JP2695725B2 - 光ディスクの記録補償方式 - Google Patents
光ディスクの記録補償方式Info
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- JP2695725B2 JP2695725B2 JP4007780A JP778092A JP2695725B2 JP 2695725 B2 JP2695725 B2 JP 2695725B2 JP 4007780 A JP4007780 A JP 4007780A JP 778092 A JP778092 A JP 778092A JP 2695725 B2 JP2695725 B2 JP 2695725B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は光ディスクの記録補償方
式に関し、光ディスクのライトデータ記録時の記録補償
方式に関する。
式に関し、光ディスクのライトデータ記録時の記録補償
方式に関する。
【０００２】光ディスクは大容量かつ媒体の可換性を特
徴とし、イメージデータ保存用のファイリングシステム
からコードデータを取り扱う計算機の外部記憶位置まで
幅広く製品化が行われている。特に最近、国際標準化機
関であるＩＳＯにより、フォーマットの標準化が行われ
た５インチ及び３．５インチは個人用のファイル装置と
して普及が期待されている。
徴とし、イメージデータ保存用のファイリングシステム
からコードデータを取り扱う計算機の外部記憶位置まで
幅広く製品化が行われている。特に最近、国際標準化機
関であるＩＳＯにより、フォーマットの標準化が行われ
た５インチ及び３．５インチは個人用のファイル装置と
して普及が期待されている。
【０００３】
【従来の技術】光ディスクの記憶密度を向上させる有力
な一手段としてマーク長記録方式が挙げられる。現在市
場に出荷されている光ディスクで使用されている記録方
式は、マーク間記録と呼ばれているものである。この２
つの記録方式の違いを図１０に示す。
な一手段としてマーク長記録方式が挙げられる。現在市
場に出荷されている光ディスクで使用されている記録方
式は、マーク間記録と呼ばれているものである。この２
つの記録方式の違いを図１０に示す。
【０００４】光ディスク媒体上に記録するのに適した
（２，７）ＲＬＬ（ラン・レングス・リミテッド）形式
で符号化された図１０（Ａ）に示す記録データ系列‘０
１００１０００００００１０００’をマーク間記録で
は、同図（Ｂ）に示す如く記録ビット‘１’が記録ピッ
トに１対１に対応して記録し、同図（Ｃ）に示す再生波
形を得る。このためマーク間記録は、別名ピットセンタ
記録とも呼ばれる。マーク長記録では、同図（Ｄ）に示
す如く、ビット‘１’に記録ピットのエッジが対応して
記録し、同図（Ｅ）に示す再生波形をスライスして再生
する。従ってマーグ長記録では、一つのピットで２つの
ビット‘１’を表すことができこの原理により、同じ最
短ピット長で記録した場合、原理的には記録密度をマー
ク間記録の２倍にすることができる。
（２，７）ＲＬＬ（ラン・レングス・リミテッド）形式
で符号化された図１０（Ａ）に示す記録データ系列‘０
１００１０００００００１０００’をマーク間記録で
は、同図（Ｂ）に示す如く記録ビット‘１’が記録ピッ
トに１対１に対応して記録し、同図（Ｃ）に示す再生波
形を得る。このためマーク間記録は、別名ピットセンタ
記録とも呼ばれる。マーク長記録では、同図（Ｄ）に示
す如く、ビット‘１’に記録ピットのエッジが対応して
記録し、同図（Ｅ）に示す再生波形をスライスして再生
する。従ってマーグ長記録では、一つのピットで２つの
ビット‘１’を表すことができこの原理により、同じ最
短ピット長で記録した場合、原理的には記録密度をマー
ク間記録の２倍にすることができる。
【０００５】しかし、光ディスクで記録されるピット
は、半導体レーザによって記録媒体が温められ、あるス
レッシュホールド（光磁気ディスクの場合はキューリ温
度で１００度〜２００度、相変化光ディスクの場合は相
転移温度で数百度）を超えることにより形成される。媒
体温度が飽和値に達する時間（温度の時定数）は、代表
的なファイル装置である磁気ディスクでデータ記録にあ
ずかる印加磁場に対する応答時間に比べはるかに長い時
間が必要である。そのため、本来所定の位置にあるべき
記録ピットのエッジ位置が環境温度や媒体感度を初めと
して、種々の要因により変動する。この変動要因の内、
最も重要な問題となるのが、記録データパターンによる
変動である。この変動は、大きくわけてパターンシフト
とサーマルシフトに分類できる。
は、半導体レーザによって記録媒体が温められ、あるス
レッシュホールド（光磁気ディスクの場合はキューリ温
度で１００度〜２００度、相変化光ディスクの場合は相
転移温度で数百度）を超えることにより形成される。媒
体温度が飽和値に達する時間（温度の時定数）は、代表
的なファイル装置である磁気ディスクでデータ記録にあ
ずかる印加磁場に対する応答時間に比べはるかに長い時
間が必要である。そのため、本来所定の位置にあるべき
記録ピットのエッジ位置が環境温度や媒体感度を初めと
して、種々の要因により変動する。この変動要因の内、
最も重要な問題となるのが、記録データパターンによる
変動である。この変動は、大きくわけてパターンシフト
とサーマルシフトに分類できる。
【０００６】パターンシフトとは、長いピットを形成す
る場合と短いピットを形成する場合とで、書き終わり時
点での媒体温度が異なるためピット長が変動する現象で
ある。また、サーマルシフトとは、先行するピットの熱
の影響により、記録ピットが変動する現象である。
る場合と短いピットを形成する場合とで、書き終わり時
点での媒体温度が異なるためピット長が変動する現象で
ある。また、サーマルシフトとは、先行するピットの熱
の影響により、記録ピットが変動する現象である。
【０００７】例えば、図１１（Ａ）に示す記録データに
対応した同図（Ｂ）に示す記録パルスで記録を行うと
き、（２，７）ＲＬＬ符号の最小パルス幅１．５τの記
録パルスで書き終わりのエッジにΔＰｃの定常シフトが
生じるのに対し、パルス幅４τの記録パルスでは媒体温
度が高くなるため定常シフトΔＰｃにパターンシフトΔ
Ｐｐが加算され、同図（Ａ），（Ｂ）の関係から明らか
なように記録データの１ビット分に相当する０．５τの
時間幅を越えて誤記録を生じる結果となる。このパター
ンシフトΔＰｐの量は同図（Ｃ）に示す如く記録パルス
のパルス幅によって変動する。
対応した同図（Ｂ）に示す記録パルスで記録を行うと
き、（２，７）ＲＬＬ符号の最小パルス幅１．５τの記
録パルスで書き終わりのエッジにΔＰｃの定常シフトが
生じるのに対し、パルス幅４τの記録パルスでは媒体温
度が高くなるため定常シフトΔＰｃにパターンシフトΔ
Ｐｐが加算され、同図（Ａ），（Ｂ）の関係から明らか
なように記録データの１ビット分に相当する０．５τの
時間幅を越えて誤記録を生じる結果となる。このパター
ンシフトΔＰｐの量は同図（Ｃ）に示す如く記録パルス
のパルス幅によって変動する。
【０００８】また、図１２（Ａ）に示す記録データに対
応した同図（Ｂ）に示す記録パルスで記録を行うとき、
記録パルスの書き始めのエッジにΔＰｔのサーマルシフ
トが生じ、図１２（Ａ），（Ｂ）の関係から明らかなよ
うに記録データの１ビット分に相当する０．５τの時間
幅を越えて誤記録を生じる結果となる。このサーマルシ
フトは同図（Ｃ）に示す如くパルス間隔によって変動す
る。
応した同図（Ｂ）に示す記録パルスで記録を行うとき、
記録パルスの書き始めのエッジにΔＰｔのサーマルシフ
トが生じ、図１２（Ａ），（Ｂ）の関係から明らかなよ
うに記録データの１ビット分に相当する０．５τの時間
幅を越えて誤記録を生じる結果となる。このサーマルシ
フトは同図（Ｃ）に示す如くパルス間隔によって変動す
る。
【０００９】従来より、特開昭６３−５３７２２号又は
特開昭６２−１２４６３号公報に記載の如く、データの
最密パターンあるいは所定パターンを検出して、この最
密パターンあるいは所定パターンの検出時に記録パルス
幅を制御する方式が提案されている。
特開昭６２−１２４６３号公報に記載の如く、データの
最密パターンあるいは所定パターンを検出して、この最
密パターンあるいは所定パターンの検出時に記録パルス
幅を制御する方式が提案されている。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】上記の従来方式では、
パルス幅制御において、記録パルスの立上り時点及び立
下り時点の制御量が同一であったり、あるいは単純に立
下り時点のみを制御してパルス幅を制御している。
パルス幅制御において、記録パルスの立上り時点及び立
下り時点の制御量が同一であったり、あるいは単純に立
下り時点のみを制御してパルス幅を制御している。
【００１１】しかし図１１（Ｃ）に示すパターンシフト
及び図１２（Ｃ）に示すサーマルシフトは自らの記録パ
ルス幅や先行するパルス間隔に強く依存し、かつ制御量
も異なるため、従来方式で完全に補償することは困難で
あるという問題点があった。本発明は上記の点に鑑みな
されたもので、パターンシフト量及びサーマルシフト量
を記録データのパターンに拘らず一定となるよう記録補
償する光ディスクの記録補償方式を提供することを目的
とする。
及び図１２（Ｃ）に示すサーマルシフトは自らの記録パ
ルス幅や先行するパルス間隔に強く依存し、かつ制御量
も異なるため、従来方式で完全に補償することは困難で
あるという問題点があった。本発明は上記の点に鑑みな
されたもので、パターンシフト量及びサーマルシフト量
を記録データのパターンに拘らず一定となるよう記録補
償する光ディスクの記録補償方式を提供することを目的
とする。
【００１２】
【課題を解決するための手段】図１は本発明の原理図を
示す。
示す。
【００１３】図１（Ａ）において、パルス幅計測手段１
は、記録パルスのパルス幅を計測する。
は、記録パルスのパルス幅を計測する。
【００１４】立下り制御手段２は、前記記録パルスの立
下りタイミングよりも形成されるピットの終端位置が後
方にシフトするパターンシフト量をピットの長さで表さ
れるデータ長の１ビット分以下の範囲に抑制するよう前
記パルス幅計測手段で計測されたパルス幅が所定値を越
えたとき、当該記録パルスの立下りを早めるよう立下り
立上り可変部３を制御する。
下りタイミングよりも形成されるピットの終端位置が後
方にシフトするパターンシフト量をピットの長さで表さ
れるデータ長の１ビット分以下の範囲に抑制するよう前
記パルス幅計測手段で計測されたパルス幅が所定値を越
えたとき、当該記録パルスの立下りを早めるよう立下り
立上り可変部３を制御する。
【００１５】パルス間隔計測手段４は、記録パルスのパ
ルス間隔を計測する。
ルス間隔を計測する。
【００１６】立上り制御手段５は、前記記録パルスの立
上りタイミングよりも形成されるピットの前端位置が前
方にシフトするサーマルシフト量をピットの長さで表さ
れるデータ長の１ビット分以下の範囲に抑制するよう前
記パルス間隔計測手段で計測されたパルス間隔が所定値
以下のとき、当該記録パルスの立上りを遅らせるよう立
下り立上り可変部３を制御する。
上りタイミングよりも形成されるピットの前端位置が前
方にシフトするサーマルシフト量をピットの長さで表さ
れるデータ長の１ビット分以下の範囲に抑制するよう前
記パルス間隔計測手段で計測されたパルス間隔が所定値
以下のとき、当該記録パルスの立上りを遅らせるよう立
下り立上り可変部３を制御する。
【００１７】また、図１（Ｂ）において、差パルス幅計
測手段６は、記録パルスのパルス幅から先行するパルス
間隔を差引いた差を計測する。
測手段６は、記録パルスのパルス幅から先行するパルス
間隔を差引いた差を計測する。
【００１８】立下り制御手段２は、前記記録パルスの立
下りタイミングよりも形成されるピットの終端位置が後
方にシフトするパターンシフト量をピットの長さで表さ
れるデータ長の１ビット分以下の範囲に抑制するよう前
記差パルス幅計測手段で計測された差が所定値を越えた
とき、当該記録パルスの立下りを早めるよう立下り立上
り可変部３を制御する。差パルス間隔計測手段７は、記
録パルスのパルス間隔から先行するパルス幅を差引いた
差を計測する。
下りタイミングよりも形成されるピットの終端位置が後
方にシフトするパターンシフト量をピットの長さで表さ
れるデータ長の１ビット分以下の範囲に抑制するよう前
記差パルス幅計測手段で計測された差が所定値を越えた
とき、当該記録パルスの立下りを早めるよう立下り立上
り可変部３を制御する。差パルス間隔計測手段７は、記
録パルスのパルス間隔から先行するパルス幅を差引いた
差を計測する。
【００１９】立上り制御手段５は、前記記録パルスの立
上りタイミングよりも形成されるピットの前端位置が前
方にシフトするサーマルシフト量をピットの長さで表さ
れるデータ長の１ビット分以下の範囲に抑制するよう前
記差パルス間隔計測手段で計測された差が所定値以下の
とき、当該記録パルスの立上りを遅らせるよう立下り立
上り可変部３を制御する。
上りタイミングよりも形成されるピットの前端位置が前
方にシフトするサーマルシフト量をピットの長さで表さ
れるデータ長の１ビット分以下の範囲に抑制するよう前
記差パルス間隔計測手段で計測された差が所定値以下の
とき、当該記録パルスの立上りを遅らせるよう立下り立
上り可変部３を制御する。
【００２０】
【作用】本発明においては、パルス幅が大きいほど立下
りを早めることにより、パターンシフト量が記録データ
パターンに拘らず一定となるよう補償することができ、
パルス間隔が小さいほど立上りを遅らせることにより、
記録データパターンに拘らずサーマルシフト量が一定と
なるよう補償することができる。
りを早めることにより、パターンシフト量が記録データ
パターンに拘らず一定となるよう補償することができ、
パルス間隔が小さいほど立上りを遅らせることにより、
記録データパターンに拘らずサーマルシフト量が一定と
なるよう補償することができる。
【００２１】また、パルス幅から先行するパルス間隔を
差引いた差が大きいほど立下りを早めることにより、記
録パルスとこれに先行するパルス間隔がどのように変化
してもパターンシフト量を一定とすることができ、パル
ス間隔から先行するパルス幅を差引いた差が小さいほど
立上りを遅らせることにより、パルス間隔とこれに先行
する記録パルスがどのように変化してもサーマルシフト
量を一定とすることができる。
差引いた差が大きいほど立下りを早めることにより、記
録パルスとこれに先行するパルス間隔がどのように変化
してもパターンシフト量を一定とすることができ、パル
ス間隔から先行するパルス幅を差引いた差が小さいほど
立上りを遅らせることにより、パルス間隔とこれに先行
する記録パルスがどのように変化してもサーマルシフト
量を一定とすることができる。
【００２２】
【実施例】図２は本発明方式の第１実施例のブロック
図、図３及び図４は図１の要部の概略ブロック図を示
す。図２〜図４において、同一部分には同一符号を付
す。更に、図５，図６は図２の各部の信号タイミングチ
ャートを示す。この図５は記録パルスの立上り時点の制
御を説明するためのものであり、サーマルシフトの補正
に対応し、一方図６は記録パルスの立下り時点の制御を
説明するためのものであり、パターンシフトの補正に対
応する。
図、図３及び図４は図１の要部の概略ブロック図を示
す。図２〜図４において、同一部分には同一符号を付
す。更に、図５，図６は図２の各部の信号タイミングチ
ャートを示す。この図５は記録パルスの立上り時点の制
御を説明するためのものであり、サーマルシフトの補正
に対応し、一方図６は記録パルスの立下り時点の制御を
説明するためのものであり、パターンシフトの補正に対
応する。
【００２３】図３において、端子１０には図６（Ｂ）に
示す如き記録パルスが入来して立上り検出器１１、計数
回路１２のイネーブル端子ＥＮ、遅延回路１３夫々に供
給される。立上り検出器１１は記録パルスの立上りエッ
ジを検出して、図６（Ｄ）に示す如き立上り検出信号を
生成して計数回路１２のロード端子ＬＤに供給する。計
数回路１２には端子１４，１５夫々よりライトクロッ
ク，初期値夫々が供給される。図６（Ａ）に示すライト
クロックは記録パルスを生成するための同期信号であ
り、（２，７）ＲＬＬ符号を例にとると、記録データの
ビット間隔に対応する周期の信号である。なお、初期値
は通常では例えば零であるが環境温度の変化等に応じた
所定値が与えられる。
示す如き記録パルスが入来して立上り検出器１１、計数
回路１２のイネーブル端子ＥＮ、遅延回路１３夫々に供
給される。立上り検出器１１は記録パルスの立上りエッ
ジを検出して、図６（Ｄ）に示す如き立上り検出信号を
生成して計数回路１２のロード端子ＬＤに供給する。計
数回路１２には端子１４，１５夫々よりライトクロッ
ク，初期値夫々が供給される。図６（Ａ）に示すライト
クロックは記録パルスを生成するための同期信号であ
り、（２，７）ＲＬＬ符号を例にとると、記録データの
ビット間隔に対応する周期の信号である。なお、初期値
は通常では例えば零であるが環境温度の変化等に応じた
所定値が与えられる。
【００２４】計数回路１２は立上り検出信号の入来によ
って端子１５よりの初期値をプリセットされ、記録パル
スのハイレベル期間に入来するライトクロックをアップ
カウントして、ｎ（ｎは例えば４）ビットの計数値を選
択回路１６に供給する。
って端子１５よりの初期値をプリセットされ、記録パル
スのハイレベル期間に入来するライトクロックをアップ
カウントして、ｎ（ｎは例えば４）ビットの計数値を選
択回路１６に供給する。
【００２５】遅延回路１３は記録パルスを遅延するもの
で、遅延時間が単位時間Δｔ毎に異なる２n 系統の記録
パルスを選択回路１６に供給する。選択回路１６は計数
回路１２の計数値に応じて、この計数値が大きい程遅延
時間の短かい記録パルスを選択して図６（Ｉ）に示す如
く端子１７より出力する。なお、図６（Ｉ）の遅延記録
パルスは負論理波形である。
で、遅延時間が単位時間Δｔ毎に異なる２n 系統の記録
パルスを選択回路１６に供給する。選択回路１６は計数
回路１２の計数値に応じて、この計数値が大きい程遅延
時間の短かい記録パルスを選択して図６（Ｉ）に示す如
く端子１７より出力する。なお、図６（Ｉ）の遅延記録
パルスは負論理波形である。
【００２６】これによって端子１７からは記録パルスの
立下りタイミングよりも形成されるピットの終端位置が
後方にシフトするパターンシフト量をピットの長さで表
されるデータ長の１ビット分以下の範囲に抑制するよう
パルス幅が所定値を越えたとき立下りが早められた記録
パルスが出力される。
立下りタイミングよりも形成されるピットの終端位置が
後方にシフトするパターンシフト量をピットの長さで表
されるデータ長の１ビット分以下の範囲に抑制するよう
パルス幅が所定値を越えたとき立下りが早められた記録
パルスが出力される。
【００２７】図４において、端子１０には図５（Ｂ）に
示す記録パルスが入来して立上り検出器１１、インバー
タ２０、遅延回路２３夫々に供給される。カウンタ２２
は端子１４，２５よりライトクロック（図５（Ａ）），
初期値夫々が供給されている。初期値は通常では例えば
零であるが環境温度の変化等に応じた所定値が与えられ
る。
示す記録パルスが入来して立上り検出器１１、インバー
タ２０、遅延回路２３夫々に供給される。カウンタ２２
は端子１４，２５よりライトクロック（図５（Ａ）），
初期値夫々が供給されている。初期値は通常では例えば
零であるが環境温度の変化等に応じた所定値が与えられ
る。
【００２８】計数回路２２は立上り検出信号の入来によ
って初期値をプリセットされ、インバータ２０で反転さ
れた記録パルスのハイレベル期間つまり元の記録パルス
のローレベル期間に入来するライトクロックをアップカ
ウントして、ｎ（ｎは例えば４）ビットの計数値を選択
回路２６に供給する。
って初期値をプリセットされ、インバータ２０で反転さ
れた記録パルスのハイレベル期間つまり元の記録パルス
のローレベル期間に入来するライトクロックをアップカ
ウントして、ｎ（ｎは例えば４）ビットの計数値を選択
回路２６に供給する。
【００２９】遅延回路２３は記録パルスを遅延するもの
で、遅延時間が単位時間Δｔ毎に異なる２n 系統の記録
パルスを選択回路２６に供給する。選択回路２６は計数
回路２２の計数値に応じて、この計数値が小さい程遅延
時間の長い記録パルスを選択して図５（Ｈ）に示す如く
端子２７より出力する。
で、遅延時間が単位時間Δｔ毎に異なる２n 系統の記録
パルスを選択回路２６に供給する。選択回路２６は計数
回路２２の計数値に応じて、この計数値が小さい程遅延
時間の長い記録パルスを選択して図５（Ｈ）に示す如く
端子２７より出力する。
【００３０】これによって端子２７からは記録パルスの
立上りタイミングよりも形成されるピットの前端位置が
前方にシフトするサーマルシフト量をピットの長さで表
されるデータ長の１ビット分以下の範囲に抑制するよう
パルス間隔が所定値以下のとき立上りが遅らされた記録
パルスが出力される。
立上りタイミングよりも形成されるピットの前端位置が
前方にシフトするサーマルシフト量をピットの長さで表
されるデータ長の１ビット分以下の範囲に抑制するよう
パルス間隔が所定値以下のとき立上りが遅らされた記録
パルスが出力される。
【００３１】図２において、カウンタ１２ａ，２２ａ夫
々とフリップフロップ１２ｂ，２２ｂ夫々とで計数回路
１２，２２夫々を構成しており、カウンタ１２ａ，２２
ａ夫々は先に図３，図４で説明した通りの計数を行な
い、夫々の計数値はフリップフロップ１２ｂ，２２ｂ夫
々に供給されて、立上り検出信号の入来時に保持され、
このフリップフロップ１２ｂ，２２ｂより選択回路１
６，２６夫々に供給される。
々とフリップフロップ１２ｂ，２２ｂ夫々とで計数回路
１２，２２夫々を構成しており、カウンタ１２ａ，２２
ａ夫々は先に図３，図４で説明した通りの計数を行な
い、夫々の計数値はフリップフロップ１２ｂ，２２ｂ夫
々に供給されて、立上り検出信号の入来時に保持され、
このフリップフロップ１２ｂ，２２ｂより選択回路１
６，２６夫々に供給される。
【００３２】なお、カウンタ１２ａ，２２ａ夫々は端子
２９よりライトゲート信号が入来したときに端子１５，
２５夫々より供給される初期値を内部に取込んで保持
し、立上り検出信号の供給によりこの保持している初期
値をプリセットする。
２９よりライトゲート信号が入来したときに端子１５，
２５夫々より供給される初期値を内部に取込んで保持
し、立上り検出信号の供給によりこの保持している初期
値をプリセットする。
【００３３】また、端子１０よりの記録パルスはタイミ
ング調整部３０で図５（Ｃ），図６（Ｃ）に示す如く所
定時間だけ遅延されてタイミングを調整され遅延回路１
３ａ，２３ａ夫々に供給される。図３，図４夫々の遅延
回路１３，２３夫々は、上記タイミング調整部３０と遅
延回路１３ａ，２３ａ夫々とに相当する。このタイミン
グ調整部３０は選択回路１６，２６夫々における遅延さ
れた記録パルスと計数値とのタイミングを合わせるため
のものである。
ング調整部３０で図５（Ｃ），図６（Ｃ）に示す如く所
定時間だけ遅延されてタイミングを調整され遅延回路１
３ａ，２３ａ夫々に供給される。図３，図４夫々の遅延
回路１３，２３夫々は、上記タイミング調整部３０と遅
延回路１３ａ，２３ａ夫々とに相当する。このタイミン
グ調整部３０は選択回路１６，２６夫々における遅延さ
れた記録パルスと計数値とのタイミングを合わせるため
のものである。
【００３４】選択回路１６で選択されたハイレベル期間
に応じて立下りタイミングが可変された図６（Ｉ）の記
録パルスは立下り確定パルス作成部３１に供給され、こ
こで立下り時点の確定が行なわれて、得られた立下り確
定パルス（図６（Ｆ））はオア回路３２を通してＤ型フ
リップフロップ３４のクロック入力端子に供給される。
に応じて立下りタイミングが可変された図６（Ｉ）の記
録パルスは立下り確定パルス作成部３１に供給され、こ
こで立下り時点の確定が行なわれて、得られた立下り確
定パルス（図６（Ｆ））はオア回路３２を通してＤ型フ
リップフロップ３４のクロック入力端子に供給される。
【００３５】選択回路２６で選択されたローレベル期間
に応じて立上りタイミングが可変された図５（Ｈ）の記
録パルスは立上り確定パルス作成部３３に供給され、こ
こで立上り時点の確定が行なわれて、得られた立上り確
定パルス（図５（Ｅ）はオア回路３２を通してフリップ
フロップ３４のクロック入力端子に供給される。
に応じて立上りタイミングが可変された図５（Ｈ）の記
録パルスは立上り確定パルス作成部３３に供給され、こ
こで立上り時点の確定が行なわれて、得られた立上り確
定パルス（図５（Ｅ）はオア回路３２を通してフリップ
フロップ３４のクロック入力端子に供給される。
【００３６】フリップフロップ３４のデータ入力端子に
はタイミング調整部３０よりの記録パルスが供給されて
おり、フリップフロップ３４は上記記録パルスをオア回
路３２より立上り及び立下りパルスが供給されたタイミ
ングでラッチして図５（Ｇ），図６（Ｇ）に示す補償記
録パルスとして端子３５より出力し、この補償記録パル
スによって実際の記録が行なわれる。
はタイミング調整部３０よりの記録パルスが供給されて
おり、フリップフロップ３４は上記記録パルスをオア回
路３２より立上り及び立下りパルスが供給されたタイミ
ングでラッチして図５（Ｇ），図６（Ｇ）に示す補償記
録パルスとして端子３５より出力し、この補償記録パル
スによって実際の記録が行なわれる。
【００３７】この補償記録パルスは補償前の記録パルス
に比して幅が大きいほど立下りが早められており、これ
によってパターンシフト量ΔＰｐを記録パルス幅に拘ら
ず一定（例えば零）とすることができると共に、補償前
の記録パルス間隔が小さいほど次の記録パルスの立上り
が遅らされており、これによってサーマルシフト量ΔＰ
ｔを記録パルス間隔に拘らず一定（例えば零）とするこ
とができる。従って、パターンシフト及びサーマルシフ
トを共に補償できる。
に比して幅が大きいほど立下りが早められており、これ
によってパターンシフト量ΔＰｐを記録パルス幅に拘ら
ず一定（例えば零）とすることができると共に、補償前
の記録パルス間隔が小さいほど次の記録パルスの立上り
が遅らされており、これによってサーマルシフト量ΔＰ
ｔを記録パルス間隔に拘らず一定（例えば零）とするこ
とができる。従って、パターンシフト及びサーマルシフ
トを共に補償できる。
【００３８】ここで、図５及び図６で実際の立上り、立
下り時点の制御の様子を説明する。図５（Ｃ）のタイミ
ング調整後の記録パルスと、図５（Ｇ）の補償記録パル
スとの立上り時点の差を、長いパルス間隔の差ｔ1 と短
かいパルス間隔の差ｔ2 とで比べると、明らかに差ｔ1
の方が差ｔ2 より短かくなっており、補償前の記録パル
ス間隔が小さいほど次の記録パルスの立上りが遅らされ
ていることが明らかである。
下り時点の制御の様子を説明する。図５（Ｃ）のタイミ
ング調整後の記録パルスと、図５（Ｇ）の補償記録パル
スとの立上り時点の差を、長いパルス間隔の差ｔ1 と短
かいパルス間隔の差ｔ2 とで比べると、明らかに差ｔ1
の方が差ｔ2 より短かくなっており、補償前の記録パル
ス間隔が小さいほど次の記録パルスの立上りが遅らされ
ていることが明らかである。
【００３９】図６（Ｃ）のタイミング調整後の記録パル
スと、図６（Ｇ）の補償記録パルスとの立上り時点の差
を、長いパルス幅の差ｔ3 と短かいパルス幅の差ｔ4 と
で比べると、明らかに差ｔ3 の方が差ｔ4 より短かくな
っており、補償前の記録パルス幅が大きいほど記録パル
スの立下りが早められていることが明らかである。
スと、図６（Ｇ）の補償記録パルスとの立上り時点の差
を、長いパルス幅の差ｔ3 と短かいパルス幅の差ｔ4 と
で比べると、明らかに差ｔ3 の方が差ｔ4 より短かくな
っており、補償前の記録パルス幅が大きいほど記録パル
スの立下りが早められていることが明らかである。
【００４０】図７は本発明方式の第２実施例のブロック
図、図８及び図９は図７の要部の概略ブロック図を示
す。図７〜図９中、図２〜図４と同一部分には同一符号
を付し、その説明を省略する。
図、図８及び図９は図７の要部の概略ブロック図を示
す。図７〜図９中、図２〜図４と同一部分には同一符号
を付し、その説明を省略する。
【００４１】図８において、インバータ４０は記録パル
スを反転して計数回路４２ダウンイネーブル端子ＤＮに
供給し、立下り検出器４１は記録パルスの立下りを検出
して立下り検出信号を計数回路４２のロード端子ＬＤに
供給する。計数回路４２は立下り検出信号の入来によっ
て初期値をプリセットされ、記録パルスのローレベル期
間に入来するライトクロックをダウンカウントし、また
アップイネーブル端子ＵＰに供給される記録パルスのハ
イレベル期間に入来するライトクロックをアップカウン
トして、ｎビットの計数値を選択回路１６に供給する。
スを反転して計数回路４２ダウンイネーブル端子ＤＮに
供給し、立下り検出器４１は記録パルスの立下りを検出
して立下り検出信号を計数回路４２のロード端子ＬＤに
供給する。計数回路４２は立下り検出信号の入来によっ
て初期値をプリセットされ、記録パルスのローレベル期
間に入来するライトクロックをダウンカウントし、また
アップイネーブル端子ＵＰに供給される記録パルスのハ
イレベル期間に入来するライトクロックをアップカウン
トして、ｎビットの計数値を選択回路１６に供給する。
【００４２】つまり計数回路４２は記録パルスのハイレ
ベル期間からこれに先行するローレベル期間の差を求め
ており、選択回路１６は上記の計数値が大きい程遅延時
間の短かい記録パルスを選択して端子１７より出力す
る。これによって端子１７からは記録パルスの立下りタ
イミングよりも形成されるピットの終端位置が後方にシ
フトするパターンシフト量をピットの長さで表されるデ
ータ長の１ビット分以下の範囲に抑制するよう記録パル
スのパルス幅から先行するパルス間隔を差引いた差が所
定値を越えたとき立下りが早められた記録パルスが出力
される。
ベル期間からこれに先行するローレベル期間の差を求め
ており、選択回路１６は上記の計数値が大きい程遅延時
間の短かい記録パルスを選択して端子１７より出力す
る。これによって端子１７からは記録パルスの立下りタ
イミングよりも形成されるピットの終端位置が後方にシ
フトするパターンシフト量をピットの長さで表されるデ
ータ長の１ビット分以下の範囲に抑制するよう記録パル
スのパルス幅から先行するパルス間隔を差引いた差が所
定値を越えたとき立下りが早められた記録パルスが出力
される。
【００４３】図９において、計数回路５２は立上り検出
信号をロード端子ＬＤに供給され、インバータ２０より
の反転された記録パルスをアップイネーブル端子ＵＰに
供給され、端子１０よりの記録パルスをダウンイネーブ
ル端子ＤＮに供給され、更に端子１４，２５夫々よりの
ライトクロック及び初期値を供給されている。計数回路
５２は立上り検出信号の入来によって初期値をプリセッ
トされ、記録パルスのハイレベル期間に入来するライト
クロックをダウンカウントし、また記録パルスのローレ
ベル期間に入来するライトクロックをアップカウントし
て、ｎビットの計数値を選択回路２６に供給する。
信号をロード端子ＬＤに供給され、インバータ２０より
の反転された記録パルスをアップイネーブル端子ＵＰに
供給され、端子１０よりの記録パルスをダウンイネーブ
ル端子ＤＮに供給され、更に端子１４，２５夫々よりの
ライトクロック及び初期値を供給されている。計数回路
５２は立上り検出信号の入来によって初期値をプリセッ
トされ、記録パルスのハイレベル期間に入来するライト
クロックをダウンカウントし、また記録パルスのローレ
ベル期間に入来するライトクロックをアップカウントし
て、ｎビットの計数値を選択回路２６に供給する。
【００４４】つまり、計数回路５２は記録パルスのロー
レベル期間からこれに先行するハイレベル期間の差を求
めており、選択回路１６は上記の計数値が小さい程遅延
時間の長い記録パルスを選択して端子２７より出力す
る。これによって、端子２７からは記録パルスの立上り
タイミングよりも形成されるピットの前端位置が前方に
シフトするサーマルシフト量をピットの長さで表される
データ長の１ビット分以下の範囲に抑制するよう記録パ
ルスのパルス間隔から先行するパルス幅を差引いた差が
所定値を越えたとき立上りが遅らされた記録パルスが出
力される。
レベル期間からこれに先行するハイレベル期間の差を求
めており、選択回路１６は上記の計数値が小さい程遅延
時間の長い記録パルスを選択して端子２７より出力す
る。これによって、端子２７からは記録パルスの立上り
タイミングよりも形成されるピットの前端位置が前方に
シフトするサーマルシフト量をピットの長さで表される
データ長の１ビット分以下の範囲に抑制するよう記録パ
ルスのパルス間隔から先行するパルス幅を差引いた差が
所定値を越えたとき立上りが遅らされた記録パルスが出
力される。
【００４５】図７において、カウンタ４２ａ，５２ａ夫
々とフリップフロップ４２ｂ，５２ｂ夫々とで計数回路
４２，５２夫々を構成しており、カウンタ４２ａ，５２
ａ夫々は先に図８，図９で説明した通りの計数を行な
い、夫々の計数値はフリップフロップ４２ｂ，５２ｂ夫
々に供給されて、立下り検出信号、立上り検出信号夫々
の入来時に保持され、このフリップフロップ４２ｂ，５
２ｂより選択回路１６，２６夫々に供給される。
々とフリップフロップ４２ｂ，５２ｂ夫々とで計数回路
４２，５２夫々を構成しており、カウンタ４２ａ，５２
ａ夫々は先に図８，図９で説明した通りの計数を行な
い、夫々の計数値はフリップフロップ４２ｂ，５２ｂ夫
々に供給されて、立下り検出信号、立上り検出信号夫々
の入来時に保持され、このフリップフロップ４２ｂ，５
２ｂより選択回路１６，２６夫々に供給される。
【００４６】なお、カウンタ５２ａ，５２ａ夫々は端子
２９よりライトゲート信号が入来したときに端子１５，
２５夫々より供給される初期値を内部に取込んで保持
し、立下り検出信号、立上り検出信号夫々の供給により
この保持している初期値をプリセットする。
２９よりライトゲート信号が入来したときに端子１５，
２５夫々より供給される初期値を内部に取込んで保持
し、立下り検出信号、立上り検出信号夫々の供給により
この保持している初期値をプリセットする。
【００４７】図７の実施例で端子３５より出力される補
償記録パルスは補償前の記録パルス幅とこれに先行する
記録パルス間隔の差が大きいほど立下りが早められてお
り、これによってパターンシフト量ΔＰｐを記録パルス
幅及び先行する記録パルス間隔に拘らず一定（例えば
零）とすることができると共に、補償前の記録パルス間
隔とこれに先行する記録パルス間隔の差が小さいほど記
録パルスの立上りが遅らされており、これによってサー
マルシフト量ΔＰｔを記録パルス間隔及び先行する記録
パルス幅に拘らず一定（例えば零）とすることができ
る。従ってパターンシフト及びサーマルシフトを共に補
償できる。
償記録パルスは補償前の記録パルス幅とこれに先行する
記録パルス間隔の差が大きいほど立下りが早められてお
り、これによってパターンシフト量ΔＰｐを記録パルス
幅及び先行する記録パルス間隔に拘らず一定（例えば
零）とすることができると共に、補償前の記録パルス間
隔とこれに先行する記録パルス間隔の差が小さいほど記
録パルスの立上りが遅らされており、これによってサー
マルシフト量ΔＰｔを記録パルス間隔及び先行する記録
パルス幅に拘らず一定（例えば零）とすることができ
る。従ってパターンシフト及びサーマルシフトを共に補
償できる。
【００４８】
【発明の効果】上述の如く、本発明の光ディスクの記録
補償方式によれば、パターンシフト量及びサーマルシフ
ト量を記録データのパターンに拘らず一定となるよう記
録補償することができ、実用上きわめて有用である。
補償方式によれば、パターンシフト量及びサーマルシフ
ト量を記録データのパターンに拘らず一定となるよう記
録補償することができ、実用上きわめて有用である。
【図１】本発明の原理図である。
【図２】本発明方式の第１実施例のブロック図である。
【図３】図２の要部の概略ブロック図である。
【図４】図２の要部の概略ブロック図である。
【図５】図２の各部の信号タイミングチャートである。
【図６】図２の各部の信号タイミングチャートである。
【図７】本発明方式の第２実施例のブロック図である。
【図８】図７の要部の概略ブロック図である。
【図９】図７の要部の概略ブロック図である。
【図１０】マーク間記録とマーク長記録を説明するため
の図である。
の図である。
【図１１】パターンシフトを説明するための図である。
【図１２】サーマルシフトを説明するための図である。
１ パルス幅計測手段 ２ 立下り制御手段 ３ 立下り立上り可変部 ４ パルス間隔計測手段 ５ 立上り制御手段 ６ 差パルス幅計測手段 ７ 差パルス間隔計測手段 １１ 立上り検出器 １２，２２，４２，５２ 計数回路 １３，２３ 遅延回路 １６，２６ 選択回路 ２０，４０ インバータ ４１ 立下り検出回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平３−35425（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−160017（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−185838（ＪＰ，Ａ)
Claims (2)
- 【請求項１】 記録データに対応してパルス幅及びパル
ス間隔が変化する記録パルスでレーザを駆動して光ディ
スク媒体にピットを形成してデータを記録する際の記録
補償を行う光ディスクの記録補償方式において、 該記録パルスのパルス幅を計測するパルス幅計測手段
と、前記記録パルスの立下りタイミングよりも形成されるピ
ットの終端位置が後方にシフトするパターンシフト量を
ピットの長さで表されるデータ長の１ビット分以下の範
囲に抑制するよう前記パルス幅計測手段で計測されたパ
ルス幅が所定値を越えたとき、当該 記録パルスの立下り
を早める立下り制御手段と、 該記録パルスのパルス間隔を計測するパルス間隔計測手
段と、前記記録パルスの立上りタイミングよりも形成されるピ
ットの前端位置が前方にシフトするサーマルシフト量を
ピットの長さで表されるデータ長の１ビット分以下の範
囲に抑制するよう前記パルス間隔計測手段で計測された
パルス間隔が所定値以下のとき、当該 記録パルスの立上
りを遅らせる立上り制御手段とを有することを特徴とす
る光ディスクの記録補償方式。 - 【請求項２】 記録データに対応してパルス幅及びパル
ス間隔が変化する記録パルスでレーザを駆動して光ディ
スク媒体にピットを形成してデータを記録する際の記録
補償を行なう光ディスクの記録補償方式において、 該記録パルスのパルス幅から先行するパルス間隔を差引
いた差を計測する差パルス幅計測手段と、前記記録パルスの立下りタイミングよりも形成されるピ
ットの終端位置が後方にシフトするパターンシフト量を
ピットの長さで表されるデータ長の１ビット分以下の範
囲に抑制するよう前記差パルス幅計測手段で計測された
差が所定値を越えたとき、当該 記録パルスの立下りを早
める立下り制御手段と、 該記録パルスのパルス間隔から先行するパルス幅を差引
いた差を計測する差パルス間隔計測手段と、前記記録パルスの立上りタイミングよりも形成されるピ
ットの前端位置が前方にシフトするサーマルシフト量を
ピットの長さで表されるデータ長の１ビット分以下の範
囲に抑制するよう前記差パルス間隔計測手段で計測され
た差が所定値以 下のとき、当該 記録パルスの立上りを遅
らせる立上り制御手段とを有することを特徴とする光デ
ィスクの記録補償方式。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4007780A JP2695725B2 (ja) | 1992-01-20 | 1992-01-20 | 光ディスクの記録補償方式 |
| US08/004,865 US5347505A (en) | 1992-01-20 | 1993-01-19 | Optical medium recording method and apparatus employing pulse width delay and/or advancement |
| EP93300384A EP0552936B1 (en) | 1992-01-20 | 1993-01-20 | Optical medium recording apparatus and method |
| DE69309508T DE69309508T2 (de) | 1992-01-20 | 1993-01-20 | Vorrichtung und Verfahren zum Aufzeichnen auf einem optischen Aufzeichnungsträger |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4007780A JP2695725B2 (ja) | 1992-01-20 | 1992-01-20 | 光ディスクの記録補償方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05197957A JPH05197957A (ja) | 1993-08-06 |
| JP2695725B2 true JP2695725B2 (ja) | 1998-01-14 |
Family
ID=11675192
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4007780A Expired - Lifetime JP2695725B2 (ja) | 1992-01-20 | 1992-01-20 | 光ディスクの記録補償方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2695725B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6807134B2 (en) | 1999-12-28 | 2004-10-19 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Asymmetry detection apparatus, jitter detection apparatus, and recording/reproduction apparatus |
| US7187635B2 (en) | 2001-04-19 | 2007-03-06 | Canon Kabushiki Kaisha | Optical information reproducing method and apparatus for performing reproduction compensation |
| KR100621567B1 (ko) * | 2002-04-19 | 2006-09-19 | 마쯔시다덴기산교 가부시키가이샤 | 광학적 정보 기록 방법, 광학적 정보 기록 장치 및 광학적정보 기록 매체 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2560298B2 (ja) * | 1986-12-23 | 1996-12-04 | ヤマハ株式会社 | 光デイスク記録装置 |
| JP2638024B2 (ja) * | 1988-01-21 | 1997-08-06 | ヤマハ株式会社 | 光ディスク記録装置 |
| JP2658404B2 (ja) * | 1989-06-30 | 1997-09-30 | 松下電器産業株式会社 | 光学情報の記録装置 |
-
1992
- 1992-01-20 JP JP4007780A patent/JP2695725B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05197957A (ja) | 1993-08-06 |
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