CN207198278U - 一种高路数小pitch的电测板结构 - Google Patents
一种高路数小pitch的电测板结构 Download PDFInfo
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Abstract
本实用新型涉及一种高路数小PITCH的电测板结构,包括电测板本体,蚀刻在电测板本体上与待测产品相适配的一组引脚,设置在电测板本体端部用于和电测机相连的一组外接接头,包括蚀刻在电测板本体上的引线,引脚中的奇数引脚通过引线和外接接头相连,引脚中的偶数引脚留白。本实用新型能够有效解决现有电测板在产品的电测时容易出现产品引脚漏检、短路无法检测出来,抑或电测板的蚀刻精度不够,影响测试精准的问题。且结构简单、易于实现,可广泛应用高路数小PITCH的电测板领域。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种高路数小PITCH的电测板结构。
背景技术
显示技术日新月异,随着信息量的不断增加,人们对液晶显示器的要求也越来越高,特别针对高路数小PITCH的LCD产品,因为产品比较高端,在批量生产过程中,容易出现产品引脚检测漏检、功能性缺陷短路没有检测出来的情况,针对这类产品在电测时,只能测试全显效果,那么此类产品检测短路的问题急需解决。现有的电测板的设计参照说明书附图中附图2。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种高路数小PITCH的电测板结构,解决现有电测板在产品的电测时容易出现产品引脚漏检、短路无法检测出来,抑或电测板的蚀刻精度不够,影响测试精准的问题。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:一种高路数小PITCH的电测板结构,包括电测板本体,蚀刻在电测板本体上与待测产品相适配的一组引脚,设置在电测板本体端部用于和电测机相连的一组外接接头,包括蚀刻在电测板本体上的引线,引脚中的奇数引脚通过引线和外接接头相连,引脚中的偶数引脚留白。
引脚中的奇数引脚设置有八组,每组奇数引脚设置有8个引脚,同一组的奇数引脚通过引线依次相连后和一个外接接头相连。
本实用新型的有益效果:当待测产品的路数比较高时,与待测产品相适配的电测板上的引脚比较多时,在有限的空间内,必然使得引脚比较密集。那么用于连接引脚和外接接头的引线必然会比较密集,那么引线的间距必然会比较小。电测板制作需要手动曝光、显影、蚀刻一系列工艺过程才能制作完成,如果引线太过密集,间距太小,蚀刻引线的精度可能达不到要求,从而导致电测板的测试性能不够精准等问题。采用把引脚中的奇数引脚通过引线和外接接头相连,而偶数引脚留白这样的间隔连线的设计,即奇数引脚(1.3.5……)连接,偶数引脚(2.4.6……)留白,使得引线的间距会比给全部引脚都用引线连接时的引线间距大两倍,能够有效降低蚀刻难度,进而提高引线的蚀刻精度。同时在测试时,先通过把待测产品和引脚一一对应相连,测试待测产品中的一半性能,然后将待测产品向前移动一个引脚的位置,使待测产品的偶数引脚和测试版的奇数引脚相接,就能够测试待测产品的另一半的性能,这样的两次电测就能够对待测产品的全部引脚进行电测,检测出待测产品的短路缺陷。
本实用新型能够有效解决现有电测板在产品的电测时容易出现产品引脚漏检、短路无法检测出来,抑或电测板的蚀刻精度不够,影响测试精准的问题。且结构简单、易于实现,可广泛应用高路数小PITCH的电测板领域。
以下将结合附图和实施例,对本实用新型进行较为详细的说明。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图。
图2为现有设计的结构示意图。
图3为图1中的A部分的局部放大图。
具体实施方式
实施例,如图1至图3所示的一种高路数小PITCH的电测板结构,包括电测板本体1,蚀刻在电测板本体1上与待测产品相适配的一组引脚2,设置在电测板本体1端部用于和电测机相连的一组外接接头3,包括蚀刻在电测板本体1上的引线4,引脚2中的奇数引脚通过引线4和外接接头3相连,引脚2中的偶数引脚留白。引脚2中的奇数引脚设置有八组,每组奇数引脚设置有8个引脚2,同一组的奇数引脚通过引线4依次相连后和一个外接接头3相连。
待测产品的引脚共有N个,电测板上引脚2相应设置有N个。测试时,把待测产品的引脚和通过蚀刻在电测板本体1上的引脚2一一对应连接,进行第一次测试,这样就能够测试待测产品一半引脚的性能。然后,把待测产品向前移动一个引脚的位置,使得待测产品的偶数引脚和电测板本体1上的奇数引脚一一对应连接,再进行一次电测,这样就能够测试出待测产品另一半引脚的电性能。
以上为结合附图对实用新型进行了示例性描述。显然,本实用新型具体实现并不受上述方式的限制。只要是采用了本实用新型的方法构思和技术方案进行的各种非实质性的改进;或未经改进,将本实用新型的上述构思和技术方案直接应用于其它场合的,均在本实用新型的保护范围之内。
Claims (2)
1.一种高路数小PITCH的电测板结构,包括电测板本体(1),蚀刻在电测板本体(1)上与待测产品相适配的一组引脚(2),设置在电测板本体(1)端部用于和电测机相连的一组外接接头(3),其特征在于:包括蚀刻在电测板本体(1)上的引线(4),引脚(2)中的奇数引脚通过引线(4)和外接接头(3)相连,引脚(2)中的偶数引脚留白。
2.根据权利要求1所述的高路数小PITCH的电测板结构,其特征在于:引脚(2)中的奇数引脚设置有八组,每组奇数引脚设置有8个引脚(2),同一组的奇数引脚通过引线(4)依次相连后和一个外接接头(3)相连。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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CN201721283301.5U CN207198278U (zh) | 2017-09-30 | 2017-09-30 | 一种高路数小pitch的电测板结构 |
Applications Claiming Priority (1)
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CN201721283301.5U CN207198278U (zh) | 2017-09-30 | 2017-09-30 | 一种高路数小pitch的电测板结构 |
Publications (1)
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CN207198278U true CN207198278U (zh) | 2018-04-06 |
Family
ID=61786488
Family Applications (1)
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CN201721283301.5U Active CN207198278U (zh) | 2017-09-30 | 2017-09-30 | 一种高路数小pitch的电测板结构 |
Country Status (1)
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CN (1) | CN207198278U (zh) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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WO2021007937A1 (zh) * | 2019-07-16 | 2021-01-21 | 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 | 显示面板测试电路 |
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2017
- 2017-09-30 CN CN201721283301.5U patent/CN207198278U/zh active Active
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