CN209296872U - 芯片检测装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及电子产品检测技术领域，特别涉及芯片检测装置，包括底座和设于底座上的支撑板，支撑板与底座垂直设置，其特征在于：所述支撑板上竖向设有导轨，所述导轨上设有移动座，所述移动座表面设有控制按钮和显示屏，所述移动座底部设有探针固定板，所述探针固定板上安装有若干探针，所述底座上设有凹槽，所述凹槽内放置置物板，所述移动座和探针固定板之间设有若干弹簧；本实用新型的检测装置结构简单，使用方便，能有效降低芯片的损坏率，降低检测成本。
Description
技术领域
本实用新型涉及电子产品检测技术领域，特别涉及芯片检测装置。
背景技术
电子芯片是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构。
半导体芯片检测装置主要应用于半导体行业、光电行业、集成电路以及封装的测试。广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发，旨在确保器件质量及可靠性，并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。现有技术中的芯片检测装置，在检测过程中，芯片被放置在置物板上，探针与芯片接触，施加一定的作用力，由于芯片体积小，受力小，容易造成芯片损坏，使产品良率下降，成本高。
实用新型内容
为了克服上述问题，本实用新型提出了一种生产效率高，检测成本低等特点的芯片检测装置。
本实用新型解决上述技术问题提供的一种技术方案是：提供了芯片检测装置，包括底座和设于底座上的支撑板，支撑板与底座垂直设置，其特征在于：所述支撑板上竖向设有导轨，所述导轨上设有移动座，所述移动座表面设有控制按钮和显示屏，所述移动座底部设有探针固定板，所述探针固定板上安装有若干探针，所述底座上设有凹槽，所述凹槽内放置置物板，所述移动座和探针固定板之间设有若干弹簧。
优选地，所述置物板上放置若干半导体芯片，与探针相对应。
优选地，所述底座上设有电源开关。
与现有技术相比，本实用新型具有以下有益效果：检测装置整体结构简单，设计合理，通过移动座在导轨轨道上上下移动，带动探针检测置物板上的芯片，操作简单；移动座与探针固定板之间设置弹簧，使探针检测时，弹簧起到减震缓冲作用，不会使芯片损坏，降低使用成本。
附图说明
图1为本实用新型的主视结构示意图。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施实例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用于解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
如图1所示，芯片检测装置，包括底座10和设于底座10上的支撑板20，支撑板20与底座10垂直设置，支撑板20上竖向设有导轨30，导轨30上设有移动座40，移动座40工作时沿着导轨30方向上下移动，移动座40表面设有控制按钮50和显示屏60，移动座40底部设有探针固定板70，探针固定板70上安装有若干探针80，底座10上设有凹槽90，凹槽90内放置置物板100，置物板100上放置若干半导体芯片120，芯片120与探针80相对应，一个探针80检测相对应的芯片120，移动座40和探针固定板70之间设有若干弹簧110，弹簧起到减震缓冲作用，保证检测时芯片不会受压力损坏，产品良率高，使用成本；底座10上设有电源开关130。
本实用新型的芯片检测装置在具体使用时，将半导体芯片放置在底座凹槽内的置物板100上，打开电源开关130，使移动座40向下移动，使移动座下部的探针80端部与芯片表面相接触，并对芯片表面施加一定的作用力，此时，移动座40和探针固定板70之间的若干弹簧110发挥其作用，达到减震缓冲的效果，使芯片表面的作用力不会过大导致损坏，提高产品检测良率，降低检测成本。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是在本实用新型的构思之内所作的任何修改，等同替换和改进等均应包含在本实用新型的专利保护范围内。
Claims (3)
1.芯片检测装置，包括底座和设于底座上的支撑板，支撑板与底座垂直设置，其特征在于：所述支撑板上竖向设有导轨，所述导轨上设有移动座，所述移动座表面设有控制按钮和显示屏，所述移动座底部设有探针固定板，所述探针固定板上安装有若干探针，所述底座上设有凹槽，所述凹槽内放置置物板，所述移动座和探针固定板之间设有若干弹簧。
2.如权利要求1所述的芯片检测装置，其特征在于：所述置物板上放置若干半导体芯片，与探针相对应。
3.如权利要求1所述的芯片检测装置，其特征在于：所述底座上设有电源开关。
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN112833946A (zh) * | 2020-12-31 | 2021-05-25 | 蔡明� | 一种芯片快速检测设备及快速检测方法 |
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2018
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|---|---|---|---|---|
| CN112833946A (zh) * | 2020-12-31 | 2021-05-25 | 蔡明� | 一种芯片快速检测设备及快速检测方法 |
| CN112833946B (zh) * | 2020-12-31 | 2022-07-15 | 深圳市展芯科技有限公司 | 一种芯片快速检测设备及快速检测方法 |
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