JPH05197957A - 光ディスクの記録補償方式 - Google Patents

光ディスクの記録補償方式

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JPH05197957A
JPH05197957A JP4007780A JP778092A JPH05197957A JP H05197957 A JPH05197957 A JP H05197957A JP 4007780 A JP4007780 A JP 4007780A JP 778092 A JP778092 A JP 778092A JP H05197957 A JPH05197957 A JP H05197957A
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は光ディスクの記録補償方式に関し、
パターンシフト量及びサーマルシフト量を記録データパ
ターンに拘らず一定となるよう記録補償することを目的
とする。 【構成】 パルス幅計測手段(1)は、記録パルスのパ
ルス幅を計測する。立下り制御手段(2)は、計測され
たパルス幅が大きいほどその記録パルスの立下りを早め
る。パルス間隔計測手段(4)は、記録パルスのパルス
間隔を計測する。立上り制御手段(5)は、計測された
パルス間隔が小さいほど次の記録パルスの立上りを遅ら
せる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は光ディスクの記録補償方
式に関し、光ディスクのライトデータ記録時の記録補償
方式に関する。
【0002】光ディスクは大容量かつ媒体の可換性を特
徴とし、イメージデータ保存用のファイリングシステム
からコードデータを取り扱う計算機の外部記憶位置まで
幅広く製品化が行われている。特に最近、国際標準化機
関であるISOにより、フォーマットの標準化が行われ
た5インチ及び3.5インチは個人用のファイル装置と
して普及が期待されている。
【0003】
【従来の技術】光ディスクの記憶密度を向上させる有力
な一手段としてマーク長記録方式が挙げられる。現在市
場に出荷されている光ディスクで使用されている記録方
式は、マーク間記録と呼ばれているものである。この2
つの記録方式の違いを図10に示す。
【0004】光ディスク媒体上に記録するのに適した
(2,7)RLL(ラン・レングス・リミテッド)形式
で符号化された図10(A)に示す記録データ系列‘0
100100000001000’をマーク間記録で
は、同図(B)に示す如く記録ビット‘1’が記録ピッ
トに1対1に対応して記録し、同図(C)に示す再生波
形を得る。このためマーク間記録は、別名ピットセンタ
記録とも呼ばれる。マーク長記録では、同図(D)に示
す如く、ビット‘1’に記録ピットのエッジが対応して
記録し、同図(E)に示す再生波形をスライスして再生
する。従ってマーグ長記録では、一つのピットで2つの
ビット‘1’を表すことができこの原理により、同じ最
短ピット長で記録した場合、原理的には記録密度をマー
ク間記録の2倍にすることができる。
【0005】しかし、光ディスクで記録されるピット
は、半導体レーザによって記録媒体が温められ、あるス
レッシュホールド(光磁気ディスクの場合はキューリ温
度で100度〜200度、相変化光ディスクの場合は相
転移温度で数百度)を超えることにより形成される。媒
体温度が飽和値に達する時間(温度の時定数)は、代表
的なファイル装置である磁気ディスクでデータ記録にあ
ずかる印加磁場に対する応答時間に比べはるかに長い時
間が必要である。そのため、本来所定の位置にあるべき
記録ピットのエッジ位置が環境温度や媒体感度を初めと
して、種々の要因により変動する。この変動要因の内、
最も重要な問題となるのが、記録データパターンによる
変動である。この変動は、大きくわけてパターンシフト
とサーマルシフトに分類できる。
【0006】パターンシフトとは、長いピットを形成す
る場合と短いピットを形成する場合とで、書き終わり時
点での媒体温度が異なるためピット長が変動する現象で
ある。また、サーマルシフトとは、先行するピットの熱
の影響により、記録ピットが変動する現象である。
【0007】例えば、図11(A)に示す記録データに
対応した同図(B)に示す記録パルスで記録を行うと
き、(2,7)RLL符号の最小パルス幅1.5τの記
録パルスで書き終わりのエッジにΔPcの定常シフトが
生じるのに対し、パルス幅4τの記録パルスでは媒体温
度が高くなるため定常シフトΔPcにパターンシフトΔ
Ppが加算される。このパターシフトΔPpの量は同図
(C)に示す如く記録パルスのパルス幅によって変動す
る。
【0008】また、図12(A)に示す記録データに対
応した同図(B)に示す記録パルスで記録を行うとき、
記録パルスの書き始めのエッジにΔPtのサーマルシフ
トが生じる。このサーマルシフトは同図(C)に示す如
くパルス間隔によって変動する。
【0009】従来より、特開昭63−53722号又は
特開昭62−12463号公報に記載の如く、データの
最密パターンあるいは所定パターンを検出して、この最
密パターンあるいは所定パターンの検出時に記録パルス
幅を制御する方式が提案されている。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】上記の従来方式では、
パルス幅制御において、記録パルスの立上り時点及び立
下り時点の制御量が同一であったり、あるいは単純に立
下り時点のみを制御してパルス幅を制御している。
【0011】しかし図11(C)に示すパターンシフト
及び図12(C)に示すサーマルシフトは自らの記録パ
ルス幅や先行するパルス間隔に強く依存し、かつ制御量
も異なるため、従来方式で完全に補償することは困難で
あるという問題点があった。本発明は上記の点に鑑みな
されたもので、パターンシフト量及びサーマルシフト量
を記録データのパターンに拘らず一定となるよう記録補
償する光ディスクの記録補償方式を提供することを目的
とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】図1は本発明の原理図を
示す。
【0013】図1(A)において、パルス幅計測手段1
は、記録パルスのパルス幅を計測する。
【0014】立下り制御手段2は、計測されたパルス幅
が大きいほどその記録パルスの立下りを早めるよう立下
り立上り可変部3を制御する。
【0015】パルス間隔計測手段4は、記録パルスのパ
ルス間隔を計測する。
【0016】立上り制御手段5は、計測されたパルス間
隔が小さいほど次の記録パルスの立上りを遅らせるよう
立下り立上り可変部3を制御する。
【0017】また、図1(B)において、差パルス幅計
測手段6は、記録パルスのパルス幅から先行するパルス
間隔を差引いた差を計測する。
【0018】立下り制御手段2は、計測されたパルス幅
と先行するパルス間隔との差が大きいほどその記録パル
スの立下りを早めるよう立下り立上り可変部3を制御す
る。差パルス間隔計測手段7は、記録パルスのパルス間
隔から先行するパルス幅を差引いた差を計測する。
【0019】立上り制御手段5は、計測されたパルス間
隔と先行するパルス幅との差が小さいほど次の記録パル
スの立上りを遅らせるよう立下り立上り可変部3を制御
する。
【0020】
【作用】本発明においては、パルス幅が大きいほど立下
りを早めることにより、パターンシフト量が記録データ
パターンに拘らず一定となるよう補償することができ、
パルス間隔が小さいほど立上りを遅らせることにより、
記録データパターンに拘らずサーマルシフト量が一定と
なるよう補償することができる。
【0021】また、パルス幅から先行するパルス間隔を
差引いた差が大きいほど立下りを早めることにより、記
録パルスとこれに先行するパルス間隔がどのように変化
してもパターンシフト量を一定とすることができ、パル
ス間隔から先行するパルス幅を差引いた差が小さいほど
立上りを遅らせることにより、パルス間隔とこれに先行
する記録パルスがどのように変化してもサーマルシフト
量を一定とすることができる。
【0022】
【実施例】図2は本発明方式の第1実施例のブロック
図、図3及び図4は図1の要部の概略ブロック図を示
す。図2〜図4において、同一部分には同一符号を付
す。更に、図5,図6は図2の各部の信号タイミングチ
ャートを示す。この図5は記録パルスの立上り時点の制
御を説明するためのものであり、サーマルシフトの補正
に対応し、一方図6は記録パルスの立下り時点の制御を
説明するためのものであり、パターンシフトの補正に対
応する。
【0023】図3において、端子10には図6(B)に
示す如き記録パルスが入来して立上り検出器11、計数
回路12のイネーブル端子EN、遅延回路13夫々に供
給される。立上り検出器11は記録パルスの立上りエッ
ジを検出して、図6(D)に示す如き立上り検出信号を
生成して計数回路12のロード端子LDに供給する。計
数回路12には端子14,15夫々よりライトクロッ
ク,初期値夫々が供給される。図6(A)に示すライト
クロックは記録パルスを生成するための同期信号であ
り、(2,7)RLL符号を例にとると、記録データの
ビット間隔に対応する周期の信号である。なお、初期値
は通常では例えば零であるが環境温度の変化等に応じた
所定値が与えられる。
【0024】計数回路12は立上り検出信号の入来によ
って端子15よりの初期値をプリセットされ、記録パル
スのハイレベル期間に入来するライトクロックをアップ
カウントして、n(nは例えば4)ビットの計数値を選
択回路16に供給する。
【0025】遅延回路13は記録パルスを遅延するもの
で、遅延時間が単位時間Δt毎に異なる2n 系統の記録
パルスを選択回路16に供給する。選択回路16は計数
回路12の計数値に応じて、この計数値が大きい程遅延
時間の短かい記録パルスを選択して図6(I)に示す如
く端子17より出力する。なお、図6(I)の遅延記録
パルスは負論理波形である。
【0026】これによって端子17からは記録パルスの
ハイレベル期間が長いほど遅延量が小さく、つまりハイ
レベル期間が長いほど立下りが早められた記録パルスが
出力される。
【0027】図4において、端子10には図5(B)に
示す記録パルスが入来して立上り検出器11、インバー
タ20、遅延回路23夫々に供給される。カウンタ22
は端子14,25よりライトクロック(図5(A)),
初期値夫々が供給されている。初期値は通常では例えば
零であるが環境温度の変化等に応じた所定値が与えられ
る。
【0028】計数回路22は立上り検出信号の入来によ
って初期値をプリセットされ、インバータ20で反転さ
れた記録パルスのハイレベル期間つまり元の記録パルス
のローレベル期間に入来するライトクロックをアップカ
ウントして、n(nは例えば4)ビットの計数値を選択
回路26に供給する。
【0029】遅延回路23は記録パルスを遅延するもの
で、遅延時間が単位時間Δt毎に異なる2n 系統の記録
パルスを選択回路26に供給する。選択回路26は計数
回路22の計数値に応じて、この計数値が小さい程遅延
時間の長い記録パルスを選択して図5(H)に示す如く
端子27より出力する。
【0030】これによって端子27からは記録パルスの
ローレベル期間が短かいほど立上りの遅延量が大きく、
立上りが遅らされた記録パルスが出力される。
【0031】図2において、カウンタ12a,22a夫
々とフリップフロップ12b,22b夫々とで計数回路
12,22夫々を構成しており、カウンタ12a,22
a夫々は先に図3,図4で説明した通りの計数を行な
い、夫々の計数値はフリップフロップ12b,22b夫
々に供給されて、立上り検出信号の入来時に保持され、
このフリップフロップ12b,22bより選択回路1
6,26夫々に供給される。
【0032】なお、カウンタ12a,22a夫々は端子
29よりライトゲート信号が入来したときに端子15,
25夫々より供給される初期値を内部に取込んで保持
し、立上り検出信号の供給によりこの保持している初期
値をプリセットする。
【0033】また、端子10よりの記録パルスはタイミ
ング調整部30で図5(C),図6(C)に示す如く所
定時間だけ遅延されてタイミングを調整され遅延回路1
3a,23a夫々に供給される。図3,図4夫々の遅延
回路13,23夫々は、上記タイミング調整部30と遅
延回路13a,23a夫々とに相当する。このタイミン
グ調整部30は選択回路16,26夫々における遅延さ
れた記録パルスと計数値とのタイミングを合わせるため
のものである。
【0034】選択回路16で選択されたハイレベル期間
に応じて立下りタイミングが可変された図6(I)の記
録パルスは立下り確定パルス作成部31に供給され、こ
こで立下り時点の確定が行なわれて、得られた立下り確
定パルス(図6(F))はオア回路32を通してD型フ
リップフロップ34のクロック入力端子に供給される。
【0035】選択回路26で選択されたローレベル期間
に応じて立上りタイミングが可変された図5(H)の記
録パルスは立上り確定パルス作成部33に供給され、こ
こで立上り時点の確定が行なわれて、得られた立上り確
定パルス(図5(E)はオア回路32を通してフリップ
フロップ34のクロック入力端子に供給される。
【0036】フリップフロップ34のデータ入力端子に
はタイミング調整部30よりの記録パルスが供給されて
おり、フリップフロップ34は上記記録パルスをオア回
路32より立上り及び立下りパルスが供給されたタイミ
ングでラッチして図5(G),図6(G)に示す補償記
録パルスとして端子35より出力し、この補償記録パル
スによって実際の記録が行なわれる。
【0037】この補償記録パルスは補償前の記録パルス
に比して幅が大きいほど立下りが早められており、これ
によってパターンシフト量ΔPpを記録パルス幅に拘ら
ず一定(例えば零)とすることができると共に、補償前
の記録パルス間隔が小さいほど次の記録パルスの立上り
が遅らされており、これによってサーマルシフト量ΔP
tを記録パルス間隔に拘らず一定(例えば零)とするこ
とができる。従って、パターンシフト及びサーマルシフ
トを共に補償できる。
【0038】ここで、図5及び図6で実際の立上り、立
下り時点の制御の様子を説明する。図5(C)のタイミ
ング調整後の記録パルスと、図5(G)の補償記録パル
スとの立上り時点の差を、長いパルス間隔の差t1 と短
かいパルス間隔の差t2 とで比べると、明らかに差t1
の方が差t2 より短かくなっており、補償前の記録パル
ス間隔が小さいほど次の記録パルスの立上りが遅らされ
ていることが明らかである。
【0039】図6(C)のタイミング調整後の記録パル
スと、図6(G)の補償記録パルスとの立上り時点の差
を、長いパルス幅の差t3 と短かいパルス幅の差t4
で比べると、明らかに差t3 の方が差t4 より短かくな
っており、補償前の記録パルス幅が大きいほど記録パル
スの立下りが早められていることが明らかである。
【0040】図7は本発明方式の第2実施例のブロック
図、図8及び図9は図7の要部の概略ブロック図を示
す。図7〜図9中、図2〜図4と同一部分には同一符号
を付し、その説明を省略する。
【0041】図8において、インバータ40は記録パル
スを反転して計数回路42ダウンイネーブル端子DNに
供給し、立下り検出器41は記録パルスの立下りを検出
して立下り検出信号を計数回路42のロード端子LDに
供給する。計数回路42は立下り検出信号の入来によっ
て初期値をプリセットされ、記録パルスのローレベル期
間に入来するライトクロックをダウンカウントし、また
アップイネーブル端子UPに供給される記録パルスのハ
イレベル期間に入来するライトクロックをアップカウン
トして、nビットの計数値を選択回路16に供給する。
【0042】つまり計数回路42は記録パルスのハイレ
ベル期間からこれに先行するローレベル期間の差を求め
ており、選択回路16は上記の計数値が大きい程遅延時
間の短かい記録パルスを選択して端子17より出力す
る。
【0043】図9において、計数回路52は立上り検出
信号をロード端子LDに供給され、インバータ20より
の反転された記録パルスをアップイネーブル端子UPに
供給され、端子10よりの記録パルスをダウンイネーブ
ル端子DNに供給され、更に端子14,25夫々よりの
ライトクロック及び初期値を供給されている。計数回路
52は立上り検出信号の入来によって初期値をプリセッ
トされ、記録パルスのハイレベル期間に入来するライト
クロックをダウンカウントし、また記録パルスのローレ
ベル期間に入来するライトクロックをアップカウントし
て、nビットの計数値を選択回路26に供給する。
【0044】つまり、計数回路52は記録パルスのロー
レベル期間からこれに先行するハイレベル期間の差を求
めており、選択回路16は上記の計数値が小さい程遅延
時間の長い記録パルスを選択して端子27より出力す
る。
【0045】図7において、カウンタ42a,52a夫
々とフリップフロップ42b,52b夫々とで計数回路
42,52夫々を構成しており、カウンタ42a,52
a夫々は先に図8,図9で説明した通りの計数を行な
い、夫々の計数値はフリップフロップ42b,52b夫
々に供給されて、立下り検出信号、立上り検出信号夫々
の入来時に保持され、このフリップフロップ42b,5
2bより選択回路16,26夫々に供給される。
【0046】なお、カウンタ52a,52a夫々は端子
29よりライトゲート信号が入来したときに端子15,
25夫々より供給される初期値を内部に取込んで保持
し、立下り検出信号、立上り検出信号夫々の供給により
この保持している初期値をプリセットする。
【0047】図7の実施例で端子35より出力される補
償記録パルスは補償前の記録パルス幅とこれに先行する
記録パルス間隔の差が大きいほど立下りが早められてお
り、これによってパターンシフト量ΔPpを記録パルス
幅及び先行する記録パルス間隔に拘らず一定(例えば
零)とすることができると共に、補償前の記録パルス間
隔とこれに先行する記録パルス間隔の差が小さいほど記
録パルスの立上りが遅らされており、これによってサー
マルシフト量ΔPtを記録パルス間隔及び先行する記録
パルス幅に拘らず一定(例えば零)とすることができ
る。従ってパターンシフト及びサーマルシフトを共に補
償できる。
【0048】
【発明の効果】上述の如く、本発明の光ディスクの記録
補償方式によれば、パターンシフト量及びサーマルシフ
ト量を記録データのパターンに拘らず一定となるよう記
録補償することができ、実用上きわめて有用である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の原理図である。
【図2】本発明方式の第1実施例のブロック図である。
【図3】図2の要部の概略ブロック図である。
【図4】図2の要部の概略ブロック図である。
【図5】図2の各部の信号タイミングチャートである。
【図6】図2の各部の信号タイミングチャートである。
【図7】本発明方式の第2実施例のブロック図である。
【図8】図7の要部の概略ブロック図である。
【図9】図7の要部の概略ブロック図である。
【図10】マーク間記録とマーク長記録を説明するため
の図である。
【図11】パターンシフトを説明するための図である。
【図12】サーマルシフトを説明するための図である。
【符号の説明】
1 パルス幅計測手段 2 立下り制御手段 3 立下り立上り可変部 4 パルス間隔計測手段 5 立上り制御手段 6 差パルス幅計測手段 7 差パルス間隔計測手段 11 立上り検出器 12,22,42,52 計数回路 13,23 遅延回路 16,26 選択回路 20,40 インバータ 41 立下り検出回路

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 パルス幅及びパルス間隔が変化する記録
    パルスでレーザを駆動して光ディスク媒体に該記録パル
    スのハイレベル期間にピットを形成しデータを記録する
    際の記録補償を行なう光ディスクの記録補償方式におい
    て、 該記録パルスのパルス幅を計測するパルス幅計測手段
    (1)と、 計測されたパルス幅が大きいほどその記録パルスの立下
    りを早める立下り制御手段(2)と、 該記録パルスのパルス間隔を計測するパルス間隔計測手
    段(4)と、 計測されたパルス間隔が小さいほど次の記録パルスの立
    上りを遅らせる立上り制御手段(5)とを有することを
    特徴とする光ディスクの記録補償方式。
  2. 【請求項2】 パルス幅及びパルス間隔が変化する記録
    パルスでレーザを駆動して光ディスク媒体に該記録パル
    スのハイレベル期間にピットを形成しデータを記録する
    際の記録補償を行なう光ディスクの記録補償方式におい
    て、 該記録パルスのパルス幅から先行するパルス間隔を差引
    いた差を計測する差パルス幅計測手段(6)と、 計測されたパルス幅と先行するパルス間隔との差が大き
    いほどその記録パルスの立下りを早める立下り制御手段
    (2)と、 該記録パルスのパルス間隔から先行するパルス幅を差引
    いた差を計測する差パルス間隔計測手段(7)と、 計測されたパルス間隔と先行するパルス幅との差が小さ
    いほど次の記録パルスの立上りを遅らせる立上り制御手
    段(5)とを有することを特徴とする光ディスクの記録
    補償方式。
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