CN211376588U - 一种用于检测集成电路封装质量系统装置 - Google Patents

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Abstract

本实用新型涉及集成电路技术领域,具体为一种用于检测集成电路封装质量系统装置,包括带式输送机,带式输送机上方设有自动光学检测机,带式输送机的机架后侧壁固定连接支架,支架上设有气缸,气缸的活塞杆固定连接推板,带式输送机的机架前侧壁设有回收箱,回收箱内设有滚珠丝杠副,滚珠丝杠副的丝杠螺母与平板左侧固定连接,平板上方设有缓冲板,缓冲板和平板之间设有缓冲件。有益效果为:本实用新型构造新颖,结构简单,采用自动光学检测机可以快速检测出残次品,回收箱通过缓冲件可以降低集成电路封装掉落冲击。

Description

一种用于检测集成电路封装质量系统装置
技术领域
本实用新型涉及集成电路技术领域,具体为一种用于检测集成电路封装质量系统装置。
背景技术
在激烈的市场竞争中,电子产品制造厂商必须确保产品的质量,为了保证产品的质量,在产品制造过程中对各个生产环节半成品或成品进行质量监测尤为重要,随着集成电路快速封装的发展趋势,采用目检或人工光学检测的方式检测已不能适应,自动光学检测(AOI)技术作为质量检测的技术手段已是大势所趋。
AOI技术采用光学手段获取被测物图形,一般通过一传感器(摄像机)获得检测物的照明图像并数字化,然后以某种方法进行比较、分析、检验和判断,相当于将人工目视检测自动化、智能化。目前,随着大规模集成电路封装质量检测,如何快速安全的将不合格产品回收成为本技术领域的一个研究重点。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种用于检测集成电路封装质量系统装置,以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种用于检测集成电路封装质量系统装置,包括带式输送机,所述带式输送机上方设有自动光学检测机,带式输送机的机架后侧壁固定连接支架,所述支架上设有气缸,所述气缸的活塞杆固定连接推板,所述带式输送机的机架前侧壁设有回收箱,所述回收箱内设有滚珠丝杠副,所述滚珠丝杠副的丝杠螺母与平板左侧固定连接,所述平板上方设有缓冲板,所述缓冲板和平板之间设有缓冲件。
优选的,所述自动光学检测机的机壳底端固定连接框架,所述框架均匀固定连接四个支撑柱,自动光学检测机的机壳侧壁铰链连接支撑板,所述支撑板与显示屏的后壳螺栓连接。
优选的,所述回收箱焊接有翼板,所述翼板与带式输送机的机架前侧壁螺栓连接,回收箱右侧壁设有敞开口,回收箱后侧壁设有方形孔,所述方形孔设有两个挡板,所述挡板固定连接回收箱。
优选的,所述回收箱设有两个带座推力轴承,所述带座推力轴承与滚珠丝杠副的丝杠过盈配合,滚珠丝杠副的丝杠通过联轴器与步进电机的输出轴固定连接。
优选的,所述平板右侧贯穿设有限位杆,所述限位杆固定连接回收箱,限位杆设有两个,两个限位杆与滚珠丝杠副的丝杠呈正三角形分布。
优选的,所述缓冲件设有呈矩形分布的四个,缓冲件由套筒和弹性元件组成,所述套筒螺栓连接平板,所述弹性元件采用波形弹簧,弹性元件底端与套筒相焊接,弹性元件顶端与缓冲板相焊接。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:
1.本实用新型构造新颖,结构简单,采用自动光学检测机可以快速检测出残次品,回收箱通过缓冲件可以降低集成电路封装掉落冲击;
2.本实用新型通过滚珠丝杠副的丝杠螺母带动平板下降,使得缓冲板上方有足够的空间给后续集成电路封装下降,每块集成电路封装掉落距离一定,所产生的下降冲击小。
附图说明
图1为本实用新型结构示意图;
图2为图1的后视图;
图3为本实用新型中回收箱内部结构剖视图;
图4为本实用新型中回收箱结构示意图。
图中:1带式输送机、2自动光学检测机、3支架、4气缸、5推板、6回收箱、7滚珠丝杠副、8平板、9缓冲板、10框架、11支撑柱、12支撑板、13显示屏、14限位杆、15翼板、16挡板、17带座推力轴承、18步进电机、19套筒、20弹性元件。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1至图4,本实用新型提供一种技术方案:一种用于检测集成电路封装质量系统装置,包括带式输送机1,带式输送机1上方设有自动光学检测机2,自动光学检测机2采用NEXSCIEN生产的HV-5000TC自动光学检测机,该型号的摄像头位于其底端,自动光学检测机2的机壳底端固定连接框架10,框架10均匀固定连接四个支撑柱11,自动光学检测机2采用四个支撑柱11进行支撑,产品经带式输送机1输送到自动光学检测机2的摄像头下方,自动光学检测机2的机壳侧壁铰链连接支撑板12,支撑板12与显示屏13的后壳螺栓连接。自动光学检测机2通过摄像头自动扫描集成电路封装,采集图像数据,并与数据库中的合格的参数进行比较,经过图像处理,检查出集成电路封装上缺陷,并通过显示屏13提供给质检人员。
带式输送机1的机架后侧壁固定连接支架3,支架3通过螺栓连接气缸4的前后端盖,气缸4采用作用气缸,气缸4的有杆腔和无杆腔各有一个接气口,用一个二位五通单电控电磁阀控制,电磁阀电性连接时间控制器,通过电磁阀控制气缸4的活塞杆进行伸缩,气缸4的活塞杆固定连接推板5。
带式输送机1的机架前侧壁设有回收箱6,回收箱6内设有滚珠丝杠副7,回收箱6设有两个带座推力轴承17,带座推力轴承17与滚珠丝杠副7的丝杠过盈配合,滚珠丝杠副7的丝杠通过联轴器与步进电机18的输出轴固定连接。滚珠丝杠副7的丝杠螺母与平板8左侧固定连接,平板8上方设有缓冲板9,缓冲板9和平板8之间设有缓冲件。缓冲件设有呈矩形分布的四个,缓冲件由套筒19和弹性元件组成,套筒19螺栓连接平板8,弹性元件20采用波形弹簧,弹性元件20底端与套筒19相焊接,弹性元件20顶端与缓冲板9相焊接,通过弹性元件20降低集成电路封装掉落冲击。
平板8右侧贯穿设有限位杆14,限位杆14固定连接回收箱6,限位杆14设有两个,两个限位杆14与滚珠丝杠副7的丝杠呈正三角形分布。两个限位杆14约束平板8,防止平板8因受力不均而导致偏转。
回收箱6焊接有翼板15,翼板15与带式输送机1的机架前侧壁螺栓连接,回收箱6右侧壁设有敞开口,敞开口为取出残次品的通道。回收箱6后侧壁设有方形孔,方形孔设有两个挡板16,挡板16固定连接回收箱6,两个挡板16可以对进入回收箱6的集成电路封装进行导向,经挡板16的导向,使得集成电路封装可以正好落入平板8上。
工作原理:质检人员通过显示屏13检测出残次品,每当残次品到达推板5位置时,可以手动开启气缸4,即可水平推动推板5,使得推板5将集成电路封装推入回收箱6内。初始时,缓冲板9低于方形孔两厘米处。手动开启步进电机18,根据丝杆传动原理,使得滚珠丝杠副7的丝杠螺母带动平板8下降,使得缓冲板9上方有足够的空间给后续集成电路封装下降,每块集成电路封装掉落距离一定,所产生的下降冲击小。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (6)

1.一种用于检测集成电路封装质量系统装置,其特征在于:包括带式输送机(1),所述带式输送机(1)上方设有自动光学检测机(2),带式输送机(1)的机架后侧壁固定连接支架(3),所述支架(3)上设有气缸(4),所述气缸(4)的活塞杆固定连接推板(5),所述带式输送机(1)的机架前侧壁设有回收箱(6),所述回收箱(6)内设有滚珠丝杠副(7),所述滚珠丝杠副(7)的丝杠螺母与平板(8)左侧固定连接,所述平板(8)上方设有缓冲板(9),所述缓冲板(9)和平板(8)之间设有缓冲件。
2.根据权利要求1所述的一种用于检测集成电路封装质量系统装置,其特征在于:所述自动光学检测机(2)的机壳底端固定连接框架(10),所述框架(10)均匀固定连接四个支撑柱(11),自动光学检测机(2)的机壳侧壁铰链连接支撑板(12),所述支撑板(12)与显示屏(13)的后壳螺栓连接。
3.根据权利要求1所述的一种用于检测集成电路封装质量系统装置,其特征在于:所述回收箱(6)焊接有翼板(15),所述翼板(15)与带式输送机(1)的机架前侧壁螺栓连接,回收箱(6)右侧壁设有敞开口,回收箱(6)后侧壁设有方形孔,所述方形孔设有两个挡板(16),所述挡板(16)固定连接回收箱(6)。
4.根据权利要求1所述的一种用于检测集成电路封装质量系统装置,其特征在于:所述回收箱(6)设有两个带座推力轴承(17),所述带座推力轴承(17)与滚珠丝杠副(7)的丝杠过盈配合,滚珠丝杠副(7)的丝杠通过联轴器与步进电机(18)的输出轴固定连接。
5.根据权利要求1所述的一种用于检测集成电路封装质量系统装置,其特征在于:所述平板(8)右侧贯穿设有限位杆(14),所述限位杆(14)固定连接回收箱(6),限位杆(14)设有两个,两个限位杆(14)与滚珠丝杠副(7)的丝杠呈正三角形分布。
6.根据权利要求1所述的一种用于检测集成电路封装质量系统装置,其特征在于:所述缓冲件设有呈矩形分布的四个,缓冲件由套筒(19)和弹性元件组成,所述套筒(19)螺栓连接平板(8),所述弹性元件(20)采用波形弹簧,弹性元件(20)底端与套筒(19)相焊接,弹性元件(20)顶端与缓冲板(9)相焊接。
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