CN1647165A - 光学信息记录方法、光学信息记录装置和光学信息记录媒体 - Google Patents

光学信息记录方法、光学信息记录装置和光学信息记录媒体 Download PDF

Info

Publication number
CN1647165A
CN1647165A CNA038087820A CN03808782A CN1647165A CN 1647165 A CN1647165 A CN 1647165A CN A038087820 A CNA038087820 A CN A038087820A CN 03808782 A CN03808782 A CN 03808782A CN 1647165 A CN1647165 A CN 1647165A
Authority
CN
China
Prior art keywords
compensation
recording
record
optical information
information recording
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CNA038087820A
Other languages
English (en)
Other versions
CN100334619C (zh
Inventor
鸣海建治
西内健一
古川惠昭
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Publication of CN1647165A publication Critical patent/CN1647165A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN100334619C publication Critical patent/CN100334619C/zh
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/004—Recording, reproducing or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
    • G11B7/0045—Recording
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/004—Recording, reproducing or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
    • G11B7/006—Overwriting
    • G11B7/0062—Overwriting strategies, e.g. recording pulse sequences with erasing level used for phase-change media
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/007—Arrangement of the information on the record carrier, e.g. form of tracks, actual track shape, e.g. wobbled, or cross-section, e.g. v-shaped; Sequential information structures, e.g. sectoring or header formats within a track
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
    • G11B7/125—Optical beam sources therefor, e.g. laser control circuitry specially adapted for optical storage devices; Modulators, e.g. means for controlling the size or intensity of optical spots or optical traces
    • G11B7/126—Circuits, methods or arrangements for laser control or stabilisation
    • G11B7/1267—Power calibration
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/24—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material
    • G11B7/24094—Indication parts or information parts for identification
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/004—Recording, reproducing or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
    • G11B7/0045—Recording
    • G11B7/00456—Recording strategies, e.g. pulse sequences
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/007—Arrangement of the information on the record carrier, e.g. form of tracks, actual track shape, e.g. wobbled, or cross-section, e.g. v-shaped; Sequential information structures, e.g. sectoring or header formats within a track
    • G11B7/00736—Auxiliary data, e.g. lead-in, lead-out, Power Calibration Area [PCA], Burst Cutting Area [BCA], control information

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Optical Recording Or Reproduction (AREA)
  • Optical Head (AREA)

Abstract

本发明提供一种光学信息记录方法和装置，当对信息记录条件或信息记录特性不同的记录媒体记录信息时，可短时间高效率地确定适当的记录参数。通过识别光盘(1)的信息记录条件或信息记录特性、以依据被识别的信息记录条件或信息记录特性的补偿精度，补偿记录脉冲位置，由此，在规定位置上形成记录标记。

Description

光学信息记录方法、光学信息记录装置和光学信息记录媒体
技术领域
本发明涉及例如光盘等、光学记录、再现信息的光学信息记录媒体、使用光学信息记录媒体的信息记录方法和信息记录装置。
背景技术
近年来，作为光学记录信息的媒体被提案并开发了光盘、光卡、光磁带等。其中，光盘作为能大容量且高密度地记录、再现信息的媒体而被关注。在可改写型光盘的一个方式中，有相变型光盘。在相变型光盘中，为了得到期望的热、光学特性，通常形成除记录膜外、还使电介质膜、反射膜等组合的多层膜结构。用于该相变型光盘的记录膜基于激光的加热条件和冷却条件而变为非晶状态和结晶状态之一。在非晶状态和结晶状态之间具有可逆性。在上述非晶状态和结晶状态中，记录膜的光学常数(折射率和衰减系数)不同。在相变型光盘中，根据信息信号，在记录膜上选择地形成所述两个状态，利用作为结果生成的光学变化(透过率或反射率变化)，进行信息信号的记录、再现。
为了得到上述两个状态，用以下的方法来记录信息信号。将由光头汇聚的激光(功率电平Pp)脉冲状地照射于光盘的记录膜(将之称为记录脉冲)，使记录膜的温度上升。一旦温度超过熔点，则记录膜熔融，熔融部分在通过激光的同时，被迅速冷却，变为非晶状态的记录标记(或称为标记)。另外，将该功率电平Pp称为峰值功率。此外，若汇聚强度能使记录膜的温度上升到结晶温度以下、熔点以下的温度左右的激光(功率电平Pb，Pp＜Pb)并照射，则照射部的记录膜变为结晶状态。另外，将该功率电平Pb称为偏置功率。将这些峰值功率和偏置功率统称为记录功率。
由此，在光盘的轨道上，形成由对应于记录数据信号的非晶区域构成的记录标记、和由结晶区域的非标记部(称之为空隙)的记录图案。另外，通过利用结晶区域与非晶区域的光学特性的差异，可再现信息信号。
另外，近年来，在标记位置记录(也称为PPM记录)方式中，多使用标记边缘记录(也称为PWM记录)方式。在标记位置记录中，仅记录标记本身的位置持有信息，相反，在标记边缘记录中，记录标记的边缘的前端和后端双方都持有信息，所以具有记录线密度提高的优点。
在标记边缘记录方式的情况下，使用如下方法，将记录长标记时的记录脉冲分解成多个记录脉冲串(称之为多脉冲)，使开始的脉冲(称之为前端脉冲)的宽度比中间脉冲的宽度或最后的脉冲(称之为后端脉冲)的宽度大，进行记录。这是因为考虑从标记前部传递的多余热的影响，在记录标记的后部时提供给记录膜的热量比记录标记前部时的少，从而减轻记录标记形状的变形，更精密地记录标记。
但是，在标记边缘记录方式的情况下，光盘的热特性差异对记录标记本身的形成状态或记录标记间的热干涉程度造成影响。即，即便用相同的记录脉冲波形进行记录，每个盘中形成的记录标记的形状也不同。结果，由于盘不同，记录标记边缘偏离理想的位置，再现的信号品质降低。因此，提案有如下的方法，即通过相对各盘将记录功率或前端脉冲边缘位置或后端脉冲边缘位置进行最佳补偿(校正)，无论对哪个盘，都可在理想的边缘位置对记录标记进行记录。
作为前端脉冲边缘位置或后端脉冲边缘位置的补偿方法，提案有如下的方法，即将对应于记录标记的编码长度(称之为记录编码长度)和对应于记录标记的前后间隙的编码长度(分别称之为前编码长度、后编码长度)的组合形成补偿表，根据对补偿表内的各个组合(将之称为补偿表的要素)的补偿值，补偿前端脉冲边缘位置或后端脉冲边缘位置。
另外，作为用于补偿前端脉冲边缘位置或后端脉冲边缘位置的测试记录方法，公开了如下方法，即，在记录实际的信息信号之前，基于具有特定周期的数据图案(将之称为测试图案)进行记录，之后，再现记录的测试信号，测定其再现信号，求出记录标记边缘的偏移量，由此补偿前端脉冲边缘位置或后端脉冲边缘位置。
另外，上述现有方法例如在以下的专利文献1中公开。
专利文献1：国际公开第00/57408号文献
但是，上述现有方法中，对于记录特性或记录条件不同的光盘，总是在经过一连串相同的测试记录工序后，确定补偿表。因此，例如在光盘的热干涉小，对于每个补偿表的要素，尽管未补偿前端脉冲边缘位置或后端脉冲边缘位置却仍得到充分的再现信号品质的情况下，实质上经过多余的测试记录工序，结果，存在记录再现装置在实际上变为可记录信息信号的状态之前花费时间的问题。
发明内容
为了解决这些现有问题，本发明的目的在于提供一种可正确进行信息的记录再现的光学信息记录方法和装置，当对信息记录条件或信息记录特性不同的记录媒体记录信息时，可短时间高效率地确定适当的记录参数。
为了实现上述目的，本发明的光学信息记录方法是在光学信息记录媒体上记录信息的光学信息记录方法，其特征在于：包含识别工序，识别所述光学信息记录媒体的信息记录条件或信息记录特性；和记录脉冲补偿工序，为了在预定位置上形成记录标记，补偿记录脉冲位置，在所述记录脉冲补偿工序中，根据所述识别工序中识别的信息记录条件或信息记录特性，使所述记录脉冲位置的补偿精度不同。
标记的记录方式可以是标记位置记录方式或标记边缘记录方式之一。所谓记录脉冲位置的补偿可以是记录脉冲的边缘位置的补偿，也可以是记录脉冲本身位置的补偿。所谓信息记录条件例如是指记录密度、记录线速度等，但不限于此。另外，所谓信息记录特性例如是指记录再现特性的好坏，具体而言是指再现信号的跳动或比特误差率或重复记录再现特性等，但不限于此。
根据所述方法，因为根据光学信息记录媒体的信息记录条件或信息记录特性来使记录脉冲位置的补偿精度变化，所以可在短时间内高效率地确定适当的记录参数，可正确地记录再现信息。
另外，在本发明的光学信息记录方法中，最好使用具有两层以上信息层的光学信息记录媒体作为所述光学信息记录媒体，在所述识别工序之前，还包含信息层特定工序，特定所述光学信息记录媒体中要记录信息的信息层，在所述识别工序中，识别有关由述信息层特定工序特定的信息层的信息记录条件或信息记录特性，在所述记录脉冲补偿工序中，根据所述识别工序中识别的信息记录条件或信息记录特性，使对由所述信息层特定工序特定的信息层记录信息用的记录脉冲位置的补偿精度不同。
根据该方法，因为根据各信息层的记录条件或记录特性的差异来使记录脉冲位置的补偿精度变化，所以可在短时间内高效率地确定适当的记录参数，可正确地记录再现信息。
另外，在所述本发明的光学信息记录方法中，最好使用具有测试记录区域的光学信息记录媒体作为光学信息记录媒体，还包含测试记录工序，使用由所述记录脉冲补偿工序补偿的记录脉冲，在所述测试记录区域中记录测试记录用图案；和补偿量确定工序，从所述测试记录区域再现测试记录用图案，根据再现结果，确定所述记录脉冲位置的补偿量。
由此，因为根据光学信息记录媒体或各信息层的记录条件或记录特性的差异来使用于形成测试记录用图案的记录脉冲位置的补偿精度变化，所以可在短时间内高效率地进行测试记录，确定适当的记录参数，可正确地记录再现信息。
另外，在本发明的光学信息记录方法中，最好使用具有控制轨道区域的光学信息记录媒体作为所述光学信息记录媒体，所述识别工序包含识别符检测工序，从所述控制轨道区域再现信息，从再现的信息中，检测表示该光学信息记录媒体的信息记录条件或信息记录特性的识别符，在所述记录脉冲补偿工序中，根据由所述识别符检测工序检测的识别符表示的信息记录条件或信息记录特性，使所述记录脉冲位置的补偿精度不同。
根据该方法，可通过根据记录在光学信息记录媒体中的识别符来使补偿精度不同，从而缩短确定记录参数所需的时间，可正确地记录再现信息。另外，识别符不限于直接表示信息记录条件或信息记录特性，也可以间接表示。
另外，在本发明的光学信息记录方法中，最好使用具有测试记录区域的光学信息记录媒体作为所述光学信息记录媒体，所述识别工序包含测试记录工序，向所述测试记录区域记录测试记录用图案；和特性判断工序，从所述测试记录区域再现测试记录用图案，测定再现信号的跳动或比特误差率，由此判断该光学信息记录媒体的信息记录特性，在所述记录脉冲补偿工序中，根据所述特性判断工序判断的信息记录特性，使所述记录脉冲位置的补偿精度不同。
根据该方法，即便在光学信息记录媒体不具有识别符时，也可通过按照测试记录的结果来使补偿精度不同，从而缩短确定记录参数所需的时间，可正确地记录再现信息。另外，此时，最好以低的补偿精度来测试记录测试记录用图案，仅在再现信号的跳动或比特误差率比一定值高时，例如通过增加补偿表的表要素数量等来提高补偿精度。相反，最好以高的补偿精度来测试记录测试记录用图案，仅在再现信号的跳动或比特误差率比一定值低时，例如通过减少补偿表的表要素数量等来降低补偿精度。
另外，为了实现上述目的，本发明的光学信息记录装置是在光学信息记录媒体上记录信息的光学信息记录装置，其特征在于：配备识别单元，识别所述光学信息记录媒体的信息记录条件或信息记录特性；和记录脉冲补偿单元，为了在预定位置上形成记录标记，补偿记录脉冲位置，所述记录脉冲补偿单元根据所述识别单元识别的信息记录条件或信息记录特性，使所述记录脉冲位置的补偿精度不同。
根据该装置，因为根据光学信息记录媒体的信息记录条件或信息记录特性来使记录脉冲位置的补偿精度变化，所以可在短时间内高效率地确定适当的记录参数，可正确地记录再现信息。
另外，在本发明的所述光学信息记录装置中，最好使用具有两层以上信息层的光学信息记录媒体作为所述光学信息记录媒体，还配备信息层特定单元，特定所述光学信息记录媒体中要记录信息的信息层，所述识别单元识别有关由述信息层特定单元特定的信息层的信息记录条件或信息记录特性，所述记录脉冲补偿单元根据所述识别单元识别的信息记录条件或信息记录特性，使对由所述信息层特定工序特定的信息层记录信息用的记录脉冲位置的补偿精度不同。
根据该结构，因为根据各信息层的记录条件或记录特性的差异来使记录脉冲位置的补偿精度变化，所以可在短时间内高效率地确定适当的记录参数，可正确地记录再现信息。
另外，在本发明的所述光学信息记录装置中，最好使用具有控制轨道区域的光学信息记录媒体作为所述光学信息记录媒体，所述识别单元包含识别符检测单元，从所述控制轨道区域再现信息，从再现的信息中，检测表示该光学信息记录媒体的信息记录条件或信息记录特性的识别符，所述记录脉冲补偿单元根据由所述识别符检测单元检测的识别符表示的信息记录条件或信息记录特性，使所述记录脉冲位置的补偿精度不同。
根据该结构，可通过根据记录在光学信息记录媒体中的识别符来使补偿精度不同，从而缩短确定记录参数所需的时间，可正确地记录再现信息。
另外，在本发明的所述光学信息记录装置中，最好使用具有测试记录区域的光学信息记录媒体作为所述光学信息记录媒体，所述识别单元包含测试记录单元，向所述测试记录区域记录测试记录用图案；和特性判断单元，从所述测试记录区域再现测试记录用图案，测定再现信号的跳动或比特误差率，由此判断该光学信息记录媒体的信息记录特性，所述记录脉冲补偿单元根据所述特性判断单元判断的信息记录特性，使所述记录脉冲位置的补偿精度不同。
根据该结构，即便在光学信息记录媒体不具有识别符时，也可通过按照测试记录的结果来使补偿精度不同，从而缩短确定记录参数所需的时间，可正确地记录再现信息。另外，此时，最好以低的补偿精度来测试记录测试记录用图案，仅在再现信号的跳动或比特误差率比一定值高时，例如通过增加补偿表的表要素数量等来提高补偿精度。相反，最好以高的补偿精度来测试记录测试记录用图案，仅在再现信号的跳动或比特误差率比一定值低时，例如通过减少补偿表的表要素数量等来降低补偿精度。
另外，为了实现上述目的，本发明的光学信息记录媒体的其特征在于：对应于多个信息记录条件或信息记录特性，具有多个补偿精度彼此不同的补偿表。
根据该媒体，因为通过媒体持有的补偿表的读出结果来直接使补偿表的补偿精度变化后进行测试记录，所以可进一步缩短确定记录参数所需的时间，可正确地记录再现信息。
另外，最好所述光学信息记录媒体具有表示记录脉冲位置的补偿精度的识别符。
根据该媒体，因为可通过媒体的识别符的识别结果，使补偿表的补偿精度变化后进行测试记录，所以可缩短确定记录参数所需的时间，可正确地记录再现信息。
附图说明
图1是表示本发明实施方式1的记录再现装置的结构框图。
图2是表示所述实施方式1的记录再现装置的记录脉冲边缘补偿部的结构框图。
图3是表示所述实施方式1的光学信息记录媒体的结构俯视图。
图4是说明所述实施方式1的记录再现装置的动作流程图。
图5是表示所述实施方式1和本发明的实施方式2中、补偿(校正)记录脉冲边缘位置的一例的说明图。
图6是表示所述实施方式1和所述实施方式2中、补偿记录脉冲边缘位置的一例的说明图。
图7是表示所述实施方式1中、补偿记录脉冲边缘位置的一例的说明图。
图8是表示所述实施方式2的光学信息记录媒体的结构俯视图。
图9是表示本发明实施方式3的记录脉冲边缘补偿部的结构框图。
图10是说明所述实施方式3的记录再现装置的动作流程图。
图11是表示所述实施方式3补偿记录脉冲边缘位置的一例的说明图。
图12是表示本发明实施方式4的记录再现装置的结构框图。
图13是说明所述实施方式4的记录再现装置的动作流程图。
具体实施方式
下面，参照附图来说明本发明的实施方式。本发明的要点在于为了在预定位置形成记录标记，根据盘的记录特性或记录条件等各种条件，使记录脉冲位置的补偿精度变化。补偿精度如下所述，例如包含补偿表的要素数量、补偿表的分辨率等，但不限于此。
(实施方式1)
在本实施方式中，通过再现对应盘来判断表示盘的记录密度的识别符，在记录密度低的盘的情况下，使用要素数量少的补偿表来进行记录。由此，具有不经过多余的测试记录工序的优点。在本实施方式中，示出使补偿表的要素数量相对第1、第2、第3等3种记录密度不同的实例。各个记录密度具有如下的关系  (第1记录密度)＞(第2记录密度)＞(第3记录密度)。图1和图2是表示实现该实施方式1用的记录再现装置(光学信息记录装置)的示意结构框图。
该记录再现装置是使用光盘(光学信息记录媒体)1来进行信息的记录再现的装置，配备使光盘1旋转的主轴电机13、具有激光光源(未图示)、且使激光会聚在光盘1的期望部位的光头12。该记录再现装置整体的动作由系统控制电路2来控制。本实施方式的记录再现装置还具有对每个要素登录补偿表的信息的表登录存储器3。另外，补偿表的信息也可从光盘1读出后登录在表登录存储器3中，或在制造记录再现装置等时事先记录在表登录存储器3中。另外，图1中，示例表登录存储器3位于系统控制电路2的外部的结构，但也可构成为将表登录存储器3设置于系统控制电路2的内部。
该记录再现装置配备测试图案信号生成电路4，作为记录数据信号生成单元。测试图案信号生成电路4生成用于确定前端脉冲边缘位置和后端脉冲边缘位置的、具有特定周期的记录脉冲边缘位置确定用测试图案信号、或生成随机图案用的随机图案信号。另外，该记录再现装置具有使根据记录的信息信号的记录数据信号18产生的调制电路5，作为记录数据信号生成单元。
该记录再现装置还配备记录脉冲生成电路6，产生使用于驱动激光的记录脉冲信号19；和记录脉冲边缘补偿电路8，调整该记录脉冲生成电路6输出的记录脉冲信号19的前端脉冲边缘位置和后端脉冲边缘位置。
并且，设置激光驱动电路11，用于根据记录脉冲边缘补偿电路8输出的记录脉冲信号22，调制使光头12内的激光光源驱动的电流。
另外，上述记录再现装置具有再现信号处理电路14，作为从光盘1进行信息再现的再现单元，根据来自光盘1的反射光，进行波形均衡或二进制化的再现信号的波形处理；再现信号波形测定电路16，测定再现信号波形，检测再现信号波形的边缘定时；用于得到再现信息的解调电路15；和从光盘1具有的识别符得到光盘1的信息的识别符检测电路17。
图2是更详细表示图1中的记录脉冲边缘补偿电路8的结构图。记录脉冲边缘补偿电路8具有从记录脉冲信号中检测开始脉冲的开始脉冲检测电路201、检测多脉冲的多脉冲检测电路202、检测后端脉冲的后端脉冲检测电路203。另外，配备用于切换补偿表的要素数量的选择电路204和205、对32个要素设定记录脉冲边缘的延迟量的第1延迟量设定电路206和208、对8个要素设定记录脉冲边缘的延迟量的第2延迟量设定电路207和209、最终调整记录脉冲边缘的延迟电路210和211、将开始脉冲、多脉冲和后端脉冲的各信号波形相加的加法电路212。
图3中示出本实施方式中使用的光盘1(光学信息记录媒体)的俯视图。该光盘1通过在衬底(基板)中事先形成沟或相位凹坑(ピット)，成膜电介质膜、记录膜、反射膜(均省略图示)来制作。并且也可在成膜后的盘上粘接衬底(也称为盖衬底)。
衬底中使用玻璃、树脂等透明平板。或者也可将树脂溶于溶剂中后涂布，干燥。
作为电介质膜，使用SiO2、SiO、TiO2、MgO、GeO2等氧化物、Si3N4、BN、AlN等氮化物、ZnS、PbS等硫化物或其混合物。
作为用于记录膜中的材料，使用进行非晶·结晶间的相变的材料，例如SbTe类、InTe类、GeTeSn类、SbSe类、TeSeSb类、SnTeSe类、InSe类、TeGeSnO类、TeGeSnAu类、TeGeSnSb类、TeGeSb类等硫族化合物。也可使用Te-TeO2类、Te-TeO2-Au类、Te-TeO2-Pd类等氧化物类材料。在这些材料的情况下，在结晶(即相当于状态a)-非晶(即相当于状态b)之间产生相变。另外，也可以是AgZn类、InSb类等在结晶(状态a)-结晶(状态b)之间产生相变的金属化合物。
作为反射膜，使用Au、Ag、Al、Cu等金属材料或在预定波长下反射率高的电介质多层膜等。
作为成膜这些材料的方法，使用真空蒸镀法或溅射法等。
另外，该光盘1中具有用于将光盘1固定到主轴电机13的轴上的中心孔301。并且，该光盘1具有控制轨道区域302、测试记录区域303、数据区域304，作为物理格式。
控制轨道区域302用于向光学信息记录再现装置提供关于光盘1的信息，主要在导入光盘1时由装置再现。该控制轨道区域302中的信息的记录方式可以是事先作为相位凹坑形成于衬底中的方式，也可以是通过记录膜的光学变化来记录的方式。
该控制轨道区域302用于向光学信息记录再现装置提供关于光盘1的信息，主要在导入光盘1时由光学信息记录再现装置再现。对控制轨道区域302的信息的记录方式可以是事先作为相位凹坑形成于衬底中的方式，也可以是通过记录膜的光学变化来记录的方式。在控制轨道区域302中，例如记录表示盘的种类(可记录1次、可改写、仅特定区域可改写等)、盘的大小、记录密度、记录功率、盘的制造者信息、补偿表等的信息。
在控制轨道区域302内记录识别符305。作为识别符305，记录根据补偿精度的识别符。在该识别符中，例如盘的制造者在出厂前根据检查结果，记录表示该光盘1得到足够好的记录再现特性的补偿表的要素数量的信息。在本实施方式中，使用表示盘的记录密度的信息来作为识别符。该识别符305的记录方式与记录在控制轨道区域302中的信息一样，可以是相位凹坑的方式，也可以是记录膜的光学变化的方式。另外，识别符305存在于控制轨道区域302内在导入盘时可与其它盘信息同时由装置再现这点上是好的，但也可在光盘1上的其它区域中。
测试记录区域303是用于进行试写的区域，以便光学信息记录再现装置能相对光盘1以适当的记录功率或记录脉冲边缘位置记录。数据区域304是记录实际的信息信号的区域。
(实施方式1的动作)
下面，用图4的流程图、和图5-图7的动作图来说明本实施方式的记录再现装置的动作。
图4是表示本实施方式的动作的流程图。图5是表示在本实施方式中提高记录密度进行记录时的动作波形。在图5中，说明用(前编码长度7T-记录编码长度3T-后编码长度7T)、(前编码长度7T-记录编码长度5T-后编码长度3T)和(前编码长度3T-记录编码长度5T-后编码长度6T)的组合(即补偿表的各要素)来补偿前端脉冲与后端脉冲的边缘位置的动作。这里，T表示沟道时钟(チャネルクロック)周期。图5中，(a)表示沟道时钟信号，(b)表示记录数据信号18的波形，(c)表示记录脉冲信号19的波形，(d)表示脉冲边缘补偿后的记录脉冲信号22的波形。(e)表示由上述记录脉冲信号记录的标记的状态，501表示轨道，502表示记录标记。
在测试记录时，首先，通过寻迹动作工序(图4(a)所示步骤401，下面简称为S401)，根据系统控制电路2的指令，光头12在光盘1上的控制轨道区域302中寻迹。在控制轨道区域302中记录有表示对光盘1的记录密度的识别符。另外，在控制轨道区域302中还记录表示对光盘1的记录功率或补偿表的初始值的信息。根据该控制轨道区域302的信息，系统控制电路2在表登录存储器3中存储前端脉冲边缘位置和后端脉冲边缘位置的初始值。另外，系统控制电路2在记录脉冲边缘补偿电路8中设定该初始值。另外，系统控制电路2对激光驱动电路11事先设定记录功率。
接着，通过识别符再现工序(S402)，再现盘信息轨道，经再现信号处理电路14与解调电路15，将该再现信号发送到识别符检测电路17。之后，识别符检测电路17检测识别符的信息，并发送到系统控制电路2。系统控制电路2通过记录密度判断工序(S403)，判断应记录的密度，将根据判断的记录密度的切换控制信号20发送到记录脉冲边缘补偿电路8的选择电路204、205。
下面，在第1-第3各记录密度时分情况来描述记录密度判断工序(S403)的判断结果。
(实施方式1的动作-第1记录密度的情况)
在记录密度判断工序(S403)的判断结果是第1记录密度(即记录密度最高)的情况下，通过选择电路切换工序(S404)，将选择电路204和205分别切换到第1延迟量设定电路206和208侧。由此，变为可根据前编码长度与记录编码长度的组合、记录编码长度与后编码长度的组合来设定记录脉冲的边缘位置的状态。
用图2来更详细说明该选择电路切换工序(S404)的动作。选择电路204切换来自调制电路5的记录数据信号18，使之输入到第1延迟量设定电路206、208。延迟量设定电路206、208比较来自表登录存储器3的表设定信号21、与上述前编码长度与记录编码长度的组合或记录编码长度与后编码长度的组合，对延迟电路210和211设定记录脉冲边缘的补偿量。延迟电路210调整开始脉冲的前边缘，延迟电路211调整后端脉冲的后边缘，由此进行边缘位置的补偿。
此时，表登录存储器3中的补偿表的状态如(表1)和(表2)所示。
(表1)
前端边缘补偿量
                                记录编码长度
 3T 4T 5T 6T以上
前编码长度  3T  Δ(3，3)F Δ(3，4)F Δ(3，5)F Δ(3，6)F
 4T  Δ(4，3)F Δ(4，4)F Δ(4，5)F Δ(4，6)F
 5T  Δ(5，3)F Δ(5，4)F Δ(5，5)F Δ(5，6)F
 6T以上  Δ(6，3)F Δ(6，4)F Δ(6，5)F Δ(6，6)F
(表2)
后端边缘补偿量
                          记录编码长度
3T 4T 5T 6T以上
后编码长度   3T Δ(3，3)L Δ(4，3)L Δ(5，3)L Δ(6，3)L
  4T Δ(3，4)L Δ(4，4)L Δ(5，4)L Δ(6，4)L
  5T Δ(3，5)L Δ(4，5)L Δ(5，5)L Δ(6，5)L
  6T以上 Δ(3，6)L Δ(4，6)L Δ(5，6)L Δ(6，6)L
这些表表示最短编码长度为3T、最长编码长度为11T时的前端边缘位置和后端边缘位置的补偿量。
在本实施方式中使用的光盘的控制轨道区域中，作为信息，记录对6T以上总是使用相同补偿值的补偿表。因此，根据编码长度的组合，补偿表的要素数量为32个。
测试记录、边缘位置确定子程序(S405)是对该32个表要素确定边缘位置的工序，具体由S412-S416工序构成。即，通过测试图案切换工序(S412)，从系统控制电路2发送控制信号，以便以从测试图案信号生成电路4中送出用于确定规定表要素的补偿量的测试图案。
通过测试图案记录动作工序(S413)，记录脉冲生成电路6将从测试图案信号生成电路4送出的记录数据信号18(相当于图5的(b))变换成记录脉冲信号19(相当于图5的(c))。这是指检测记录数据信号18的信号反转间隔相当于沟道时钟周期T的多少倍，根据记录编码的长度，在规定定时产生规定个数和规定宽度的记录脉冲串。
另外，由记录脉冲边缘补偿电路8将记录脉冲串的前端脉冲边缘位置和后端脉冲边缘位置调整到规定值。即，如图5(d)所示，根据(表1)-(表2)的补偿表的各要素值来调整脉冲边缘，使(前编码长度7T-记录编码长度3T)的前端脉冲的前边缘变为Δ(6，3)F，(记录编码长度3T-后编码长度7T)的后端脉冲的后边缘变为Δ(6，3)L，(前编码长度7T-记录编码长度5T)的前端脉冲的前边缘变为Δ(6，5)F等。
激光驱动电路11通过根据经过记录脉冲边缘补偿电路8的、图5(d)所示的记录脉冲信号，调制激光的驱动电流，向测试区域303内的对应轨道进行测试记录。记录后如图5(e)所示，在轨道501上，在对应于沟道时钟整数倍的正规位置上，形成记录标记502的边缘。
在记录测试图案信号后，通过再现动作工序(S414)，由光头12再现对应轨道。再现信号处理电路14进行再现信号的波形均衡与二进制化。之后，通过信号定时测定工序(S415)，再现信号波形测定电路16切割二进制信号，测定再现信号反转间隔。边缘位置确定工序(S416)求出再现信号反转间隔与测试图案信号的信号反转间隔之差(即标记边缘的偏移量)，将补偿该差的量确定为对应表要素的补偿量。另外，也可以是如下动作，即在再现信号反转间隔与测试图案信号的信号反转间隔之差变为最小之前，不使补偿量变化，反复执行S413-S416的步骤。
系统控制电路2将设定中的边缘位置登录在系统控制电路2内的表登录存储器3中，作为边缘位置信息，结束对该组合表的要素的测试记录。并且，系统控制电路2通过表要素判断工序(S406)，判断是否对全部组合表的要素重复S405，在对(表1)和(表2)所示的32个全部表要素结束边缘位置的设定与登录后，结束测试记录，开始实际的信息信号的记录。
(实施方式1的动作-第2记录密度的情况)
另一方面，判断结果为第2记录密度(即比第1记录密度低)时的动作如下所示。通过选择电路切换工序(S408)，选择电路204切换来自调制电路5的记录数据信号18以输入到第2延迟量设定电路207和209。由此，变为可仅根据记录编码长度来设定记录脉冲的边缘位置的状态。
第2延迟量设定电路207和209比较来自表登录存储器3的表设定信号21与编码长度，对延迟电路210和211设定记录脉冲边缘的补偿量。与上述第1记录密度的情况一样，延迟电路211和212分别调整开始脉冲的前边缘与后端脉冲的后边缘，由此进行边缘位置的补偿。
此时，表登录存储器3中的补偿表的状态如(表3)和(表4)所示。根据编码长度的组合，补偿表的要素数量为8个。
(表3)
  记录编码长度     前端边缘补偿量
    3T     Δ3F
    4T     Δ4F
    5T     Δ5F
    6T以上     Δ6F
(表4)
  记录编码长度     前端边缘补偿量
    3T     Δ3L
    4T     Δ4L
    5T     Δ5L
    6T以上     Δ6L
另外，图6是表示本实施方式中用第2记录密度来记录于盘中时的动作波形。图6记录与图5相同的记录数据信号，但记录脉冲的边缘位置的补偿(校正)动作不同。即对记录编码长度3T和记录编码长度5T来进行边缘位置的补偿动作。
测试记录、边缘位置确定子程序(S405)是对上述8个表要素确定边缘位置的工序，由与上述高密度记录一样的工序构成。不同之处在于，第2记录脉冲边缘补偿电路9将记录脉冲串的前端脉冲边缘位置和后端脉冲边缘位置调整到规定值。即，如图5(d)所示，根据(表3)-(表4)的补偿表的各要素值来调整脉冲边缘，使记录编码长度3T的前端脉冲的前边缘变为Δ3F，记录编码长度3T的后端脉冲的后边缘变为Δ3L，记录编码长度5T的前端脉冲的前边缘变为Δ5F等。因此，表要素判定工序(S409)针对(表3)和(表4)中所示的8个表要素，判定边缘位置的设定和注册是否终了。
(实施方式1的动作-第3记录密度的情况)
并且，在判断结果为第3记录密度(即比第2记录密度低)的情况下，通过选择电路切换工序S411，分别将选择电路204和205直接送出到延迟电路210和211，不执行测试记录就结束。
图7是表示第3记录密度时的动作波形。图7记录与图5和图6相同的记录数据信号，但记录脉冲的边缘位置的补偿动作不同。图7(c)与(d)的波形相同，不经过记录脉冲的边缘位置调整工序。
采用上述方法基于如下理由。在以第2记录密度记录在盘中的情况下，在轨道方向上相邻的记录标记彼此的热干涉的影响与由第1记录密度记录的情况相比小，所以前编码长度的差异或后编码长度的差异造成的记录标记的边缘位置的变动小到可以忽视。因此，即便使用仅根据记录编码长度来补偿记录脉冲边缘的要素数量8的补偿表，也可得到充分的再现信号品质。并且，在第3记录密度下，记录编码长度的差异引起的记录标记的边缘位置的变动也小到可以忽视。因此，尽管不对记录编码长度、前编码长度和后编码长度调整记录脉冲的边缘位置，也可得到充分的再现信号品质。
由此，在以低密度记录在盘中的情况下，不经过多余的测试记录工序。因此，可缩短测试记录的时间。
(实施方式1的比较实验)
为了明确本实施方式的效果，下面说明使记录密度不同后执行的比较实验(实施例)。在光盘1的衬底中，使用直径为120mm、厚度为0.6mm的聚碳酸酯树脂。在该衬底中，事先将凸凹形状的相位凹坑预格式化为控制轨道区域。在控制轨道区域中记录表示对盘的记录密度的信息，作为识别符。
为了根据不同记录密度的记录再现，在光盘1中记录表示两种不同记录密度的识别符。这里，作为第1记录密度，设最短标记长度为0.35微米，作为第2记录密度，设最短标记长度为0.55微米，记录作为用两个记录密度记录再现的盘的信息。
在树脂衬底的数据区域内的扇区区域中形成记录用引导沟。在扇区区域与扇区区域之间，形成表示地址信息的相位凹坑。引导沟的间距为1.4微米。通过溅射法，在衬底上成膜4层保护膜、记录膜、保护膜、反射膜，并在其上粘接保护衬底。使用ZnS-SiO2作为保护膜，使用GeSbTe作为记录膜，使用Al作为反射膜。
通过主轴电机13，以线速度8.2m/s使盘1旋转，用数值孔径(NA)为0.6的物镜会聚波长为650nm的激光。
设记录再现时的激光的功率为Pp＝10.5mW，Pb＝4mW，Pr＝1mW。记录信息的调制方式使用(8-16)脉冲宽度调制。根据记录密度来使沟道时钟频率变化。
为了比较，设补偿表的要素数量为(表1)和(表2)所示的32个的情况、与(表3)或(表4)所示的8个的情况两种。设各要素的补偿分辨率为0.5ns。另外，所谓补偿分辨率是指补偿量的增减程度的最小单位。该条件下的(表1)-(表4)的补偿表的具体实例在最短标记长度为0.55微米时示为(表5)-(表8)，在最短标记长度为0.35微米时示为(表9)-(表12)。
(表5)
前端边缘补偿量[ns]
                   记录编码长度
    3T     4T     5T   6T以上
前编码长度   3T     -3     -1     -1     -1
  4T     -3     -1     -1     -1
  5T     -2     -1     -1     0
  6T以上     -2     -1     -1     0
(表6)
后端边缘补偿量[ns]
                  记录编码长度
    3T     4T     5T     6T以上
  后编码长度   3T     0     2     2     3
  4T     0     2     2     3
  5T     1     2     2     3
  6T以上     1     2     3     3
(表7)
    记录编码长度   前端边缘补偿量[ns]
    3T     -2
    4T     -1
    5T     -1
    6T以上     0
(表8)
    记录编码长度   后端边缘补偿量[ns]
    3T     1
    4T     2
    5T     3
    6T以上     3
(表9)
前端边缘补偿量[ns]
           记录编码长度
  3T   4T   5T   6T以上
  前编码长度   3T   -5   -3   -2   -2
  4T   -4   -2   -2   -2
  5T   -3   -2   -1   -1
  6T以上   -2   -1   -1   0
(表10)
后端边缘补偿量[ns]
           记录编码长度
    3T     4T     5T   6T以上
后编码长度   3T     -1     1     1   2
  4T     0     1     2   2
  5T     0     2     2   3
  6T以上     1     2     3   3
(表11)
  记录编码长度 前端边缘补偿量[ns]
    3T     -3
    4T     -2
    5T     -1
    6T以上     -1
(表12)
  记录编码长度 后端边缘补偿量[ns]
    3T     0
    4T     2
    5T     2
    6T以上     3
在使用上述条件执行测试记录后，记录10次随机信号，通过时间间隔分析仪来测定再现信号的跳动(jitter)。将相对各信息层、补偿表的要素数量的跳动的测定结果示于(表13)中。
(表13)
        要素数量
  8个   32个
最短标记长度 0.35μm  11.0％   8.9％
0.55μm   6.8％   6.5％
通过(表13)，在最短标记长度为0.55微米时，无论8个或32个哪个要素数量，都可得到6％左右的跳动。相反，在最短标记长度为0.35微米时，32个要素数量下，跳动为8％左右，而8个时恶化至11.0％。这是因为在最短标记长度为0.35微米时，记录标记间的间隙长度变短，沟道时钟周期也变小。因此，因为热干涉的变化相对前编码长度或后编码长度的变化相对变大，所以认为若不使用作为前编码长度或后编码长度与记录编码长度的组合的补偿表，则得不到期望的跳动。因此，从减少测试记录时间的观点看，最好在最短标记长度为0.55微米时，将补偿表的要素数量设为8个，从得到良好的跳动值的观点看，最好在最短标记长度为0.35微米时，将补偿表的要素数量设为32个。
这样，在本实施方式中，通过盘的识别符的识别结果，当以低的记录密度记录时，减少表的要素数量来进行测试记录，所以可得到缩短测试记录所需的时间等特别的效果。
另外，在上述实施方式中，最好根据记录于盘中的线速度来使补偿表的要素数量不同。例如，在以相同沟道时钟频率执行记录动作的情况下，线速度快，则记录密度低，或者在记录时记录膜中难以积累热，所以记录标记的边缘位置难以受到热干涉的影响。因此，尽管不使用作为前编码长度或后编码长度与记录编码长度的组合的补偿表，也可得到良好的跳动。由此，可减少补偿表的要素数量，缩短测试记录所需的时间。
另外，在上述实施方式中，通过识别符的识别结果，使表的要素数量本身变化，由此切换补偿精度，但也可以通过使表的要素数量相同不变，使规定的表要素值相等，切换补偿精度。例如，在(表1)和(表2)的表中，若如
Δ(3，3)F＝Δ(4，3)F＝Δ(5，3)F＝Δ(6，3)F
Δ(3，4)F＝Δ(4，4)F＝Δ(5，4)F＝Δ(6，4)F
…
Δ(6，3)L＝Δ(6，4)L＝Δ(6，5)L＝Δ(6，6)L
那样使表要素的值相等，则得到与(表3)或(表4)的补偿表一样的效果。
另外，在上述实施方式的动作下，当在第3记录密度时不经过记录脉冲边缘位置的调整工序，而也可与编码长度无关，一律调整记录脉冲边缘位置。此时，补偿表如(表14)和(表15)所示，具有总计两个要素数量。此时，可由第3记录密度得到更好的记录再现特性。
(表14)
  前端边缘补偿量
    ΔF
(表15)
    后端边缘补偿量
    ΔL
(实施方式2)
在实施方式1所述的方式外，在盘的记录特性不同的情况下，使补偿表的要素数量不同时，也可得到同样的特别效果。即，在即便记录密度相等而盘本身具有热干涉小的记录特性的情况下，即便减小补偿表的要素数量，记录标记的边缘位置变动也小到可以忽视。因此，可缩短测试记录所需的时间。
下面，作为盘的记录特性不同时的最典型的实例，说明根据多层媒体的各信息层来使补偿表的要素数量不同的实施方式、具有两层信息层的光盘的实施方式。
(实施方式2的结构和动作)
图8中示出本实施方式中使用的光盘1(光学信息记录媒体)的俯视图。图8中，为了说明光盘内部，以切掉光盘1的一部分的状态来表示。该光盘由从记录再现用激光的入射侧看位于面前的第1信息层801、和位于里面的第信息层802构成。识别符305独立存在于各信息层中，记录根据补偿精度的识别符。
本实施方式中的记录再现装置的结构和动作除识别符检测电路检测存在于各信息层中的识别符外，与实施方式1一样。
(实施方式2的比较实验)
下面，说明实施方式2中的比较实验(实施例)。如下执行光盘1的制作。作为衬底，使用直径为120mm、厚度为1.1mm的聚碳酸酯树脂，在表面形成螺旋状的宽度为0.25微米、间距为0.32微米、深度为20nm的沟。另外，在该衬底中，事先将凸凹形状的相位凹坑预格式化为控制轨道区域。
第2信息层802形成于该衬底的表面上，顺序成膜反射层Ag合金、电介质层ZnS-SiO2、记录层GeSbTe、电介质层ZnS-SiO2。
接着，形成转录与衬底同样的沟形状的中间层。并且，作为第1信息层801，顺序成膜电介质层AlN、电介质层ZnS-SiO2、记录层GeSbTe、电介质层ZnS-SiO2。在面前的信息层中不使用反射层是为了提高透过率。
最后，通过紫外线固化树脂来粘接由聚碳酸酯构成的薄片。设粘接部的厚度与薄片的厚度共计为0.1mm。
另外，在各信息层的控制轨道区域中，以相位凹坑的方式来记录表示各信息层的补偿精度的信息，作为识别符305。在面前的信息层与里面的信息层中，记录的识别符信息不同。
使用该盘来进行记录再现实验。以线速度5m/s使盘旋转，用数值孔径(NA)为0.85的物镜会聚波长为405nm的半导体激光，照射到盘的任一信息层。
作为记录再现时的调制编码，使用(8-16)调制，多脉冲化调制后的信号，使半导体激光器发光。设3T的标记长度为0.20微米。
为了比较，设补偿表的要素数量为(表1)和(表2)所示的32个的情况、与(表3)或(表4)所示的8个的情况两种。设各要素的补偿分辨率为0.5ns。
在使用上述条件执行测试记录后，记录10次随机信号，通过时间间隔分析仪来测定再现信号的跳动。将相对各信息层、补偿表的要素数量的跳动的测定结果示于(表16)中。
(表16)
    要素数量
  8个   32个
信息层   面前   9.8％   8.7％
  里面   8.3％   8.0％
通过(表16)，在里面的信息层中，无论使用8个与32个哪个要素数量的补偿表，都可得到8％左右的良好跳动。这是因为多层媒体的里面的信息层与必需使激光到达里面层的面前的信息层不同，不必构成为具有高的透过率。因此，可形成光学吸收大、导热性高的反射膜增厚的多层膜结构，所以具有记录时热容易从记录膜向反射膜方向放射的倾向。因此，因为轨道方向的热干涉的影响减小，热干涉的变化相对前编码长度或后编码长度的变化变小，所以认为即便是仅对记录编码长度补偿记录脉冲的边缘位置的表，跳动也不太变化。此时，因为要素数量为8个减少了测试记录的工序数量，所以从缩短测试记录所需的时间的观点看较好。
另一方面，可知在面前的信息层中，在32个要素数量时，跳动为8％左右，而在8个时，恶化为9.8％。这是因为在面前的信息层中未设置导热性好的反射层，存在记录时热向记录膜中扩散的倾向。因此，由于热干涉的变化相对前编码长度或后编码长度的变化变大，所以认为若不使用作为前编码长度或后编码长度与记录编码长度的组合的补偿表，则得不到期望的跳动。此时，从得到良好的跳动值的观点看，最好将补偿表的要素数量设为32个。
如上所述，在本实施例中，由于通过表示信息层的识别符的识别结果来减少补偿表的要素数量，进行测试记录，所以可缩短测试记录所需的时间。另外，信息层的数量不限于2层，即便是3层以上，只要是与各信息层的记录特性匹配的要素数量，则可得到同样的效果。
另外，本实施例不限于多层盘，即便在单层盘的情况下，也可通过每个盘的记录特性的差异来使要素数量不同。
(实施方式3)
本实施方式中，通过再现盘上的识别符来识别记录条件，在具有如下记录特性的盘中，即例如对盘的记录线速度低，即便使记录脉冲的边缘变化大，对记录标记的边缘位置的影响也少，通过降低补偿表的各要素的分辨率来记录，不必经过多余的测试记录工序。
(实施方式3的结构和动作)
实现实施方式3的记录再现装置(光学信息记录装置)的示意结构与图1一样。图9是表示图1中的记录脉冲边缘补偿电路8的详细结构的图。图10是说明本实施方式的动作的流程图，图11是说明本实施方式的动作的记录脉冲信号的波形图。
图9的结构中与实施方式1的不同之处在于，通过选择电路906将来自开始脉冲检测电路901的开始脉冲信号的送出对象切换到第1延迟电路908或第2延迟电路909之一。另外，通过选择电路907将来自后端脉冲检测电路903的后端脉冲信号的送出对象切换到第1延迟电路910或第2延迟电路911之一。由此，虽然表的要素数量相同，但由盘的记录特性来实现切换补偿表的各要素的设定分辨率的动作。用图10、图11来更具体说明该动作。
图10中的记录动作如下所示。将来自调制电路的记录数据信号18送出到延迟量设定电路904和905。将来自开始脉冲检测电路901、后端脉冲检测电路903的脉冲信号分别送出到选择电路906和907。延迟量设定电路904、905比较来自表登录存储器3的表设定信号21、与上述前编码长度与记录编码长度的组合、或记录编码长度与后编码长度的组合，对第1延迟电路908、910和第2延迟电路909、911设定记录脉冲边缘的补偿量。各延迟电路909、911通过调整对应记录脉冲的边缘，进行边缘位置的补偿。此时，表登录存储器3中的补偿表的方式如(表1)和(表2)所示，设为选择电路无论选择哪个都相同的要素数量的表。
第1延迟电路908、910和第2延迟电路909、911的动作差异在于延迟量的设定分辨率。图11(a)(b)表示第1延迟电路908、910的记录脉冲边缘的调整一例，图11(c)(d)表示第2延迟电路909、911的记录脉冲边缘的调整一例。特征在于，第1延迟电路中，延迟电路的设定分辨率(最小设定单位)为r1，相反，第2延迟电路中为r2，比第1延迟电路小。
另外，在光盘1的控制轨道区域中，记录对应于设定分辨率的识别符。例如根据盘的制造者的检查结果，通过使记录脉冲的边缘变化时对记录标记的边缘位置的影响的大小，记载表示得到充分良好的记录再现特性的设定分辨率的信息。
图10表示一连串的测试记录动作。与实施方式1的不同之处如下。在判断工序S1003中，通过识别符再现工序S1002的再现结果，识别记录盘中得到良好的记录再现特性的设定分辨率。即，在具有当使记录脉冲的边缘变化时、记录标记的边缘位置变化大的记录特性的盘中，得到良好记录再现特性的设定分辨率变高。
在具有记录标记的边缘位置变化大的记录特性的盘或记录条件的情况下，选择工序S1007将选择电路906和907切换到第2延迟电路909、911侧，用相对细致的设定分辨率r2来调整并确定记录脉冲的边缘位置(相当于S1015-S1019)。
相反，在记录标记的边缘位置变化小的盘或记录条件的情况下，选择工序S1004将选择电路907切换到第1延迟电路908、910侧，用相对粗的设定分辨率r1来调整并确定记录脉冲的边缘位置(相当于S1010-S1014)。
通过该动作，即便在记录标记的边缘位置变化小的盘或记录条件下，在再现信号反转间隔与测试图案信号的信号反转间隔之差变为最小之前，边使补偿量变化，边反复执行S1011-S1014的步骤时，由于设定分辨率粗，所以也可以少的反复次数来确定记录脉冲的边缘位置。并且，记录标记的边缘位置的变动小到可以忽视。因此，可缩短测试记录所需的时间。
(实施方式3的比较实验)
为了明确本实施方式的效果，下面说明作为记录条件使线速度不同后执行的比较实验(实施例)。通过与实施方式1一样的方法来制作光盘1。
在控制轨道区域中记录表示对盘进行记录的线速度的信息，作为识别符。为了根据不同线速度下的记录再现，在光盘1中记录表示两种不同线速度的识别符。这里，记录作为以8.2m/s和12.3m/s的线速度来记录再现的盘的信息。
通过主轴电机13，以8.2m/s和12.3m/s两种不同的线速度使盘1旋转，用数值孔径(NA)为0.6的物镜会聚波长为650nm的激光。
设记录再现时的激光的功率，在线速度8.2m/s的情况下，为Pp＝11mW，Pb＝4.5mW，Pr＝1mW。在线速度12.3m/s的情况下，为Pp＝13mW，Pb＝5mW，Pr＝1mW。记录信息的调制方式使用(8-16)脉冲宽度调制。通过根据线速度来使沟道时钟频率变化，最短标记长度无论在哪个线速度下都为0.4微米。
在本比较实验中，使用(表1)和(表2)所示的补偿表。无论对于两种线速度的哪个，都为32个相同的表要素数量。
为了比较，设表要素的补偿分辨率相对各线速度为0.5ns和1.0ns两种。即，各要素值的设定步长(step)仅为0.5ns或1.0ns。
在使用上述条件执行测试记录后，记录10次随机信号，通过时间间隔分析仪来测定再现信号的跳动。将相对各线速度、补偿分辨率的跳动的测定结果示于(表17)中。
(表17)
       补偿分辨率
  0.5ns 1.0ns
  线速度 8.2m/s   8.2％ 8.4％
12.3m/s   8.6％ 10.3％
通过(表17)，在线速度为8.2m/s时，无论由0.5ns和1.0ns哪个补偿分辨率，都能得到8％左右的良好跳动。这是因为线速度慢，则记录脉冲的边缘位置的变化对标记边缘位置的影响小，所以无论哪个补偿分辨率，跳动都不太变化。此时，因为将补偿分辨率设为1.0ns可减少测试记录中的脉冲边缘的调整点，所以从缩短测试记录所需的时间的观点看较好。
另一方面，在线速度为8.2m/s时，在0.5ns的补偿分辨率下，跳动为8％左右，而在1.0ns下恶化到10.3％。这是因为线速度快，则记录脉冲的边缘位置的变化对标记边缘位置的影响大，所以在1.0ns时，设定步长过粗，跳动变坏。此时，将补偿分辨率设为0.5ns从得到良好的跳动值的观点看较好。
因此，在记录标记的边缘位置变化小的记录条件下，通过识别符的识别结果来降低分辨率后进行测试记录，在短的测试记录时间中进行正确的信息记录再现上是有效的。
这样，在本实施方式中，在以记录脉冲的边缘位置对标记边缘位置的影响小的条件下进行记录时，降低补偿表的各要素的分辨率后进行测试记录，所以可缩短测试记录所需的时间。
另外，在本实施方式中，设切换延迟电路来使补偿分辨率变化，但在使用相同的延迟电路上，也可如图11(e)所示，通过抽取设定步长，使分辨率从r2变化到r1。
另外，在本实施方式中，无论识别工序的识别结果如何，表的要素数量都相同，但也可根据对盘的记录密度或记录特性来使要素数量不同。即，也可以是第1和实施方式2的组合。
另外，在对相同的盘以不同条件进行记录的情况下，通过记录表示根据各个条件的补偿精度的多个识别信息，可根据各个记录条件来在最小的测试记录时间中进行测试记录。例如(表18)所示，只要在控制轨道区域中记录对应于多个线速度的记录功率、表要素数量、分辨率即可。
(表18)
线速度     v1     v2
记录功率     Pp1，Pb1     Pp2，Pb2
表要素数量     n1     n2
分辨率     r1     r2
并且，在对相同的盘以不同条件进行记录的情况下，也可以是代替将表要素数量和分辨率记录为值、而是具有对应的表要素数量与分辨率的、记录多个补偿表本身的媒体。此时，不必设置表示要素数量或分辨率的特别识别符，实现记录在控制轨道区域中的信息的简化。另外，不读出表示要素数量或分辨率的特别识别符，通过媒体持有的补偿表的读出结果来直接使补偿表的补偿精度变化，进行测试记录，所以可进一步缩短测试记录所需的时间，可正确地记录再现信息。
另外，也可相对媒体，根据不同的多个线速度来记录补偿精度不同的多个补偿表，对高的记录密度设置补偿精度高的补偿表。此时，因为在记录标记的边缘位置的变化变小的低的线速度下，可根据补偿精度低的补偿表来降低补偿精度进行测试记录，所以在短的测试记录时间中能进行正确的信息记录再现这点，是有效的。
同样，根据不同的多个记录密度来预先记录补偿精度不同的多个补偿表，可对高的记录密度设置补偿精度高的补偿表。此时，因为在低的记录密度下，可根据补偿精度低的补偿表来降低补偿精度进行测试记录，所以在短的测试记录时间中进行正确的信息记录再现方面，具有与上述一样的效果。
(实施方式4)
本实施方式对盘进行随机图案的记录再现，测定BER，仅在BER比一定值高时，才通过增加补偿表的要素数量进行测试记录，在记录密度低的盘或热干涉小的盘中不经过多余的测试记录工序。
(实施方式4的结构和动作)
图12是表示实现该实施方式4的记录再现装置(光学信息记录装置)的示意结构框图。本实施方式中的记录脉冲边缘补偿电路8的结构可使用与图2一样的结构。图12与实施方式1的结构(图1)的不同之处在于，设置BER测定电路1201来代替识别符检测电路17。
图13是说明本实施方式中的测试记录的动作的流程图。下面，用图12、图2和图13来具体说明动作。
在本实施方式中，在寻迹动作(S1301)之后，由选择电路切换工序S1302将选择电路204、205切换到第2延迟量设定电路207、209。由此，变为可根据记录编码长度来设定记录脉冲的边缘位置的状态。
此时，表登录存储器3中的补偿表的方式如(表3)和(表4)所示。根据编码长度的组合，补偿表的要素数量为8个。
与实施方式1一样，为了确定补偿表的各要素，执行测试记录和再现信号波形的测定(S1302-S1303)。在确定8个补偿表的要素值后，从测试图案信号生成电路4送出随机图案信号(S1304)，执行对盘的记录动作(S1306)。由再现信号处理电路14对来自盘的再现信号实施波形均衡、二进制处理，由解调电路15解调信息信号(S1307)。BER测定电路1201比较解调后的信息信号与测试图案信号生成电路4生成的随机图案的信息信号，测定再现信号的BER(比特误差率)(S1308)。
之后，通过BER判断工序S1309，在系统控制电路2内比较比特错误率与BER规定值，得到判断结果。这里，所谓BER规定值表示再现信息的比特错误率为可使用的水平的值。该值考虑记录再现装置或光盘的记录极限等来确定。
在测定值比BER规定值低的情况下，结束测试记录。从而，在记录密度低的盘或热干涉小的盘中，当前编码长度的差异或后编码长度的差异造成的记录标记的边缘位置变动小到可以忽视的情况下，不经过多余的测试记录工序。因此，即便盘不具有识别符时，也可缩短测试记录的时间。
在测定到的比特错误率比BER规定值高的情况下，经过以下工序。由选择电路切换工序S1310将选择电路204、205切换到第1延迟量设定电路206、208。由此，变为可根据前编码长度与记录编码长度的组合和记录编码长度与后编码长度的组合来设定记录脉冲的边缘位置的状态。
此时，表登录存储器3中的补偿表的方式如(表1)和(表2)所示。根据编码长度的组合，补偿表的要素数量为32个。
与实施方式1一样，为了确定补偿表的各要素，执行测试记录和再现信号波形的测定(S1311-S1312)。在确定对全部表要素的补偿值后，结束测试记录。
这样，在本实施方式中，用少的表要素数量在测试记录后记录随机图案信号，仅在再现信号的BER比一定值高时，才增加表要素数量，并再次执行测试记录，所以在BER记录密度低的盘或热干涉小的盘中，不经过多余的测试记录工序。因此，即便在盘不具有识别符时，也可缩短测试记录的时间。
另外，在本实施方式中，用BER的值的大小来执行结束的判断，但也可使用数字值来代替BER。
另外，在本实施方式中，仅在BER比一定值高时，才增加补偿表要素数量并执行测试记录，但相反，即便是仅在BER比一定值低的情况下，才减少补偿表的要素数量并执行测试记录的方法，也可得到可缩短测试记录的时间的同样的效果。
另外，在本实施方式中，使补偿表的要素数量变化，但即便是使各要素的分辨率变化的方式也可得到同样的效果。并且，也可组合要素数量的变化与分辨率的变化。
另外，在实施方式1-4中，设对各编码长度独立持有补偿表的要素值，但因为在长的编码长度下，热干涉的影响变小，所以最好相对某个长度以上的编码长度(例如6T以上)，具有相同的要素值。
另外，在上述各实施方式中，通过记录脉冲边缘补偿电路使前端脉冲的前边缘位置和后端脉冲的后边缘位置变化(此时，前端脉冲的宽度和后端脉冲的宽度分别变化)，但也可以是使前端脉冲和后端脉冲本身的位置变化后调整边缘位置的电路。另外，也可根据盘的记录特性或记录密度，切换使前端脉冲和后端脉冲本身的位置变化的方法和使边缘位置变化的方法。
另外，在上述各实施方式中，通过补偿表的要素数量或补偿表的分解值的值来使补偿精度不同，但延迟电路的延迟量误差等、只要是对记录脉冲的边缘位置精度造成影响的因素，则都可以。
另外，在上述各实施方式中，将表示补偿精度的信息作为识别符记录在媒体中，但也可将具有该媒体必需的补偿精度的补偿表本身记录在媒体中。此时，因为可通过媒体持有的补偿表的读出结果来直接使补偿表的补偿精度变化，进行测试记录，所以可进一步缩短测试记录所需的时间，可正确地记录再现信息。
并且，上述光盘只要是相变材料、磁光材料或色素材料等光学特性在记录标记与非标记部(间隙部)中不同的媒体，则均可适用上述方法。
另外，在上述各实施方式中，示例通过标记边缘记录方式进行记录的情况，但在通过标记位置记录方式进行记录的情况下，也可适用本发明。
另外，上述调制方式、各脉冲的长度、位置、测试图案信号的周期等不限于上述各实施方式中所示，不用说，可根据记录条件或媒体来适当设定。
产业上的可利用性
如上所述，根据本发明，可提供一种光学信息记录方法和装置，因为对应于光学信息记录媒体的信息记录条件或信息记录特性，使记录脉冲位置的补偿精度不同，所以在对信息记录条件或信息记录特性不同的记录媒体记录信息时，可在短时间内高效确定适当的记录参数，可正确地记录再现信息。

Claims (59)

1、一种光学信息记录方法，在光学信息记录媒体上记录信息，其特征在于：包含：
识别工序，识别所述光学信息记录媒体的信息记录条件或信息记录特性；和
记录脉冲补偿工序，为了在预定位置上形成记录标记，补偿记录脉冲位置，
在所述记录脉冲补偿工序中，根据所述识别工序中识别的信息记录条件或信息记录特性，使所述记录脉冲位置的补偿精度不同。
2、根据权利要求1所述的光学信息记录方法，其特征在于：
使用具有两层以上信息层的光学信息记录媒体作为所述光学信息记录媒体，
在所述识别工序之前，还包含信息层特定工序，在所述光学信息记录媒体中特定要记录信息的信息层，
在所述识别工序中，识别有关由述信息层特定工序特定的信息层的信息记录条件或信息记录特性，
在所述记录脉冲补偿工序中，根据所述识别工序中识别的信息记录条件或信息记录特性，使对由所述信息层特定工序特定的信息层而记录信息用的记录脉冲位置的补偿精度不同。
3、根据权利要求1或2所述的光学信息记录方法，其特征在于：
使用具有测试记录区域的光学信息记录媒体作为所述光学信息记录媒体，
还包含测试记录工序，使用由所述记录脉冲补偿工序补偿的记录脉冲，在所述测试记录区域中记录测试记录用图案；和
补偿量确定工序，从所述测试记录区域再现测试记录用图案，根据再现结果，确定所述记录脉冲位置的补偿量。
4、根据权利要求3所述的光学信息记录方法，其特征在于：
在所述补偿精度低的情况下，不进行所述记录脉冲位置的补偿，省略所述测试记录工序和补偿量确定工序。
5、根据权利要求1-4之一所述的光学信息记录方法，其特征在于：
使用具有控制轨道区域的光学信息记录媒体作为所述光学信息记录媒体，
所述识别工序包含识别符检测工序，从所述控制轨道区域再现信息，从再现的信息中，检测表示该光学信息记录媒体的信息记录条件或信息记录特性的识别符，
在所述记录脉冲补偿工序中，根据由所述识别符检测工序检测的识别符表示的信息记录条件或信息记录特性，使所述记录脉冲位置的补偿精度不同。
6、根据权利要求5所述的光学信息记录方法，其特征在于：
所述识别符检测工序中检测的识别符是表示该光学信息记录媒体的记录密度的识别符。
7、根据权利要求5所述的光学信息记录方法，其特征在于：
所述识别符检测工序中检测的识别符是表示该光学信息记录媒体的记录再现特性的好坏的识别符。
8、根据权利要求7所述的光学信息记录方法，其特征在于：
所述记录再现特性的好坏基于跳动或比特误差率的好坏、或重复记录再现特性的好坏。
9、根据权利要求5所述的光学信息记录方法，其特征在于：
所述识别符检测工序中检测的识别符是表示该光学信息记录媒体的记录线速度的识别符。
10、根据权利要求1或2所述的光学信息记录方法，其特征在于：
使用具有测试记录区域的光学信息记录媒体作为所述光学信息记录媒体，
所述识别工序包含测试记录工序，向所述测试记录区域记录测试记录用图案；和
特性判断工序，从所述测试记录区域再现测试记录用图案，测定再现信号的跳动或比特误差率，由此判断该光学信息记录媒体的信息记录特性，
在所述记录脉冲补偿工序中，根据所述特性判断工序判断的信息记录特性，使所述记录脉冲位置的补偿精度不同。
11、根据权利要求10所述的光学信息记录方法，其特征在于：
在所述特性判断工序中测定的跳动或比特误差率为一定值以上的情况下，在所述记录脉冲补偿工序中提高补偿精度。
12、根据权利要求10所述的光学信息记录方法，其特征在于：
在所述特性判断工序中测定的跳动或比特误差率为一定值以下的情况下，在所述记录脉冲补偿工序中降低补偿精度。
13、根据权利要求10-12之一所述的光学信息记录方法，其特征在于：
使用随机图案来作为所述测试记录用图案。
14、根据权利要求10-13之一所述的光学信息记录方法，其特征在于：
还包含第2测试记录工序，使用由所述记录脉冲补偿工序补偿的记录脉冲，在所述测试记录区域记录第2测试记录用图案；和
补偿量确定工序，从所述测试记录区域再现第2测试记录用图案，并根据再现结果，确定所述记录脉冲位置的补偿量。
15、根据权利要求1-14之一所述的光学信息记录方法，其特征在于：
在所述记录脉冲补偿工序中，使用根据补偿精度来规定记录脉冲位置的补偿量的补偿表，补偿所述记录脉冲位置。
16、根据权利要求15所述的光学信息记录方法，其特征在于：
在所述记录脉冲补偿工序中，在补偿精度高的情况下，使用规定记录脉冲位置的补偿量的要素数量比补偿精度低的情况下多的补偿表。
17、根据权利要求16所述的光学信息记录方法，其特征在于：
在所述记录脉冲补偿工序中，在补偿精度低的情况、补偿精度高的情况下，使所述补偿表具有的多个要素中、规定数量的要素规定的补偿量彼此相等，由此实质上削减对应补偿表的要素数量。
18、根据权利要求15所述的光学信息记录方法，其特征在于：
还包含如下工序，根据补偿精度，由预定的表要素数量和补偿分辨率，来设定各要素的值，由此生成所述补偿表。
19、根据权利要求15所述的光学信息记录方法，其特征在于：
在所述记录脉冲补偿工序中，选择使用根据补偿精度预定的、要素数量彼此不同的多个补偿表中的一个。
20、根据权利要求19所述的光学信息记录方法，其特征在于：
作为所述要素数量不同的多个补偿表，包含从以下(a)~(c)中选择的至少两个，
(a)不管记录编码长度如何都规定一律的值来作为所述补偿量的补偿表、
(b)规定依据记录编码长度的值来作为所述补偿量的补偿表、(c)规定依据记录编码长度与前编码长度的组合、及记录编码长度与后编码长度的组合的值来作为所述补偿量的补偿表。
21、根据权利要求15所述的光学信息记录方法，其特征在于：
在所述记录脉冲补偿工序中，在补偿精度高的情况下，使用记录脉冲位置的补偿分辨率比补偿精度低的情况下高的补偿表。
22、根据权利要求21所述的光学信息记录方法，其特征在于：
在所述记录脉冲补偿工序中，在补偿精度低的情况下，使用通过抽取所述补偿表的各要素值的设定步长，来将所述补偿分辨率规定得低的补偿表。
23、根据权利要求1-22之一所述的光学信息记录方法，其特征在于：
对所述光学信息记录媒体的记录方式是标记边缘记录方式。
24、根据权利要求1-22之一所述的光学信息记录方法，其特征在于：
对所述光学信息记录媒体的记录方式是标记位置记录方式。
25、根据权利要求1-24之一所述的光学信息记录方法，其特征在于：
在所述记录脉冲补偿工序中，通过使前端脉冲的前边缘位置和后端脉冲的后边缘位置变化，补偿记录脉冲位置。
26、根据权利要求1-24之一所述的光学信息记录方法，其特征在于：
在所述记录脉冲补偿工序中，通过使前端脉冲和后端脉冲本身的位置变化，补偿记录脉冲位置。
27、一种光学信息记录装置，在光学信息记录媒体上记录信息，其特征在于：配备：
识别单元，识别所述光学信息记录媒体的信息记录条件或信息记录特性；和
记录脉冲补偿单元，为了在预定位置上形成记录标记，补偿记录脉冲位置，
所述记录脉冲补偿单元根据所述识别单元识别的信息记录条件或信息记录特性，使所述记录脉冲位置的补偿精度不同。
28、根据权利要求27所述的光学信息记录装置，其特征在于：
使用具有两层以上信息层的光学信息记录媒体作为所述光学信息记录媒体，
还配备信息层特定单元，在所述光学信息记录媒体中特定要记录信息的信息层，
所述识别单元识别有关由述信息层特定单元特定的信息层的信息记录条件或信息记录特性，
所述记录脉冲补偿单元根据所述识别单元识别的信息记录条件或信息记录特性，使对由所述信息层特定工序特定的信息层记录信息用的记录脉冲位置的补偿精度不同。
29、根据权利要求27或28所述的光学信息记录装置，其特征在于：
使用具有测试记录区域的光学信息记录媒体作为所述光学信息记录媒体，
还配备测试记录单元，使用由所述记录脉冲补偿单元补偿的记录脉冲，在所述测试记录区域中记录测试记录用图案；和
补偿量确定单元，从所述测试记录区域再现测试记录用图案，根据再现结果，确定所述记录脉冲位置的补偿量。
30、根据权利要求29所述的光学信息记录装置，其特征在于：
在所述补偿精度低的情况下，不进行所述记录脉冲位置的补偿，省略所述测试记录单元的测试记录和补偿量确定单元的补偿量确定。
31、根据权利要求27-30之一所述的光学信息记录装置，其特征在于：
使用具有控制轨道区域的光学信息记录媒体作为所述光学信息记录媒体，
所述识别单元包含识别符检测单元，从所述控制轨道区域再现信息，从再现的信息中，检测表示该光学信息记录媒体的信息记录条件或信息记录特性的识别符，
所述记录脉冲补偿单元根据由所述识别符检测单元检测的识别符所表示的信息记录条件或信息记录特性，使所述记录脉冲位置的补偿精度不同。
32、根据权利要求31所述的光学信息记录装置，其特征在于：
由所述识别符检测单元检测的识别符是表示该光学信息记录媒体的记录密度的识别符。
33、根据权利要求31所述的光学信息记录装置，其特征在于：
所述识别符检测单元检测的识别符是表示该光学信息记录媒体的记录再现特性的好坏的识别符。
34、根据权利要求33所述的光学信息记录装置，其特征在于：
所述记录再现特性的好坏是基于跳动或比特误差率的好坏、或重复记录再现特性的好坏的。
35、根据权利要求31所述的光学信息记录装置，其特征在于：
所述识别符检测工序中检测的识别符是表示该光学信息记录媒体的记录线速度的识别符。
36、根据权利要求27或28所述的光学信息记录装置，其特征在于：
使用具有测试记录区域的光学信息记录媒体作为所述光学信息记录媒体，
所述识别单元包含：测试记录单元，向所述测试记录区域记录测试记录用图案；和
特性判断单元，从所述测试记录区域再现测试记录用图案，测定再现信号的跳动或比特误差率，由此判断该光学信息记录媒体的信息记录特性，
所述记录脉冲补偿单元根据所述特性判断单元判断的信息记录特性，使所述记录脉冲位置的补偿精度不同。
37、根据权利要求36所述的光学信息记录装置，其特征在于：
由所述特性判断单元测定的跳动或比特误差率为一定值以上的情况下，所述记录脉冲补偿单元提高补偿精度。
38、根据权利要求36所述的光学信息记录装置，其特征在于：
所述特性判断单元测定的跳动或比特误差率为一定值以下的情况下，所述记录脉冲补偿单元降低补偿精度。
39、根据权利要求36-38之一所述的光学信息记录装置，其特征在于：
使用随机图案来作为所述测试记录用图案。
40、根据权利要求36-39之一所述的光学信息记录装置，其特征在于还包含：
第2测试记录单元，使用由所述记录脉冲补偿单元补偿的记录脉冲，在所述测试记录区域记录第2测试记录用图案；和
补偿量确定单元，从所述测试记录区域再现第2测试记录用图案，并根据再现结果，确定所述记录脉冲位置的补偿量。
41、根据权利要求27-40之一所述的光学信息记录装置，其特征在于：
所述记录脉冲补偿单元，使用根据补偿精度来规定记录脉冲位置的补偿量的补偿表，补偿所述记录脉冲位置。
42、根据权利要求41所述的光学信息记录装置，其特征在于：
所述记录脉冲补偿单元在补偿精度高的情况下，使用规定记录脉冲位置的补偿量的要素数量比补偿精度低的情况下多的补偿表。
43、根据权利要求42所述的光学信息记录装置，其特征在于：
所述记录脉冲补偿单元在补偿精度低的情况、补偿精度高的情况下，使所述补偿表具有的多个要素中、规定数量的要素规定的补偿量彼此相等，由此实质上削减对应补偿表的要素数量。
44、根据权利要求41所述的光学信息记录装置，其特征在于：
还包含如下单元，根据预定的表要素数量和补偿分辨率，根据补偿精度来设定各要素的值，由此生成所述补偿表。
45、根据权利要求41所述的光学信息记录装置，其特征在于：
所述记录脉冲补偿单元选择使用根据补偿精度预定的、要素数量彼此不同的多个补偿表中的一个。
46、根据权利要求45所述的光学信息记录装置，其特征在于：
作为所述要素数量不同的多个补偿表，包含从以下(a)~(c)中选择的至少两个，
(a)不管记录编码长度如何都规定一律的值来作为所述补偿量的补偿表、
(b)规定依据记录编码长度的值来作为所述补偿量的补偿表、
(c)规定依据记录编码长度与前编码长度的组合、和记录编码长度与后编码长度的组合的值来作为所述补偿量的补偿表。
47、根据权利要求41所述的光学信息记录装置，其特征在于：
所述记录脉冲补偿单元在补偿精度高的情况下，使用记录脉冲位置的补偿分辨率比补偿精度低的情况下高的补偿表。
48、根据权利要求47所述的光学信息记录装置，其特征在于：
所述记录脉冲补偿单元在补偿精度低的情况下，使用通过间隔取除所述补偿表的各要素值的设定步长来将所述补偿分辨率规定得低的补偿表。
49、根据权利要求27-48之一所述的光学信息记录装置，其特征在于：
对所述光学信息记录媒体的记录方式是标记边缘记录方式。
50、根据权利要求27-48之一所述的光学信息记录装置，其特征在于：
对所述光学信息记录媒体的记录方式是标记位置记录方式。
51、根据权利要求27-50之一所述的光学信息记录装置，其特征在于：
所述记录脉冲补偿单元通过使前端脉冲的前边缘位置和后端脉冲的后边缘位置变化，补偿记录脉冲位置。
52、根据权利要求27-50之一所述的光学信息记录装置，其特征在于：
所述记录脉冲补偿单元通过使前端脉冲和后端脉冲本身的位置变化，补偿记录脉冲位置。
53、一种记录信息的光学信息记录媒体，其特征在于：
对应于多个信息记录条件或信息记录特性，具有多个补偿精度彼此不同的补偿表。
54、根据权利要求53所述的光学信息记录媒体，其特征在于：
在控制轨道区域中具有所述补偿表。
55、根据权利要求53所述的光学信息记录媒体，其特征在于：
具有如下补偿表，所述信息记录条件是记录线速度，记录线速度越高，则越提高补偿分辨率。
56、根据权利要求53所述的光学信息记录媒体，其特征在于：
具有如下补偿表，所述记录条件是记录密度，记录密度越高，则越提高补偿分辨率。
57、根据权利要求53所述的光学信息记录媒体，其特征在于：
具有表示记录脉冲位置的补偿精度的识别符。
58、根据权利要求57所述的光学信息记录媒体，其特征在于：
在控制轨道区域中具有所述识别符。
59、根据权利要求57所述的光学信息记录媒体，其特征在于：
对应于多个信息记录条件或信息记录特性，具有多个所述识别符。
CNB038087820A 2002-04-19 2003-04-17 光学信息记录方法、光学信息记录装置 Expired - Lifetime CN100334619C (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002117247 2002-04-19
JP117247/2002 2002-04-19

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN1647165A true CN1647165A (zh) 2005-07-27
CN100334619C CN100334619C (zh) 2007-08-29

Family

ID=29243484

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CNB038087820A Expired - Lifetime CN100334619C (zh) 2002-04-19 2003-04-17 光学信息记录方法、光学信息记录装置

Country Status (8)

Country Link
US (5) US7760596B2 (zh)
EP (4) EP2226797B1 (zh)
JP (6) JP4223409B2 (zh)
KR (1) KR100621567B1 (zh)
CN (1) CN100334619C (zh)
AU (1) AU2003227403A1 (zh)
DE (1) DE60326225D1 (zh)
WO (1) WO2003090215A1 (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102656634A (zh) * 2009-12-18 2012-09-05 松下电器产业株式会社 光学信息记录方法、光学信息记录装置、光学信息再生方法、光学信息再生装置以及光学信息记录介质

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2226797B1 (en) * 2002-04-19 2012-01-25 Panasonic Corporation Optical information recording method and optical information recording apparatus
US20060239166A1 (en) * 2005-04-20 2006-10-26 Chih-Ching Yu Method of determining a write strategy
JP2007073083A (ja) * 2005-09-02 2007-03-22 Mitsubishi Electric Corp 光ディスク、記録方法、記録装置、再生方法および再生装置
US8498186B2 (en) * 2006-02-24 2013-07-30 Marvell World Trade Ltd. Circuits, architectures, apparatuses, systems, algorithms and methods and software for timing calibration for optical disc recording
US8559284B1 (en) 2006-02-24 2013-10-15 Marvell International Ltd. Circuits, architectures, apparatuses, systems, algorithms and methods and software for optimum power calibration for optical disc recording
JP2007317343A (ja) * 2006-04-28 2007-12-06 Sharp Corp 記録パラメータ設定装置、そのプログラムおよび該プログラムを記録したコンピュータ読取り可能な記録媒体、情報記録媒体、ならびに記録パラメータ設定方法
JP2008027501A (ja) * 2006-07-20 2008-02-07 Sanyo Electric Co Ltd 光ディスクおよび光ディスク装置
JP4978939B2 (ja) * 2006-10-31 2012-07-18 パイオニア株式会社 情報記録装置及び方法、並びにコンピュータプログラム
TW200912919A (en) * 2007-04-11 2009-03-16 Koninkl Philips Electronics Nv Power calibration in optical disc drives
JP5019951B2 (ja) * 2007-05-29 2012-09-05 三菱電機株式会社 光記録方法及び光記録装置
JP2008305483A (ja) * 2007-06-07 2008-12-18 Hitachi Ltd 光ディスク記録装置及び光ディスク記録方法
JP4621898B2 (ja) * 2007-09-21 2011-01-26 独立行政法人産業技術総合研究所 超解像再生を行うための光記録媒体及びその光記録再生方法
CN102047332B (zh) * 2009-03-06 2014-12-31 松下电器产业株式会社 信息记录方法、信息再生方法以及光学信息记录介质的制造方法
US20110107134A1 (en) * 2009-03-09 2011-05-05 Kiyotaka Ito Information recording medium, method for recording information on information recording medium, method for reproducing information from information recording medium, and method for manufacturing information recording medium
WO2010103769A1 (ja) * 2009-03-10 2010-09-16 パナソニック株式会社 情報記録媒体、情報記録媒体への情報の記録方法、情報記録媒体からの情報の再生方法および情報記録媒体の製造方法
JP5147880B2 (ja) * 2010-03-05 2013-02-20 日立コンシューマエレクトロニクス株式会社 光ディスク、光ディスク装置、情報記録方法、および情報再生方法

Family Cites Families (30)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59210543A (ja) * 1983-05-16 1984-11-29 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> レ−ザ記録媒体
US5005164A (en) * 1987-04-28 1991-04-02 Sharp Kabushiki Kaisha Recording and reproducing apparatus
US5418770A (en) * 1990-06-29 1995-05-23 Hitachi, Ltd. Method of and apparatus for correcting edge interval of pit in optical recording/read-out apparatus
JP2695725B2 (ja) * 1992-01-20 1998-01-14 富士通株式会社 光ディスクの記録補償方式
US5347505A (en) * 1992-01-20 1994-09-13 Fujitsu Limited Optical medium recording method and apparatus employing pulse width delay and/or advancement
JP3165216B2 (ja) * 1992-02-21 2001-05-14 株式会社リコー マークエッジ記録方法及びその装置
JP3222934B2 (ja) 1992-06-05 2001-10-29 株式会社リコー マークエッジ記録方式における記録パルス補正方法
US5490126A (en) * 1993-04-07 1996-02-06 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Apparatus for recording and reproducing data on a disk
JP3025622B2 (ja) 1994-02-23 2000-03-27 太陽誘電株式会社 追記型光ディスクのパワーキャリブレーションエリアの使用方法及びパワーキャリブレーション方法
US5568461A (en) * 1994-04-20 1996-10-22 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Optical information recording and reproducing apparatus
JP3507150B2 (ja) 1994-11-14 2004-03-15 三菱電機株式会社 光学的情報記録再生装置
US5959962A (en) * 1996-09-30 1999-09-28 Kabushiki Kaisha Toshiba Optical disk having a format condition information drive
CN1178211C (zh) * 1996-12-20 2004-12-01 松下电器产业株式会社 光记录方法和光记录装置
JPH11273076A (ja) * 1998-03-23 1999-10-08 Toshiba Corp 光学的情報記録方法および装置
TW468177B (en) 1998-08-04 2001-12-11 Hitachi Ltd Data storage method, data storage medium and data storage recording device
JP4185592B2 (ja) 1998-08-10 2008-11-26 マミヤ・オーピー株式会社 紙幣収納装置
JP3076033B1 (ja) * 1998-09-14 2000-08-14 松下電器産業株式会社 光学情報の記録再生装置および情報記録媒体
JP3743178B2 (ja) * 1998-10-05 2006-02-08 ヤマハ株式会社 記録可能型光ディスクおよび光ディスク記録装置
EP1026671B1 (en) * 1999-02-02 2002-12-04 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Optical recording medium
WO2000057408A1 (fr) 1999-03-19 2000-09-28 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Procede d'enregistrement optique d'informations et dispositif a cet effet
TW514869B (en) * 1999-04-12 2002-12-21 Taiyo Yuden Kk Optical information recording and reproducing method and device therefor
KR100322601B1 (ko) * 1999-06-18 2002-03-18 윤종용 광디스크 기록 방법, 광디스크 기록 장치의 제어 방법 및 이에 적합한 광디스크 기록 장치
US6459666B1 (en) * 1999-09-06 2002-10-01 Ricoh Company, Ltd. Information recording apparatus and method
JP2001184792A (ja) 1999-12-22 2001-07-06 Victor Co Of Japan Ltd 光ディスク記録再生装置、光ディスク
JP4374698B2 (ja) * 2000-02-25 2009-12-02 ソニー株式会社 記録装置
US7193948B2 (en) * 2000-10-05 2007-03-20 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Optical recording medium, method for recording on optical record medium, and apparatus for recording on optical record medium
JP3521141B2 (ja) * 2002-01-08 2004-04-19 株式会社リコー 情報記録装置
EP2226797B1 (en) * 2002-04-19 2012-01-25 Panasonic Corporation Optical information recording method and optical information recording apparatus
US7180102B2 (en) * 2003-09-30 2007-02-20 Agere Systems Inc. Method and apparatus for using cobalt silicided polycrystalline silicon for a one time programmable non-volatile semiconductor memory
US7196948B1 (en) * 2005-03-07 2007-03-27 Sun Microsystems, Inc . Method and apparatus for data capture on a bi-directional bus

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102656634A (zh) * 2009-12-18 2012-09-05 松下电器产业株式会社 光学信息记录方法、光学信息记录装置、光学信息再生方法、光学信息再生装置以及光学信息记录介质
CN102656634B (zh) * 2009-12-18 2014-12-03 松下电器产业株式会社 光学信息记录方法、光学信息记录装置、光学信息再生方法、光学信息再生装置以及光学信息记录介质

Also Published As

Publication number Publication date
US7821892B2 (en) 2010-10-26
EP2221811B1 (en) 2012-01-25
JPWO2003090215A1 (ja) 2005-08-25
EP1498882A1 (en) 2005-01-19
US20110090778A1 (en) 2011-04-21
EP2221811A2 (en) 2010-08-25
EP2221811A3 (en) 2010-12-08
JP2009238366A (ja) 2009-10-15
EP2053601A2 (en) 2009-04-29
EP1498882A4 (en) 2008-04-09
EP2226797A3 (en) 2010-12-01
JP4368940B2 (ja) 2009-11-18
JP4335304B2 (ja) 2009-09-30
JP2009134865A (ja) 2009-06-18
US20090129225A1 (en) 2009-05-21
US7760596B2 (en) 2010-07-20
JP4223409B2 (ja) 2009-02-12
EP2053601A3 (en) 2009-12-09
EP2226797B1 (en) 2012-01-25
CN100334619C (zh) 2007-08-29
JP2009064559A (ja) 2009-03-26
US20080043592A1 (en) 2008-02-21
US7813239B2 (en) 2010-10-12
EP1498882B1 (en) 2009-02-18
JP2009211803A (ja) 2009-09-17
JP2008276941A (ja) 2008-11-13
JP4308881B2 (ja) 2009-08-05
WO2003090215A1 (en) 2003-10-30
JP4267685B2 (ja) 2009-05-27
KR20040106358A (ko) 2004-12-17
US7881173B2 (en) 2011-02-01
AU2003227403A1 (en) 2003-11-03
KR100621567B1 (ko) 2006-09-19
EP2053601B1 (en) 2013-06-19
US20050174906A1 (en) 2005-08-11
JP4402166B2 (ja) 2010-01-20
US20100309767A1 (en) 2010-12-09
DE60326225D1 (de) 2009-04-02
EP2226797A2 (en) 2010-09-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN1149558C (zh) 光记录媒体及对光记录媒体的记录方法
CN1143289C (zh) 光学信息记录媒体及其制造方法、其记录再生方法和装置
CN1647165A (zh) 光学信息记录方法、光学信息记录装置和光学信息记录媒体
CN1314030C (zh) 光学信息记录介质及其制造方法和制造装置，以及光学信息记录和重现装置
CN1253863C (zh) 在光记录媒体上记录测试信号的光学信息记录装置和方法
CN1299285C (zh) 光记录介质及其制造方法以及用于溅射工艺的靶
CN1605097A (zh) 光学记录介质以及用于该记录介质的记录装置和记录方法
CN1320542C (zh) 光记录介质及其制造方法以及用于溅射工艺的靶
CN1410972A (zh) 光信息记录媒体，信息消去方法，信息记录方法及装置
CN1297956C (zh) 信息记录方法
CN1523593A (zh) 光记录介质
CN1342976A (zh) 光学记录介质、压模及压模的制造方法
CN1819035A (zh) 试写方法及信息记录装置
CN1503258A (zh) 记录/再现方法和记录/再现装置
CN1862683A (zh) 相变型光信息记录介质
CN1649009A (zh) 光记录介质
CN1649008A (zh) 光记录介质、光记录方法及光记录装置
CN1942955A (zh) 光记录介质及其制造方法、基板及其使用方法、母盘及其制造方法
CN101080777A (zh) 光盘、记录方法、记录介质和光盘装置
CN1300783C (zh) 在光记录介质中记录数据的方法和装置,及光记录介质
CN1627376A (zh) 在光信息记录介质上记录信息的方法和装置以及光记录介质
CN1287360C (zh) 光信息记录媒体和光信息记录/再现方法
CN1729514A (zh) 光学记录介质及用于光学记录介质的记录方法和记录装置
CN1867972A (zh) 信息记录方法、光信息记录介质及信息记录装置
CN1519822A (zh) 信号输出方法和光信息记录媒体

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
EE01 Entry into force of recordation of patent licensing contract

Application publication date: 20050727

Assignee: GUANGZHOU PANYU JUDA CAR AUDIO EQUIPMENT Co.,Ltd.

Assignor: Blue light United Co.,Ltd.

Contract record no.: 2014990000233

Denomination of invention: Optical information recording method and optical information recording apparatus

Granted publication date: 20070829

License type: Common License

Record date: 20140422

Application publication date: 20050727

Assignee: Shenzhen Maxmade Technology Co.,Ltd.

Assignor: Blue light United Co.,Ltd.

Contract record no.: 2014990000239

Denomination of invention: Optical information recording method and optical information recording apparatus

Granted publication date: 20070829

License type: Common License

Record date: 20140423

Application publication date: 20050727

Assignee: CHINA HUALU GROUP Co.,Ltd.

Assignor: Blue light United Co.,Ltd.

Contract record no.: 2014990000238

Denomination of invention: Optical information recording method and optical information recording apparatus

Granted publication date: 20070829

License type: Common License

Record date: 20140423

Application publication date: 20050727

Assignee: TONLY ELECTRONICS HOLDINGS Ltd.

Assignor: Blue light United Co.,Ltd.

Contract record no.: 2014990000240

Denomination of invention: Optical information recording method and optical information recording apparatus

Granted publication date: 20070829

License type: Common License

Record date: 20140423

Application publication date: 20050727

Assignee: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS Corp.,Ltd.

Assignor: Blue light United Co.,Ltd.

Contract record no.: 2014990000237

Denomination of invention: Optical information recording method and optical information recording apparatus

Granted publication date: 20070829

License type: Common License

Record date: 20140423

LICC Enforcement, change and cancellation of record of contracts on the licence for exploitation of a patent or utility model
EE01 Entry into force of recordation of patent licensing contract

Application publication date: 20050727

Assignee: Dongguan de video technology Co.,Ltd. Kit

Assignor: Blue light United Co.,Ltd.

Contract record no.: 2016990000233

Denomination of invention: Optical information recording method and optical information recording apparatus

Granted publication date: 20070829

License type: Common License

Record date: 20160614

LICC Enforcement, change and cancellation of record of contracts on the licence for exploitation of a patent or utility model
CX01 Expiry of patent term

Granted publication date: 20070829

CX01 Expiry of patent term