JP2009157980A - 光ディスク記録装置及び光ディスク記録方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】再生データの信頼性の高い記録再生装置及び記録方法を提供する。
【解決手段】所定のライトストラテジでテストエリアにテストマークを記録し、テストマークを再生してテストマークの前方部分、中間部分及び後方部分に対応する信号振幅を取得し、前方部分の振幅と後方部分の振幅との比率、及び、中間部分の振幅と後方部分の振幅との比率の少なくとも一方に基づいて、テストマークの形状が、所望のマーク形状かどうかを判定し、テストマークが所定のマーク形状ではない場合にライトストラテジを補正し、補正後のライトストラテジで、データエリアに情報を記録する。
【選択図】図3
【解決手段】所定のライトストラテジでテストエリアにテストマークを記録し、テストマークを再生してテストマークの前方部分、中間部分及び後方部分に対応する信号振幅を取得し、前方部分の振幅と後方部分の振幅との比率、及び、中間部分の振幅と後方部分の振幅との比率の少なくとも一方に基づいて、テストマークの形状が、所望のマーク形状かどうかを判定し、テストマークが所定のマーク形状ではない場合にライトストラテジを補正し、補正後のライトストラテジで、データエリアに情報を記録する。
【選択図】図3
Description
本発明は、情報記録媒体に情報の記録を行なう光ディスク記録再生装置に係り、特にレーザ光による記録を適正に制御する技術に関する。
背景技術として、例えば、下記特許文献1及び2がある。
特許文献1には、駆動パルスに基づきレーザパワーを変化させてレーザ光を照射することで、記録情報の記録を制御するためのプリ情報が予め記録された情報記録媒体に記録情報を記録する記録手段と駆動パルスを少なくともトップパルス(Po)とミドルパルス(Pm)変化させる第1制御手段と、少なくともトップパルス及びミドルパルスのパルス比(Po/Pm)とプリ情報の再生品質である第1再生品質との相関関係を示す第1相関情報に基づいて、第1再生品質が所定の第1基準を満たすパルス比である最適比を検出する最適比検出手段と、駆動パルスを最適比に応じたパルス比に変化させる第2制御手段とを備える情報記録装置が開示されている。
特許文献2には、「記録パワー可変回路が、記録パターン発生回路から出力されるパワー学習用記録パターンの前端部および後端部での記録パワーPoと中間部での記録パワーPmとの比を一定にし、記録パワーPo、Pmを可変設定して、記録パワー学習用データが記録される」ことが開示されている。また、「記録パワー学習用データの再生時に、許容パワー範囲決定回路が、再生信号から検出された変調度と許容上限変調度からパワー算出回路により算出された記録パワーを上限値、再生信号から検出された波形歪み量と許容波形歪みパワー算出回路により算出された記録パワーを下限値として、記録パワーの許容範囲を決定する」ことが開示されている。
光ディスクでは、記録時の記録マークのマーク長が長くなればなるほど中央部で細くなりやすい傾向がある。そのため、14Tマーク(又はスペース)を含むシンクコードなどに影響を与えることがある。
さらに、光ディスク記録再生装置では、各々の装置による機械的な誤差が存在するため再生性能が異なる。マークの中央部が細くなったマークが記録された光ディスクを再生した場合、装置の再生性能により再生データにエラーが生じる可能性が考えられる。
本発明は、再生データの信頼性の高い記録再生装置及び記録方法を提供することを目的とする。
本発明では、上記目的を達成するために、一例として、最適な記録パワーを求めるOPC(Optimum Power Control)時に記録パワーを調整すると共に、最短マークよりも長い記録マークの再生波形から、その記録マークの複数部分の振幅を測定する。複数部分の振幅としては、例えば、先頭部分の振幅と、後方部分の振幅と、中間部分の振幅を用いることができる。そして、測定した振幅の比率から記録マークの形状の判定を行う。記録マークが所望の形状ではない場合は、マーク形状が所望のマーク形状となるようにパルスタイミングを調整する。
長い記録マークを記録する際に用いる記録パルス群が、先頭パルス、中間パルス群、後方パルスの3種類に分類されている場合、パルスタイミングの調整は、例えば、記録パルス群の中間パルス群のパルス幅を変化させることによって行うことができる。また、先頭パルス、後方パルスのパルス幅を変更する方法を用いても良い。
本発明によれば、再生データの信頼性を高めることができる。
以下に、本発明の実施の形態を説明する。
以下、本発明に従う光ディスク記録再生装置及び光ディスク記録方法の実施形態について、図面を用いて、より詳しく説明するが、本発明は以下の実施形態に限定されるものではない。
まず、本発明に従う光ディスク記録再生装置の構成について説明する。図1は光ディスク記録再生装置の構成を示したブロック図である。光学的記録再生装置は、光ピックアップ1、再生信号処理回路2、コントローラ部3、スピンドルモータ5を有する。
光ピックアップ1は、対物レンズ6、プリズム7、コリメートレンズ8、光検出器9、半導体レーザ10、レーザ駆動回路11を有する。光ピックアップ1は、光ディスク4にレーザ光を照射し、光ディスク4で反射したレーザ光を検出することができる。本実施形態では、半導体レーザ10は、波長約650nmのDVD用の半導体レーザである。しかし、これに限定されず、光ディスクとしてBlu-ray Disc(以下、BDと略す)の記録再生を行う場合は、波長約405nmの半導体レーザを用いることができる。
図1に示した光ディスク記録再生装置は、1個の半導体レーザが搭載された構成例であるが、これに限定されず、DVDの記録再生用の半導体レーザとBD記録再生用の半導体レーザの2つが搭載されていても良く、更に、CDの記録再生用の半導体レーザが搭載されていても良い。
再生信号処理回路2は、光ピックアップ1により検出された信号から再生信号やサーボ信号等の信号を生成する。コントローラ部3は、再生信号処理回路2で信号処理された信号に基づいて、サーボの駆動制御、及び記録データの複合、変調等を行なう。
この光ディスク記録再生装置における情報の記録処理を説明する。
まず、ホストコンピュータから情報データがコントローラ部3に入力されると、その情報データは、コントローラ部3において変調が行われ、採用されている変調方式に対応する符号列に変換される。さらに、変調された符号列はライトストラテジ(記録マークの長さや幅を制御するための記録パルス列)に変換される。ライトストラテジは、コントローラ部3に予め設定されており、変更可能となっている。ライトストラテジの調整については、後に詳しく説明する。
次に、変換されたライトストラテジはレーザ駆動回路11に入力される。半導体レーザ10は、ライトストラテジに従って駆動され、半導体レーザ10からレーザ光が出射される。このレーザ光はコリメートレンズ8で平行光に変換された後、プリズム7を通り、さらに、対物レンズ6により光ディスク4の記録層に集光される。これにより上記記録パルス列に応じたマークが光ディスクの記録層に形成され、データの記録が行われる。
次に、この光ディスク記録再生装置における情報の再生処理を説明する。
光ピックアップの半導体レーザ5からレーザ光が照射され、このレーザ光は光ディスク4に入射される。この光ディスク4からの反射光は、プリズム7により光路が分離され、光検出器9に入射する。この光検出器9で受光した光は光電変換され再生信号処理回路2に送られる。
再生信号処理回路2は、例えば、波形等価回路、自動利得制御回路、二値化回路、PLL(Phase Lock Loop)回路などから構成される。記録再生処理回路2では、入力された上記電気信号(再生信号)から、二値化信号と、この二値化信号に同期した再生クロックとが生成される。また、記録再生処理回路2では、トラッキングエラー信号、フォーカスエラー信号といったサーボ信号も生成される。これらの信号はコントローラ部3に送られ、データが復号される。さらに、図1には示していないが、再生信号処理回路2には、再生信号の振幅を検出するためのピーク検出回路及びボトム検出回路も含まれる。
コントローラ部3では、再生信号処理回路2から送られた情報を基に、記録の良否の判断、ライトストラテジの最適化等も行うことができる。
ここで、光学的記録再生装置を用いて記録再生される光ディスク4について図2を用いて説明する。図2は、光ディスク4の記録エリアの構成を模式的に示した図である。記録層には、図2に示されるように、情報を記録するエリアであるデータエリアと、このデータエリアにデータを記録する際の記録条件を決定するために使用されるテストエリアが設けられている。
次に、テストエリアを利用したOPC(Optimum Power Control)について図3を用いて説明する。
光ディスク4が光ディスク記録再生装置に挿入された後に、記録命令がホストコンピュータより送られると、最適なレーザパワーを求める、OPC(Optimum Power Control)が行われる。
図5に、本実施形態におけるマルチパルス型のライトストラテジの構成を示す。図5において、縦軸は記録パワーを示し、横軸は記録パルスのタイミングを示しており、ライトストラテジは記録パワーとパルスタイミングとによって規定されている。ここでは、マルチパルス型の場合における、先頭パルスと中間パルス群と後方パルスの記録パワーを共に同じパワーとし、その記録パワーをPoと呼ぶ。また、先頭パルスのパルス幅をWh、後方パルスのパルス幅をWt、中間パルス群のパルス幅をWmと呼ぶこととする。また、中間パルス群のパルス幅をWmとしているが、パルス幅をWm1、Wm2など複数用いてもよい。図5では3Tマークと14Tマークの例を示しているが(Tはチャネルビット)、DVD規格に存在する3T〜11Tマーク及び14Tマークの各々についても、それぞれの記録パワー、パルスタイミングが設定される。
これらのライトストラテジ情報はレーザ駆動回路11に設定される。図3に示されるように、OPCが開始されると、テストエリアに、前述した先頭パルスのパルス幅Wh、後方パルスのパルス幅Wt、中間パルス群のパルス幅Wmを固定し記録パワーを変化させながらテストパターン1を記録する(S1)。
次に、テストエリアに記録されたテストパターン1を再生し、記録マークの測定が行われる(S2)。測定では、記録されたテストパターンのジッタ、ベータ等の記録品質情報の取得が行われる。さらに、記録されたテストパターン1の再生波形より長マークの振幅情報の取得も行われる。ここで、長マークとは、最短マークよりも長い記録マークを意味する。DVDでは、最短マーク長は3Tであるので、4T以上の記録マークが長マークに含まれる。また、BDでは、最短マークは2Tであるので、3T以上の記録マークが本発明における長マークに含まれる。
図6には、マークの中央部分が細くなった長マークの形状と、その長マークを再生したときの再生波形の関係が模式的に示されている。ここでは、長マークの再生波形における先端部分の振幅をAf、中央部分の振幅をAm、後端部分の振幅をArと呼ぶこととする。また、Af、Am、Arにおいて比率Am/ArをAmAr比、比率Af/ArをAfAr比と呼ぶこととする。ここでは、AmAr比とAfAr比の例を示しているが、他の組み合わせについても同様に扱うことができる。
また、ここでは、長マークの先端部分に対応する再生波形の振幅をパラメータとして用いたが、これに限定されず、長マークの形状が所望の形状かどうかを特定できるのであれば、長マークの先端部分と中央部分との間の振幅を用いてもよい。また、長マークの中央部分の再生波形の振幅としては、必ずしも長マークの中央部分に対応する振幅に限定されず、中央から先端側や後端側の位置の振幅を用いてもよい。また、同様に、長マークの後端部分に対応する振幅の代わりに、長マークの後端よりも中央よりの位置における再生波形の振幅を用いてもよい。
次に、記録マークの記録品質、振幅情報等がコントロール部3において評価される。ここで、マーク長が短い3Tマークのジッタに基づいて基準Poの決定が行われる(S3)。ここでは、基準Poの決定の指標を3Tマークのジッタとしたが、他の指標により決定してもよい。
次に、長マークの振幅情報であるAf、Am、Arに基づいてマーク形状が所望のマーク形状か否かの判定が行われる(S4)。マーク形状の判定条件としては、例えば、AmAr比とAfAr比を指標とし、これらと任意の判定閾値との大小関係を条件として設定することができる。理想的なマーク形状は、AmAr比とAfAr比が1である。例えば、判定値として、AmAr比又はAfAr比が下限を0.85、上限を1.15の範囲とする。算出したAmAr比又はAfAr比が定めた範囲に収まっている場合には判定“可”とする。算出したAmAr比又はAfAr比が定めた範囲に収まっていない場合には判定“否”とする。ここで、定めた範囲は1例であり光ディスク又は記録装置により異なってもよい。マーク形状判定において、判定条件を満たす場合にはOPC終了となる。
マーク形状の判定ステップS4において、AmAr比とAfAr比が目標となる条件を満たさない場合には、長マークに対するライトストラテジの補正処理S5が行われる。なお、判定閾値の代わりに所定の範囲を判定の基準に用いてもよい。すなわち、AmAr比とAfAr比が所定の範囲内に含まれるか否かでマーク形状の判定を行うこともできる。
また、ここでは、AmAr比とAfAr比を判定条件の指標としたが、振幅情報による他の組み合わせについても同様に扱うことができる。マーク形状の判定は、最短マーク以外のすべての長マークに対して実行してもよいし、例えば、6Tマーク以上のマークに対してのみ実行するなど、マーク長を限定して判定処理を実行しても良い。
次に、補正処理S4について図5を用いて説明する。
まず、補正処理S5では、Poの決定ステップS3で決定した基準Poを固定して、中間パルス群のパルス幅Wmの補正S6が行われる。Wm補正S6では、AmAr比を指標とし、理想となる比である1との差によって決められる補正係数に従ってWmの補正量が決められる。例えば、AmAr比が1よりも小さい場合には、パルス幅Wmを大きくすることでマークの中央部を太くする。また、AmAr比が1よりも大きい場合には、パルス幅Wmを小さくすることでマークの中央部を細くする。
さらに、AfAr比を指標とし、先頭パルスのパルス幅Whの補正S7が行われる。Wh補正S7では、AfAr比と、理想比である1との差によって決められる補正係数に従ってWhの補正量が決められる。例えば、AfAr比が1よりも小さい場合には、Whの幅を大きくすることでマークの先端部を太くする。また、AfAr比が1よりも大きい場合には、Whの幅を小さくすることでマークの先端部を細くする。
ここで決められるWmとWhの補正量は、1つの値だけでなく任意の範囲をもった補正量として考えることもできる。
ここで決められるWmとWhの補正量は、1つの値だけでなく任意の範囲をもった補正量として考えることもできる。
パルス幅の補正では、パルスの立ち下がりの位置を固定し、立ち上がりの位置を変化させる方法や、反対に、パルスの立ち上がり位置を固定し、立ち下がりの位置を変化させる方法を適用することができる。更には、立ち上がり位置と立ち下がり位置の両方を変化させても良い。
次に、ステップS3で決定した基準Po、ステップS6で補正されたWm、ステップS7で補正されたWh等のライトストラテジ情報はレーザ駆動回路3に再設定され、テストエリアに、前述した先頭パルスのパルス幅Wh、後方パルスのパルス幅Wt、中間パルス群のパルス幅Wmを固定してテストパターン2を記録する(S8)。テストパターン2は、前述したテストパターン1と同一であっても異なってもよい。テストパターン1と異なるテストパターンとして、マーク形状の判定ステップS4において所望のマーク形状でないと判断された長マークだけから構成されるテストパターンを例示することができるが、本発明はこれに限定されるものではない。
次に、記録されたテストパターン2の再生と、その測定が行われる(S9)。この再生・測定ステップS9は、図4に示した再生測定ステップS2と同様に、記録されたテストパターンのジッタ、ベータ等の記録品質情報の取得と振幅情報の取得が行われる。
次に行われる判定ステップS10は、図3に示したマーク形状判定S4と同様にAmAr比、AfAr比を指標とし、判定閾値として任意の値が設定される。判定S10において、AmAr比、AfAr比が目標となる条件を満たす場合は長マーク補正処理が終了となり、さらにOPC終了となる。
一方、判定S10においてAmAr比、AfAr比が目標となる条件を満たさない場合には、再度、Wm補正S6およびWh補正S7が行われる。
こうしてOPCが終了し、最適なライトストラテジが設定されると、そのライトストラテジに基づいて、光ディスクのデータエリアにユーザデータが記録される。上述した方法に従ってライトストラテジが設定されているので、長マークの太さを均一に記録することができる。そのため、長マークは精度よく再生されることができる。
図3に示したOPCでは、さらに、図7のフローチャートに示すように、マーク形状判定ステップS10の後に、シフト調整S11を行ってもよい。シフト調整S11では、Wm補正S6とWh補正S7において決まられたライトストラテジのパルスタイミングの調整を行う。これにより、記録品質の最適化を行うことができる。
本発明の実施形態1による他の例を図8に示す。図8は、OPCのフローチャートであり、このOPCでは、シンクコードの数を判定することによって長マークの形状を判別している。図8に示すOPCでは、再生・測定S2において、マークまたはスペース、マークとスペースの両方の個数を取得する。そして、図3におけるマーク形状判定ステップS4の代わりに、シンクコード数の判定を行う。図8において、テストパターン1の記録ステップS1及びPo決定ステップS3は、図3の場合と基本的には同様であるので、その説明は省略される。
DVD規格では、93バイトに1個のシンクコード(14Tマークと14Tスペース)が存在する。したがって、データ取得を行った任意の範囲に存在するシンクコード数を閾値とする。すなわち、シンクコード個数が適切でない場合とは、14Tマークの形状が不適切で、正確に再生できていない場合であり、この実施形態では、これを長マーク形状判定に利用するものである。
図9は、図4に示す補正処理のフローチャートにおいて、マーク形状判定S10の代わりに、シンクコード数の判定を実行させるフローチャートである。シンクコード数の判定以外のステップは、図5と基本的に同様であるので詳細な説明は省略する。
上記実施形態では、マーク形状の判定ステップと、シンクコード数の判定ステップを別々の実施形態としたが、本発明では、両判定ステップを1つのOPC処理で実行させることも可能である。
また、上記実施形態では、光ディスクとして、単層構造の光ディスクを例に説明したが、2層または2層構造を超える多層構造の光ディスクであっても、マルチパルス型のライトストラテジを用いている場合は、OPCにおいて、長マーク補正処理を適用することが可能である。
上記実施形態では、記録マークの太さを調整するパラメータとして、先頭パルスのパルス幅と、中間パルスのパルス幅を用いたが、本発明はこれに限定されず、記録マークの太さを調整することが可能であれば、どのパラメータを調整しても良い。例えば、先頭パルスの振幅を調整したり、中間パルス群の振幅を調整したりすることも可能である。中間パルス群の全体の振幅を調整するのではなく、中間パルスの一部の範囲の振幅を調整しても良い。
実施形態1ではマルチパルス型のライトストラテジについて記載したが、キャッスル型のライトストラテジでも実施することが可能である。
図10に、本実施形態におけるキャッスル型のライトストラテジの構成を示す。図10において、縦軸は記録パワーを示し、横軸は記録パルスのタイミングを示しており、ライトストラテジは記録パワーとパルスタイミングとによって規定されている。ここでは、キャッスル型の場合における、先頭パルスと後方パルスの記録パワーを共に同じパワーとし、その記録パワーをPoと呼ぶ。また、先頭パルスと後方パルスの間の中間パルスの記録パワーをPmと呼ぶこととする。また、PoとPmの比率Po/PmをPoPm比、先頭パルスのパルスタイミングをnTtopと呼ぶこととする。なお、図6では3Tマークと14Tマークの例を示しているが(Tはチャネルビット)、DVD規格に存在する3T〜11Tマーク及び14Tマークの各々についても、それぞれの記録パワー、パルスタイミングが設定される。
これらのライトストラテジ情報はレーザ駆動回路11に設定される。図11に示されるように、OPCが開始されると、テストエリアに前述したPoPm比を固定し記録パワーを変化させながら、もしくは、パルスタイミングを変化させながら、テストパターン1を記録する(S14)。
次に、テストエリアに記録されたテストパターン1を再生し、記録マークの測定が行われる(S15)。測定では、記録されたテストパターンのジッタ、ベータ等の記録品質情報の取得が行われる。さらに、記録されたテストパターン1の再生波形より長マークの振幅情報の取得も行われる。ここで、長マークとは、最短マークよりも長い記録マークを意味する。DVDでは、最短マーク長は3Tであるので、4T以上の記録マークが長マークに含まれる。また、BDでは、最短マークは2Tであるので、3T以上の記録マークが本発明における長マークに含まれる。
図6には、マークの中央部分が細くなった長マークの形状と、その長マークを再生したときの再生波形の関係が模式的に示されている。ここでは、長マークの再生波形における先端部分の振幅をAf、中央部分の振幅をAm、後端部分の振幅をArと呼ぶこととする。また、Af、Am、Arにおいて比率Am/ArをAmAr比、比率Af/ArをAfAr比と呼ぶこととする。ここでは、AmAr比とAfAr比の例を示しているが、他の組み合わせについても同様に扱うことができる。
また、ここでは、長マークの先端部分に対応する再生波形の振幅をパラメータとして用いたが、これに限定されず、長マークの形状が所望の形状かどうかを特定できるのであれば、長マークの先端部分と中央部分との間の振幅を用いてもよい。また、長マークの中央部分の再生波形の振幅としては、必ずしも長マークの中央部分に対応する振幅に限定されず、中央から先端側や後端側の位置の振幅を用いてもよい。また、同様に、長マークの後端部分に対応する振幅の代わりに、長マークの後端よりも中央よりの位置における再生波形の振幅を用いてもよい。
次に、記録マークの記録品質、振幅情報等がコントロール部3において評価される。ここで、モノパルスである3Tマークのジッタに基づいて基準Poの決定が行われる(S16)。ここでは、基準Poの決定の指標を3Tマークのジッタとしたが、他の指標により決定してもよい。
次に、長マークの振幅情報であるAf、Am、Arに基づいてマーク形状が所望のマーク形状か否かの判定が行われる(S17)。マーク形状の判定条件としては、例えば、AmAr比とAfAr比を指標とし、これらと任意の判定閾値との大小関係を条件として設定することができる。理想的なマーク形状は、AmAr比とAfAr比が1である。例えば、判定値として、AmAr比又はAfAr比が下限を0.85、上限を1.15の範囲とする。算出したAmAr比又はAfAr比が定めた範囲に収まっている場合には判定“可”とする。算出したAmAr比又はAfAr比が定めた範囲に収まっていない場合には判定“否”とする。ここで、定めた範囲は1例であり光ディスク又は記録装置により異なってもよい。マーク形状判定において、判定条件を満たす場合にはOPC終了となる。
マーク形状の判定ステップS4において、AmAr比とAfAr比が目標となる条件を満たさない場合には、長マークに対するライトストラテジの補正処理S5が行われる。なお、判定閾値の代わりに所定の範囲を判定の基準に用いてもよい。すなわち、AmAr比とAfAr比が所定の範囲内に含まれるか否かでマーク形状の判定を行うこともできる。
また、ここでは、AmAr比とAfAr比を判定条件の指標としたが、振幅情報による他の組み合わせについても同様に扱うことができる。マーク形状の判定は、最短マーク以外のすべての長マークに対して実行してもよいし、例えば、6Tマーク以上のマークに対してのみ実行するなど、マーク長を限定して判定処理を実行しても良い。
次に、補正処理S18について図12を用いて説明する。
まず、補正処理S18では、Poの決定ステップS16で決定した基準Poを固定して、中間パルスの記録パワーPmの補正S19が行われる。Pm補正S19では、AmAr比を指標とし、理想となる比である1との差によって決められる補正係数に従ってPmの補正量が決められる。例えば、AmAr比が1よりも小さい場合には、記録パワーPmを大きくすることでマークの中央部を太くする。また、AmAr比が1よりも大きい場合には、記録パワーPmを小さくすることでマークの中央部を細くする。
さらに、AfAr比を指標とし、先頭パルスのパルス幅nTtopの補正S20が行われる。nTtop補正S20では、AfAr比と、理想比である1との差によって決められる補正係数に従ってnTtopの補正量が決められる。例えば、AfAr比が1よりも小さい場合には、nTtopの幅を大きくすることでマークの先端部を太くする。また、AfAr比が1よりも大きい場合には、nTtopの幅を小さくすることでマークの先端部を細くする。
ここで決められるPmとnTtopの補正量は、1つの値だけでなく任意の範囲をもった補正量として考えることもできる。
パルス幅の補正では、パルスの立ち下がりの位置を固定し、立ち上がりの位置を変化させる方法や、反対に、パルスの立ち上がり位置を固定し、立ち下がりの位置を変化させる方法を適用することができる。更には、立ち上がり位置と立ち下がり位置の両方を変化させても良い。
次に、ステップS16で決定した基準Po、ステップS19で補正されたPm、ステップS20で補正されたnTtop等のライトストラテジ情報はレーザ駆動回路3に再設定され、テストエリアに、前述したPoPm比、nTtopを固定してテストパターン2を記録する(S21)。テストパターン2は、前述したテストパターン1と同一であっても異なってもよい。テストパターン1と異なるテストパターンとして、マーク形状の判定ステップS17において所望のマーク形状でないと判断された長マークだけから構成されるテストパターンを例示することができるが、本発明はこれに限定されるものではない。
次に、記録されたテストパターン2の再生と、その測定が行われる(S22)。この再生・測定ステップS22は、図11に示した再生測定ステップS15と同様に、記録されたテストパターンのジッタ、ベータ等の記録品質情報の取得と振幅情報の取得が行われる。
次に行われる判定ステップS23は、図11に示したマーク形状判定S17と同様にAmAr比、AfAr比を指標とし、判定閾値として任意の値が設定される。判定S23において、AmAr比、AfAr比が目標となる条件を満たす場合は長マーク補正処理が終了となり、さらにOPC終了となる。
一方、判定S23においてAmAr比、AfAr比が目標となる条件を満たさない場合には、再度、Pm補正S19およびnTtop補正S20が行われる。
こうしてOPCが終了し、最適なライトストラテジが設定されると、そのライトストラテジに基づいて、光ディスクのデータエリアにユーザデータが記録される。上述した方法に従ってライトストラテジが設定されているので、長マークの太さを均一に記録することができる。そのため、長マークは精度よく再生されることができる。
図4に示したOPCでは、さらに、図13のフローチャートに示すように、マーク形状判定ステップS23の後に、シフト調整S24を行ってもよい。シフト調整S24では、Pm補正S19とnTtop補正S20において決まられたライトストラテジのパルスタイミングの調整を行う。これにより、記録品質の最適化を行うことができる。
本発明の実施形態2による他の例を図14に示す。図14は、OPCのフローチャートであり、このOPCでは、シンクコードの数を判定することによって長マークの形状を判別している。図14に示すOPCでは、再生・測定S15において、マークまたはスペース、マークとスペースの両方の個数を取得する。そして、図11におけるマーク形状判定ステップS17の代わりに、シンクコード数の判定を行う。図9において、テストパターン1の記録ステップS14及びPo決定ステップS16は、図11の場合と基本的には同様であるので、その説明は省略される。
DVD規格では、93バイトに1個のシンクコード(14Tマークと14Tスペース)が存在する。したがって、データ取得を行った任意の範囲に存在するシンクコード数を閾値とする。すなわち、シンクコード個数が適切でない場合とは、14Tマークの形状が不適切で、正確に再生できていない場合であり、この実施形態では、これを長マーク形状判定に利用するものである。
図15は、図12に示す補正処理のフローチャートにおいて、マーク形状判定S23の代わりに、シンクコード数の判定を実行させるフローチャートである。シンクコード数の判定以外のステップは、図12と基本的に同様であるので詳細な説明は省略する。
上記実施形態では、マーク形状の判定ステップと、シンクコード数の判定ステップを別々の実施形態としたが、本発明では、両判定ステップを1つのOPC処理で実行させることも可能である。
また、上記実施形態では、光ディスクとして、単層構造の光ディスクを例に説明したが、2層または2層構造を超える多層構造の光ディスクであっても、マルチパルス型のライトストラテジを用いている場合は、OPCにおいて、長マーク補正処理を適用することが可能である。
上記実施形態では、記録マークの太さを調整するパラメータとして、先頭パルスのパルス幅と、中間パルスのレーザパワーを用いたが、本発明はこれに限定されず、記録マークの太さを調整することが可能であれば、どのパラメータを調整しても良い。例えば、先頭パルスの振幅を調整することも可能である。中間パルスの全体の振幅を調整するのではなく、中間パルスの一部の範囲の振幅を調整しても良い。
実施形態1ではマルチパルス型のライトストラテジについて、実施形態2ではキャッスル型のライトストラテジについて、それぞれ記載したが、両方のライトストラテジをデータエリアの記録に使用する場合でも実施することが可能である。
図16のように、記録層にテストエリア1、テストエリア2、内周データエリア、外周データエリア外周が配置された光ディスクの場合、内周データエリアと外周データエリアで異なるライトストラテジを使用することがある。例えば、内周データエリアにマルチパルス型ライトストラテジ、外周データエリアにキャッスル型ライトストラテジを使用した場合、テストエリア1で実施形態1を行い、テストエリア2で実施形態2を行うことが可能である。
上記実施形態では、マルチパルス型のライトストラテジとキャッスル型のライトストラテジを、それぞれ、異なるテストエリアで行っているが、本発明では、両ストラテジを1つのテストエリアで実行させることも可能である。
以上、本発明に従う光ディスク装置及び光ディスク記録方法の実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されず、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々の改良や変形を行うことができる。
1 光ピックアップ
2 再生信号処理回路
3 コントローラ部
4 光ディスク
5 スピンドルモータ
6 対物レンズ
7 プリズム
8 コリメートレンズ
9 光検出器
10 半導体レーザ
11 レーザ駆動回路
12 保護層
13 第2記録層
14 中間層
15 第1記録層
16 光透過保護層
2 再生信号処理回路
3 コントローラ部
4 光ディスク
5 スピンドルモータ
6 対物レンズ
7 プリズム
8 コリメートレンズ
9 光検出器
10 半導体レーザ
11 レーザ駆動回路
12 保護層
13 第2記録層
14 中間層
15 第1記録層
16 光透過保護層
Claims (21)
- データエリアとテストエリアを有する光ディスクに情報を記録するための記録方法であって、
先頭パルスと、中間パルス群と、後方パルスとから構成されるライトストラテジで前記テストエリアにテストマークを記録するテスト記録ステップと、
前記テストマークを再生して前記テストマークの前方部分、中間部分及び後方部分に対応する信号振幅を取得する取得ステップと、
前記前方部分の振幅と前記後方部分の振幅との比率、及び、前記中間部分の振幅と前記後方部分の振幅との比率の少なくとも一方に基づいて、前記テストマークの形状が、所望のマーク形状かどうかを判定する判定ステップと、
前記テストマークが所定のマーク形状ではない場合に前記ライトストラテジを補正する補正ステップと、
前記補正後のライトストラテジで、前記データエリアに情報を記録する記録ステップとを含む光ディスク記録方法。 - 請求項1記載の光ディスク記録方法であって、
前記補正ステップは、
前記テストマークが所定のマーク形状ではない場合に、前記中央の振幅と前記後方の振幅との比率に基づいて前記中間パルス群のパルス幅のみを変更するステップと、
前記中間パルス群のパルス幅のみ変更された前記記録波形を用いて前記テストエリアに前記テストマークと同じテストマークを記録するステップと、
前記テストマークを再生してマーク形状が所望のマーク形状か否か判定するステップとを含むことを特徴とする光ディスク記録方法。 - 請求項2記載の光ディスク記録方法であって、
前記中間パルス群のパルス幅を、複数のパルス幅の値に設定可能であることを特徴とする光ディスク記録方法。 - 請求項1から3のいずれか一項に記載の光ディスク記録方法であって、
前記補正ステップは、
前記テストマークが所定のマーク形状ではない場合に、前記前方の振幅と前記後方の振幅との比率に基づいて前記先頭パルスのパルス幅のみを変更するステップと、
前記先頭パルスのパルス幅のみ変更された記録波形を用いて前記テストエリアに前記テストマークと同じテストマークを記録するステップと、
前記テストマークを再生してマーク形状が所望のマーク形状か否か判定するステップとを含むことを特徴とする光ディスク記録方法。 - 所定のマーク長の第1記録マークよりも長い第2記録マークを形成する際に、前記第2記録マークの先頭部分に対応する先頭パルスと、前記第2記録マークの中間部分に対応し前記先頭パルスと異なるパルス幅の中間パルス群と、前記第2記録マークの後方部分に対応し前記先頭パルス又は中間パルス群と異なるパルス幅の後方パルスとから構成される記録パルスを用いて光ディスクに情報を記録する光ディスク記録方法であって、
前記第1記録マークと、前記第2記録マークとを含むテストパターンを前記光ディスクのテストエリアに記録するステップと、
前記第1記録マークの再生信号に基づいて、前記後方パルスの振幅を決定するステップと、
前記第2記録マークの再生信号振幅に基づいてマーク形状が所望のマーク形状か否かを判定する判定ステップと、
前記第2記録マークのマーク形状が所望のマーク形状でない場合に、前記記録パルスを補正する補正ステップとを含む光ディスク記録方法。 - 請求項5記載の光ディスク記録方法であって、
前記先頭パルスの振幅と前記後方パルスの振幅が等しいことを特徴とする光ディスクの記録方法。 - 請求項5又は6記載の光ディスク記録方法であって、
前記第2記録マークの先頭部分に対応する再生信号振幅をAf、中間部分に対応する再生信号振幅をAmと、後方部分に対応する再生信号振幅をArとしたときに、
前記判定ステップは、再生信号振幅Arに対する再生信号振幅Afの比Af/Ar、及び、再生信号振幅Arに対する再生信号振幅Amの比Am/Arの少なくとも一方に基づいて、前記第2記録マークのマーク形状を判定することを特徴とする光ディスク記録方法。 - 請求項7記載の光ディスク記録方法であって、
前記補正ステップは、
前記後方パルスの振幅を固定したまま、前記比Am/Arに基づいて前記中間パルス群のパルス幅のみを補正するステップと、前記先頭パルスの振幅を固定したまま、前記比Af/Arに基づいて、前記先頭パルスのパルス幅のみを補正するステップの少なくとも一方を含むことを特徴とする光ディスク記録方法。 - 請求項8記載の光ディスク記録方法であって、
前記判定ステップを第1の判定ステップとしたときに、
前記補正ステップは、更に、前記中間パルス群のパルス幅及び前記先頭パルスのパルス幅の少なくとも一方が補正された記録パルスを用いて、前記第2記録マークと同じマーク長の第3記録マークを前記テストエリアに記録するステップと、
前記第3記録マークを再生し、所望のマーク形状か否かを判定する第2の判定ステップとを有することを特徴とする光ディスク記録方法。 - テストエリアとデータエリアを有する光ディスクの記録方法であって、
先頭パルスと、中間パルス群と、後方パルスとから構成されるライトストラテジで前記テストエリアにテストマークを記録するテスト記録ステップと、
前記テストマークの再生信号振幅から、前記テストマークの前方部分の再生信号振幅Afと後方部分の再生信号振幅Arとの第1の比率と、前記テストマークの中間部分の再生信号振幅Amと前記Arとの第2の比率とを算出するステップと、
前記第1の比率及び前記第2の比率の少なくとも一方に基づいて、前記テストマークの形状が、所望のマーク形状かどうかを判定する判定ステップと、
前記テストマークが所定のマーク形状ではない場合に前記ライトストラテジを補正する補正ステップと、
前記補正後のライトストラテジで、前記データエリアに情報を記録する記録ステップとを含む光ディスク記録方法。 - 請求項10記載の光ディスク記録方法であって、
前記判定ステップは、前記第1の比率又は前記第2の比率が、予め設定された所定の範囲内に含まれる場合に所望のマーク形状であると判定することを特徴とする記録方法。 - 請求項10又は11記載の光ディスク記録方法であって、
前記補正ステップは、前記中間パルス群のパルス幅、前記先頭パルスのパルス幅、及び、前記先頭パルスのタイミング、前記中間パルス群のタイミングの少なくとも一つを補正することを特徴とする光ディスク記録方法。 - 請求項12記載の光ディスク記録方法であって、
前記中間パルス群のパルス幅を、複数のパルス幅の値に設定可能であることを特徴とする光ディスク記録方法。 - 請求項12又は請求項13記載の光ディスク記録方法であって、
前記ライトストラテジを第1のライトストラテジとしたときに、
前記第1ライトストラテジとは異なる第2のライトストラテジを前記データエリアに情報を記録するときに併用することを特徴とする記録方法。 - 請求項14記載の光ディスク記録方法であって、
前記第2ライトストラテジが、所定のマーク長の第1記録マークよりも長い第2記録マークを形成する際に、前記第2記録マークの先頭部分に対応する先頭パルスと、前記第2記録マークの中間部分に対応し前記先頭パルスよりも振幅の小さい中間パルスと、前記第2記録マークの後方部分に対応し前記中間パルスよりも振幅の大きい後方パルスとから構成される記録パルスである記録方法。 - 請求項15記載の光ディスク記録方法であって、
前記第2ライトストラテジで前記テストエリアにテストマークを記録するテスト記録ステップと、
前記テストマークの再生信号振幅から、前記テストマークの前方部分の再生信号振幅Afと後方部分の再生信号振幅Arとの第1の比率と、前記テストマークの中間部分の再生信号振幅Amと前記Arとの第2の比率とを算出するステップと、
前記第1の比率及び前記第2の比率の少なくとも一方に基づいて、前記テストマークの形状が、所望のマーク形状かどうかを判定する判定ステップと、
前記テストマークが所定のマーク形状ではない場合に前記ライトストラテジを補正する補正ステップと、
前記補正後のライトストラテジで、前記データエリアに情報を記録する記録ステップとを含む光ディスク記録方法。 - 前記14から16のいずれか1項に記載の光ディスク記録方法であって、
前記光ディスクのテストエリアが少なくとも2つのエリアを有するときに、
前記第1ライトストラテジ、前記第2ライトストラテジが異なるテストエリアを使用することを特徴とする記録方法。 - データエリアとテストエリアを有する光ディスクに情報を記録するための光ディスク記録装置であって、
記録媒体にレーザ光を照射するためのレーザ光源と、
先頭パルスと、中間パルス群と、後方パルスとから構成されるライトストラテジに基づいて前記レーザ光源を駆動させるレーザ駆動手段と、
記録媒体からの反射光を検出し、光電変換して検出信号を出力する光検出手段と、
前記光検出手段からの検出信号を信号処理する再生信号処理手段と、
前記レーザ駆動手段及び前記再生信号処理手段を制御する制御手段とを有し、
前記制御手段は、前記ライトストラテジで前記テストエリアに記録されたテストマークを再生して前記テストマークの前方部分、中間部分及び後方部分の振幅を求め、前記前方部分の振幅と前記後方の振幅との比率、及び、前記中間部分の振幅と前記後方部分の振幅との比率の少なくとも一方に基づいて前記テストマークの形状が、所望のマーク形状かどうかを判定し、前記テストマークが所定のマーク形状ではない場合に前記ライトストラテジを補正し、前記補正されたライトストラテジで、前記データエリアに情報を記録するよう制御する光ディスク記録装置。 - 請求項18に記載の光ディスク記録装置であって、
前記制御手段は、前記テストマークが所定のマーク形状ではない場合に、前記中央の振幅と前記後方の振幅との比率に基づいて前記中間パルス群のパルス幅のみを変更し、
前記中間パルスの振幅のみ変更されたライトストラテジを用いて前記テストエリアに前記テストマークと同じテストマークを記録した後、前記テストマークを再生するよう制御し、
前記テストマークの再生信号からマーク形状が所望のマーク形状か否か判定することを特徴とする光ディスク記録装置。 - 請求項19記載の光ディスク記録装置であって、
前記中間パルス群のパルス幅を、複数のパルス幅の値に設定可能であることを特徴とする光ディスク記録装置。 - 請求項18から20のいずれか1項に記載の光ディスク記録装置であって、
前記制御手段は、前記テストマークが所定のマーク形状ではない場合に、前記前方の振幅と前記後方の振幅との比率に基づいて前記先頭パルスのパルス幅のみを変更し、
前記先頭パルスのパルス幅のみ変更されたライトストラテジを用いて前記テストエリアに前記テストマークと同じテストマークを記録した後、前記テストマークを再生するよう制御し、
前記テストマークの再生信号からマーク形状が所望のマーク形状か否か判定することを特徴とする光ディスク記録装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007333447A JP2009157980A (ja) | 2007-12-26 | 2007-12-26 | 光ディスク記録装置及び光ディスク記録方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007333447A JP2009157980A (ja) | 2007-12-26 | 2007-12-26 | 光ディスク記録装置及び光ディスク記録方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009157980A true JP2009157980A (ja) | 2009-07-16 |
Family
ID=40961843
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007333447A Pending JP2009157980A (ja) | 2007-12-26 | 2007-12-26 | 光ディスク記録装置及び光ディスク記録方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2009157980A (ja) |
-
2007
- 2007-12-26 JP JP2007333447A patent/JP2009157980A/ja active Pending
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