JP2008305483A - 光ディスク記録装置及び光ディスク記録方法 - Google Patents

Abstract

【課題】再生データの信頼性の高い記録再生装置及び記録方法を提供する。
【解決手段】所定のライトストラテジでテストエリアにテストマークを記録し、テストマークを再生してテストマークの前方部分、中間部分及び後方部分に対応する信号振幅を取得し、前方部分の振幅と後方部分の振幅との比率、及び、中間部分の振幅と後方部分の振幅との比率の少なくとも一方に基づいて、テストマークの形状が、所望のマーク形状かどうかを判定し、テストマークが所定のマーク形状ではない場合にライトストラテジを補正し、補正後のライトストラテジで、データエリアに情報を記録する。
【選択図】 図１

Description

本発明は、情報記録媒体に情報の記録を行なう光ディスク記録再生装置に係り、特にレーザ光による記録を適正に制御する技術に関する。

本発明に関連する技術として、例えば、下記特許文献１及び２がある。

特許文献１には、駆動パルスに基づきレーザパワーを変化させてレーザ光を照射することで、記録情報の記録を制御するためのプリ情報が予め記録された情報記録媒体に記録情報を記録する記録手段と駆動パルスを少なくともトップパルス（Ｐｏ）とミドルパルス（Ｐｍ）変化させる第１制御手段と、少なくともトップパルス及びミドルパルスのパルス比（Ｐｏ/Ｐｍ）とプリ情報の再生品質である第１再生品質との相関関係を示す第１相関情報に基づいて、第１再生品質が所定の第１基準を満たすパルス比である最適比を検出する最適比検出手段と、駆動パルスを最適比に応じたパルス比に変化させる第２制御手段とを備える情報記録装置が開示されている。

特許文献２には、「記録パワー可変回路が、記録パターン発生回路から出力されるパワー学習用記録パターンの前端部および後端部での記録パワーＰｏと中間部での記録パワーＰｍとの比を一定にし、記録パワーＰｏ、Ｐｍを可変設定して、記録パワー学習用データが記録される」ことが開示されている。また、「記録パワー学習用データの再生時に、許容パワー範囲決定回路が、再生信号から検出された変調度と許容上限変調度からパワー算出回路により算出された記録パワーを上限値、再生信号から検出された波形歪み量と許容波形歪みパワー算出回路により算出された記録パワーを下限値として、記録パワーの許容範囲を決定する」ことが開示されている。

特開２００５−２２８４１０号公報 ＷＯ２００５−００８６４５号公報

ところで、ＤＶＤ+ＲのＤＬ（DOUBLE LAYER）やＤＶＤ-ＲのＤＬ（DUAL LAYER）系の光ディスクでは、記録時のマーク形状がマークの中央部で細くなる傾向がある。特に、マーク長が長くなればなるほどマークの中央部が細くなりやすいため、１４Ｔマーク（又はスペース）を含むシンクコードなどに影響を与えることがある。

さらに、光ディスク記録再生装置では、各々の装置による機械的な誤差が存在するため再生性能が異なる。マークの中央部が細くなったマークが記録された光ディスクを再生した場合、装置の再生性能により再生データにエラーが生じる可能性が考えられる。

本発明は、再生データの信頼性の高い記録再生装置及び記録方法を提供することを目的とする。

本発明では、上記目的を達成するために、一例として、最適な記録パワーを求めるOPC（Optimum Power Control）時に記録パワーを調整すると共に、最短マークよりも長い記録マークの再生波形から、その記録マークの複数部分の振幅を測定する。複数部分の振幅としては、例えば、先頭部分の振幅と、後方部分の振幅と、中間部分の振幅を用いることができる。そして、測定した振幅の比率から記録マークの形状の判定を行う。記録マークが所望の形状ではない場合は、マーク形状が所望のマーク形状となるように記録パワーを調整する。

長い記録マークを記録する際に用いる記録パルスが、先頭パルス、中間パルス、後方パルスの３段階に分かれている場合、記録パワーの調整は、例えば、記録パルスの先頭パルス及び後方パルスのレーザパワーＰｏを固定し、中間パルスのレーザパワーＰｍを変えて、ＰｏとＰｍの比率を変化させることによって行うことができる。また、先頭パルスのパルス幅を変更する方法を用いても良い。

本発明によれば、再生データの信頼性を高めることができる。

以下、本発明に従う光ディスク記録再生装置及び光ディスク記録方法の実施形態について、図面を用いて、より詳しく説明するが、本発明は以下の実施形態に限定されるものではない。

まず、本発明に従う光ディスク記録再生装置の構成について説明する。図１は光ディスク記録再生装置の構成を示したブロック図である。光学的記録再生装置は、光ピックアップ１、再生信号処理回路２、コントローラ部３、スピンドルモータ５を有する。

光ピックアップ１は、対物レンズ６、プリズム７、コリメートレンズ８、光検出器９、半導体レーザ１０、レーザ駆動回路１１を有する。光ピックアップ１は、光ディスク４にレーザ光を照射し、光ディスク４で反射したレーザ光を検出することができる。本実施形態では、半導体レーザ１０は、波長約６５０ｎｍのＤＶＤ用の半導体レーザである。しかし、これに限定されず、光ディスクとしてBlu-ray Disc（以下、ＢＤと略す）の記録再生を行う場合は、波長約４０５ｎｍの半導体レーザを用いることができる。

図１に示した光ディスク記録再生装置は、１個の半導体レーザが搭載された構成例であるが、これに限定されず、ＤＶＤの記録再生用の半導体レーザとＢＤ記録再生用の半導体レーザの２つが搭載されていても良く、更に、ＣＤの記録再生用の半導体レーザが搭載されていても良い。

再生信号処理回路２は、光ピックアップ１により検出された信号から再生信号やサーボ信号等の信号を生成する。コントローラ部３は、再生信号処理回路２で信号処理された信号に基づいて、サーボの駆動制御、及び記録データの複合、変調等を行なう。

この光ディスク記録再生装置における情報の記録処理を説明する。

まず、ホストコンピュータから情報データがコントローラ部３に入力されると、その情報データは、コントローラ部３において変調が行われ、採用されている変調方式に対応する符号列に変換される。さらに、変調された符号列はライトストラテジ（記録マークの長さや幅を制御するための記録パルス列）に変換される。ライトストラテジは、コントローラ部３に予め設定されており、変更可能となっている。ライトストラテジの調整については、後に詳しく説明する。

次に、変換されたライトストラテジはレーザ駆動回路１１に入力される。半導体レーザ１０は、ライトストラテジに従って駆動され、半導体レーザ１０からレーザ光が出射される。このレーザ光はコリメートレンズ８で平行光に変換された後、プリズム７を通り、さらに、対物レンズ６により光ディスク４の記録層に集光される。これにより上記記録パルス列に応じたマークが光ディスクの記録層に形成され、データの記録が行われる。

次に、この光ディスク記録再生装置における情報の再生処理を説明する。

光ピックアップの半導体レーザ５からレーザ光が照射され、このレーザ光は光ディスク４に入射される。この光ディスク４からの反射光は、プリズム７により光路が分離され、光検出器９に入射する。この光検出器９で受光した光は光電変換され再生信号処理回路２に送られる。

再生信号処理回路２は、例えば、波形等価回路、自動利得制御回路、二値化回路、ＰＬＬ(Ｐｈａｓｅ Ｌｏｃｋ Ｌｏｏｐ)回路などから構成される。記録再生処理回路２では、入力された上記電気信号（再生信号）から、二値化信号と、この二値化信号に同期した再生クロックとが生成される。また、記録再生処理回路２では、トラッキングエラー信号、フォーカスエラー信号といったサーボ信号も生成される。これらの信号はコントローラ部３に送られ、データが復号される。さらに、図１には示していないが、再生信号処理回路２には、再生信号の振幅を検出するためのピーク検出回路及びボトム検出回路も含まれる。

コントローラ部３では、再生信号処理回路２から送られた情報を基に、記録の良否の判断、ライトストラテジの最適化等も行うことができる。

ここで、光学的記録再生装置を用いて記録再生される多層構造を有する光ディスク４について図２を用いて説明する。光ディスク４は、光透過保護層１６、レーザ光入射面に近い位置にある第１記録層１５、レーザ光入射面から遠い位置にある第２記録層１３、第１記録層１５と第２記録層１３の間に設けられた中間層１４、保護層１２から構成されている。光ディスク４に入射されたレーザ光は、光透過保護層１６を通過して第１記録層１５又は第２記録層１３に集光する。

図３は、２層構造を有する光ディスク４の各記録層の記録エリアの構成を模式的に示した図である。第１記録層１５には、図３に示されるように、情報を記録するエリアであるデータエリアＤＡ１と、このデータエリアＤＡ１にデータを記録する際の記録条件を決定するために使用されるテストエリアＴＡ１が設けられている。また、第２記録層１３も同様に、データエリアＤＡ２とテストエリアＴＡ２が第２記録層の中に配置されている。

次に、テストエリアを利用したOPC（Optimum Power Control）について図４を用いて説明する。

光ディスク４が光ディスク記録再生装置に挿入された後に、記録命令がホストコンピュータより送られると、最適なレーザパワーを求める、OPC（Optimum Power Control）が行われる。

図６に、本実施形態におけるキャッスル型のライトストラテジの構成を示す。図６において、縦軸は記録パワーを示し、横軸は記録パルスのタイミングを示しており、ライトストラテジは記録パワーとパルスタイミングとによって規定されている。ここでは、キャッスル型の場合における、先頭パルスと後方パルスの記録パワーを共に同じパワーとし、その記録パワーをＰｏと呼ぶ。また、先頭パルスと後方パルスの間の中間パルスの記録パワーをＰｍと呼ぶこととする。また、ＰｏとＰｍの比率Ｐｏ/ＰｍをＰｏＰｍ比、先頭パルスのパルスタイミングをｎＴｏｐと呼ぶこととする。なお、図６では３Ｔマークと１４Ｔマークの例を示しているが（Ｔはチャネルビット）、ＤＶＤ規格に存在する３Ｔ〜１１Ｔマーク及び１４Ｔマークの各々についても、それぞれの記録パワー、パルスタイミングが設定される。

これらのライトストラテジ情報はレーザ駆動回路１１に設定される。図４に示されるように、ＯＰＣが開始されると、テストエリアＴＡ１及びテストエリアＴＡ２の少なくとも一方に、前述したＰｏＰｍ比を固定し記録パワーを変化させながら、もしくは、パルスタイミングを変化させながら、テストパターン１を記録する（Ｓ１）。

次に、テストエリアに記録されたテストパターン１を再生し、記録マークの測定が行われる（Ｓ２）。測定では、記録されたテストパターンのジッタ、ベータ等の記録品質情報の取得が行われる。さらに、記録されたテストパターン１の再生波形より長マークの振幅情報の取得も行われる。ここで、長マークとは、最短マークよりも長い記録マークを意味する。ＤＶＤでは、最短マーク長は３Ｔであるので、４Ｔ以上の記録マークが長マークに含まれる。また、ＢＤでは、最短マークは２Ｔであるので、３Ｔ以上の記録マークが本発明における長マークに含まれる。

図７には、マークの中央部分が細くなった長マークの形状と、その長マークを再生したときの再生波形の関係が模式的に示されている。ここでは、長マークの再生波形における先端部分の振幅をＡｆ、中央部分の振幅をＡｍ、後端部分の振幅をＡｒと呼ぶこととする。また、Ａｆ、Ａｍ、Ａｒにおいて比率Ａｍ/ＡｒをＡｍＡｒ比、比率Ａｆ/ＡｒをＡｆＡｒ比と呼ぶこととする。ここでは、ＡｍＡｒ比とＡｆＡｒ比の例を示しているが、他の組み合わせについても同様に扱うことができる。

また、ここでは、長マークの先端部分に対応する再生波形の振幅をパラメータとして用いたが、これに限定されず、長マークの形状が所望の形状かどうかを特定できるのであれば、長マークの先端部分と中央部分との間の振幅を用いてもよい。また、長マークの中央部分の再生波形の振幅としては、必ずしも長マークの中央部分に対応する振幅に限定されず、中央から先端側や後端側の位置の振幅を用いてもよい。また、同様に、長マークの後端部分に対応する振幅の代わりに、長マークの後端よりも中央よりの位置における再生波形の振幅を用いてもよい。

次に、記録マークの記録品質、振幅情報等がコントロール部３において評価される。ここで、モノパルスである３Ｔマークのジッタに基づいて基準Ｐｏの決定が行われる（Ｓ３）。ここでは、基準Ｐｏの決定の指標を３Ｔマークのジッタとしたが、他の指標により決定してもよい。

次に、長マークの振幅情報であるＡｆ、Ａｍ、Ａｒに基づいてマーク形状が所望のマーク形状か否かの判定が行われる（Ｓ４）。マーク形状の判定条件としては、例えば、ＡｍＡｒ比とＡｆＡｒ比を指標とし、これらと任意の判定閾値との大小関係を条件として設定することができる。理想的なマーク形状は、ＡｍＡｒ比とＡｆＡｒ比が１である。例えば、判定値として、ＡｍＡｒ比又はＡｆＡｒ比が下限を０．８５、上限を１．１５の範囲とする。算出したＡｍＡｒ比又はＡｆＡｒ比が定めた範囲に収まっている場合には判定“可”とする。算出したＡｍＡｒ比又はＡｆＡｒ比が定めた範囲に収まっていない場合には判定“否”とする。ここで、定めた範囲（上限値や下限値）は１例であり光ディスク又は記録装置により異なってもよい。マーク形状判定において、判定条件を満たす場合にはＯＰＣ終了となる。

マーク形状の判定ステップＳ４において、ＡｍＡｒ比とＡｆＡｒ比が目標となる条件を満たさない場合には、長マークに対するライトストラテジの補正処理Ｓ５が行われる。なお、判定閾値の代わりに所定の範囲を判定の基準に用いてもよい。すなわち、ＡｍＡｒ比とＡｆＡｒ比が所定の範囲内に含まれるか否かでマーク形状の判定を行うこともできる。

また、ここでは、ＡｍＡｒ比とＡｆＡｒ比を判定条件の指標としたが、振幅情報による他の組み合わせについても同様に扱うことができる。マーク形状の判定は、最短マーク以外のすべての長マークに対して実行してもよいし、例えば、６Ｔマーク以上のマークに対してのみ実行するなど、マーク長を限定して判定処理を実行しても良い。

次に、補正処理Ｓ５について図５を用いて説明する。

まず、補正処理Ｓ５では、Ｐｏの決定ステップＳ３で決定した基準Ｐｏを固定して、中間パルスの記録パワーＰｍの補正Ｓ６が行われる。Ｐｍ補正Ｓ６では、ＡｍＡｒ比を指標とし、理想となる比である１との差によって決められる補正係数に従ってＰｍの補正量が決められる。例えば、ＡｍＡｒ比が１よりも小さい場合には、記録パワーＰｍを大きくすることでマークの中央部を太くする。また、ＡｍＡｒ比が１よりも大きい場合には、記録パワーＰｍを小さくすることでマークの中央部を細くする。

さらに、ＡｆＡｒ比を指標とし、先頭パルスのパルス幅ｎＴｏｐの補正Ｓ７が行われる。ｎＴｏｐ補正Ｓ７では、ＡｆＡｒ比と、理想比である１との差によって決められる補正係数に従ってｎＴｏｐの補正量が決められる。例えば、ＡｆＡｒ比が１よりも小さい場合には、ｎＴｏｐの幅を大きくすることでマークの先端部を太くする。また、ＡｆＡｒ比が１よりも大きい場合には、ｎＴｏｐの幅を小さくすることでマークの先端部を細くする。
ここで決められるＰｍとｎＴｏｐの補正量は、１つの値だけでなく任意の範囲をもった補正量として考えることもできる。

パルス幅の補正では、パルスの立ち下がりの位置を固定し、立ち上がりの位置を変化させる方法や、反対に、パルスの立ち上がり位置を固定し、立ち下がりの位置を変化させる方法を適用することができる。更には、立ち上がり位置と立ち下がり位置の両方を変化させても良い。

次に、ステップＳ３で決定した基準Ｐｏ、ステップＳ６で補正されたＰｍ、ステップＳ７で補正されたｎＴｏｐ等のライトストラテジ情報はレーザ駆動回路３に再設定され、テストエリアＴＡ１及びテストエリアＴＡ２の少なくとも一方に、前述したＰｏＰｍ比、ｎＴｏｐを固定してテストパターン２を記録する（Ｓ８）。テストパターン２は、前述したテストパターン１と同一であっても異なってもよい。テストパターン１と異なるテストパターンとして、マーク形状の判定ステップＳ４において所望のマーク形状でないと判断された長マークだけから構成されるテストパターンを例示することができるが、本発明はこれに限定されるものではない。

次に、記録されたテストパターン２の再生と、その測定が行われる（Ｓ９）。この再生・測定ステップＳ９は、図４に示した再生測定ステップＳ２と同様に、記録されたテストパターンのジッタ、ベータ等の記録品質情報の取得と振幅情報の取得が行われる。

次に行われる判定ステップＳ１０は、図４に示したマーク形状判定Ｓ７と同様にＡｍＡｒ比、ＡｆＡｒ比を指標とし、判定閾値として任意の値が設定される。判定Ｓ１０において、ＡｍＡｒ比、ＡｆＡｒ比が目標となる条件を満たす場合は長マーク補正処理が終了となり、さらにＯＰＣ終了となる。

一方、判定Ｓ１０においてＡｍＡｒ比、ＡｆＡｒ比が目標となる条件を満たさない場合には、再度、Ｐｍ補正Ｓ６およびｎＴｏｐ補正Ｓ７が行われる。

こうしてＯＰＣが終了し、最適なライトストラテジが設定されると、そのライトストラテジに基づいて、光ディスクのデータエリアにユーザデータが記録される。上述した方法に従ってライトストラテジが設定されているので、長マークの太さを均一に記録することができる。そのため、長マークは精度よく再生されることができる。

図４に示したＯＰＣでは、さらに、図８のフローチャートに示すように、マーク形状判定ステップＳ１０の後に、シフト調整Ｓ１１を行ってもよい。シフト調整Ｓ１１では、Ｐｍ補正Ｓ６とｎＴｏｐ補正Ｓ７において決まられたライトストラテジのパルスタイミングの調整を行う。これにより、記録品質の最適化を行うことができる。

本発明の他の実施形態の例を図９に示す。図９は、ＯＰＣのフローチャートであり、このＯＰＣでは、シンクコードの数を判定することによって長マークの形状を判別している。図９に示すＯＰＣでは、再生・測定Ｓ２において、マークまたはスペース、マークとスペースの両方の個数を取得する。そして、図４におけるマーク形状判定ステップＳ４の代わりに、シンクコード数の判定を行う。図９において、テストパターン１の記録ステップＳ１及びＰｏ決定ステップＳ３は、図４の場合と基本的には同様であるので、その説明は省略される。

ＤＶＤ規格では、９３バイトに１個のシンクコード（１４Ｔマークと１４Ｔスペース）が存在する。したがって、データ取得を行った任意の範囲に存在するシンクコード数を閾値とする。すなわち、シンクコード個数が適切でない場合とは、１４Ｔマークの形状が不適切で、正確に再生できていない場合であり、この実施形態では、これを長マーク形状判定に利用するものである。

図１０は、図５に示す補正処理のフローチャートにおいて、マーク形状判定Ｓ１０の代わりに、シンクコード数の判定を実行させるフローチャートである。シンクコード数の判定以外のステップは、図５と基本的に同様であるので詳細な説明は省略する。

上記実施形態では、マーク形状の判定ステップと、シンクコード数の判定ステップを別々の実施形態としたが、本発明では、両判定ステップを１つのＯＰＣ処理で実行させることも可能である。

また、上記実施形態では、光ディスクとして、２つの記録膜を有する多層構造の光ディスクを例に説明したが、２層構造を超える多層構造又は単層構造の光ディスクであっても、キャッスル型のライトストラテジを用いている場合は、ＯＰＣにおいて、長マーク補正処理を適用することが可能である。

上記実施形態では、記録マークの太さを調整するパラメータとして、先頭パルスのパルス幅と、中間パルスのレーザパワーを用いたが、本発明はこれに限定されず、記録マークの太さを調整することが可能であれば、どのパラメータを調整しても良い。例えば、先頭パルスの振幅を調整することも可能である。中間パルスの全体の振幅を調整するのではなく、中間パルスの一部の範囲の振幅を調整しても良い。

また、先頭パルス、中間パルス、後方パルスを更にマルチパルス化することも可能である。

光ディスク記録再生装置の構成を説明するブロック図である。 ２層構造を有する記録媒体の１例を示す図である。 ２層構造を有する記録媒体におけるデータエリアとテストエリアの構成の一例を示す図である。 実施例を説明するブロック図である。 長マーク補正処理の一例を説明するブロック図である。 キャッスル型のライトストラテジを説明する図である。 長マークの形状と再生波形の一例を説明する図である。 他の実施例を説明するためのブロック図である。 他の実施例を説明するためのブロック図である。 他の実施例を説明するためのブロック図である。

符号の説明

１ 光ピックアップ
２ 再生信号処理回路
３ コントローラ部
４ 光ディスク
５ スピンドルモータ
６ 対物レンズ
７ プリズム
８ コリメートレンズ
９ 光検出器
１０ 半導体レーザ
１１ レーザ駆動回路
１２ 保護層
１３ 第２記録層
１４ 中間層
１５ 第１記録層
１６ 光透過保護層

Claims (16)

1. データエリアとテストエリアを有する光ディスクに情報を記録するための記録方法であって、
   所定のライトストラテジで前記テストエリアにテストマークを記録するテスト記録ステップと、
   前記テストマークを再生して前記テストマークの前方部分、中間部分及び後方部分に対応する信号振幅を取得する取得ステップと、
   前記前方部分の振幅と前記後方部分の振幅との比率、及び、前記中間部分の振幅と前記後方部分の振幅との比率の少なくとも一方に基づいて、前記テストマークの形状が、所望のマーク形状かどうかを判定する判定ステップと、
   前記テストマークが所定のマーク形状ではない場合に前記ライトストラテジを補正する補正ステップと、
   前記補正後のライトストラテジで、前記データエリアに情報を記録する記録ステップとを含む光ディスク記録方法。
2. 請求項１記載の光ディスク記録方法であって、
   前記光ディスクは、記録層を少なくとも２層有することを特徴とする光ディスク記録方法。
3. 請求項１又は２に記載の光ディスク記録方法であって、
   前記テストマークの記録に用いられる記録波形は、先頭パルスと、中間パルスと、後方パルスとから構成されるものであり、
   前記補正ステップは、
   前記テストマークが所定のマーク形状ではない場合に、前記中央の振幅と前記後方の振幅との比率に基づいて前記中間パルスの振幅のみを変更するステップと、
   前記中間パルスの振幅のみ変更された前記記録波形を用いて前記テストエリアに前記テストマークと同じテストマークを記録するステップと、
   前記テストマークを再生してマーク形状が所望のマーク形状か否か判定するステップとを含むことを特徴とする光ディスク記録方法。
4. 請求項１から３のいずれか一項に記載の光ディスク記録方法であって、
   前記テストマークの記録に用いられる記録波形は、先頭パルスと、中間パルスと、後方パルスとから構成されるものであり、
   前記補正ステップは、
   前記テストマークが所定のマーク形状ではない場合に、前記前方の振幅と前記後方の振幅との比率に基づいて前記先頭パルスのパルス幅のみを変更するステップと、
   前記先頭パルスのパルス幅のみ変更された記録波形を用いて前記テストエリアに前記テストマークと同じテストマークを記録するステップと、
   前記テストマークを再生してマーク形状が所望のマーク形状か否か判定するステップとを含むことを特徴とする光ディスク記録方法。
5. 所定のマーク長の第１記録マークよりも長い第２記録マークを形成する際に、前記第２記録マークの先頭部分に対応する先頭パルスと、前記第２記録マークの中間部分に対応し前記先頭パルスよりも振幅の小さい中間パルスと、前記第２記録マークの後方部分に対応し前記中間パルスよりも振幅の大きい後方パルスとから構成される記録パルスを用いて光ディスクに情報を記録する光ディスク記録方法であって、
   前記第１記録マークと、前記第２記録マークとを含むテストパターンを前記光ディスクのテストエリアに記録するステップと、
   前記第１記録マークの再生信号に基づいて、前記後方パルスの振幅を決定するステップと、
   前記第２記録マークの再生信号振幅に基づいてマーク形状が所望のマーク形状か否かを判定する判定ステップと、
   前記第２記録マークのマーク形状が所望のマーク形状でない場合に、前記記録パルスを補正する補正ステップとを含む光ディスク記録方法。
6. 請求項５記載の光ディスク記録方法であって、
   前記先頭パルスの振幅と前記後方パルスの振幅が等しいことを特徴とする光ディスクの記録方法。
7. 請求項５又は６記載の光ディスク記録方法であって、
   前記第２記録マークの先頭部分に対応する再生信号振幅をＡｆ、中間部分に対応する再生信号振幅をＡｍと、後方部分に対応する再生信号振幅をＡｒとしたときに、
   前記判定ステップは、再生信号振幅Ａｒに対する再生信号振幅Ａｆの比Ａｆ／Ａｒ、及び、再生信号振幅Ａｒに対する再生信号振幅Ａｍの比Ａｍ／Ａｒの少なくとも一方に基づいて、前記第２記録マークのマーク形状を判定することを特徴とする光ディスク記録方法。
8. 請求項７記載の光ディスク記録方法であって、
   前記補正ステップは、
   前記後方パルスの振幅を固定したまま、前記比Ａｍ／Ａｒに基づいて前記中間パルスの振幅のみを補正するステップと、前記先頭パルスの振幅を固定したまま、前記比Ａｆ／Ａｒに基づいて、前記先頭パルスのパルス幅のみを補正するステップの少なくとも一方を含むことを特徴とする光ディスク記録方法。
9. 請求項８記載の光ディスク記録方法であって、
   前記判定ステップを第１の判定ステップとしたときに、
   前記補正ステップは、更に、前記中間パルスの振幅及び前記先頭パルスのパルス幅の少なくとも一方が補正された記録パルスを用いて、前記第２記録マークと同じマーク長の第３記録マークを前記テストエリアに記録するステップと、
   前記第３記録マークを再生し、所望のマーク形状か否かを判定する第２の判定ステップとを有することを特徴とする光ディスク記録方法。
10. 請求項５から９のいずれか一項に記載の光ディスク記録方法であって、
    前記第１記録マークは最短記録マークであり、前記第２記録マークは、前記第１記録マーク長の２倍の長さを有することを特徴とする光ディスク記録方法。
11. テストエリアとデータエリアを有する光ディスクの記録方法であって、
    所定のライトストラテジで前記テストエリアにテストマークを記録するテスト記録ステップと、
    前記テストマークの再生信号振幅から、前記テストマークの前方部分の再生信号振幅Ａｆと後方部分の再生信号振幅Ａｒとの第１の比率と、前記テストマークの中間部分の再生信号振幅Ａｍと前記Ａｒとの第２の比率とを算出するステップと、
    前記第１の比率及び前記第２の比率の少なくとも一方に基づいて、前記テストマークの形状が、所望のマーク形状かどうかを判定する判定ステップと、
    前記テストマークが所定のマーク形状ではない場合に前記ライトストラテジを補正する補正ステップと、
    前記補正後のライトストラテジで、前記データエリアに情報を記録する記録ステップとを含む光ディスク記録方法。
12. 請求項１１記載の光ディスク記録方法であって、
    前記判定ステップは、前記第１の比率又は前記第２の比率が、予め設定された所定の範囲内に含まれる場合に所望のマーク形状であると判定することを特徴とする記録方法。
13. 請求項１１又は１２記載の光ディスク記録方法であって、
    前記テストマークの記録に用いられる記録波形は、先頭パルスと、中間パルスと、後方パルスとから構成されるものであり、
    前記補正ステップは、前記中間パルスの振幅、前記先頭パルスのパルス幅、及び、前記先頭パルスのタイミングの少なくとも一つを補正することを特徴とする光ディスク記録方法。
14. データエリアとテストエリアを有する光ディスクに情報を記録するための光ディスク記録装置であって、
    記録媒体にレーザ光を照射するためのレーザ光源と、
    所定のライトストラテジに基づいて前記レーザ光源を駆動させるレーザ駆動手段と、
    記録媒体からの反射光を検出し、光電変換して検出信号を出力する光検出手段と、
    前記光検出手段からの検出信号を信号処理する再生信号処理手段と、
    前記レーザ駆動手段及び前記再生信号処理手段を制御する制御手段とを有し、
    前記制御手段は、前記ライトストラテジで前記テストエリアに記録されたテストマークを再生して前記テストマークの前方部分、中間部分及び後方部分の振幅を求め、前記前方部分の振幅と前記後方の振幅との比率、及び、前記中間部分の振幅と前記後方部分の振幅との比率の少なくとも一方に基づいて前記テストマークの形状が、所望のマーク形状かどうかを判定し、前記テストマークが所定のマーク形状ではない場合に前記ライトストラテジを補正し、前記補正されたライトストラテジで、前記データエリアに情報を記録するよう制御する光ディスク記録装置。
15. 請求項１４に記載の光ディスク記録装置であって、
    前記テストマークの記録に用いられるライトストラテジは、先頭パルスと、中間パルスと、後方パルスとから構成されるものであり、
    前記制御手段は、
    前記テストマークが所定のマーク形状ではない場合に、前記中央の振幅と前記後方の振幅との比率に基づいて前記中間パルスの振幅のみを変更し、
    前記中間パルスの振幅のみ変更されたライトストラテジを用いて前記テストエリアに前記テストマークと同じテストマークを記録した後、前記テストマークを再生するよう制御し、
    前記テストマークの再生信号からマーク形状が所望のマーク形状か否か判定することを特徴とする光ディスク記録装置。
16. 請求項１４又は１５に記載の光ディスク記録装置であって、
    前記テストマークの記録に用いられる記録波形は、先頭パルスと、中間パルスと、後方パルスとから構成されるものであり、
    前記制御手段は、
    前記テストマークが所定のマーク形状ではない場合に、前記前方の振幅と前記後方の振幅との比率に基づいて前記先頭パルスのパルス幅のみを変更し、
    前記先頭パルスのパルス幅のみ変更されたライトストラテジを用いて前記テストエリアに前記テストマークと同じテストマークを記録した後、前記テストマークを再生するよう制御し、
    前記テストマークの再生信号からマーク形状が所望のマーク形状か否か判定することを特徴とする光ディスク記録装置。

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