JP4402166B2

JP4402166B2 - 光学的情報記録方法、光学的情報記録媒体、および再生方法

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Publication number: JP4402166B2
Application number: JP2009164784A
Authority: JP
Inventors: 建治鳴海; 健一西内; 恵昭古川
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Current assignee: Panasonic Corp; Panasonic Holdings Corp
Priority date: 2002-04-19
Filing date: 2009-07-13
Publication date: 2010-01-20
Anticipated expiration: 2023-04-17
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Description

本発明は、例えば光ディスク等の、光学的に情報を記録・再生する光学的情報記録媒体と、光学的情報記録媒体を用いる情報記録方法および再生方法とに関する。

近年、光学的に情報を記録する媒体として、光ディスク、光カード、光テープなどが提案、開発されている。その中でも光ディスクは、大容量かつ高密度に情報を記録・再生できる媒体として注目されている。書き換え型光ディスクの一つの方式に、相変化型光ディスクがある。相変化型光ディスクでは、所望の熱的・光学的特性を得るために、記録膜に加えて誘電体膜・反射膜等を組み合わせた多層膜構成とするのが一般的である。この相変化型光ディスクに用いる記録膜は、レーザ光による加熱条件および冷却条件によって、アモルファス状態および結晶状態の何れかの状態になる。アモルファス状態と結晶状態との間には可逆性がある。上記のアモルファス状態と結晶状態とでは、記録膜の光学定数（屈折率および消衰係数）が異なる。相変化型光ディスクでは、情報信号に応じて選択的に前記２つの状態を記録膜に形成し、この結果として生じる光学的変化（透過率または反射率の変化）を利用して、情報信号の記録・再生を行う。

上記の２つの状態を得るために、以下のような方法で情報信号を記録する。光ヘッドにより集束させたレーザ光（パワーレベルＰｐ）を光ディスクの記録膜にパルス状に照射して（これを記録パルスと呼ぶ）、記録膜の温度を上昇させる。記録膜は、その温度が融点を越えると溶融し、溶融部分は、レーザ光の通過とともに急速に冷却されてアモルファス状態の記録マーク（またはマークと呼ぶ）になる。なお、このパワーレベルＰｐをピークパワーと呼ぶ。また、記録膜の温度を結晶化温度以上融点以下の温度まで上昇させる程度の強度のレーザ光（パワーレベルＰｂ、なお、Ｐｂ＜Ｐｐ）を集束して照射すると、照射部の記録膜は結晶状態になる。なお、このパワーレベルＰｂをバイアスパワーと呼ぶ。また、これらピークパワーおよびバイアスパワーを総称して、記録パワーと呼ぶ。

このようにして、光ディスクのトラック上に、記録データ信号に対応したアモルファス領域からなる記録マークと、結晶領域からなる非マーク部（これをスペースと呼ぶ）との記録パターンが形成される。そして、結晶領域とアモルファス領域との光学的特性の相違を利用することにより、情報信号を再生することができる。

また近年では、マークポジション記録（ＰＰＭ記録ともいう）方式にかわって、マークエッジ記録（ＰＷＭ記録ともいう）方式を用いることが多くなってきた。マークポジション記録では、記録マーク自身の位置のみに情報を持たせるのに対して、マークエッジ記録では記録マークのエッジの前端および後端の両方に情報を持たせるので、記録線密度が向上するというメリットがある。

マークエッジ記録方式の場合には、長いマークを記録する時の記録パルスを複数の記録パルス列（これをマルチパルスという）に分解し、先頭のパルス（これを前端パルスと呼ぶ）の幅を、中間のパルスの幅や最後のパルス（これを後端パルスと呼ぶ）の幅よりも大きくして記録する方法が用いられる。これは、マークの前部より伝わる余分な熱の影響を考慮して、マークの後部を記録する時に記録膜に与える熱量を、マークの前部を記録する時よりも少なくすることにより、記録マーク形状の歪みを軽減し、より精密にマークを記録するためである。

ところで、マークエッジ記録方式の場合には、光ディスクの熱的特性の相違が、記録マーク自身の形成状態や記録マーク間の熱干渉の程度に影響を及ぼす。即ち、同じ記録パルス波形で記録を行っても、形成される記録マークの形状は、ディスクごとに異なってくる。その結果、ディスクによっては記録マークエッジが理想的な位置からずれ、再生した信号の品質が低下することもある。そのため、各ディスクに対して記録パワーや前端パルスエッジ位置あるいは後端パルスエッジ位置を最適に補正することにより、何れのディスクに対しても記録マークが理想的なエッジ位置で記録できるようにする方法が提案されている。

前端パルスエッジ位置や後端パルスエッジ位置の補正方法としては、記録するマークに対応する符号長（これを記録符号長と呼ぶ）および記録するマークの前後のスペースに対応する符号長（これらをそれぞれ前符号長、後符号長と呼ぶ）の組み合わせを補正テーブルとし、補正テーブル内の各々の組み合わせ（これを補正テーブルの要素と呼ぶ）に対する補正値をもとにして、前端パルスエッジ位置または後端パルスエッジ位置を補正する方法が提案されている。

また、前端パルスエッジ位置や後端パルスエッジ位置を補正するためのテスト記録方法としては、実際の情報信号を記録するのに先立って、特定の周期を有するデータパターン（これをテストパターンと呼ぶ）による記録を行った後に、記録されたテスト信号を再生し、その再生信号を測定して記録マークエッジのずれ量を求めることにより、前端パルスエッジ位置や後端パルスエッジ位置を補正する方法が開示されている。

なお、上述した従来の方法は、例えば以下の特許文献１に開示されている。

国際公開第００/５７４０８号パンフレット

しかしながら、上述した従来の方法では、記録特性や記録条件の異なる光ディスクに対して常に一連の同じテスト記録工程を経て補正テーブルを決定することになる。そのため、例えば光ディスクの熱干渉が小さく、補正テーブルの要素ごとに前端パルスエッジ位置や後端パルスエッジ位置の補正をしなくとも十分な再生信号品質が得られる場合には、実質的に余分なテスト記録工程を経ることになり、結果的に、記録再生装置が実際に情報信号を記録可能な状態になるまでに時間がかかるという課題を有していた。

本発明は、これら従来の問題を解決するために、情報記録条件や情報記録特性が異なる記録媒体に対して情報を記録する際に、短時間で効率よく適正な記録パラメータを決定でき、正確な情報の記録再生が可能な光学的情報記録方法、光学的情報記録媒体、および再生方法を提供することを目的とする。

前記の目的を達成するために、本発明にかかる光学的情報記録方法は、光学的情報記録媒体に情報を記録する光学的情報記録方法であって、前記光学的情報記録媒体の記録密度を識別する識別工程と、記録マークを所定の位置に形成するために、記録パルス位置を補正する記録パルス補正工程とを含み、前記記録パルス補正工程において、前記識別工程において識別された記録密度に応じて、前記記録パルス位置の補正の要素数を異ならせ、前記記録密度がより低い場合は、前記要素数をより少なくすることを特徴とする。

この光学的情報記録方法において、前記記録パルス補正工程において、補正の要素数に代えて補正の分解能を異ならせ、前記記録密度がより低い場合は、前記分解能をより低くすることができる。

本発明にかかる情報記録媒体は、上記の光学的情報記録方法によって記録マークが記録されることで、情報が記録される。

本発明にかかる再生方法は、上記の光学的情報記録方法によって前記記録媒体に記録された記録マークを読み取ることで、情報を再生する。

本発明にかかる再生装置は、上記の光学的情報記録方法によってマークが記録される情報記録媒体、もしくは、前記情報記録媒体に記録された情報を再生する。

本発明によれば、光学的情報記録媒体の記録密度に応じて、記録パルス位置の補正の分解能を異ならせるので、記録密度が異なる記録媒体に対して情報を記録する際に、短時間で効率よく適正な記録パラメータを決定でき、正確に情報を記録再生することが可能な光学的情報記録方法、情報記録媒体、および再生方法を提供できる。

図１は、本発明の実施の形態１に係る記録再生装置の構成を示すブロック図である。図２は、前記実施の形態１に係る記録再生装置の記録パルスエッジ補正部の構成を示すブロック図である。図３は、前記実施の形態１に係る光学的情報記録媒体の構成を示す俯瞰図である。図４は、前記実施の形態１に係る記録再生装置の動作を説明するフローチャートである。図５は、前記実施の形態１および本発明の実施の形態２において、記録パルスエッジ位置を補正する一例を示す説明図である。図６は、前記実施の形態１および前記実施の形態２において、記録パルスエッジ位置を補正する一例を示す説明図である。図７は、前記実施の形態１において、記録パルスエッジ位置を補正する一例を示す説明図である。図８は、前記実施の形態２に係る光学的情報記録媒体の構成を示す俯瞰図である。図９は、本発明の実施の形態３に係る記録パルスエッジ補正部の構成を示すブロック図である。図１０は、前記実施の形態３に係る記録再生装置の動作を説明するフローチャートである。図１１は、前記実施の形態３記録パルスエッジ位置を補正する一例を示す説明図である。図１２は、本発明の実施の形態４に係る記録再生装置の構成を示すブロック図である。図１３は、前記実施の形態４に係る記録再生装置の動作を説明するフローチャートである。

前記の目的を達成するために、本発明の光学的情報記録方法は、光学的情報記録媒体に情報を記録する光学的情報記録方法であって、前記光学的情報記録媒体の記録線速度を識別する識別工程と、記録マークを所定の位置に形成するために、記録パルス位置を補正する記録パルス補正工程とを含み、前記記録パルス補正工程において、前記識別工程において識別された記録線速度に応じて、前記記録パルス位置の補正の分解能を異ならせ、前記記録線速度がより低い場合は、前記分解能をより低くすることを特徴とする。

マークの記録方式は、マークポジション記録方式またはマークエッジ記録方式のいずれであっても良い。記録パルス位置の補正とは、記録パルスのエッジ位置の補正であっても良いし、記録パルスそのものの位置の補正であっても良い。情報記録条件とは、例えば、記録密度、記録線速度などをいうがこれらに限定されない。また、情報記録特性とは、例えば、記録再生特性の良否、より具体的には、再生信号のジッタまたはビットレートあるいは繰り返し記録再生特性などをいうが、これらに限定されない。

前記の方法によれば、光学的情報記録媒体の記録線速度に応じて、記録パルス位置の補正精度を変化させるので、短時間で効率よく適正な記録パラメータを決定でき、正確に情報を記録再生することができる。

また、本発明の前記光学的情報記録方法においては、前記光学的情報記録媒体として、２層以上の情報層を有する光学的情報記録媒体を用い、前記識別工程に先立ち、前記光学的情報記録媒体において情報を記録しようとする情報層を特定する情報層特定工程をさらに含み、前記識別工程において、前記情報層特定工程により特定された情報層についての情報記録条件または情報記録特性を識別し、前記記録パルス補正工程において、前記識別工程において識別された情報記録条件または情報記録特性に応じて、前記情報層特定工程により特定された情報層に対して情報を記録するための記録パルス位置の補正精度を異ならせることが好ましい。

この方法によれば、各情報層の記録条件や記録特性の相違に対応して、記録パルス位置の補正精度を変化させるので、短時間で効率よく適正な記録パラメータを決定でき、正確に情報を記録再生することができる。

また、前記した本発明にかかる光学的情報記録方法においては、光学的情報記録媒体として、テスト記録領域を有する光学的情報記録媒体を用い、前記記録パルス補正工程により補正された記録パルスを用いて、前記テスト記録領域にテスト記録用パターンを記録するテスト記録工程と、前記テスト記録領域からテスト記録用パターンを再生し、再生結果に応じて前記記録パルス位置の補正量を決定する補正量決定工程とをさらに含むことが好ましい。

これにより、光学的情報記録媒体または各情報層の記録条件や記録特性の相違に対応して、テスト記録用パターンを形成するための記録パルス位置の補正精度を変化させるので、短時間で効率よくテスト記録を行って適正な記録パラメータを決定でき、正確に情報を記録再生することができる。

また、本発明の光学的情報記録方法において、前記光学的情報記録媒体として、コントロールトラック領域を有する光学的情報記録媒体を用い、前記識別工程が、前記コントロールトラック領域から情報を再生し、再生された情報から、当該光学的情報記録媒体の情報記録条件または情報記録特性を表す識別子を検出する識別子検出工程を含み、前記記録パルス補正工程において、前記識別子検出工程により検出された識別子が表す情報記録条件または情報記録特性に応じて、前記記録パルス位置の補正精度を異ならせることとしても良い。

この方法によれば、光学的情報記録媒体に記録されている識別子に応じて補正精度を異ならせることにより、記録パラメータの決定に要する時間を短縮でき、正確に情報を記録再生することが可能となる。なお、識別子は、情報記録条件または情報記録特性を直接的に表すものに限らず、これらを間接的に表すものであっても良い。

また、本発明の光学的情報記録方法において、前記光学的情報記録媒体として、テスト記録領域を有する光学的情報記録媒体を用い、前記識別工程が、前記テスト記録領域へテスト記録用パターンを記録するテスト記録工程と、前記テスト記録領域からテスト記録用パターンを再生し、再生信号のジッタまたはビットエラーレートを測定することにより、当該光学的情報記録媒体の情報記録特性を判定する特性判定工程とを含み、前記記録パルス補正工程において、前記特性判定工程により判定された情報記録特性に応じて、前記記録パルス位置の補正精度を異ならせることが好ましい。

この方法によれば、光学的情報記録媒体が識別子を有しない時でも、テスト記録の結果に従って補正精度を異ならせることにより、記録パラメータの決定に要する時間を短縮でき、正確に情報を記録再生することが可能となる。また、この場合、低い補正精度でテスト記録用パターンをテスト記録し、再生信号のジッタまたはビットエラーレートが一定値よりも高い時のみ、例えば補正テーブルのテーブル要素数を増やすことなどによって補正精度を高くしても良いし、この逆に、高い補正精度でテスト記録用パターンをテスト記録し、再生信号のジッタまたはビットエラーレートが一定値よりも低い時のみ、例えば補正テーブルのテーブル要素数を減らすことなどによって補正精度を低くしても良い。

また前記の目的を達成するために、本発明の光学的情報記録装置は、光学的情報記録媒体に情報を記録する光学的情報記録装置であって、前記光学的情報記録媒体の情報記録条件または情報記録特性を識別する識別手段と、記録マークを所定の位置に形成するために、記録パルス位置を補正する記録パルス補正手段とを備え、前記記録パルス補正手段が、前記識別手段において識別された情報記録条件または情報記録特性に応じて、前記記録パルス位置の補正精度を異ならせることを特徴とする。

この装置によれば、光学的情報記録媒体の情報記録条件または情報記録特性に応じて、記録パルス位置の補正精度を変化させるので、短時間で効率よく適正な記録パラメータを決定でき、正確に情報を記録再生することができる。

また、本発明の前記光学的情報記録装置においては、前記光学的情報記録媒体として、２層以上の情報層を有する光学的情報記録媒体を用い、前記光学的情報記録媒体において情報を記録しようとする情報層を特定する情報層特定手段をさらに備え、前記識別手段が、前記情報層特定手段により特定された情報層についての情報記録条件または情報記録特性を識別し、前記記録パルス補正手段が、前記識別手段において識別された情報記録条件または情報記録特性に応じて、前記情報層特定手段により特定された情報層に対して情報を記録するための記録パルス位置の補正精度を異ならせることが好ましい。

この構成によれば、各情報層の記録条件や記録特性の相違に対応して、記録パルス位置の補正精度を変化させるので、短時間で効率よく適正な記録パラメータを決定でき、正確に情報を記録再生することができる。

また、本発明の光学的情報記録装置において、前記光学的情報記録媒体として、コントロールトラック領域を有する光学的情報記録媒体を用い、前記識別手段が、前記コントロールトラック領域から情報を再生し、再生された情報から、当該光学的情報記録媒体の情報記録条件または情報記録特性を表す識別子を検出する識別子検出手段を含み、前記記録パルス補正手段が、前記識別子検出手段により検出された識別子が表す情報記録条件または情報記録特性に応じて、前記記録パルス位置の補正精度を異ならせることとしても良い。

この構成によれば、光学的情報記録媒体に記録されている識別子に応じて補正精度を異ならせることにより、記録パラメータの決定に要する時間を短縮でき、正確に情報を記録再生することが可能となる。

また、本発明の光学的情報記録装置において、前記光学的情報記録媒体として、テスト記録領域を有する光学的情報記録媒体を用い、前記識別手段が、前記テスト記録領域へテスト記録用パターンを記録するテスト記録手段と、前記テスト記録領域からテスト記録用パターンを再生し、再生信号のジッタまたはビットエラーレートを測定することにより、当該光学的情報記録媒体の情報記録特性を判定する特性判定手段とを含み、前記記録パルス補正手段が、前記特性判定手段により判定された情報記録特性に応じて、前記記録パルス位置の補正精度を異ならせることとしても良い。

この構成によれば、光学的情報記録媒体が識別子を有しない時でも、テスト記録の結果に従って補正精度を異ならせることにより、記録パラメータの決定に要する時間を短縮でき、正確に情報を記録再生することが可能となる。また、この場合、低い補正精度でテスト記録用パターンをテスト記録し、再生信号のジッタまたはビットエラーレートが一定値よりも高い時のみ、例えば補正テーブルのテーブル要素数を増やすことなどによって補正精度を高くしても良いし、この逆に、高い補正精度でテスト記録用パターンをテスト記録し、再生信号のジッタまたはビットエラーレートが一定値よりも低い時のみ、例えば補正テーブルのテーブル要素数を減らすことなどによって補正精度を低くしても良い。

また前記の目的を達成するために、本発明の光学的情報記録媒体は、複数の情報記録条件または情報記録特性に対応して、補正精度が互いに異なる複数の補正テーブルを有することを特徴とする。

この媒体によれば、媒体の持つ補正テーブルの読み出し結果により直接、補正テーブルの補正精度を変化させてテスト記録を行うので、記録パラメータの決定に要する時間をさらに短くでき、正確に情報を記録再生することができる。

また前記の光学的情報記録媒体は、記録パルス位置の補正精度を表す識別子を有することが好ましい。

この媒体によれば、媒体の識別子の識別結果により、補正テーブルの補正精度を変化させてテスト記録を行うことが可能となるので、記録パラメータの決定に要する時間を短くでき、正確に情報を記録再生することができる。

以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。本発明のポイントは、記録マークを所定の位置に形成するために、ディスクの記録特性や記録条件などの様々な条件に応じて、記録パルス位置の補正精度を変化させることにある。補正精度には、以下で述べるように、例えば、補正テーブルの要素数、補正テーブルの分解能などが含まれるがこれらに限定されない。

（実施の形態１）
本実施の形態では、ディスクの記録密度を表す識別子を、当該ディスクを再生することにより判断し、記録密度の低いディスクの場合は、要素数が少ない補正テーブルを用いて記録を行う。これにより、余分なテスト記録工程を経ることがないという利点がある。本実施の形態では、第１・第２・第３の３種類の記録密度に対して補正テーブルの要素数を異ならせる例を示す。各々の記録密度には、（第１の記録密度）＞（第２の記録密度）＞（第３の記録密度）の関係がある。図１および図２は、この実施の形態１を実現するための記録再生装置（光学的情報記録装置）の概略構成を示すブロック図である。

本記録再生装置は、光ディスク（光学的情報記録媒体）１を用いて情報の記録再生を行う装置であり、光ディスク１を回転させるスピンドルモータ１３と、レーザ光源（図示せず）を有し光ディスク１の所望の箇所にレーザ光を集束させる光ヘッド１２とを備えている。この記録再生装置全体の動作は、システム制御回路２によって制御される。本実施形態の記録再生装置は、さらに、補正テーブルの情報を各要素ごとに登録しておくテーブル登録メモリ３を有している。なお、補正テーブルの情報は、光ディスク１から読み出してテーブル登録メモリ３に登録することとしても良いし、記録再生装置の製造時などに予めテーブル登録メモリ３に記録しておくこととしても良い。なお、図１では、テーブル登録メモリ３がシステム制御回路２の外部にある構成を例示したが、テーブル登録メモリ３がシステム制御回路２の内部に設けられた構成としても良い。

この記録再生装置は、記録データ信号生成手段として、テストパターン信号生成回路４を備えている。テストパターン信号生成回路４は、前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置を決定するための、特定の周期を有する記録パルスエッジ位置決定用テストパターン信号、または、ランダムパターンを生成するためのランダムパターン信号を生成する。また、本記録再生装置は、記録データ信号生成手段として、記録する情報信号に対応した記録データ信号１８を発生させる変調回路５を有している。

本記録再生装置は、さらに、レーザを駆動するための記録パルス信号１９を発生させる記録パルス生成回路６と、この記録パルス生成回路６が出力する記録パルス信号１９の前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置を調整する記録パルスエッジ補正回路８とを備えている。

さらに、記録パルスエッジ補正回路８が出力する記録パルス信号２２に応じて、光ヘッド１２内のレーザ光源を駆動させる電流を変調するためのレーザ駆動回路１１が設けられている。

また、上記記録再生装置は、光ディスク１から情報の再生を行う再生手段として、光ディスク１からの反射光に基づき、波形等化や２値化といった再生信号の波形処理を行う再生信号処理回路１４と、再生信号波形を測定し、再生信号波形のエッジのタイミングを検出する再生信号波形測定回路１６と、再生情報を得るための復調回路１５と、光ディスク１の有する識別子から光ディスク１の情報を得る識別子検出回路１７とを有する。

図２は、図１における記録パルスエッジ補正回路８をより詳細に示した構成図である。記録パルスエッジ補正回路８は、記録パルス信号から先頭パルスを検出する先頭パルス検出回路２０１、マルチパルスを検出するマルチパルス検出回路２０２、後端パルスを検出する後端パルス検出回路２０３を有する。また、補正テーブルの要素数を切り換えるための選択回路２０４および２０５、３２個の要素に対して記録パルスエッジの遅延量を設定する第１の遅延量設定回路２０６および２０８、８個の要素に対して記録パルスエッジの遅延量を設定する第２の遅延量設定回路２０７および２０９、記録パルスエッジを最終的に調整する遅延回路２１０および２１１、先頭パルス、マルチパルス、および後端パルスの各信号波形を加算する加算回路２１２とを備えている。

図３に本実施の形態で用いる光ディスク１（光学的情報記録媒体）の俯瞰図を示す。この光ディスク１は、基板に溝または位相ピットを予め形成し、誘電体膜、記録膜、反射膜等（いずれも図示省略）を成膜することにより作製される。さらに成膜後のディスクに基板（カバー基板ともいう）を接着したものであっても良い。

基板には、ガラス・樹脂等の透明な平板を用いる。または、樹脂を溶剤に溶かして塗布・乾燥させたものでも良い。

誘電体膜としてはＳｉＯ₂、ＳｉＯ、ＴｉＯ₂、ＭｇＯ、ＧｅＯ₂等の酸化物、Ｓｉ₃Ｎ₄、ＢＮ、ＡｌＮ等の窒化物、ＺｎＳ、ＰｂＳ等の硫化物、あるいはこれらの混合物が使える。

記録膜に用いる材料としてはアモルファス・結晶間の相変化をする材料、例えばＳｂＴｅ系、ＩｎＴｅ系、ＧｅＴｅＳｎ系、ＳｂＳｅ系、ＴｅＳｅＳｂ系、ＳｎＴｅＳｅ系、ＩｎＳｅ系、ＴｅＧｅＳｎＯ系、ＴｅＧｅＳｎＡｕ系、ＴｅＧｅＳｎＳｂ系、ＴｅＧｅＳｂ系等のカルコゲン化合物が使える。Ｔｅ−ＴｅＯ₂系、Ｔｅ−ＴｅＯ₂−Ａｕ系、Ｔｅ−ＴｅＯ₂−Ｐｄ系等の酸化物系材料も使える。これらの材料の場合、結晶（即ち状態ａに相当）−アモルファス（即ち状態ｂに相当）の間で相変化を生ずる。また、ＡｇＺｎ系、ＩｎＳｂ系等の結晶（状態ａ）−結晶（状態ｂ）間の相変化を生ずる金属化合物であっても良い。

反射膜としては、Ａｕ、Ａｇ、Ａｌ、Ｃｕ等の金属材料あるいは所定の波長における反射率の高い誘電体多層膜等が使える。

これらの材料を成膜する方法としては真空蒸着法やスパッタリング法等が使える。

また、この光ディスク１は、スピンドルモータ１３のシャフトに光ディスク１を固定するためのセンターホール３０１を有する。さらに、この光ディスク１は、物理的なフォーマットとして、コントロールトラック領域３０２、テスト記録領域３０３、データ領域３０４を有する。

コントロールトラック領域３０２は、光学的情報記録再生装置に対して光ディスク１に関する情報を与えるためのものであり、主として光ディスク１の導入時に装置が再生する。このコントロールトラック領域３０２における情報の記録形態は、基板に予め位相ピットとして形成される形態であっても良いし、記録膜の光学的変化で記録されている形態であっても良い。

このコントロールトラック領域３０２は、光学的情報記録再生装置に対して光ディスク１に関する情報を与えるためのものであり、光学的情報記録再生装置により主として光ディスクの導入時に再生される。コントロールトラック領域３０２への情報の記録形態は、基板にあらかじめ位相ピットとして形成される形態であっても良いし、記録膜の光学的変化で記録されている形態であっても良い。コントロールトラック領域３０２には、例えば、ディスクの種別（１回記録可能、書き換え可能、特定の領域のみ書き換え可能、等）、ディスクの大きさ、記録密度、記録パワー、ディスクの製造者情報、補正テーブルなどを表す情報を記録する。

コントロールトラック領域３０２内には、識別子３０５が記録されている。識別子３０５としては、補正精度に対応した識別子が記録されている。この識別子には、例えば、ディスクの製造者が、検査結果をもとにして、その光ディスク１において十分良好な記録再生特性が得られる補正テーブルの要素数を示す情報を、出荷前に記録しておく。本実施形態では、ディスクの記録密度を表す情報を識別子として用いることとする。この識別子３０５の記録形態は、コントロールトラック領域３０２に記録される情報と同様に、位相ピットの形態であっても良いし、記録膜の光学的変化の形態であっても良い。また、この識別子３０５は、コントロールトラック領域３０２内に存在する方が、ディスクの導入時に他のディスク情報と同時に装置が再生できる点でより好ましいが、光ディスク１上の他の領域にあっても良い。

テスト記録領域３０３は、光ディスク１に対して光学的情報記録再生装置が適切な記録パワーや記録パルスエッジ位置で記録できるように、試し書きを行うための領域である。データ領域３０４は、実際の情報信号を記録する領域である。

（実施の形態１の動作）
次に、図４のフローチャート、および図５〜図７の動作図を用いて、本実施の形態の記録再生装置の動作について説明する。

図４は本実施の形態の動作を示すフローチャートである。図５は本実施の形態で記録密度を高くして記録する場合の動作を示す波形である。図５では、（前符号長７Ｔ−記録符号長３Ｔ−後符号長７Ｔ）、（前符号長７Ｔ−記録符号長５Ｔ−後符号長３Ｔ）および（前符号長３Ｔ−記録符号長５Ｔ−後符号長６Ｔ）の組み合わせ（即ち補正テーブルの各要素）での前端パルスと後端パルスのエッジ位置を補正する動作を説明している。ここでＴはチャネルクロック周期を表す。図５において、（ａ）はチャネルクロック信号、（ｂ）は記録データ信号１８の波形、（ｃ）は記録パルス信号１９の波形、（ｄ）はパルスエッジ補正後の記録パルス信号２２の波形を示す。（ｅ）は、上記記録パルス信号により記録されるマークの状態を示すものであり、５０１がトラックを表し、５０２が記録マークを表す。

テスト記録時には、まず、シーク動作工程（図４（ａ）に示すステップ４０１、以下、Ｓ４０１のように略記する）により、システム制御回路２の命令に基づいて、光ヘッド１２が、光ディスク１上のコントロールトラック領域３０２にシークする。コントロールトラック領域３０２には、光ディスク１への記録密度を表す識別子が記録されている。また、コントロールトラック領域３０２には、光ディスク１に対する記録パワーや、補正テーブルの初期値を表す情報も記録されている。このコントロールトラック領域３０２の情報に基づいて、システム制御回路２は、テーブル登録メモリ３に、前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置の初期値を記憶する。また、システム制御回路２は、この初期値を記録パルスエッジ補正回路８に設定する。また、システム制御回路２は、レーザ駆動回路１１に対して予め記録パワーを設定しておく。

次に、識別子再生工程（Ｓ４０２）により、ディスク情報トラックを再生し、その再生信号を、再生信号処理回路１４と復調回路１５を経て、識別子検出回路１７へ送る。そして、識別子検出回路１７で、識別子の情報を検出し、システム制御回路２に送る。システム制御回路２は、記録密度判別工程（Ｓ４０３）にて、記録するべき密度を判別し、判別した記録密度に応じた切り換え制御信号２０を、記録パルスエッジ補正回路８の選択回路２０４、２０５に送る。

以下では、記録密度判別工程（Ｓ４０３）の判別結果が、第１〜第３の各記録密度の時について場合分けして述べる。

（実施の形態１の動作−第１の記録密度の場合）
記録密度判別工程（Ｓ４０３）の判別結果が第１の記録密度（即ち、記録密度が最も高い）場合には、選択回路切り換え工程（Ｓ４０４）により、選択回路２０４および２０５を、それぞれ第１の遅延量設定回路２０６および２０８側に切り換える。これにより、記録パルスのエッジ位置を、前符号長と記録符号長との組み合わせ、記録符号長と後符号長との組み合わせに応じて設定できる状態にする。

この選択回路切り換え工程（Ｓ４０４）の動作を、図２を用いてより詳細に説明する。選択回路２０４は、変調回路５からの記録データ信号１８を、第１の遅延量設定回路２０６・２０８に入力させるように切り換わる。遅延量設定回路２０６・２０８は、テーブル登録メモリ３からのテーブル設定信号２１と、上記の前符号長と記録符号長との組み合わせ、または記録符号長と後符号長との組み合わせとを比較し、遅延回路２１０および２１１に対して記録パルスエッジの補正量を設定する。遅延回路２１０は、先頭パルスの前エッジを調整し、遅延回路２１１は後端パルスの後エッジを調整することにより、エッジ位置の補正を行うことになる。

この場合、テーブル登録メモリ３における補正テーブルの形態は（表１）および（表２）のようになる。

これらの表は、最短符号長が３Ｔ、最長符号長が１１Ｔの場合の前端エッジ位置および後端エッジ位置の補正量を表している。

本実施の形態で用いた光ディスクのコントロールトラック領域には、６Ｔ以上については常に同じ補正値を用いた補正テーブルが情報として記録されている。従って符号長の組み合わせから、補正テーブルの要素数は３２個となる。

テスト記録・エッジ位置決定サブルーチン（Ｓ４０５）は、この３２個のテーブル要素に対してエッジ位置を決定する工程であり、詳細はＳ４１２〜Ｓ４１６の工程からなる。即ち、テストパターン切り換え工程（Ｓ４１２）により、所定のテーブル要素の補正量を決定するためのテストパターンをテストパターン信号生成回路４から送出できるように、システム制御回路２から制御信号を送る。

テストパターン記録動作工程（Ｓ４１３）により、記録パルス生成回路６は、テストパターン信号生成回路４から送出された記録データ信号１８（図５の（ｂ）に相当する）を記録パルス信号１９（図５の（ｃ）に相当）に変換する。これは、記録データ信号１８の信号反転間隔がチャネルクロック周期Ｔの何倍に相当するかを検出し、記録符号長の長さに応じて、所定個数および所定幅の記録パルス列を所定のタイミングで発生するものである。

そして記録パルスエッジ補正回路８にて、記録パルス列の前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置を、設定値に調整する。即ち図５の（ｄ）に示すように、（前符号長７Ｔ−記録符号長３Ｔ）の前端パルスの前エッジはΔ(6,3)F、（記録符号長３Ｔ−後符号長７Ｔ）の後端パルスの後エッジはΔ(3,6)L、（前符号長７Ｔ−記録符号長５Ｔ）の前端パルスの前エッジはΔ(6,5)F、…のように、（表１）〜（表２）の補正テーブルの各要素値に従ってパルスエッジが調整される。

レーザ駆動回路１１は、記録パルスエッジ補正回路８を経た、図５の（ｄ）に示すような記録パルス信号に基づいてレーザの駆動電流を変調することにより、テスト領域３０３内の該当トラックへテスト記録を行う。記録後は図５の（ｅ）に示すように、トラック５０１上にはチャネルクロックの整数倍に対応した正規の位置に記録マーク５０２のエッジが形成される。

テストパターン信号の記録後は、再生動作工程（Ｓ４１４）により、光ヘッド１２で該当トラックを再生する。再生信号処理回路１４が、再生信号の波形等化と２値化とを行う。そして信号タイミング測定工程（Ｓ４１５）により、再生信号波形測定回路１６が、２値化信号をスライスし、再生信号反転間隔を測定する。エッジ位置決定工程（Ｓ４１６）は、再生信号反転間隔とテストパターン信号の信号反転間隔との差分（即ちマークエッジのずれ量）を求め、その差分を補償した量を該当のテーブル要素での補正量として決定する。なお、再生信号反転間隔とテストパターン信号の信号反転間隔との差分が最小となるまで、補正量を変化させながらＳ４１３〜Ｓ４１６までのステップを反復して実行する動作であってもよい。

システム制御回路２は、設定中のエッジ位置をエッジ位置情報としてシステム制御回路２内のテーブル登録メモリ３に登録し、この組み合わせテーブルの要素に対するテスト記録を終了する。さらに、システム制御回路２は、テーブル要素判定工程（Ｓ４０６）により、全ての組み合わせテーブルの要素に対してＳ４０５を繰り返したか否かを判断し、（表１）および（表２）に示す３２個全てのテーブル要素についてエッジ位置の設定と登録が終了した後にテスト記録を終了し、実際の情報信号の記録を開始する。

（実施の形態１の動作−第２の記録密度の場合）
一方、判別結果が第２の記録密度（即ち、第１の記録密度より低い）の場合の動作は以下のようになる。選択回路切り換え工程（Ｓ４０８）により、選択回路２０４は、変調回路５からの記録データ信号１８を第２の遅延量設定回路２０７および２０９に入力するよう切り換わる。これにより、記録パルスのエッジ位置を、記録符号長のみに対応して設定できる状態にする。

第２の遅延量設定回路２０７および２０９では、テーブル登録メモリ３からのテーブル設定信号２１と、記録符号長とを比較し、遅延回路２１０および２１１に対して記録パルスエッジの補正量を設定する。上記の第１の記録密度の場合と同様に、遅延回路２１１および２１２では、それぞれ先頭パルスの前エッジと後端パルスの後エッジを調整することにより、エッジ位置の補正を行う。

この場合、テーブル登録メモリ３における補正テーブルの形態は（表３）および（表４）のようになる。符号長の組み合わせから、補正テーブルの要素数は８個となる。

また、図６は本実施の形態にて第２の記録密度でディスクに記録する場合の動作を示す波形である。図６は図５と同じ記録データ信号を記録しているが、記録パルスのエッジ位置の補正動作は異なる。即ちエッジ位置の補正動作は、記録符号長３Ｔおよび記録符号長５Ｔに対してなされる。

テスト記録・エッジ位置決定サブルーチン（Ｓ４０５）は、上記の８個のテーブル要素に対してエッジ位置を決定する工程であり、上記の高密度記録と同様の工程からなる。異なる点は、第２の記録パルスエッジ補正回路９において、記録パルス列の前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置が設定値に調整されることである。即ち、図５（ｄ）に示すように、記録符号長３Ｔの前端パルスの前エッジはΔ3F、記録符号長３Ｔの後端パルスの後エッジはΔ3L、記録符号長５Ｔの前端パルスの前エッジはΔ5F、…のように、（表３）〜（表４）の補正テーブルの各要素値に従ってパルスエッジが調整される。従って、テーブル要素判定工程（Ｓ４０９）は、（表３）および（表４）に示す８個のテーブル要素についてエッジ位置の設定と登録が終了したか否かを判定する。

（実施の形態１の動作−第３の記録密度の場合）
さらに、判別結果が第３の記録密度（即ち、第２の記録密度より低い）の場合には、選択回路切り換え工程Ｓ４１１により選択回路２０４および２０５をそれぞれ直接遅延回路２１０および２１１に送出して、テスト記録を行わずに終了する。

図７は、第３の記録密度の場合の動作を示す波形である。図７は図５および図６と同じ記録データ信号を記録しているが、記録パルスのエッジ位置の補正動作が異なる。図７の（ｃ）と（ｄ）の波形は同一であり、記録パルスのエッジ位置の調整工程を経ることがない。

上述したような方法をとるのは、以下の理由による。第２の記録密度でディスクに記録する場合には、トラック方向に隣接する記録マーク同士の熱干渉の影響が、第１の記録密度で記録する場合に比較して小さいので、前符号長の相違や後符号長の相違による記録マークのエッジ位置の変動が無視できるほど小さくなる。従って、記録符号長のみに対応して記録パルスエッジを補正する、要素数８の補正テーブルを用いても、十分な再生信号品質が得られるからである。さらに第３の記録密度では、記録符号長の相違による記録マークのエッジ位置の変動も無視できるほど小さくなる。従って、記録符号長、前符号長および後符号長に対応して記録パルスのエッジ位置を調整しなくとも、十分な再生信号品質が得られるからである。

これにより、低密度でディスクに記録する場合には余分なテスト記録工程を経ることがない。そのため、テスト記録の時間を短縮することが可能となる。

（実施の形態１の比較実験）
本実施の形態の効果を確かめるために、記録密度を異ならせて行った比較実験（実施例）について次に説明する。光ディスク１の基板には、直径１２０ｍｍ、厚さ０．６ｍｍのポリカーボネート樹脂を用いた。この基板には、凸凹形状の位相ピットを予めコントロールトラック領域としてプリフォーマットした。コントロールトラック領域には、ディスクへの記録密度を表す情報を識別子として記録した。

この光ディスク１には、異なる記録密度での記録再生に対応させるために、２種類の異なる記録密度を表す識別子を記録した。ここでは第１の記録密度として最短マーク長を０．３５μｍとし、第２の記録密度としては最短マーク長０．５５μｍとして、両方の記録密度で記録再生するディスクであるとの情報を記録した。

樹脂基板のデータ領域内のセクタ領域には記録用ガイド溝を形成した。また、セクタ領域とセクタ領域の間には、アドレス情報を表す位相ピットを形成した。ガイド溝のピッチは１．４μｍである。基板上に保護膜、記録膜、保護膜、反射膜をスパッタリング法により４層成膜し、その上に保護基板を接着した。保護膜としてＺｎＳ−ＳｉＯ₂、記録膜としてＧｅＳｂＴｅ、反射膜としてＡｌを用いた。

スピンドルモータ１３により、このディスク１を線速度８．２ｍ／ｓで回転させ、波長６５０ｎｍのレーザ光を開口数（ＮＡ）０．６の対物レンズで集束させた。

記録再生時のレーザ光のパワーは、Ｐｐ＝１０．５ｍＷ、Ｐｂ＝４ｍＷ、Ｐｒ＝１ｍＷとした。記録情報の変調方式は（８−１６）パルス幅変調を用いた。チャネルクロック周波数は記録密度に対応して変化させた。

比較のために、補正テーブルの要素数は（表１）および（表２）に示す３２個の場合と、（表３）または（表４）に示す８個の場合の２種類とした。各要素の補正分解能は０．５ｎｓとした。なお、補正分解能とは、補正量の増減分の最小単位をいう。この条件による（表１）〜（表４）の補正テーブルの具体例を、最短マーク長が０．５５μｍの場合を（表５）〜（表８）として、最短マーク長が０．３５μｍの場合を（表９）〜（表１２）として、それぞれ示す。

上記の条件を用いてテスト記録を行った後、ランダム信号を１０回記録して、タイムインターバルアナライザにより再生信号のジッタを測定した。各情報層・補正テーブルの要素数に対するジッタの測定結果を（表１３）に示す。

（表１３）より、最短マーク長０．５５μｍでは８個と３２個の何れの要素数でも６％台のジッタが得られている。それに対して最短マーク長０．３５μｍでは３２個の要素数ではジッタが８％台であるが、８個では１１．０％まで悪化していることが分かる。これは、最短マーク長０．３５μｍでは記録マークの間のスペースの長さが短くなり、チャネルクロック周期も小さくなる。従って、前符号長や後符号長の変化に対する熱干渉の変化が相対的に大きくなるので、前符号長や後符号長と記録符号長との組み合わせとした補正テーブルを用いないと所望のジッタが得られないものと考えられる。従って、最短マーク長０．５５μｍでは、補正テーブルの要素数を８個とするように切り換えるのがテスト記録時間を少なくする観点から好ましく、最短マーク長０．３５μｍでは補正テーブルの要素数を３２個とするように切り換えるのが良好なジッタ値が得られる観点から好ましいことになる。

このように本実施の形態では、ディスクの識別子の識別結果により、低い記録密度で記録する時にテーブルの要素数を少なくしてテスト記録を行うので、テスト記録に要する時間を短くするという、特別の効果を得ることができる。

なお、上記の実施の形態において、ディスクに記録する線速度に応じて補正テーブルの要素数を異ならせるものとしてもよい。例えば同じチャネルクロック周波数で記録動作を行う場合、線速度が速い方が記録密度が低く、また記録時に記録膜に熱が蓄積されにくいので、記録マークのエッジ位置は熱干渉の影響を受けにくくなる。従って前符号長や後符号長と記録符号長との組み合わせとした補正テーブルを用いなくとも良好なジッタを得ることができる。これにより補正テーブルの要素数を少なくすることができ、テスト記録に要する時間を短縮することが可能となる。

また、上記の実施の形態では、識別子の識別結果によりテーブルの要素数そのものを変化させることによって補正精度を切り換えたが、テーブルの要素数は同じにしたまま、所定のテーブル要素の値を等しくすることにより、補正精度を切り換える形態でもよい。例えば、（表１）および（表２）のテーブルにおいて、
Δ(3,3)F＝Δ(4,3)F＝Δ(5,3)F＝Δ(6,3)F
Δ(3,4)F＝Δ(4,4)F＝Δ(5,4)F＝Δ(6,4)F
・・・
Δ(6,3)L＝Δ(6,4)L＝Δ(6,5)L＝Δ(6,6)L
のようにテーブル要素の値を等しくすれば、（表３）および（表４）の補正テーブルと同様の効果が得られることになる。

また、上記の実施の形態の動作で第３の記録密度の場合には記録パルスエッジ位置の調整工程を経ないものとしたが、符号長に関わらず一律に記録パルスエッジ位置を調整するものとしても良い。この時、補正テーブルは（表１４）および（表１５）に示すように計２個の要素数を有するものとなる。この場合には、第３の記録密度でより良好な記録再生特性を得ることができる。

（実施の形態２）
実施の形態１で述べた形態の他にも、ディスクの記録特性が異なる場合に補正テーブルの要素数を異ならせるものとした場合にも、同様の特別の効果を得ることができる。即ち、記録密度が同等でもディスク自体が熱干渉の小さい記録特性を有するものである場合には、補正テーブルの要素数を少なくしても記録マークのエッジ位置の変動が無視できるほど小さくなる。従って、テスト記録に要する時間を短縮することが可能となる。

以下では、ディスクの記録特性が異なる場合の最も典型的な例として、多層媒体の各情報層に対応して補正テーブルの要素数を異ならせる実施の形態について、情報層を２層有する光ディスクでの実施の形態について説明する。

（実施の形態２の構成および動作）
図８に本実施の形態で用いる光ディスク１（光学的情報記録媒体）の俯瞰図を示す。図８では光ディスクの内部の説明のために、光ディスク１の一部分を切り取った状態で示してある。この光ディスクは記録再生用レーザ光の入射側から見て手前に位置する第１の情報層８０１と、奥に位置する第２の情報層８０２とからなる。識別子３０５は、各情報層に独立に存在し、補正精度に対応した識別子が記録されている。

本実施の形態での記録再生装置の構成および動作は、識別子検出回路が各情報層に存在する識別子を検出する点を除き、実施の形態１と同様である。

（実施の形態２の比較実験）
以下では実施の形態２での比較実験（実施例）について説明する。光ディスク１の作製は以下のようにして行った。基板として、直径１２０ｍｍ、厚さ１．１ｍｍのポリカーボネート樹脂を用い、表面にスパイラル状の幅０．２５μｍ、ピッチ０．３２μｍ、深さ２０ｎｍの溝を形成した。またこの基板には、凸凹形状の位相ピットを予めコントロールトラック領域としてプリフォーマットした。

第２の情報層８０２はこの基板の表面上に形成し、反射層Ａｇ合金、誘電体層ＺｎＳ−ＳｉＯ₂、記録層ＧｅＳｂＴｅ、誘電体層ＺｎＳ−ＳｉＯ₂を順番に成膜した。

次に、基板と同様の溝形状を転写した中間層を形成した。さらに、第１の情報層８０１として誘電体層ＡｌＮ、誘電体層ＺｎＳ−ＳｉＯ₂、記録層ＧｅＳｂＴｅ、誘電体層ＺｎＳ−ＳｉＯ₂を順番に成膜した。手前の情報層に反射層を用いないのは、透過率を高くするためである。

最後にポリカーボネートからなるシートを紫外線硬化樹脂により接着した。接着部の厚さとシートの厚さの合計は０．１ｍｍとした。

また、各情報層のコントロールトラック領域には、各情報層の補正精度を表す情報を識別子３０５として位相ピットの形態で記録した。手前の情報層と奥の情報層では、記録されている識別子情報が異なる。

これのディスクを用いて記録再生実験を行った。ディスクを線速度５ｍ／ｓで回転させ、波長４０５ｎｍの半導体レーザ光を開口数（ＮＡ）０．８５の対物レンズで絞ってディスクの何れかの情報層に照射した。

記録再生時の変調符号としては（８−１６）変調を用い、変調後の信号をマルチパルス化して半導体レーザを発光させた。３Ｔのマーク長は０．２０μｍとした。

比較のために、補正テーブルの要素数は（表１）および（表２）に示す３２個の場合と、（表３）または（表４）に示す８個の場合の２種類とした。各要素の補正分解能は０．５ｎｓとした。

上記の条件を用いてテスト記録を行った後、ランダム信号を１０回記録して、タイムインターバルアナライザにより再生信号のジッタを測定した。各情報層・補正テーブルの要素数に対するジッタの測定結果を（表１６）に示す。

（表１６）より、奥の情報層では８個と３２個の何れの要素数の補正テーブルを用いた場合でも、８％台の良好なジッタが得られている。これは、多層媒体の奥の情報層は、奥の層にレーザ光を到達させなければならない手前の情報層と異なり、高い透過率を有する構成にする必要がない。そのため、光学的に吸収が大きく、熱伝導性の高い反射膜を厚くした多層膜構成とすることができるので、記録時に熱が記録膜から反射膜方向へ放散されやすい傾向がある。従って、トラック方向の熱干渉の影響を小さく、前符号長や後符号長の変化に対する熱干渉の変化が小さいので、記録符号長のみに対して記録パルスのエッジ位置を補正するテーブルであっても、ジッタはあまり変わらないと考えられる。この場合には、要素数を８個にした方がテスト記録の工程数が減らせるので、テスト記録に要する時間を短縮する観点から好ましい。

一方、手前の情報層では３２個の要素数ではジッタが８％台であるが、８個では９．８％と悪化していることが分かる。これは、手前の情報層では熱伝導性の高い反射層を設けていないために、記録時には記録膜中を熱が拡散する傾向にある。従って、前符号長や後符号長の変化に対する熱干渉の変化が大きくなるので、前符号長や後符号長と記録符号長との組み合わせとした補正テーブルを用いないと所望のジッタが得られないものと考えられる。この場合には補正テーブルの要素数を３２個とするのが良好なジッタ値が得られる観点から好ましいことになる。

以上述べたように本実施例では、情報層を表す識別子の識別結果により補正テーブルの要素数を少なくしてテスト記録を行うので、テスト記録に要する時間を短くすることが可能となる。なお、情報層の数は２層に限るものではなく、３層以上であっても、各情報層の記録特性に合わせた要素数とすれば、同様の効果が得られる。

また、本実施例は多層ディスクに限るものではなく、単層ディスクの場合でも、ディスクごとの記録特性の相違により要素数を異ならせるものであっても良い。

（実施の形態３）
本実施の形態は、ディスク上の識別子を再生することにより記録条件を識別し、例えばディスクへの記録線速度が低く、記録パルスのエッジを大きく変化させても記録マークのエッジ位置への影響が少ない記録特性を有するディスクでは、補正テーブルの各要素の分解能を低くして記録することにより、余分なテスト記録工程を経ることがないというものである。

（実施の形態３の構成および動作）
実施の形態３を実現するための記録再生装置（光学的情報記録装置）の概略構成は図１と同様である。図９は図１における記録パルスエッジ補正回路８の詳細な構成を示す図である。図１０は本実施の形態の動作を説明するフローチャート、また図１１は本実施の形態の動作を説明する記録パルス信号の波形図である。

図９の構成で実施の形態１と異なるのは、先頭パルス検出回路９０１からの先頭パルス信号の送出先を、選択回路９０６により第１の遅延回路９０８または第２の遅延回路９０９の何れかに切り換えていることである。また、後端パルス検出回路９０３からの後端パルス信号の送出先を、選択回路９０７により第１の遅延回路９１０または第２の遅延回路９１１の何れかに切り換えていることである。これにより、テーブルの要素数は同じであるが、ディスクの記録特性によって補正テーブルの各要素の設定分解能を切り換える動作を実現する。この動作について、図１０、図１１を用いてより具体的に説明する。

図１０における記録動作は以下のようになる。変調回路からの記録データ信号１８は遅延量設定回路９０４および９０５に送出される。先頭パルス検出回路９０１・後端パルス検出回路９０３からのパルス信号はそれぞれ選択回路９０６および９０７に送られる。遅延量設定回路９０４・９０５では、テーブル登録メモリ３からのテーブル設定信号２１と、上記の前符号長と記録符号長との組み合わせ、または記録符号長と後符号長との組み合わせとを比較し、第１の遅延回路９０８・９１０および第２の遅延回路９０９・９１１に対して記録パルスエッジの補正量を設定する。各遅延回路９０８〜９１１では該当する記録パルスのエッジを調整することにより、エッジ位置の補正を行うことになる。この時、テーブル登録メモリ３における補正テーブルの形態は（表１）および（表２）のように、選択回路が何れを選択しても同じ要素数のテーブルとする。

第１の遅延回路９０８・９１０と第２の遅延回路９０９・９１１の動作で異なるのは、遅延量の設定分解能である。図１１（ａ）（ｂ）は第１の遅延回路９０８・９１０による記録パルスエッジの調整の一例を示し、図１１（ｃ）（ｄ）は第２の遅延回路９０９・９１１による記録パルスエッジの調整の一例を示している。第１の遅延回路では遅延回路の設定分解能（最小設定単位）がｒ1であるのに対し、第２の遅延回路ではｒ2と、第１の遅延回路よりも小さくしているのが特徴である。

また、光ディスク１のコントロールトラック領域には、設定分解能に対応した識別子が記録されている。例えばディスクの製造者の検査結果をもとにして、記録パルスのエッジを変化させた時の記録マークのエッジ位置への影響の大小により、十分良好な記録再生特性が得られる設定分解能を示す情報を記載しておく。

図１０は一連のテスト記録動作を示している。実施の形態１と異なるのは、以下の点である。判別工程Ｓ１００３では、識別子再生工程Ｓ１００２の再生結果により、記録するディスクでの良好な記録再生特性が得られる設定分解能を識別する。即ち、記録パルスのエッジを変化させた時に記録マークのエッジ位置が大きく変化する記録特性を持つディスクでは、良好な記録再生特性が得られる設定分解能は高くなる。

記録マークのエッジ位置が大きく変化する記録特性を持つディスクまたは記録条件の場合には、選択工程Ｓ１００７にて選択回路９０６および９０７を第２の遅延回路９０９・９１１側に切り換えて、相対的に細かい設定分解能ｒ2で記録パルスのエッジ位置を調整し、決定する（Ｓ１０１５〜Ｓ１０１９に相当）。

逆に記録マークのエッジ位置の変化が小さいディスクまたは記録条件の場合には、選択工程Ｓ１００４にて選択回路９０７を第１の遅延回路９０８・９１０側に切り換えて、相対的に粗い設定分解能ｒ1で記録パルスのエッジ位置を調整し、決定する（Ｓ１０１０〜Ｓ１０１４に相当する）。

この動作により、記録マークのエッジ位置の変化が小さいディスクまたは記録条件で、再生信号反転間隔とテストパターン信号の信号反転間隔との差分が最小となるまで、補正量を変化させながらＳ１０１１〜Ｓ１０１４までのステップを反復して実行するようにした場合でも、設定分解能が粗くしているので少ない反復回数で記録パルスのエッジ位置を決定することができる。なおかつ記録マークのエッジ位置の変動は無視できるほど小さくできる。従って、テスト記録に要する時間を短縮することが可能となる。

（実施の形態３の比較実験）
本実施の形態の効果を確かめるために、記録条件として線速度を異ならせて行った比較実験（実施例）について次に説明する。光ディスク１は、実施の形態１と同様の方法で作製した。

コントロールトラック領域には、ディスクに記録する線速度を表す情報を識別子として記録した。この光ディスク１には、異なる線速度での記録再生に対応させるために、２種類の異なる線速度を表す識別子を記録した。ここでは８．２ｍ／ｓと、１２．３ｍ／ｓの線速度で記録再生するディスクであるとの情報を記録した。

スピンドルモータ１３により、このディスク１を８．２ｍ／ｓと、１２．３ｍ／ｓの２種類の異なる線速度で回転させ、波長６５０ｎｍのレーザ光を開口数（ＮＡ）０．６の対物レンズで集束させた。

記録再生時のレーザ光のパワーは、線速度８．２ｍ／ｓの場合、Ｐｐ＝１１ｍＷ、Ｐｂ＝４．５ｍＷ、Ｐｒ＝１ｍＷとした。線速度１２．３ｍ／ｓの場合には、Ｐｐ＝１３ｍＷ、Ｐｂ＝５ｍＷ、Ｐｒ＝１ｍＷとした。記録情報の変調方式は（８−１６）パルス幅変調を用いた。チャネルクロック周波数を線速度に対応して変化させることにより、最短マーク長は何れの線速度でも０．４μｍとした。

本比較実験では、（表１）および（表２）に示す補正テーブルを用いた。２種類何れの線速度に対しても３２個の同じテーブル要素数とした。

比較のために、テーブル要素の補正分解能は各線速度に対して０．５ｎｓと１．０ｎｓの２種類とした。即ち、各要素値の設定ステップを０．５ｎｓのみか１．０ｎｓのみとした。

上記の条件を用いてテスト記録を行った後、ランダム信号を１０回記録して、タイムインターバルアナライザにより再生信号のジッタを測定した。各線速度・補正分解能に対するジッタの測定結果を（表１７）に示す。

（表１７）より、線速度８．２ｍ／ｓでは０．５ｎｓと１．０ｎｓの何れの補正分解能でも８％台の良好なジッタが得られている。これは、線速度が遅いため記録パルスのエッジ位置の変化がマークエッジ位置に与える影響が小さいので、何れの補正分解能でもジッタはあまり変わらないと考えられる。この場合には、補正分解能を１．０ｎｓとした方がテスト記録におけるパルスエッジの調整点を減らせるので、テスト記録に要する時間を短縮する観点から好ましい。

一方、線速度１２．３ｍ／ｓでは０．５ｎｓの補正分解能ではジッタが８％台であるが、１．０ｎｓでは１０．３％と悪化していることが分かる。これは、線速度が速い方が記録パルスのエッジ位置の変化がマークエッジ位置に与える影響が大きくなるので、１．０ｎｓでは設定ステップが粗すぎてジッタが悪くなったものと考えられる。この場合には補正分解能を０．５ｎｓとするのが良好なジッタ値が得られる観点から好ましいことになる。

それゆえ、記録マークのエッジ位置の変化が小さい記録条件では、識別子の識別結果により分解能を低くしてテスト記録することが、短いテスト記録時間で正確な情報の記録再生を行う点で効果を有するといえる。

このように本実施の形態では、記録パルスのエッジ位置の変化がマークエッジ位置に与える影響が小さい条件で記録する時に補正テーブルの各要素の分解能を低くしてテスト記録を行うので、テスト記録に要する時間を短くすることができる。

なお、本実施の形態では、遅延回路を切り換えて補正分解能を変化させるものとしたが、同じ遅延回路を用いた上で図１１（ｅ）に示すように設定ステップを間引くことで分解能をｒ2からｒ1に変化させるもののであっても良い。

また、本実施の形態では識別工程の識別結果にかかわらずテーブルの要素数は同じとしたが、ディスクへの記録密度や記録特性に応じて要素数を異ならせてもよい。即ち、第１および実施の形態２との組み合わせであっても良い。

また、同一のディスクに異なる条件で記録する場合に、それぞれの条件に対応した補正精度を表す複数の識別情報を記録しておくことにより、それぞれの記録条件に対応して最小のテスト記録時間でテスト記録を行うことができる。例えば（表１８）に示すように、複数の線速度に対応した記録パワー、テーブル要素数、分解能をコントロールトラック領域に記録しておけば良い。

さらに、同一のディスクに異なる条件で記録する場合には、テーブル要素数と分解能を値として記録する代わりに、該当のテーブル要素数と分解能を有する、複数の補正テーブル自体を記録した媒体でも良い。この場合、要素数や分解能を表す特別の識別子を設ける必要がなくなり、コントロールトラック領域に記録しておく情報の簡略化が図れる。また、要素数や分解能を表す特別の識別子を読み出すことなく、媒体の持つ補正テーブルの読み出し結果により直接、補正テーブルの補正精度を変化させてテスト記録を行うので、テスト記録に要する時間をさらに短くでき、正確に情報を記録再生することができる。

また、媒体に対し、異なる複数の線速度に対応して補正精度の異なる複数の補正テーブルを記録しておき、高い記録密度に対して補正精度の高い補正テーブルを設けたものであっても良い。この場合、記録マークのエッジ位置の変化が小さくなる低い線速度では、補正精度の低い補正テーブルに基づいて補正精度を低くしてテスト記録できるので、短いテスト記録時間で正確な情報の記録再生を行える点で効果を有する。

同様に、異なる複数の記録密度に対応して補正精度の異なる複数の補正テーブルを記録しておき、高い記録密度に対して補正精度の高い補正テーブルを設けたものであっても良い。この場合、低い記録密度では、補正精度の低い補正テーブルに基づいて補正精度を低くしてテスト記録できるので、短いテスト記録時間で正確な情報の記録再生を行える点で上記と同様の効果を有する。

（実施の形態４）
本実施の形態は、ディスクに対してランダムパターンの記録再生を行ってＢＥＲを測定し、ＢＥＲが一定値よりも高い場合のみ、補正テーブルの要素数を増やしてテスト記録することにより、記録密度の低いディスクや熱干渉の小さいディスクでは余分なテスト記録工程を経ることがないというものである。

（実施の形態４の構成および動作）
図１２は、この実施の形態４を実現するための記録再生装置（光学的情報記録装置）の概略構成を示すブロック図である。本実施の形態における記録パルスエッジ補正回路８の構成は図２と同様のものを用いることができる。図１２が実施の形態１の構成（図１）と異なるのは、識別子検出回路１７に代わってＢＥＲ測定回路１２０１を設けている点である。

図１３は、本実施の形態におけるテスト記録の動作を説明するフローチャートである。以下、図１２、図２および図１３を用いて動作を具体的に説明する。

本実施の形態ではシーク動作（Ｓ１３０１）後に、選択回路切り換え工程Ｓ１３０２により選択回路２０４・２０５を第２の遅延量設定回路２０７・２０９に切り換える。これにより、記録パルスのエッジ位置を、記録符号長に応じて設定できる状態にする。

実施の形態１と同様に、補正テーブルの各要素を決定するためにテスト記録および再生信号波形の測定を行う（Ｓ１３０２〜Ｓ１３０３）。８個の補正テーブルの要素値が決定した後、テストパターン信号生成回路４からランダムパターン信号を送出し（Ｓ１３０４）、ディスクに対する記録動作を行う（Ｓ１３０６）。再生信号処理回路１４にてディスクからの再生信号に波形等化・２値化処理を加え、復調回路１５で情報信号を復調する（Ｓ１３０７）。ＢＥＲ測定回路１２０１において、復調した情報信号と、テストパターン信号生成回路４で生成したランダムパターンの情報信号とを比較して再生信号のＢＥＲ（ビットエラーレート）を測定する（Ｓ１３０８）。

そしてＢＥＲ判定工程Ｓ１３０９により、システム制御回路２内にてビットエラーレートとＢＥＲ規定値とを比較し、判定結果を得る。ここでＢＥＲ規定値とは再生した情報のビットエラーレートが使用可能なレベルである値を示す。この値は、記録再生装置や光ディスクの記録マージン等を考慮して決定する。

測定値がＢＥＲ規定値より低い場合にはテスト記録を終了する。これにより、記録密度の低いディスクや熱干渉の小さいディスクで、前符号長の相違や後符号長の相違による記録マークのエッジ位置の変動が無視できるほど小さい場合には、余分なテスト記録工程を経ることがない。そのため、ディスクが識別子を有しない時でもテスト記録の時間を短縮することが可能となる。

測定したビットエラーレートがＢＥＲ規定値よりも高い場合には、以下の工程を経る。選択回路切り換え工程Ｓ１３１０により選択回路２０４・２０５を第１の遅延量設定回路２０６・２０８に切り換える。これにより、記録パルスのエッジ位置を、前符号長と記録符号長との組み合わせおよび記録符号長と後符号長との組み合わせに応じて設定できる状態にする。

この場合、テーブル登録メモリ３における補正テーブルの形態は（表１）および（表２）のようにする。符号長の組み合わせから、補正テーブルの要素数は３２個となる。

実施の形態１と同様に、補正テーブルの各要素を決定するためにテスト記録および再生信号波形の測定を行う（Ｓ１３１１〜Ｓ１３１２）。全てのテーブル要素に対する補正値が決定した後、テスト記録を終了する。

このように本実施の形態では、少ないテーブル要素数でテスト記録後にランダムパターン信号を記録し、再生信号のＢＥＲが一定値よりも高い時のみ、テーブル要素数を増やしてテスト記録を再度行うので、ＢＥＲ記録密度の低いディスクや熱干渉の小さいディスクでは、余分なテスト記録工程を経ることがない。そのため、ディスクが識別子を有しない時でもテスト記録の時間を短縮することが可能となる。

なお、本実施の形態ではＢＥＲの値の大小で終了の判定を行ったが、ＢＥＲの代わりにジッタ値を用いても良い。

また、本実施の形態ではＢＥＲが一定値よりも高い場合のみ、補正テーブルの要素数を増やしてテスト記録したが、逆にＢＥＲが一定値よりも低い場合のみ、補正テーブルの要素数を減らしてテスト記録する方法でも、テスト記録の時間を短縮できるという、同様の効果が得られる。

また、本実施の形態では補正テーブルの要素数を変化させたが、各要素の分解能を変化させる形態としても同様の効果が得られる。さらに、要素数の変化と分解能の変化を組み合わせても良い。

また、実施の形態１〜４では各符号長に対して独立に補正テーブルの要素値を持つものとしたが、長い符号長では熱干渉の影響が小さくなるため、ある長さ以上の符号長（例えば６Ｔ以上）に対しては同じ要素値を有していても良い。

また、上記の各実施の形態では、記録パルスエッジ補正回路にて、前端パルスの前エッジ位置および後端パルスの後エッジ位置を変化させた（この場合、それぞれ前端パルスの幅および後端パルスの幅が変化する）が、前端パルスおよび後端パルスそのものの位置を変化させてエッジ位置を調整する回路であってもよい。また、ディスクの記録特性や記録密度に応じて、前端パルスおよび後端パルスそのものの位置を変化させる方法とエッジ位置を変化させる方法とを切り換えるものであってもよい。

また上記の各実施の形態では、補正精度を、補正テーブルの要素数や補正テーブルの分解能の値によって異ならせるものとしたが、遅延回路の遅延量誤差など、記録パルスのエッジ位置の精度に影響を与えるものであれば他のものでも良い。

また、上記の各実施の形態では補正精度を表す情報を識別子として媒体に記録したが、その媒体で必要となる補正精度を有する補正テーブル自体を媒体に記録したものであっても良い。この場合、媒体の持つ補正テーブルの読み出し結果により直接、補正テーブルの補正精度を変化させてテスト記録を行うので、テスト記録に要する時間をさらに短くでき、正確に情報を記録再生することができる。

さらに、上記の光ディスクは相変化材料、光磁気材料や色素材料等、記録マークと非マーク部（スペース部）で光学的特性の異なる媒体であれば何れも上記の方法を適用することができる。

また、上記の各実施形態では、マークエッジ記録方式によって記録を行う場合を例示したが、マークポジション記録方式で記録を行う場合にも、本発明を適用することができる。

また、上記の変調方式、各パルスの長さ・位置、テストパターン信号の周期等は上述の各実施の形態で示したものに限るわけではなく、記録条件や媒体に応じて適切なものを設定することが可能なことは言うまでもない。

Claims

光学的情報記録媒体に情報を記録する光学的情報記録方法であって、
前記光学的情報記録媒体の記録密度を識別する識別工程と、
記録マークを所定の位置に形成するために、記録パルス位置を補正する記録パルス補正工程と
を含み、
前記記録パルス補正工程において、前記識別工程において識別された記録密度に応じて、前記記録パルス位置の補正の要素数を異ならせ、
前記記録密度がより低い場合は、前記要素数をより少なくする
ことを特徴とする
光学的情報記録方法。
前記記録パルス補正工程において、補正の要素数に代えて補正の分解能を異ならせ、
前記記録密度がより低い場合は、前記分解能をより低くする
ことを特徴とする請求項１に記載の光学的情報記録方法。
請求項１または２に記載の光学的情報記録方法によって記録マークが記録されることで、情報が記録される、
光学的情報記録媒体。
請求項１または２に記載の光学的情報記録方法によって前記光学的情報記録媒体に記録された記録マークを読み取ることで、情報を再生する、
再生方法。