CN1853110A - 用于直接观察待研究设备的电磁性能的消声室 - Google Patents

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CN1853110A CNA2004800270471A CN200480027047A CN1853110A CN 1853110 A CN1853110 A CN 1853110A CN A2004800270471 A CNA2004800270471 A CN A2004800270471A CN 200480027047 A CN200480027047 A CN 200480027047A CN 1853110 A CN1853110 A CN 1853110A
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L·杜谢恩
P·O·艾弗森
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Abstract

本发明涉及一种用于研究天线或任何其它波发射或波接收设备的电磁性能的系统。所发明的系统包含消声室，其被设计成用于容纳一个这种待研究的电磁设备(10)，以及操作所述设备(10)的人。本发明还包含：至少一个分析天线(20)，其用于获取由待研究电磁设备(10)所发射或接收的波，以及用于处理来自所述分析天线(20)的输出信号的装置(30)。该系统还包含用于显示为待研究电磁设备(10)所产生的辐射图的装置(40)。本发明的特征在于，辐射图显示装置(40)被布置在消声室内，使得操作待研究电磁设备(10)的人能够直接观察他/她操作设备(10)对其中的电磁性能的影响。

Description

用于直接观察待研究设备的电磁性能的消声室
技术领域
本发明涉及用于测量来自天线的辐射的装置，并特别涉及用于估计天线的辐射图的装置。
背景技术
我们早已熟悉封闭式的消声室，其不仅能够容纳待检查的天线，而且能够容纳操作者，该操作员在测试期间定位天线或持有天线。
这种消声室能够包含位于围绕待检查天线的圆周上的一系列分析天线。来自这一系列测试天线的输出信号提供数据，其用于画出在该圆周所位于的平面上、任何给定时刻的辐射图。
通过在待检查天线和分析天线之间产生相对转动，能够由此产生一系列辐射图，而所有这些都被用于产生三维图形式的总辐射图(参见第三页第15行)。
我们早已熟悉这种用于测量来自移动电话的辐射的设备，其中，电话用户使自已位于由不同的分析天线所形成的圆周内。
如今，天线或任何其它电磁物体的特性和/或监测，无论是发射器还是接收器，普遍被外部供应给(outsourced)到如上所述进行配备的消声室的持有人，随后，持有人把所需的辐射图提供给天线的设计者
根据在消声测试室中围绕天线所测量的辐射，天线的设计可能涉及在其设计过程中的多种结构改变。
如今，人们看来需要来自这些分析的越来越快的反馈。尤其是在天线设计过程的情况下，对于天线的连续的不同形式的分析必须提供更快的速度。
发明内容
本发明的目的是通过把非常快的分析反馈系统提供给天线设计者、使他能以很快的速度对天线进行改变而满足这种需要。
该目的由本发明依靠布置的优点来实现，该布置用于对构成消声室的波发射或波接收设备的电磁性能进行研究，消声室被设计成用于容纳这种待研究电磁设备以及操作该设备的人，并且该布置还包含至少一个被设计成用于获取由待研究电磁设备所发射和接收的辐射的分析天线，以及用于处理来自该分析天线的输出信号的装置，这里，该布置还包含用于显示为待研究电磁设备而产生的辐射图的装置，其特征在于，用于显示辐射图的装置被布置在消声室内，从而使操作待研究电磁设备的人能够直接观察他的操作对设备的电磁性能的影响。设备还可以直接装到在消声室内操作该设备的人身上(例如，观察眼镜(viewing goggles))，或实际装到位于消声室中的另一个人身上。
附图说明
参考附图，阅读下面的详细描述，本发明的其它特征、目的和优点将会显现，其中：
图1是根据本发明的研究布置的简化电路图；
图2是根据本发明进行配备的消声室的全视图；
具体实施方式
如图1中的简化图所示，分析设备具有基于一系列设备的简单的功能结构，每个设备凭其自身的性能(in its own right)已经为众人所知。
因此，围绕一系列分布在围绕待研究天线10的圆周内的分析天线或分析探针网络20建立设备，一系列分析天线或分析探针网络20被。
把分析天线20与处理单元30相连，其作用是把由天线20提供的信号转换成视频显示信号。该视频信号与在测试天线方向上由被测试的天线所辐射的场成比例。该视频信号被传输到在图的上部示出的显示屏40。
我们还应该提到，处理单元30被连接到支撑待研究天线10的转动电机50，并接收来自该电机50的定位信号，该定位信号用于计算待研究天线10和测试天线20的相对位置。
在这里所示出的布置的工作原理中，随着电机50转动，处理单元30以已知方式获得一系列连续平面中的一系列辐射读数，这些平面以转动方式分布在围绕待研究天线10的周围。
这些不同平面读数的集合使处理单元提供待研究天线的辐射图的三维显示，并在屏40上示出该显示。
在图1中，天线位于其中的消声室的墙未被示出。图2所示的墙形成封闭空间，并各自被装备有例如指向内部的大量锥形桩(peg)。
这种布置消除了消声室内的电磁回波，这就是它为什么称为消声的原因。
图2用图解法示出了操作者在消声室中的定位，他在这里的作用是最初对天线10进行定位、改变其定位和/或在辐射读数之后调节需要调节的元件。
根据一种相当特殊的布置，到现在为止一直放在消声室外、通常在只用于计算机处理的外部空间中的显示屏40，在这里被放在消声室中。
位于消声室中的屏40允许操作者实时地或稍加延迟地观察直接在操作者能达到的范围内的天线10的特性。
于是，操作者可以执行至今未让他执行的任务，即，了解天线10的性能(或任何其它电磁设备的性能)，而较后实际操作。这种布置使操作者能够改变和作用于天线(或任何其它电磁设备)，并以交互方式观察作为结果的辐射图。
因此，旨在改善天线性能的改变有可能以实时方式给出。
以这种方式，操作者70可以简单地改变天线10的几何形状，或实际改变它在消声室中的定位，例如其高度或方向，或调节参数，并能够直接了解他的行为的影响(effect)。
结果，分配给操作者的这个任务，即，了解他的操作的影响，能够对天线或其它电磁设备的电磁位进行更加有效地探测。
因此，至今不为人知的发展可很快地通过在消声室中的实验性操作进行揭示。
不过，一种优选的变化包含把该屏放在尽可能远离天线之处，就是靠在消声室的墙上。
在图2中，屏40是平的液晶屏或等离子屏，例如，其靠在消声室的竖墙上的定位证明是仅轻微地干扰后者的电磁辐射。屏40还可以是传统的光学投影屏(计算机+投影仪)。
更广泛地，优选地，把屏的观看表面，例如平的监视器的或阴极射线管监视器的前表面放在消声室墙的平面内，由此避免把任何外部音量引入消声室。
在一种变化中，其中在研究包含检查移动电话或任何其它便携式电磁设备的性能、以及把电话用户放在天线的圆周内已经是常规的变化，这种当前设备还具有一种毋庸置疑的优点，即，允许考虑人体对辐射图的影响。
因此，至今仅存有有机体的电话用户现在具有直接和现场(live)观察他存在的影响的优点。
因此，通过改变其身体或其电话相对于其本人的位置，用户能够观察这些变化的现场和直接的效果。
因此，有可能使用户快速确定用于定位电话组件的多种选择，这可能特别有利于人体存在时的电磁传输。
同样，对便携式设备现场执行的改变揭示了用于直接发展的选择，这种发展在过去是完全不为人知的。
根据用于这种对移动电话的应用的有利的变化，除了放在测试天线的中心处并用于提供给操作者的座位之外，还提供一种扶手，以便帮助操作者精确定位支撑移动电话的臂部。
对于肘部搁在支承部上使用电话的布置已被证明是相当有利的，以便避免身体的移动改变测量所基于的条件。该支承具有在有操作者的情况下能够采取连续和可重复测量的益处。
此外，优选地，这种扶手配备有用于调节其位置的装置。
可以把这些位置调节装置设计成仅用于高度调节，或用于高度调节以及相对于用户向前和向后或向侧面运动的水平移动。
根据最简单的变化，这些调节装置采用导轨(sliding guide)的形式，其在调节之后使用一系列固定螺丝钉进行固定。
这种扶手的存在、或对于手臂的任何其它部分的支承部的存在也是有用的，原因在于，它允许操作者离开他的座位，并接着以比较精确的方式恢复他先前的位置，也就是说，再次取得与先前测量相同的身体和电话之间的相对位置，或接近相同的相对位置。
因此，如果有需要操作者要离开他的座位的这种改变，则在这个改变之前或之后所发出的辐射仍就是可靠的，这是因为辐射是在非常相似的条件下进行测量的。

Claims (9)

1.一种天线或任何其它波发射或波接收设备的电磁性能的研究布置，其包含消声室，消声室被设计成用于容纳这种待研究电磁设备(10)，以及操作所述设备(10)的人，并且还包含至少一个设计用于获取由待研究电磁设备(10)所发射或接收的辐射的分析天线(20)，以及用于处理来自所述分析天线(20)的输出信号的装置(30)，其中，所述布置还包含用于显示为待研究电磁设备(10)所产生的辐射图的装置(40)，其特征在于，所述用于显示辐射图的装置(40)被布置在消声室内，使得操作所述待研究电磁设备(10)的人直接观察他操作设备对设备(10)的电磁性能的影响。
2.根据权利要求1所述的研究布置，其特征在于，其包含测试天线(20)的网络，其被安置在位于大致围绕待检查电磁物体(10)的圆周上。
3.根据权利要求2所述的研究布置，其特征在于，其包含能够在圆周内的所述多个分析天线(20)和待检查电磁设备(10)之间，围绕转动轴自动产生相对转动的装置，所述转动轴大致在由全部分析天线(20)所形成的圆周的直径上。
4.根据上述权利要求的任一项所述的研究布置，其特征在于，所述用于显示待研究物体(10)的辐射图的装置(40)包括放置在所述消声室的内墙上的屏(40)。
5.根据权利要求1至3的任一项所述的研究布置，其特征在于，所述用于显示待研究物体(10)的辐射图的装置(40)包括观察眼镜，其被直接放在消声室中操作设备的人身上，或装在位于消声室中的另一个人身上。
6.根据权利要求4所述的研究布置，其特征在于，所述屏(40)包含监视器、或实际为传统的光学投影屏的观察表面，所述表面与消声室的一面墙的表面大致对齐。
7.根据上述权利要求所述的研究布置，其特征在于，所述屏(40)包含平的监视器(40)的观察表面，且尤其是液晶监视器或等离子监视器的观察表面。
8.根据权利要求6所述的研究布置，其特征在于，屏(40)是传统的光学投影屏。
9.根据上述权利要求的任一项所述的研究布置，其特征在于，其包括提供给操作待研究电磁设备(10)的人的座位，以及对于这个人的一个臂部的可调节的支承部，而座位和支承部是可调节的，以便准许人的全面再定位、臂部的精确再定位，由此使得能在与人体其它部分有关的支撑部的给定位置中多次连续使用电话。
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Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101039534B (zh) * 2006-03-15 2012-06-20 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 声音检测设备和自动传送装置
CN1964547A (zh) * 2006-11-30 2007-05-16 中兴通讯股份有限公司 确定天线最小测试距离的方法
JP2008241661A (ja) * 2007-03-29 2008-10-09 Fujitsu Ltd Ｅｍｉ測定システム
US7830296B2 (en) * 2007-07-11 2010-11-09 Finisar Corporation Anechoic structures for absorbing electromagnetic interference in a communications module
WO2009091087A1 (en) * 2008-01-14 2009-07-23 Ktm Technology Co., Ltd. Hemi-spherical type antenna chamber
FR2927701B1 (fr) * 2008-02-20 2010-04-09 Satimo Sa Dispositif et procede pour la determination d'au moins une grandeur associee au rayonnement electromagnetique d'un objet sous test.
US8462039B2 (en) * 2009-12-09 2013-06-11 Electronics And Telecommunications Research Institute Indoor electromagnetic environment implementing structure and a constructing method thereof

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2602872B2 (ja) * 1988-01-20 1997-04-23 株式会社東芝 放射電磁界特性測定装置
JP2574409B2 (ja) * 1988-07-08 1997-01-22 松下電器産業株式会社 Ｅｍｃ試験用電磁波無響室およびそのシールド材
JPH06294833A (ja) * 1993-04-08 1994-10-21 Nippon Sheet Glass Co Ltd アンテナ特性測定装置
DE4316642A1 (de) * 1993-05-18 1994-11-24 Siemens Ag Abschirmkammer mit einer nicht störenden und störunempfindlichen Monitor-Anzeigevorrichtung
JPH09114543A (ja) * 1995-10-02 1997-05-02 Xybernaut Corp ハンドフリーコンピュータ装置
JPH09101370A (ja) * 1995-10-03 1997-04-15 Fuji Electric Co Ltd 椅子式ホールボディカウンタ
JPH11248772A (ja) * 1998-02-27 1999-09-17 Mitsubishi Electric Corp マイクロ波通信機器用試験装置
JP2000009776A (ja) * 1998-06-22 2000-01-14 Advantest Corp 無線通信特性試験装置
JP2000166656A (ja) * 1998-12-11 2000-06-20 Mitsubishi Electric Corp 机
FR2797327B1 (fr) * 1999-08-03 2001-11-09 France Telecom Procede et dispositif de mesure en champ proche de rayonnements radioelectriques non controles
JP2002107396A (ja) * 2000-09-29 2002-04-10 Matsushita Electric Ind Co Ltd 疑似人体とそれを用いた測定方法
US6329953B1 (en) * 2000-09-29 2001-12-11 Rangestar Wireless Method and system for rating antenna performance
JP2002251148A (ja) * 2001-02-26 2002-09-06 Fujitsu Kiden Ltd 表示装置の設置方法
JP4053981B2 (ja) * 2001-07-27 2008-02-27 株式会社アドバンテスト 電磁波測定装置

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