CN201673239U - 半导体测试设备 - Google Patents
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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CN 201020113450 CN201673239U (zh) | 2010-02-11 | 2010-02-11 | 半导体测试设备 |
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CN 201020113450 CN201673239U (zh) | 2010-02-11 | 2010-02-11 | 半导体测试设备 |
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CN 201020113450 Expired - Lifetime CN201673239U (zh) | 2010-02-11 | 2010-02-11 | 半导体测试设备 |
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CN (1) | CN201673239U (zh) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105988071A (zh) * | 2015-02-04 | 2016-10-05 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 一种半导体测试设备及方法 |
CN107052567A (zh) * | 2017-05-03 | 2017-08-18 | 深圳翠涛自动化设备股份有限公司 | 一种焊线机的防撞装置及防撞方法 |
CN107677948A (zh) * | 2016-08-02 | 2018-02-09 | 旺矽科技股份有限公司 | 测量系统 |
CN108279368A (zh) * | 2018-01-23 | 2018-07-13 | 德淮半导体有限公司 | 测试机台及测试方法 |
CN109900931A (zh) * | 2017-12-08 | 2019-06-18 | 京元电子股份有限公司 | 半导体组件测试连接接口 |
CN110058138A (zh) * | 2013-10-29 | 2019-07-26 | 东京毅力科创株式会社 | 晶片检查装置 |
CN110780469A (zh) * | 2018-07-30 | 2020-02-11 | 合肥欣奕华智能机器有限公司 | 检测头搭载装置及检测系统 |
CN110907805A (zh) * | 2019-12-11 | 2020-03-24 | 杭州易正科技有限公司 | 一种移动式分类出料的集成电路封装测试装置 |
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2010
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Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN110058138A (zh) * | 2013-10-29 | 2019-07-26 | 东京毅力科创株式会社 | 晶片检查装置 |
CN105988071A (zh) * | 2015-02-04 | 2016-10-05 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 一种半导体测试设备及方法 |
CN105988071B (zh) * | 2015-02-04 | 2020-04-21 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 一种半导体测试设备及方法 |
CN107677948A (zh) * | 2016-08-02 | 2018-02-09 | 旺矽科技股份有限公司 | 测量系统 |
CN107052567A (zh) * | 2017-05-03 | 2017-08-18 | 深圳翠涛自动化设备股份有限公司 | 一种焊线机的防撞装置及防撞方法 |
CN109900931A (zh) * | 2017-12-08 | 2019-06-18 | 京元电子股份有限公司 | 半导体组件测试连接接口 |
CN109900931B (zh) * | 2017-12-08 | 2021-03-30 | 京元电子股份有限公司 | 半导体组件测试连接接口 |
CN108279368A (zh) * | 2018-01-23 | 2018-07-13 | 德淮半导体有限公司 | 测试机台及测试方法 |
CN110780469A (zh) * | 2018-07-30 | 2020-02-11 | 合肥欣奕华智能机器有限公司 | 检测头搭载装置及检测系统 |
CN110907805A (zh) * | 2019-12-11 | 2020-03-24 | 杭州易正科技有限公司 | 一种移动式分类出料的集成电路封装测试装置 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant | ||
ASS | Succession or assignment of patent right |
Owner name: SEMICONDUCTOR MANUFACTURING INTERNATIONAL (BEIJING Free format text: FORMER OWNER: SEMICONDUCTOR MANUFACTURING INTERNATIONAL (SHANGHAI) CORPORATION Effective date: 20130226 |
|
C41 | Transfer of patent application or patent right or utility model | ||
COR | Change of bibliographic data |
Free format text: CORRECT: ADDRESS; FROM: 201203 PUDONG NEW AREA, SHANGHAI TO: 100176 DAXING, BEIJING |
|
TR01 | Transfer of patent right |
Effective date of registration: 20130226 Address after: 100176 No. 18, Wenchang Avenue, Beijing economic and Technological Development Zone Patentee after: Semiconductor Manufacturing International (Beijing) Corporation Address before: 201203 No. 18 Zhangjiang Road, Shanghai Patentee before: Semiconductor Manufacturing International (Shanghai) Corporation |
|
CX01 | Expiry of patent term | ||
CX01 | Expiry of patent term |
Granted publication date: 20101215 |