CN201274286Y - 晶粒检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种晶粒检测装置，适用于固晶机，其包括输送组件、感测组件及影像识别单元。输送组件确定预备位置及点胶固晶位置，并用于承载支架。感测组件设置于输送组件的上方，当该支架移动至该预备位置时，该检测组件检测该支架以产生感测影像。影像识别单元是根据感测影像产生位移控制信息。其中，当支架由预备位置移动到点胶固晶位置时，输送组件根据位移控制信息，校正支架的移动距离，使其准确定位至点胶固晶位置。

Description

晶粒检测装置

技术领域

本实用新型涉及一种晶粒检测装置，特别是涉及一种可同时检测点胶前位置、点胶后状况、固晶前位置及固晶后状况的晶粒检测装置。

背景技术

请参照图1，图1为现有技术的固晶机的示意图。固晶机包括投料机构11、输送机构12、点胶机构13、取置晶机构14、点胶检测机构151及固晶检测机构152。

投料机构11支撑多个导电支架16，并依序将导电支架16自动释放至输送机构12上。导电支架16具有阳极导电端子161及阴极导电端子162。阴极导电端子162的一端具有容纳空间163，其用于支撑与之相对应的发光二极管19，另一端具有用于定位的定位孔164。输送机构12具有沟槽、两个导引件121及两个定位件122。当输送机构12工作时，利用导引件121牵引位于沟槽内的导电支架16往输送方向移动，并通过定位件122穿入到相对应的定位孔164，再用固定机构123固定导电支架16，使每个容纳空间163依序通过点胶位置及固晶位置。点胶机构13用于将银胶18填注到位于点胶位置的容纳空间163内。取置晶机构14具有承载台141，用于吸附位于承载台141的发光二极管19，并将其定位到导电支架16上，并且通过银胶18将发光二极管19固定到导电支架16上。点胶检测机构151和固晶检测机构152为CCD摄影机，设置在输送机构12的上方，用于分别拍摄点胶前后及固晶前后的影像。

请参照图2，图2是现有技术的固晶机的感测影像的示意图。通过导引件121带动导电支架16，使该容纳空间163依序移动到点胶位置，再通过点胶检测机构151检测导电支架16的容纳空间163的位置，待位置补偿后，进行点胶作业。当每个容纳空间163在点胶位置完成点胶后，通过导引件121带动导电支架16，使该容纳空间163依序移动到固晶位置，通过固晶检测机构152检测导电支架16的容纳空间163的位置，待位置补偿后进行固晶作业。

然而，现有技术的固晶机的缺点在于需要用两组检测机构分别检测点胶、固晶前的位置及点胶和固晶后的状况，提高了设备成本，即间接提升了生产成本。

现有技术的固晶机的另一缺点在于其需要等容纳空间163固定后，先通过点胶检测机构151和固晶检测机构152检测导电支架16的容纳空间163的位置，待位置补偿后，再进行点胶或固晶作业，因而增加了生产时间，导致生产效率降低。

有鉴于现有技术的各项问题，为了能够兼顾解决，本实用新型的申请人基于多年研究开发与诸多实务经验，提出一种晶粒检测装置，以作为解决上述缺点的实现方式与依据。

发明内容

由此可知，本实用新型的目的在于提供一种晶粒检测装置，以减少生产时间并降低设备成本。

根据本实用新型的目的，提出一种晶粒检测装置，适用于固晶机，该晶粒检测装置包括输送组件、感测组件及影像识别单元。输送组件确定预备位置及点胶固晶位置，并用于承载支架。感测组件设置于输送组件的上方，当支架移动至预备位置时，感测组件检测支架以产生感测影像。影像识别单元根据感测影像产生位移控制信息。其中，当支架由预备位置移动到点胶固晶位置时，输送组件根据位移控制信息校正支架的移动距离，使其准确定位至点胶固晶位置。

其中，支架具有容纳空间，用于承载相对应的晶粒。

承上所述，根据本实用新型的晶粒检测装置，可以使一组检测机构在点胶固晶前得知支架位置，并在输送支架的过程中，同时补偿点胶固晶位置，从而避免现有技术的固晶机必须使用两组检测机构来检测点胶、固晶前位置，并在输送过程后再加上一段位置补偿的问题。

附图说明

图1是现有技术的固晶机的示意图；

图2是现有技术的固晶机的感测影像的示意图；

图3是本实用新型的晶粒检测装置的实施例的立体图；

图4是本实用新型的晶粒检测装置的实施例的感测组件的示意图；

图5是本实用新型的晶粒检测装置的实施例的方块图；以及

图6是本实用新型的晶粒检测装置的实施例的感测影像的示意图。

主要组件符号说明

11：投料机构；

12：输送机构；

121：导引件；

122：定位件；

123：固定机构；

13：点胶机构；

14：取置晶机构；

141：承载台；

151：点胶检测机构；

152：固晶检测机构；

16：导电支架；

161：阳极导电端子；

162：阴极导电端子；

163：容纳空间；

164：定位孔；

18：银胶；

19：发光二极管；

3：固晶机；

31：输送组件；

311：输送本体；

312：夹持单元；

313：预备位置；

314：点胶固晶位置；

32：感测组件；

321：感测影像；

33：影像识别单元；

331：位移控制信息；

34：支架；

341：阳极导电端子；

342：阴极导电端子；

343：容纳空间；

35：银胶；

36：晶粒；

37：投料机构；

38：点胶机构；以及

39：固晶机构。

具体实施方式

以下将参照相关附图说明根据本实用新型的晶粒检测装置的实施例。

请参照图3，图3是本实用新型的晶粒检测装置的实施例的示意图。图中，晶粒检测装置适用于固晶机3，并且包括输送组件31、感测组件32、影像识别单元33及支架34。

请参照图4，图4是本实用新型的晶粒检测装置的实施例的感测组件的示意图。输送组件31具有输送本体311及设置于输送本体311上的夹持单元312，且输送本体311确定出预备位置313及点胶固晶位置314。夹持单元312通过电机(未示出)被驱动，以可释放或夹持支架34，并且在横向方向或纵向方向上移动，以输送支架34及对支架34进行位置补偿。

请参照图5，图5是本实用新型的晶粒检测装置的实施例的方块图。感测组件32为CCD摄影机，其设置于输送组件31的上方，用于检测点胶、固晶前的位置及点胶、固晶后的状况。当支架34移动到预备位置313时，感测组件32检测支架34，以产生感测影像321，如图6所示。

支架34是由金属制成的可导电支架，其具有多个阳极导电端子341及多个阴极导电端子342，且阴极导电端子342的一端是容纳空间343，用于容置相对应的银胶35及晶粒36。在本实施例中，晶粒36是发光二极管。

影像识别单元33是影像识别软件，可根据感测影像321识别容纳空间343的位置，并据以产生位移控制信息331，也可识别银胶35及晶粒36是否准确定位在容纳空间343内。

当进行固晶操作时，固晶机3的投料机构37释放支架34到输送组件31上，使输送组件31支撑并输送支架34。输送组件31通过电机驱动夹持单元312、夹持支架34并带动支架34移动，使每个支架34的容纳空间343依序通过预备位置313及点胶固晶位置314。

当容纳空间343位于预备位置313时，感测组件32拍摄位于预备位置313的容纳空间343以产生感测影像321。影像识别单元33接收到感测影像321后，识别该容纳空间343并与固晶位置314比较后，产生位移控制信息331。输送组件31根据此位移控制信息331，在输送支架34到点胶固晶位置314时，补偿支架34的移动距离，使此容纳空间343能准确定位到点胶固晶位置314，因此点胶机构38可直接进行点胶作业。点胶作业完成后，再进行固晶位置补偿，待该作业完成后，进行固晶作业。而不需要像现有技术的固晶机，在输送完支架后，需再等待此容纳空间343进行位置补偿后，才能进行点胶或固晶作业，因而缩短了固晶作业时间。

综上所述，本实用新型的晶粒检测装置的功效在于通过一组感测组件32即可检测点胶、固晶前的位置及点胶、固晶后的状况，因而降低了生产成本。

本实用新型的晶粒检测装置的另一功效在于输送组件31可依据位移控制信息331，在输送支架34的过程中，同时校正支架34的定位位置，使其准确定位至点胶固晶位置314，使点胶机构38及固晶机构39能直接进行点胶固晶作业，因而减少了生产时间。

以上所述仅为举例性，而非为限制性。任何未脱离本实用新型的精神与范畴，而对其进行的等效修改或变更均应包含于本实用新型的专利范围中。

Claims (4)

1、一种晶粒检测装置，适用于固晶机，其包括：影像识别单元，根据该感测影像产生位移控制信息，其特征在于还包括：

输送组件，确定预备位置及点胶固晶位置，并用于承载支架；

感测组件，设置在该输送组件的上方，当该支架移动到该预备位置时，该感测组件用于检测该支架，以产生感测影像；

其中，当该支架由该预备位置移动到该点胶固晶位置时，该输送组件根据该位移控制信息校正该支架的移动距离，使其准确定位到该点胶固晶位置。

2、如权利要求1所述的晶粒检测装置，其中，该支架具有容纳空间，用于承载相对应的晶粒。

3、如权利要求1所述的晶粒检测装置，其中，该感测组件为CCD摄影机。

4、如权利要求2所述的晶粒检测装置，其中，该晶粒为发光二极管。

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