到成品下料区，不良品自动收集到不良品下料区，成品与不良品下料区全部按设定值放满后机台自动提示操作员取走存料托盘，避免员工作业中因不小心或其他不确定因素损坏产品。

2.该COM芯片测试机设备，机台实现全自动上下料，全自动扫描产品二维码存档，全自动动测试，避免操作员漏扫描存档，漏测试以及将测试的不良品与良品混淆，解决了因肉眼根本无法判定产品是否损坏，而导致后段检测难度加大以及可能制造出不良品的问题。

3.该COM芯片测试机设备，减少了后续工序的制造检测难度，避免了无形增加工作量与企业制造成本的问题，大幅度提高生产效率，提高单位产能产量，在降低作业者劳动强度的同时提高产量与质量，为企业节约成本，创造最大化价值。

附图说明

图1为本实用新型的整体结构示意图；

图2为本实用新型中机台内部结构示意图；

图3为本实用新型中安装座处结构俯面示意图。

图中：1、机台；2、测试夹具开合机构；3、待测品上料机构；4、机械手；5、启动板；6、支撑脚；7、万向轮；8、显示屏；9、机门；10、安装座；11、上下料机构模组；12、左不良品下料收集机构模组；13、右不良品下料收集机构模组；14、测试模组；15、吸取料机构模组；16、直线电机；17、待测托盘相机检测机构模组；18、测试台具模组；19、收料机构模组；20、安装架。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的设备或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中，“若干”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

请参阅图1-3所示，本实用新型提供一种技术方案：

一种COM芯片测试机设备，包括机台1，机台1的前部通过螺栓连接有测试夹具开合机构2和待测品上料机构3，机台1的前部通过螺栓连接有机械手4和启动板5，机台1的底部通过螺栓连接有支撑脚6和万向轮7，机台1的前部固定安装有显示屏8，机台1的前部通过螺栓连接有机门9，机台1的内壁通过螺栓连接有安装座10，安装座10的顶部通过螺栓连接有安装架20，测试站位包括DC测试、场景测试、OTP烧录、和工作电流，待机电流测试几个细项，采用托盘自动叠加收送料加输送线方式来进行传输，利用直线电机16两工位取料模组自动吸取放料方式来自动区分不良品别，并由机械手4自动摆放，采用CCD视觉系统来进行定位，采用治具型腔精密定位芯片外形，芯片金线接触转接板焊盘导通上电方式，采用USB2.0接口进行测试产品硬件，采用直线电机4各工位直线式进给来进行双平台作业，直线电机4能达到高精密进给的效果，利用USB2.0来进行传输，LED色温为色温5000K±500K，照度0-7000lux±100Lux可调节，可程序控制亮度，开关，取图亮度可到255级，均匀度90％，带串口通信控制功能，设备整体尺寸的为2000x1200X2150mm。

本实施例中，安装座10的顶部设置有上下料机构模组11、左不良品下料收集机构模组12、右不良品下料收集机构模组13和测试台具模组18，上下料机构模组11的顶部设置有吸取料机构模组15，吸取料机构模组15的右侧设置有直线电机16，吸取料机构模组15为X，Y，Z轴吸取料机构模组15，通过在吸取料机构模组15的右侧设置有直线电机16的后面设置直线电机16，利用直线电机16带动吸取料机构模组15移动达到吸取料机构模组15传递产品的效果，通过机台1实现全自动化，避免员工作业中因不小心或其他不确定因素损坏产品，通过自动动测试避免操作员漏扫描存档，漏测试以及将测试的不良品与良品混淆的问题。

进一步的是，左不良品下料收集机构模组12和右不良品下料收集机构模组13以安装座10的中心线对称分布，且左不良品下料收集机构模组12和右不良品下料收集机构模组13分布位于测试台具模组18的两侧，测试台具模组18的数量设置为三个，测试台具模组18每一组测试五个产品，通过设置左不良品下料收集机构模组12和右不良品下料收集机构模组13以安装座10的中心线对称分布达到双平台作业的效果，进一步的提高了工作效率，且直线电机16能达到高精密进给的效果。

更进一步的是，上下料机构模组11和吸取料机构模组15的数量均设置为两个，两个上下料机构模组11和吸取料机构模组15均以安装座10的中心线对称分布，且两个吸取料机构模组15的表面均设置在直线电机16的输出端，通过将两个吸取料机构模组15的表面均设置在直线电机16的输出端达到双平台作业的效果。

值得注意的是，安装架20的顶部设置有待测托盘相机检测机构模组17，待测托盘相机检测机构模组17的右侧设置有测试台具模组18，待测托盘相机检测机构模组17的后部设置有收料机构模组19，通过设置待测托盘相机检测机构模组17达到对产品的定位效果，通过设置测试台具模组18达到对产品检测的效果。

值得说明的是，待测托盘相机检测机构模组17和收料机构模组19的数量均设置为两个，且两个待测托盘相机检测机构模组17和收料机构模组19均以安装架20的中心线对称分布，测试台具模组18位于两个待测托盘相机检测机构模组17之间，通过设置待测托盘相机检测机构模组17和收料机构模组19的数量均设置为两个，且两个待测托盘相机检测机构模组17和收料机构模组19均以安装架20的中心线对称分布达到双平台作业的效果，从而提高工作效率。

本实用新型的COM芯片测试机设备在使用时，将上下料通过供料架，收料架，托盘运转模组机构与上下料机械手4的连续性动作实现自动上下料，产品来料托盘叠加放置在供料架上，供料架Z轴通过步进电机驱动下行自动分层将产品托盘放置到托盘运转模组载板上，托盘运转模组通过直线电机16组向后移动将产品移动到吸取料机构模组15下方，在托盘转运模组与测试台具模组18之间上下都加CCD相机拍照对位产品位置，吸取料机构模组15在吸取产品之前，产品使用安装在机构上方的待测托盘检测相机模组CCD相机通过X轴移动到托盘运转机构上方拍照产品的位置，拍照定位完成后，吸取料机构模组15通过直线电机16X轴移动到托盘转运机构上方五个吸嘴依次吸取五颗产品，吸取料机构模组15在吸取到产品转运到测试台具模组18过程中，通过底部下相机模组拍摄产品底部轮廓来依次识别五颗产品来料金线PIN脚是否合格，如果是合格产品就通过吸取料机构模组15三轴运动运行自动将产品放置到测试台具模组18中，如有不良品就放入到测试台具模组18与托盘运转模组之间的NG托盘模组中，吸取料机构模组15在吸取到产品转运到测试台具模组18过程中，通过底部下相机模组拍摄产品底部轮廓后，还需要通过治具上方的治具相机检测模组X轴方向移动拍摄识别治具型腔位置，通过下相机检测到的轮廓尺寸位置数据与治具相机检测模组检测到的治具位置数据对比计算后，将产品依次精密放入测试台具模组18型腔中，右边下料吸取料机构模组15在吸取到测试完成产品转运到成品托盘转运模组机构托盘中的过程中也使用一组右待测托盘检测相机模组检测成品放料托盘的型腔位置后精准的将产品放入托盘中，收料过程中托盘通过右托盘转运模组直线电缸Y轴方向运行依次接收产品，不良品自动识别放入右NG托盘模组收料托盘中。

以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的仅为本实用新型的优选例，并不用来限制本实用新型，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。

Claims (6)

1.一种COM芯片测试机设备，包括机台(1)，其特征在于：所述机台(1)的前部通过螺栓连接有测试夹具开合机构(2)和待测品上料机构(3)，所述机台(1)的前部通过螺栓连接有机械手(4)和启动板(5)，所述机台(1)的底部通过螺栓连接有支撑脚(6)和万向轮(7)，所述机台(1)的前部固定安装有显示屏(8)，所述机台(1)的前部通过螺栓连接有机门(9)，所述机台(1)的内壁通过螺栓连接有安装座(10)，所述安装座(10)的顶部通过螺栓连接有安装架(20)。

2.根据权利要求1所述的COM芯片测试机设备，其特征在于：所述安装座(10)的顶部设置有上下料机构模组(11)、左不良品下料收集机构模组(12)、右不良品下料收集机构模组(13)和测试模组(14)，所述上下料机构模组(11)的顶部设置有吸取料机构模组(15)，所述吸取料机构模组(15)的右侧设置有直线电机(16)。

3.根据权利要求2所述的COM芯片测试机设备，其特征在于：所述左不良品下料收集机构模组(12)和右不良品下料收集机构模组(13)以安装座(10)的中心线对称分布，且左不良品下料收集机构模组(12)和右不良品下料收集机构模组(13)分别位于测试模组(14)的两侧，所述测试模组(14)的数量设置为三个。

4.根据权利要求2所述的COM芯片测试机设备，其特征在于：所述上下料机构模组(11)和吸取料机构模组(15)的数量均设置为两个，两个所述上下料机构模组(11)和吸取料机构模组(15)均以安装座(10)的中心线对称分布，且两个吸取料机构模组(15)的表面均设置在直线电机(16)的输出端。

5.根据权利要求1所述的COM芯片测试机设备，其特征在于：所述安装架(20)的顶部设置有待测托盘相机检测机构模组(17)，所述待测托盘相机检测机构模组(17)的右侧设置有测试台具模组(18)，所述待测托盘相机检测机构模组(17)的后部设置有收料机构模组(19)。

6.根据权利要求5所述的COM芯片测试机设备，其特征在于：所述待测托盘相机检测机构模组(17)和收料机构模组(19)的数量均设置为两个，且两个待测托盘相机检测机构模组(17)和收料机构模组(19)均以安装架(20)的中心线对称分布，所述测试台具模组(18)位于两个待测托盘相机检测机构模组(17)之间。

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