CN1681230A - 测试信号发生电路和接收电路 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种测试信号发生电路和接收电路。测试信号发生电路包含调谐电路、用于形成正交本振信号的本振电路、用于通过本振信号将接收信号变频成IF信号的第一混频电路、用于从第一混频电路的输出中抽取IF信号的IF滤波器、用于移动由IF滤波器抽取的IF信号的相位的移相电路、用于通过将移相电路的输出相加/减而输出IF信号的第一计算电路、用于形成具有与该IF信号频率相等的频率的正交交流信号的形成电路、用于接收该交流信号和本振信号的第二混频电路,以及用于通过将第二混频电路的输出相加/减而输出信号的第二计算电路,其中,第二计算电路的输出被提供到调谐电路作为测试信号。
Description
技术领域
本发明涉及测试信号发生电路和具有测试信号发生电路的接收电路。
背景技术
在超外差式接收机中,如果不满足以下频率关系,诸如接收灵敏度和镜像干扰特性之类的接收特性就会降级:
fRX=fLO-fIF...对于中波广播(AM广播),以及
fRX=fLO+fIF...对于FM广播,其中
fRX:接收频率,
fLO:本振频率,以及
fIF:中频。
因此,设置了测试信号发生器,以用于检查和调整天线调谐电路的中心频率、中频滤波器的中心频率(在下文中称为“接收频率和中频”)等等。
此测试信号发生器可由诸如图4所示的PLL(锁相环)电路来配置。即,从晶体振荡电路1获得稳定频率f1的振荡信号,这样获得的振荡信号由分频电路2分频成具有1/m(m是大于等于2的整数)频率的信号S1,并且该信号S1被提供到相位比较电路3。此外,从VCO(压控振荡器)4获得振荡信号S4,这样获得的振荡信号S4由分频电路5分频成具有1/n(n是大于等于2的整数)频率的信号S5,然后该信号S5被提供到相位比较电路3。
相位比较电路3将作为参考频率的信号S2的相位与信号S5的相位相比较,这样得到的比较输出被提供到低通滤波器6,以获得一个DC(直流)电压,该DC电压所具有的电平对应于信号S2和S5之间的相位差,并且此DC电压被提供到VCO4作为控制信号。
因此,在常规状态中,信号S5的频率变得与信号S2的频率相等,使得振荡信号S4的频率f4由下式给出:
f4=n/m×f1
因此,可以通过改变m和n的分频比来改变振荡信号S4的频率f4。如果将振荡信号S4用作测试信号,就可以通过将振荡信号S4的频率f4用作参考,检查和调整接收频率和中频。可作为现有技术文献的有日本专利申请早期公开No.JP2000-13336。
发明内容
测试信号S4的频率需要能够根据接收频率和中频的频率步长而变化。例如,由于中波广播的频率步长是9kHz,因此要求测试信号S4的频率f4也以9kHz的步长变化,以便利用测试信号S4来检查和调整接收频率。在检查和调整中频时,需要以例如5kHz的步长来改变测试信号S4的频率f4。
由于使用了图4所示的PLL电路所产生的测试信号S4,因此用于相位比较电路3处的相位比较的频率变低,例如变为5kHz。当电路被形成为IC时,在这样低的频率下,相位噪声变得较大并使C/N(载波对噪声)比恶化,因此取决于测试内容和被测对象,有时无法获得正确的测试结果。例如,当对具有很陡的衰减特性、镜像干扰等的滤波器的衰减量进行检查时,无法获得正确的结果。
图5A和图5B以及图6A和图6B示出了滤波器频率特性和镜像干扰特性的测量结果是如何随测试信号S4的C/N比而变化的。图5A和图5B示出了中频滤波器的频率特性的测量结果。在图5A中,曲线A被假定为被测中频滤波器的正确频率特性。
如果测试信号S4具有如图5A中实线所示的良好C/N比,并且频率特性是通过逐渐改变其频率来测量的,则可以获得图5B中实线所示的频率特性B,该频率特性B与正确的频率特性A相等。然而,如果测试信号S4具有如图5A中虚线所示的较差C/N比,则由于测试信号S4的噪声分量,获得了图5B中虚线所示的测量结果C,该测量结果C宽于正确的频率特性A。
图6A和图6B示出了镜像干扰特性的测量结果。在图6A和图6B中,曲线D被假定为天线调谐电路的传输特性。如图6A所示,如果测试信号S4具有良好的C/N比,则在测试信号S4的频率等于接收频率fRX时获得最大输出,而在测试信号S4的频率等于镜像频率fIMG时仅获得一个小的输出。频率fRX处的信号电平与频率fIMG处的信号电平之比是镜像衰减量(分贝)。
然而,如图6所示,如果测试信号S4具有较差的C/N比,则当测试信号S4的频率等于镜像频率fIMG时,测试信号S4的噪声分量位于天线调谐电路的通带及其附近区域中,因此图6B所示的倾斜部分也作为镜像分量而输出。因此,无法测量正确的镜像衰减量。
如上所述,如果测试信号S4的C/N比较差,则取决于测试内容和被测对象,可能不会获得正确的测量结果。在所谓低IF式接收机等等当中,本振频率fLO被设置在接收频率fRX附近,并且中频fIF被设置得比接收频率fRX低得多,使得载波附近的相位噪声的影响大,无法进行最优调整。
本发明意图解决上述问题。
本发明的测试信号发生电路包括:调谐电路,用于拾取具有期望频率的接收信号;本振电路,用于形成一对正交本振信号;一对第一混频电路,用于通过使用一对本振信号,将接收信号变频成一对中频信号;一对中频滤波器,用于从一对第一混频电路的输出信号中抽取一对中频信号;一对移相电路,用于移动由一对中频滤波器抽取的一对中频信号的相位;第一计算电路,用于通过将一对移相电路的输出信号相加或相减,输出中频信号;信号形成电路,用于形成一对正交交流信号,所述一对正交交流信号所具有的频率等于所述一对中频信号的频率;一对第二混频电路,用于接收所述一对交流信号和一对本振信号;以及第二计算电路,用于通过将一对第二混频电路的输出相加或相减,输出具有期望频率或镜像频率的信号,其中第二计算电路的输出信号被提供到调谐电路作为测试信号。
附图说明
图1是根据本发明实施例的接收电路的框图;
图2是根据本发明实施例的测试信号发生电路的框图;
图3是示出了AM接收和FM接收的测试模式的表;
图4是PLL电路的框图;
图5A和图5B图示了滤波器频率特性的测量结果;以及
图6A和图6B图示了镜像干扰特性的测量结果。
具体实施方式
(1)接收电路10
图1是示出了本发明所应用的用于AM广播(中波广播)和FM广播的接收机的接收电路10的示例的框图。该接收电路10是所谓低IF式的,其中通过将本振频率设置在接收频率附近,将中频设置得比接收频率低得多。接收信号被变频成一对正交中频信号,并通过相位处理来改善镜像特性。
即,在AM广播接收期间,从电子调谐式天线调谐电路11A拾取具有期望频率(目标接收频率)的接收信号SRX,并通过高频放大器12A和频带切换电路31,将该接收信号SRX提供到一对混频电路13A和13B。
在FM广播接收期间,从电子调谐式天线调谐电路11F拾取具有期望频率的接收信号SRX,并通过高频放大器12F和频带切换电路31,将该接收信号SRX提供到一对混频电路13A和13B。
本振电路32配置有PLL电路,该PLL电路生成两个信号SLOA和SLOB,这两个信号彼此间的相位差是90°,其频率接近接收信号SRX的频率。信号SLOA和SLOB作为本振信号分别被提供到混频电路13A和13B。例如,本振信号SLOA和SLOB的频率fLO在AM广播接收期间被设置为比接收频率fRX高55kHz的频率,并在FM广播接收期间被设置为比接收频率低250kHz的频率。
混频电路13A和13B分别通过使用本振信号SLOA和SLOB,将AM广播或FM广播的接收信号SRX的频率转换成一对中频信号SIFA和SIFB。在此情况下,中频信号SIFA和SIFB中的每一个都包含期望频率的信号分量(目标信号分量)和镜像频率的信号分量。简单起见,在以下说明中,期望频率的信号分量被称为中频信号SIFA和SIFB,镜像频率的信号分量被称为镜像分量。
由于本振信号SLOA和SLOB具有90°的相位差,因此中频信号SIFA和SIFB在90°的相位差下彼此正交,并且镜像分量在90°的相位差下彼此正交且其关系与中频信号SIFA和SIFB相反。
要施加到PLL电路中的VCO(未示出)的可变电容二极管上的控制电压部分得自于组成本振电路32的PLL电路,并且该控制电压作为调谐电压被提供到调谐电路11A和11F,以调入(tune in)接收信号SRX。
来自混频电路13A和13B的中频信号SIFA和SIFB(以及镜像分量)被提供到幅度和相位校正电路14,该幅度和相位校正电路14校正中频信号SIFA和SIFB的相对幅度误差和相位误差。经误差校正的中频信号SIFA和SIFB通过组成中频滤波器的带通滤波器15A和15B被提供到移相电路16A和16B。移相电路16A和16B例如以中频信号SIFA和SIFB具有相同相位并且镜像分量具有相反相位的方式来移动相位。移相后的中频信号SIFA和SIFB被提供到计算电路17,并被加在一起。从计算电路17输出消除了镜像分量的中频信号SIF。
接着,中频信号SIF通过中频放大器18和带通滤波器19被提供到数字处理电路20,数字处理电路20通过A/D(模拟到数字)转换来转换中频信号,并执行与接收信号SRX的格式相对应的预定数字处理,以输出音频信号。
放大器12A、12F和18由可变增益放大器组成。来自带通滤波器19的中频信号SIF的一部分被提供到AGC(自动增益控制)电压生成电路33,所述AGC电压生成电路33生成AGC电压VAGC。AGC电压VAGC作为增益控制信号被提供到放大器18,以在中频级执行AGC操作。AGC电压VAGC还作为增益控制信号通过加法电路35被提供到高频放大器12A和12F,以在高频级执行AGC操作。
从混频电路13A和13B输出的中频信号SIFA和SIFB还被提供到过量输出检测电路34,该过量输出检测电路34当接收电平变得过高时生成AGC电压VOL。该AGC电压VOL作为增益控制信号通过加法电路35被提供到高频放大器12A和12F,以在高频级进行延迟的AGC。除了调谐电路11A和11F、本振电路32中的谐振电路,以及数字处理电路20之外,上述的接收电路10被制造在单片IC(集成电路)中。数字处理电路20也可制造在同一单片IC中。
微计算机36被提供作为系统控制电路。诸如调谐开关之类的操作开关37连接到微计算机36。例如,当电源接通时,微计算机36将校正控制信号提供到幅度和相位校正电路14,如前所述,以这样的方式来控制幅度和相位校正电路14:使得包含在中频信号SIFA和SIFB中的镜像分量具有相同的幅度和相反的相位,以使得计算电路17可以消除镜像分量。
随着操作开关37的频带切换开关被操作,微计算机36将控制信号提供到切换电路31,所述切换电路31采取图1所示的状态或者相反的状态,以进入AM广播或FM广播的接收模式。此时,微计算机36将代表接收模式的信号提供到电路15A、15B、16A、16B、19、20和32,以改变这些电路的特性,用于接收AM广播或FM广播。
随着操作开关37的调谐开关被操作,微计算机36将预定控制信号提供到本振电路32,以改变本振信号SLOA和SLOB的振荡频率,从而将接收频率fRX改变到期望频率。因此,可以接收到任意频率的AM和FM广播。
(2)测试信号发生电路40
(2-1)测试信号发生电路40的结构
在本发明中,接收机具有内置的测试信号发生电路40,并准备有AM接收测试模式和FM接收测试模式。在AM接收测试模式和FM接收测试模式中,接收电路10分别进入AM广播和FM广播的接收模式。
图2示出了测试信号发生电路40的示例。测试信号发生电路40具有PLL 50,该PLL 50输出具有中频fIF的AC(交流)信号。即,信号形成电路51例如由晶体振荡电路构成。信号形成电路51将具有预定的稳定频率(例如480kHz)的AC信号输出到分频电路52,该分频电路52将该频率分成具有1/48频率,即10kHz频率的信号S52。该信号S52被提供到相位比较电路53以作为其参考信号。
还设置了VCO 54,以输出一对振荡信号S54A和S54B,它们具有预定的频率和偏移了90°的不同相位。在此情况下,如以后将变得清楚的,在常规状态下,振荡信号S54A和S54B的频率等于接收电路10中的中频fIF(=55kHz或250kHz)。如果接收电路10中的本振信号SLOA和SLOB由下式给出:
SLOA=sin(2π×fLO×t) ...(1A)
SLOB=cos(2π×fLO×t) ...(1B)
则振荡信号S54A和S54B具有以下相位关系:
S54A=cos(2π×fIF×t) ...(2A)
S54B=sin(2π×fIF×t) ...(2B)
振荡信号S54A被提供到乘法电路55,并且振荡信号S54B被提供到切换电路56。与信号S54A和S54B的DC电平相等的DC电压V51也被施加到切换电路56上。此外,切换电路56还被连接成如图2所示的状态,并在FM接收测试模式中由微计算机36连接成与图2所示的相反的状态,从而将来自切换电路56的输出提供到乘法电路55。
在AM接收测试模式中,由于振荡信号S54A和S54B被提供到乘法电路55,因此乘法电路55输出一个信号S55,该信号S55的频率是振荡信号S54A和S54B的频率fIF的2倍。在FM接收测试模式中,由于振荡信号S54A和DC电压V51被提供到乘法电路55,因此乘法电路55输出具有振荡信号S54A的频率fIF的信号S55。
此信号S55被提供到可变分频电路57,该可变分频电路57将频率分成具有1/N频率的分频信号S57。该信号S57被提供到相位比较电路53。分频比N由微计算机36设置如下:
N=11...在AM接收测试模式中
N=25...在FM接收测试模式中
通过将分频信号S52的频率用作参考,相位比较电路53将信号S57的相位与信号S52的相位相比较,并将比较结果提供到低通滤波器58,该低通滤波器58输出具有与信号S57和S52间的相位差相对应的电平的DC电压。此电压被提供到VCO 54作为其控制信号。
在常规操作期间,由于施加到相位比较电路53的分频信号S52和S57相等,因此AM接收测试模式中的f52和f54由下式给出:
f52=f54×2/N,并且相应地
f54=f52×N/2
=10kHz×11/2
=55kHz
=AM广播接收模式中的中频fIF,
其中:
f52:分频信号S52的频率=10kHz
f54:VCO 54的振荡频率
在FM接收测试模式中,由于f52=f54/N;
f54=f52×N
=10kHz×25
=250kHz
=FM广播接收模式中的中频fIF。
即,VCO 54的振荡信号S54A和S54B的频率在AM接收测试模式中变得与AM广播接收模式中的中频fIF相等,在FM接收测试模式中变得与FM广播接收模式中的中频fIF相等。
振荡信号S54A和S54B被提供到混频电路61A和61B,并且从接收电路10的本振电路32输出的本振信号SLOA和SLOB也被提供到混频电路61A和61B。来自混频电路61A和61B的输出信号S61A和S61B被提供到计算电路62。
在此情况下,本振信号SLOA和SLOB的频率和相位由等式(1A)和(1B)给出,并且振荡信号S54A和S54B的频率和相位由等式(2A)和(2B)给出。因此,建立了以下等式:
2×S61A=2×SLOA×S54A
=sin(2π×(fLO+fIF)×t)+sin(2π×(fLO-fIF)×t)...(3A)
2×S61B=2×SLOB×S54B
=sin(2π×(fLO+fIF)×t)-sin(2π×(fLO-fIF)×t)...(3B)
当信号S61A被计算电路62加到信号S61B上时,其输出信号S62可由等式(3A)和(3B)表示为:
2×S62=2×(S61A+S61B)=sin(2π×(fLO+fIF)×t)...(4)
当信号S61B被计算电路62从信号S61A中减去时,其输出信号S62可表示为:
2×S62=2×(S61A-S61B)=sin(2π×(fLO-fIF)×t)...(5)
等式(4)中所示的信号S62是AM广播接收模式中的镜像频率fIMG,或者FM广播接收模式中的接收频率fRX(期望频率)。等式(5)中所示的信号S62是AM广播接收模式中的接收频率fRX(期望频率),或者FM广播接收模式中的镜像频率fIMG。
微计算机36向计算电路62提供指示出加或减的控制信号,以使得从计算电路62中输出等式(4)或(5)所示的信号S62。
此输出信号S62被提供到PLL滤波器63,该PLL滤波器63输出消除了不必要的分量的信号S63。
即,来自计算电路62的输出信号S62被提供到可变分频电路71,该可变分频电路71将频率分成具有1/M频率的分频信号。该分频信号被提供到相位比较电路72作为其参考信号。VCO 73的振荡信号S63被提供到可变分频电路74,该可变分频电路74将频率分成具有1/M频率的分频信号。该分频信号被提供到相位比较电路72。微计算机36在AM接收测试模式中将分频比设置成M=1,在FM接收测试模式中设置成M=8。
相位比较电路72的比较输出通过低通滤波器75被提供到VCO 73作为其控制信号。因此,VCO 73的振荡信号S63的频率等于输出信号S62的频率,并且振荡信号S63具有比信号S62更高的纯度。
信号S63被提供到衰减电路64,以使之具有预定电平。作为开关电路的FET Q61的源-漏路径连接在衰减电路64的输出端与接收电路10的天线调谐电路11A和11F之间。微计算机36将预定的控制信号施加到FETQ61的栅极。
来自VCO 54的振荡信号S54A和S54B被施加到电平调节电阻器R51和R52的一端。作为开关电路的FET Q51和FET Q52的源-漏路径分别连接在电阻器R51和R52的另一端与接收电路10的带通滤波器15A和15B的输入端之间。微计算机36将预定的控制信号施加到FET Q51和Q52的栅极。
如前所述,除某些电路以外,该测试信号发生电路40与接收电路10一起制造在单片IC中。
(2-2)操作和使用方法
当通过使用测试信号发生电路40来调节接收电路10的接收频率、中频等时,执行以下操作和处理。
(2-2-1)AM接收频率的检查和调节
在此情况下,操作开关37被操作,以将接收电路10设置到AM广播接收模式,并将测试信号发生电路40设置到AM接收测试模式。微计算机36提供控制信号,以将操作电路62设置到减法模式,并使FET Q61导通,FET Q51和Q52关断。
因此,计算电路62输出上述等式(5)所示的减法信号S62。通过衰减电路64和FET Q61,该信号S62作为测试信号被提供到接收电路10的天线调谐电路11A。
因此,可以检查和调节接收频率,即天线调谐电路11A的中心频率。可以以AM广播的频率步长将测试信号S62的频率改变到任意频率,这是因为微计算机36改变本振电路32的本振频率fLO。
(2-2-2)AM接收镜像干扰特性的检查
在此情况下,在(2-2-1)的状态下,计算电路62的处理改变到加法模式。因此,计算电路62输出上述等式(4)所示的加法信号S62。该信号S62作为测试信号被提供到接收电路10的天线调谐电路11A。因此,可以检查镜像干扰特性。
(2-2-3)AM接收中频的检查和调节
在此情况下,在(2-2-1)的状态下,微计算机36提供控制信号,以使FET Q61关断,FET Q51和Q52导通。因此,通过FET Q51和Q52,VCO 54的振荡信号S54A和S54B被提供到接收电路10的带通滤波器15A和15B作为测试信号。
在此情况下,振荡信号S54A和S54B的频率f54等于AM接收模式中的常规中频fIF。微计算机36改变可变分频电路57的分频比N,例如在N=3到80的范围内递增1,使得可以以5kHz的步长来改变振荡信号S54B的频率f54,如图3所示。
因此,可以检查和调节振荡信号S54A和S54B的频率f54,即中频滤波器15A、15B和19的中心频率。
(2-2-4)FM接收的检查和调节
在此情况下,操作开关37被操作,以将接收电路10设置到FM广播接收模式,并将测试信号发生电路40设置到FM接收测试模式。
微计算机36提供控制信号,以将运算电路62设置到加法或减法模式,并使FET Q61导通,FET Q51和Q52关断,或者相反地使FET Q61关断,FET Q51和Q52导通。在这些条件下,类似于上述AM接收检查和调节,可以检查和调节FM接收频率和中频,以及检查镜像干扰特性。
在中频检查和调节期间,可以以10kHz的步长改变振荡信号S54A和S54B的频率f54,如图3所示。
(3)总结
利用上述测试信号发生电路40,可以生成对接收机进行检查和调节所需的测试信号。在此情况下,由于从中生成测试信号S63的信号S62是通过将从接收电路10提供的本振信号SLOA和SLOB的频率fLO移动中频量来生成的,因此可以通过改变本振信号SLOA和SLOB的频率fLO,以AM或FM广播的频率步长来改变测试信号S63的频率。
AM接收中频的检查和调节,即带通滤波器15A、15B和19的中心频率的检查和调节,是通过使用测试信号S63,以5kHz的步长执行的。即使在此情况下,由于在相位比较电路53处的相位比较是通过使用具有10kHz频率的信号S52来执行的,因此PLL电路50的环带宽可以被扩大,并且相位噪声可以被抑制得较低。
对于AM和FM接收频率的检查和调节,测试信号S63是通过使用本振信号SLOA和SLOB,对PLL电路50的振荡信号S54A和S54B进行变频而形成的。因此,即使信号S54A和S54B含有相位噪声,测试信号S63中的相位噪声所占据的带宽也仍然很窄,因此在实践中可以毫无问题地使用此测试信号。
PLL电路50生成具有中频fIF的振荡信号S54A和S54B,并且测试信号S63是通过使用本振信号SLOA和SLOB,对振荡信号S54A和S54B进行变频而形成的。因此,可以以AM和FM广播接收频带两者的接收频率的频率步长来改变测试信号S63的频率。出于同样的原因,由于接收频率fRX被设置成执行检查的频率,因此测试信号S63的频率自动跟随,并被设置为执行检查或调节的频率。因此,设置所需的劳动很少,并可以快速地执行检查和调节。
通过PLL滤波器63传递输出自计算电路62的信号S62,从而形成测试信号S63。因此,通过将PLL滤波器63的环频率带宽设置成一个与中频fIF相比足够小且不受相位噪声影响的值,可以使测试信S63号具有很高的纯度。例如,如果中频fIF是50kHz,则接收频率fRX与镜像频率之间的差是100kHz,使得在约10kHz的环带宽上可以获得30dB或更高的衰减。
因此,可以更适当地,或者甚至对于具有优良特性的接收电路来说也可以更适当地执行检查和调节。具体而言,由于接收电路10通过利用中频信号SIFA和SIFB之间的相位差来消除镜像分量,因此测试信号S63具有很高的纯度,使得可以更适当地执行对镜像干扰特性的检查和调节。
计算电路62的输出信号S62可以作为测试信号,通过衰减电路64提供到天线调谐电路11A和11F。如果使用多相滤波器,则对中频信号的抽取和移相可以同时实现。带通滤波器15A和移相电路16A可以由第一多相滤波器组成,带通滤波器15B和移相电路16B可以由第二多相滤波器组成。
根据本发明,可以容易地形成对接收电路进行检查和调节所需的测试信号。可以获得在广阔的可变频带中具有较低相位噪声的测试信号。由于可以获得具有高纯度的测试信号,因此可以进行适当的检查和调节,甚至可以调节具有优良特性的接收电路。
本申请包括2004年4月6日向日本特许厅递交的日本专利申请JP2004-111691所涉及的主题,其全部内同通过引用结合于此。
Claims (7)
1.一种测试信号发生电路,包括:
调谐电路,用于拾取具有期望频率的接收信号;
本振电路,用于形成一对正交本振信号;
一对第一混频电路,用于通过使用所述一对本振信号,将所述接收信号变频为一对中频信号;
一对中频滤波器,用于从所述一对第一混频电路的输出信号中抽取所述一对中频信号;
一对移相电路,用于移动由所述一对中频滤波器抽取的所述一对中频信号的相位;
第一计算电路,用于通过将所述一对移相电路的输出信号相加或相减,输出中频信号;
信号形成电路,用于形成具有与所述一对中频信号的中频相等的频率的一对正交交流信号;
一对第二混频电路,用于接收所述一对交流信号和所述一对本振信号;和
第二计算电路,用于通过将所述一对第二混频电路的输出相加或相减,输出具有期望频率或镜像频率的信号,其中
所述第二计算电路的输出信号被提供到所述调谐电路作为测试信号。
2.根据权利要求1所述的测试信号发生电路,还包括:
锁相环,其中
通过将所述第二计算电路的输出信号提供到所述锁相环,具有与来自所述第二计算电路的输出信号频率相等的频率的信号被输出作为所述测试信号。
3.根据权利要求1或2所述的测试信号发生电路,其中
所述一对交流信号被提供到所述一对中频滤波器。
4.一种接收电路,包括:
调谐电路,用于拾取具有期望频率的接收信号;
本振电路,用于形成一对正交本振信号;
一对第一混频电路,用于通过使用所述一对本振信号,将所述接收信号变频为一对中频信号;
一对中频滤波器,用于从所述一对第一混频电路的输出信号中抽取所述一对中频信号;
一对移相电路,用于移动由所述一对中频滤波器抽取的所述一对中频信号的相位;
第一计算电路,用于通过将所述一对移相电路的输出信号相加或相减,输出中频信号;
信号形成电路,用于形成具有与所述一对中频信号的中频相等的频率的一对正交交流信号;
一对第二混频电路,用于接收所述一对交流信号和所述一对本振信号;和
第二计算电路,用于通过将所述一对第二混频电路的输出相加或相减,输出具有期望频率或镜像频率的信号,其中
所述第二计算电路的输出信号被提供到所述调谐电路作为测试信号。
5.根据权利要求4所述的接收电路,还包括:
锁相环,其中
通过将所述第二计算电路的输出信号提供到所述锁相环,具有与来自所述第二计算电路的输出信号相同频率的信号被输出作为所述测试信号。
6.根据权利要求4或5所述的接收电路,其中
所述一对交流信号被提供到所述一对中频滤波器。
7.根据权利要求4、5或6所述的接收电路,其中
除了所述调谐电路以外,整个所述接收电路以单片集成电路的形式制造。
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