JP2001110054A

JP2001110054A - 情報記録システム

Info

Publication number: JP2001110054A
Application number: JP2000280849A
Authority: JP
Inventors: Koki Tagami; 光喜田上; Hideki Takahashi; 秀樹高橋; Sadanari Fujimoto; 定也藤本; Hideaki Osawa; 英昭大澤
Original assignee: Toshiba Corp
Current assignee: Toshiba Corp
Priority date: 1998-09-14
Filing date: 2000-09-14
Publication date: 2001-04-20

Abstract

(57)【要約】【課題】高密度のマーク長記録を行なう場合において、
隣接マーク間における熱干渉による悪影響を回避する。【解決手段】光ディスク１０から記録に関する情報（記
録マークの前後スペースに関連する２値化信号等）を再
生する。再生された情報に基づきディスク１０に対する
記録パラメータ（記録波形前後パルスの位置／位相、幅
あるいは高さに関係する波形補正量）を算出する。算出
された記録パラメータに基づき記録データＲＤの記録波
形パルスＲＷＰを生成する。生成された記録波形でディ
スク１０に記録を行なう。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、マーク長記録方
式を利用した情報記録システムに関する。

【０００２】

【従来の技術】大容量のデジタル情報記録媒体として、
相変化記録方式を利用したＤＶＤ−ＲＡＭディスクが提
案されている。

【０００３】ＤＶＤーＲＡＭディスクは、現在世界的に
広く普及しているＶＨＳビデオに取って替わる録再可能
ビデオ記録メディアとして、あるいは画像情報を含む大
容量コンピュータデータの記録メディアとして、マーケ
ットから大きな注目を浴びている。

【０００４】ＤＶＤ−ＲＡＭにＭＰＥＧエンコードされ
たビデオ動画記録を行なう場合、その録画再生品質（画
質）は単位時間当たりに消費するデータ量（ビットレー
ト）に大略比例する。ここで、一定容量のＤＶＤーＲＡ
Ｍディスクに高画質記録を行おうとすると、記録の平均
ビットレートを上げなければならず、その分記録時間が
短くなる。逆に、長時間記録をするには記録の平均ビッ
トレートを下げねばならず、その場合は画質が低下す
る。結局、高画質と長時間記録を両立させるには、ＤＶ
ＤーＲＡＭディスクの記録容量を大きくする必要があ
る。

【０００５】一定サイズの記録媒体の記録容量を増やす
ためには、記録密度を上げなければならない。マーケッ
トも高記録密度媒体の登場を望んでいる。具体的には、
１２ｃｍ片面ＤＶＤ−ＲＡＭディスク（録画用ブランク
ディスク）として、現在２．６ＧＢ（ギガバイト）の容
量を持つものが市販されているが、より高画質・より長
時間記録という要求を満たすために、これまでよりも記
録密度の高い片面４．７ＧＢのＤＶＤーＲＡＭディスク
が近々市販される（将来的にはより大容量のディスクが
市販されることになる）。

【０００６】ところで、ＤＶＤーＲＡＭディスクへの情
報記録には、マーク長記録が採用されることになってい
る。

【０００７】相変化記録方式を利用した情報記録媒体に
マーク長記録を行なう方法として、次のようなものがあ
る。

【０００８】いま、記録対象の入力データ系列のビット
間隔をＴとすると、各Ｔ毎に櫛型の記録波形（パルス
列）が定義される。そして、マーク長に応じて決められ
る記録波形により、媒体の記録層上に記録データに対応
したマークの形成が行われる。その際に用いられる記録
波形は、本願発明がなされるまでは、マークの両端（マ
ーク前後）に位置するスペースの長さ（隣接マーク間の
間隔）とは無関係に、決められていた。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】これまでのマーク長記
録では、隣接マーク間隔（マーク前後のスペースの長
さ）を無視した記録波形でマーク形成を行っている。こ
のため、記録密度が高くなることに対応して隣接マーク
間隔が小さくなってくると、媒体の記録箇所に相変化を
引き起こすためにレーザ加熱をする際に、隣接マーク間
において熱干渉が生じる（図１１（ａ）参照）。この熱
干渉が生じると、そのマークの実質的なエッジ位置に、
ずれ（本来の記録情報に対して誤差をもたらす不本意な
変化）が生じる（図１１（ｂ）参照）。このようなエッ
ジずれの生じたマークからの再生信号には、熱干渉によ
る不本意なエッジずれに起因したジッタが生じ、正常な
再生が困難になる。具体的には、上記熱干渉により再生
信号のジッタがある限度を超えるまで増えると、再生装
置側のエラー訂正能力を超えた読取エラーが発生する恐
れがある。

【００１０】この発明の目的は、高密度のマーク長記録
を行なうものにおいて、隣接マーク間における熱干渉に
よる悪影響（再生信号のジッタ増加等）を回避できる情
報記録システムを提供することである。

【００１１】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、この発明の情報記録システムは、使用する記録媒体
（１０）から記録に関する情報（記録マークの前後スペ
ースに関連する２値化信号ＢＳ等）を再生する再生手段
（３０内の３１０〜３１６）と；前記再生手段により再
生された情報に基づき前記媒体に対する記録パラメータ
（記録波形前後パルスの位置／位相、幅あるいは高さに
関係する波形補正量ＷＣＡ）を算出するパラメータ算出
手段（４０）と；前記算出された記録パラメータに基づ
き記録データ（ＲＤ）の記録波形（ＲＷＰの前後パルス
およびその間のパルス列）を生成する記録波形制御手段
（２０）と；前記生成された記録波形で前記媒体に記録
を行なう記録手段（３０内の３００）とを具備してい
る。

【００１２】前記記録波形制御手段（２０）は、前記パ
ラメータ算出手段（４０）で算出された記録パラメータ
（ＷＣＡ）に基づき記録波形（ＲＷＰ）の先頭にあるフ
ァーストパルスおよび／または末尾にあるラストパルス
の位置（位相）若しくはその幅を調整する調整手段（２
０内の２０４〜２４４）を含むことができる。

【００１３】また、前記記録媒体（１０）の所定エリア
（図示しないリードインエリアの一部）に、前記算出さ
れた記録パラメータに基づく記録波形（ＲＷＰ）に関係
した情報（記録波形前後パルスの位置調整なのか、前後
パルスの幅調整なのか等）を記録することもできる。

【００１４】このシステムでは、ばらつきのある多数の
記録媒体（具体的には個々の市販ＤＶＤ−ＲＡＭディス
ク）各々に対して最適の記録波形（隣接マーク間におけ
る熱干渉を実質的に回避し得るような記録波形）を自動
的に選択することができ、その最適記録波形で該当記録
媒体に対する記録（具体的にはマーク／スペース形成）
が行われる。

【００１５】なお、前記パラメータ算出手段で算出され
た記録波形の種類を特定する情報を個々の記録媒体に記
録しておけば、その媒体をシステム（具体的にはＤＶＤ
ビデオレコーダ）に装填するだけで、自動的にその媒体
に最適の記録波形を選択できるようになる。

【００１６】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、この発明
の一実施の形態に係る情報記録システムを説明する。な
お、重複説明を避けるために、複数の図面に渡り機能上
共通する部分には共通の参照符号が用いられている。

【００１７】図１は、この発明の一実施の形態に係る情
報記録システムの概要を説明するための図である。

【００１８】図１において、光ディスク１０は、情報記
録層として相変化型記録層を備えた書替型のメディアで
ある。以下、この光ディスク１０の具体例として、片面
４．７ＧＢの記録容量を持つＤＶＤ−ＲＡＭディスクを
想定して説明する。

【００１９】このＤＶＤ−ＲＡＭディスク１０は、図示
しないが、内周側にリードインエリアを持ち、外周側に
リードアウトエリアを持ち、その間にデータエリアを持
つ。リードインエリアは、そのディスク１０の記録に関
する情報等を格納するエリアを含んでいる。この情報記
録エリアには、図６を参照して後述する処理により確定
した記録波形がどんなものかを格納することができる。

【００２０】ＤＶＤ−ＲＡＭディスク１０のデータエリ
アは、その記録面上で同心円リング状に配置された２４
のデータゾーンに分割されている。分割された各リング
状データゾーン内部では、線速度が略一定となるように
回転制御される。異なるリング状データゾーンそれぞれ
には、異なる回転数が割り当てられている（内周側のデ
ータゾーンほど割り当てられた回転数が高い）。すなわ
ち、ディスク１０はＺＣＬＶ（ゾーン・コンスタント・
リニア・ヴェロシティ）方式で回転制御される。

【００２１】記録手段／再生手段３０は、所定波長のレ
ーザ光をＤＶＤ−ＲＡＭディスク１０の情報記録面（相
変化記録層）に照射することにより、記録（マーク形
成）あるいは再生（マーク読取）を行なう。この記録
は、記録マークのエッジに情報を持たせたマーク長記録
方式により行われる。

【００２２】ここで、マーク形成には、開口数ＮＡ＝
０．６の対物レンズと組み合わされた波長λ＝６５０ｎ
ｍ（０．６５μｍ）の半導体レーザを用いることができ
る。この場合、ＤＶＤーＲＡＭディスク１０の相変化記
録層上の光スポットの直径（レーザ光のピーク強度を１
００％としたとき強度がおよそ１３．５％になる大きさ
の光スポットの直径）は、約０．９μｍになる。この場
合、スポット中心からスポット周辺までの距離は約０．
４５μｍになる。

【００２３】ところで、ＤＶＤーＲＡＭにおける８ー１
６変調では、記録データ系列のビット間隔をＴとしたと
き、１Ｔは約０．１４μｍに相当する。すると、隣接記
録マークの間隔が最小の３Ｔのスペース長は０．４２μ
ｍとなる。スペース長０．４２μｍのマーク形成時にス
ポット半径０．４５μｍのレーザを用いたのでは、図１
１を参照して前述した熱干渉の影響は避け得ない。この
熱干渉の影響を避けるために、図１の構成では記録波形
に応じて波形補正量ＷＣＡを求め、求めた補正量で記録
波形パルスＲＷＰの波形（先頭のファーストパルスおよ
び／または末尾のラストパルスの位置、幅あるいは高
さ）を適宜修正している。この修正がどのようになされ
るかの具体例は、図７〜図１０を参照して後述する。

【００２４】記録手段／再生手段３０は、情報再生時に
おいて、ディスク１０に記録されたマークに対応する２
値化信号ＢＳおよびチャネルクロックＣＣを、パラメー
タ算出手段４０に供給する。

【００２５】パラメータ算出手段４０は、供給された２
値化信号ＢＳおよびチャネルクロックＣＣに基づいて、
読み取り対象である注目マークの前後エッジの状況を検
出し、記録波形パラメータの算出を行なう。算出パラメ
ータから求められた波形補正量ＷＣＡは、パルス位置／
パルス幅制御手段２０に供給される。

【００２６】パルス位置／パルス幅制御手段２０は、外
部から記録データＲＤおよび基準クロックＲＣを受ける
と、供給された波形補正量ＷＣＡに基づいて、図１１を
参照して前述した熱干渉が実質的に生じないような記録
波形のパルスＲＷＰ（記録データＲＤに対応した情報を
含む）を発生する。

【００２７】こうして発生された記録波形パルスＲＷＰ
が、記録手段／再生手段３０に供給される。すると、記
録手段／再生手段３０は、記録波形パルスＲＷＰに対応
した記録用レーザ光ビームＢ１をＤＶＤ−ＲＡＭディス
ク１０の相変化記録層の所定部分に照射する。この照射
により、熱干渉の影響のないマークが、光ディスク１０
の記録層に書き込まれる。

【００２８】なお、ディスク１０の相変化記録層に書き
込まれたマークは、その部分で反射されるレーザ光ビー
ムＢ２を検出することで、再生される。

【００２９】図２は、図１の記録手段／再生手段３０の
内部構成を説明するブロック図である。

【００３０】ＤＶＤ−ＲＡＭディスク１０に情報記録を
行なうときは、その記録に適した記録波形パルスＲＷＰ
が、パルス位置／パルス幅制御手段２０から出力され
る。この記録波形パルスＲＷＰは、記録手段／再生手段
３０内部のＬＤドライバ（レーザダイオード駆動回路）
３００に供給される。ＬＤドライバ３００は、供給され
たパルスＲＷＰと同じ波形のレーザダイオード駆動電流
を発生し、図示しないレーザダイオードを書込駆動す
る。すると書込に適した比較的大パワーの光記録ビーム
Ｂ１がレーザダイオードから放出され、ディスク１０の
相変化記録層の所定部分に照射される。これにより記録
波形パルスＲＷＰに対応したマークがディスク１０の相
変化記録層に形成される。

【００３１】ＤＶＤ−ＲＡＭディスク１０から情報再生
を行なうときは、再生光（相変化記録層のマーク／スペ
ースで反射されたレーザ反射光）Ｂ２が光検出器３１０
により検出され、微弱なアナログ電気信号として取り出
される。この光検出器３１０は、図示しないが、たとえ
ば受光面が４分割されたフォトダイオードで構成でき
る。

【００３２】光検出器３１０から取り出された微弱なア
ナログ電気信号は、プリアンプ３１２で増幅され、充分
な信号レベルとなってレベルスライサ３１４に入力され
る。レベルスライサ３１４は所定のスライスレベルで入
力されたアナログ信号を２値化する。こうして、ＤＶＤ
ーＲＡＭディスク１０の相変化記録層に形成されたマー
ク／スペースに対応した２値化信号ＢＳが得られる。

【００３３】なお、レベルスライサ３１４は、２値化信
号ＢＳの平均値により２値化に用いるスライスレベルを
自動的に調整するよう構成されている。

【００３４】レベルスライサ３１４からの２値化信号Ｂ
ＳはＰＬＬ（位相ロックループ）回路３１６に入力され
る。ＰＬＬ回路３１６は、入力された２値化信号ＢＳに
位相同期したチャネルクロックＣＣを発生する。

【００３５】図３は、図１の記録波形内パルス位置／幅
制御手段２０の内部構成を説明するブロック図である。
また、図４は、図３の構成の動作（パルス位置またはパ
ルス幅の適応制御動作）を説明するタイミングチャート
である。

【００３６】図４（ｃ）において、ＮＲＺＩ信号ＮＲＳ
中のサフィックス付記号Ｍ、たとえばＭ０は、０番目の
マークを意味する。また、ＮＲＺＩ信号ＮＲＳ中のサフ
ィックス付記号Ｓ、たとえばＳ＋１は、１番目のスペー
ス（マークＭ０の直後のスペース）を意味する。同様
に、記号Ｓー１は、ー１番目のスペース（マークＭ０の
直前のスペース）を意味する。

【００３７】図３において、変調データ信号ＭＤＳ（図
４（ｂ））は元データ（記録データＲＤ相当）に８−１
６変調を施した２値データ列で、ハイレベルデータビッ
ト「１」と「１」との間に必ずローレベルデータビット
「０」が２ないし１０個入るビットデータである。

【００３８】ＮＲＺＩとは、ノン・リターン・ツー・ゼ
ロ・インバーテッドの略である。ＮＲＺＩ信号ＮＲＳ
（図４（ｃ））は、変調データ信号ＭＤＳ（図４
（ｂ））のハイレベル「１」に対する部分（立ち上がり
エッジ）で極性反転する波形を持つ信号である。

【００３９】立ち上がり検出信号ＵＤＳ（図４（ｆ））
および立ち下がり検出信号ＤＤＳ（図４（ｇ））は、変
調データ信号ＭＤＳおよびＮＲＺＩ信号ＮＲＳから生成
される。すなわち、ＮＲＺＩ信号ＮＲＳがハイレベル
「１」の間の変調データ信号ＭＤＳが立ち上がり検出信
号ＵＤＳとなり、ＮＲＺＩ信号ＮＲＳがローレベル
「０」の間の変調データ信号ＭＤＳが立ち下がり検出信
号ＤＤＳとなる。

【００４０】具体的には、ＮＲＺＩ信号（図４（ｃ））
を基準クロックＲＣ（図４（ａ））１クロック分（１Ｔ
分）だけ遅延させてＮＲＺＩ遅延信号（図４（ｅ））を
作る。そして、ＮＲＺＩ信号とＮＲＺＩ遅延信号とのイ
クスクルーシブオアを取ると、ＮＲＺＩ信号の先頭と末
尾の位置に、１クロック分（１Ｔ分）のパルス幅を持つ
検出信号ＵＤＳおよびＤＤＳが得られる。

【００４１】ラン長カウンタ２０２は、変調データ信号
ＭＤＳがハイレベル「１」になるとカウント値がゼロに
クリアされ、次の変調データ信号ＭＤＳ＝「１」が来る
まで基準クロックＲＣ（図４（ａ））のカウントアップ
を行なう。ラン長カウンタ２０２のカウント値（図４
（ｄ）のラン長ＲＬ）は、記録マークの長さあるいはマ
ーク間スペースの長さを示すものとなる。

【００４２】以下、ＮＲＺＩ信号ＮＲＳ＝「１」の部分
がマークに対応し、ＮＲＺＩ信号ＮＲＳ＝「０」の部分
がスペースに対応するものとして、説明を続ける。

【００４３】ラン長レジスタ２０８は、前記立ち上がり
検出信号ＵＤＳおよび立ち下がり検出信号ＤＤＳの発生
タイミングに基づいてラン長カウンタ２０２のカウント
値（ラン長ＲＬ）を順次取り込んで、一時記憶するレジ
スタである。

【００４４】このレジスタ２０８は、注目マークおよび
その前後スペースの３つの長さに関する履歴を覚えてお
くことができる。

【００４５】たとえば図４（ｈ）において、ラン長レジ
スタ２０８の３つのレジスタエリアの内容は、以下のよ
うな履歴を記憶するようになっている。

【００４６】初めは、ラン長レジスタ２０８の３つのレ
ジスタエリアは、図４（ｈ）の上から順に（０、０、
０）となっている。

【００４７】先行マークＭ−２のＮＲＺＩ信号ＮＲＳ
（図４（ｃ））の末尾のタイミング（図４（ｇ）の立ち
下がり検出信号ＤＤＳの発生タイミング）でラン長カウ
ンタ２０２の内容が取り込まれると、ラン長レジスタ２
０８の３つのレジスタエリアは、図４（ｈ）に示すよう
に（２＝Ｍー２、０、０）となる。

【００４８】次に、注目マークＭ０のＮＲＺＩ信号ＮＲ
Ｓ（図４（ｃ））の先頭タイミング（図４（ｆ）の立ち
上がり検出信号ＵＤＳの発生タイミング）でラン長カウ
ンタ２０２の内容が取り込まれると、ラン長レジスタ２
０８の３つのレジスタエリアは、図４（ｈ）に示すよう
に（２＝Ｓ−１、２＝Ｍ−２、０）となる。

【００４９】さらに、注目マークＭ０のＮＲＺＩ信号Ｎ
ＲＳ（図４（ｃ））の末尾タイミング（図４（ｇ）の立
ち下がり検出信号ＤＤＳの発生タイミング）でラン長カ
ウンタ２０２の内容が取り込まれると、ラン長レジスタ
２０８の３つのレジスタエリアは、図４（ｈ）に示すよ
うに（Ａ＝Ｍ０、２＝Ｓ−１、２＝Ｍ−２）となる。

【００５０】以下同様の手順で、図４（ｆ）の立ち上が
り検出信号ＵＤＳあるいは図４（ｇ）の立ち下がり検出
信号ＤＤＳの発生タイミングで、ラン長レジスタ２０８
の３つのレジスタエリアは、以下のように変化して行
く：最初のＵＤＳ…（０、０、０）；次のＤＤＳ…（２＝Ｍー２、０、０）；次のＵＤＳ…（２＝Ｓ−１、２＝Ｍ−２、０）；次のＤＤＳ…（Ａ＝Ｍ０、２＝Ｓ−１、２＝Ｍ−２）；次のＵＤＳ…（Ａ＝Ｓ＋１、Ａ＝Ｍ０、２＝Ｓ−１）；次のＤＤＳ…（４＝Ｍ＋１、Ａ＝Ｓ＋１、Ａ＝Ｍ０）；次のＵＤＳ…（４＝Ｓ＋２、４＝Ｍ＋１、Ａ＝Ｓ＋
１）。

【００５１】つまり、ラン長レジスタ２０８は、時々刻
々と変化する注目マークの直前スペース（たとえばＳ−
１）の長さデータＳＬと、注目マーク（たとえばＭ０）
の長さデータＭＬと、注目マークの直後スペース（たと
えばＳ＋１）の長さデータＳＬの履歴を一時記憶し、出
力することができる（図４（ｈ）参照）。

【００５２】なお、記録波形ＲＷＰの先頭パルス（図４
（ｍ）のファーストパルスＦＰ）だけが制御対象の場合
は、直前スペース長データＳＬだけで事足りる。この場
合、レジスタ２０８が覚えておく履歴は２つでよい（こ
の場合はラン長レジスタ２０８のレジスタ本数は２本あ
れば良い。）。

【００５３】記録波形ＲＷＰの先頭パルス（ファースト
パルス）の遅延量（位置または位相）、末尾パルス（ラ
ストパルス）の遅延量、先頭パルスの幅、および／また
は末尾パルスの幅は、ラン長レジスタ２０８に一時記憶
されたデータＭＬ／ＳＬを利用して、制御することがで
きる。この制御を行うための構成は、以下のようになっ
ている。

【００５４】すなわち、検出部２０４からの立ち上がり
検出信号ＵＤＳ（図４（ｆ））がファーストパルス生成
部２１０およびマルチソース生成部２１２に供給され、
検出部２０６からの立ち下がり検出信号ＤＤＳ（図４
（ｇ））がマルチソース生成部２１２およびラストパル
ス生成部２１４に供給される。マルチソース生成部２１
２にはさらに、ＮＲＺＩ変換部２００からＮＲＺＩ信号
ＮＲＳ（図４（ｃ））が供給される。

【００５５】ファーストソースパルス生成部２１０は、
立ち上がり検出信号ＵＤＳ（図４（ｆ））を遅延させ、
ファーストソースパルスＦＳＰ（図４（ｉ））を発生す
る。

【００５６】ラストソースパルス生成部２１４は、立ち
下がり検出信号ＤＤＳ（図４（ｇ））と同じタイミング
のラストソースパルスＬＳＰを発生する。

【００５７】マルチソースパルス生成部２１２は、立ち
上がり検出信号ＵＤＳおよび立ち下がり検出信号ＤＤＳ
を用いて、マルチソースパルスＭＳＰ（図４（ｊ））を
発生させる。具体的には、マルチソースパルス生成部２
１２は、立ち上がり信号ＵＤＳを遅延させたファースト
ソースパルスＦＳＰ（図４（ｊ））の立ち下がりエッジ
と同じタイミングでマルチソースパルスＭＳＰを立ち上
げ、立ち下がり検出信号ＤＤＳの立ち上がりエッジと同
じタイミングでマルチソースパルスＭＳＰを立ち下げる
ように、構成されている。

【００５８】生成部２１０からのファーストソースパル
スＦＳＰ（図４（ｉ））は、シフト前ファーストパルス
生成部２２０に入力される。生成部２２０は、入力され
たファーストソースパルスＦＳＰを適宜遅延させて、シ
フト前ファーストパルスＢＳＦＰ（図４（ｌ））を発生
する。発生されたシフト前ファーストパルスＢＳＦＰ
は、ファーストパルス生成部２２４に入力される。

【００５９】ファーストパルス生成部２２４にはさら
に、ファーストゲートパルス生成部２２２から、ファー
ストゲートパルスＦＧＰ（図４（ｋ））と、マーク長／
スペース長データＭＬ／ＳＬ（図４（ｈ））が入力され
る。

【００６０】このファーストゲートパルスＦＧＰは、ラ
ン長カウンタ２０２のカウント値（図４（ｄ）のラン長
ＲＬ）に基づき基準クロック信号ＲＣ（図４（ａ））に
同期したタイミングで発生される。

【００６１】ファーストパルス生成部２２４は、ファー
ストゲートパルスＦＧＰが「１」レベルとなっている期
間において、マーク長データＭＬあるいは（マーク直前
の）スペース長データＳＬが示す位置に対応したシフト
前ファーストパルスＢＳＦＰに同期して、ファーストパ
ルスＦＰ（図４（ｍ））を発生する。発生されたファー
ストパルスＦＰは、記録パルス生成部２５０に供給され
る。

【００６２】生成部２１２からのマルチソースパルスＭ
ＳＰ（図４（ｊ））は、マルチゲートパルス生成部２３
２に入力される。生成部２３２は、入力されたマルチソ
ースパルスＭＳＰを基準クロック信号ＲＣ（図４
（ａ））のタイミングで適宜遅延させて、マルチゲート
パルスＭＧＰ（図４（ｎ））を発生する。発生されたマ
ルチゲートパルスＭＧＰは、マルチパルス生成部２３４
に入力される。マルチパルス生成部２３４にはさらに、
基準クロック信号ＲＣ（図４（ａ））と、マーク長／ス
ペース長データＭＬ／ＳＬ（図４（ｈ））が入力され
る。

【００６３】マルチパルス生成部２３４は、マルチゲー
トパルスＭＧＰが「１」レベルとなっている期間におい
て、マーク長データＭＬあるいはスペース長データＳＬ
が示す長さに対応したパルス列（周期は図４（ａ）の基
準クロックＲＣと同じ）を含むマルチパルスＭＰ（図４
（ｏ））を発生する。発生されたマルチパルスＭＰは、
記録パルス生成部２５０に供給される。

【００６４】生成部２１４からのラストソースパルスＬ
ＳＰ（図４（ｇ））は、シフト前ラストパルス生成部２
４０に入力される。生成部２４０は、入力されたラスト
ソースパルスＬＳＰを適宜遅延させて、シフト前ラスト
パルスＢＳＬＰ（図４（ｑ））を発生する。発生された
シフト前ラストパルスＢＳＬＰは、ラストパルス生成部
２４４に入力される。

【００６５】ラストパルス生成部２４４にはさらに、ラ
ストゲートパルス生成部２４２から、ラストゲートパル
スＬＧＰ（図４（ｐ））と、マーク長／スペース長デー
タＭＬ／ＳＬ（図４（ｈ））が入力される。

【００６６】このラストゲートパルスＬＧＰは、ラン長
カウンタ２０２のカウント値（図４（ｄ）のラン長Ｒ
Ｌ）に基づき基準クロック信号ＲＣ（図４（ａ））に同
期したタイミングで発生される。

【００６７】ラストパルス生成部２４４は、ラストゲー
トパルスＬＧＰが「１」レベルとなっている期間におい
て、マーク長データＭＬあるいは（マーク直後の）スペ
ース長データＳＬが示す位置に対応したシフト前ラスト
パルスＢＳＬＰに同期して、ラストパルスＬＰ（図４
（ｒ））を発生する。発生されたファーストパルスＦＰ
は、記録パルス生成部２５０に供給される。

【００６８】記録パルス生成部２５０は、パルス生成部
２２４、２３４および２４４からのファーストパルスＦ
Ｐ（図４（ｍ））、マルチパルスＭＰ（図４（ｏ））お
よびラストパルスＬＰ（図４（ｒ））に基づいて、先頭
側にファーストパルスＦＰの波形を持ち、末尾側にラス
トパルスＬＰの波形を持ち、その間にマルチパルスＭＰ
の波形を持つ、記録波形パルスＲＷＰ（図７（ｃ）参
照）を生成する。

【００６９】図５は、図１のパラメータ算出手段４０の
内部構成を説明するブロック図である。

【００７０】まず最初に、図１の記録手段３０により、
パラメータ算出手段４０からの波形補正量ＷＣＡ（後述
する補償量に対応）がゼロの場合の基準波形を用いて、
ランダム系列のデータ（８ー１６変調で許されるマーク
長およびスペース長の組み合わせをランダムに含むデー
タ）をＤＶＤ−ＲＡＭディスク１０に記録する。

【００７１】こうしてディスク１０に記録されたランダ
ム系列データの再生信号に対応する２値化信号ＢＳおよ
びそのチャネルクロック信号ＣＣが、パラメータ算出手
段４０内のパターン判別部４００およびエッジ位相差パ
ルス発生部４０２に入力される。

【００７２】パターン判別部４００は、入力された２値
化信号ＢＳおよびチャネルクロック信号ＣＣを用いて、
注目するマークに関して、その直前のスペース長および
直後のスペース長を検出する。

【００７３】このパターン判別部４００において、「直
前スペース長」および「注目マーク自身のマーク長」に
関しては前エッジ（立ち上がりエッジ）側を見てパター
ン判別が行われ、「注目マーク自身のマーク長」および
「直後スペース長」に関しては後エッジ（立ち下がりエ
ッジ）側を見てパターン判別が行われる。

【００７４】図５中、記号Ｍ０は注目マークの長さを示
し、記号Ｓ−１はそのマークの直前のスペース長を示し
ている。

【００７５】たとえば、基準クロックＲＣ（チャネルク
ロックＣＣ）の１周期をＴで表すと、３クロック相当の
直前スペース長Ｓ−１は３Ｔとなり、３クロック相当の
マーク長Ｍ０は３Ｔとなる。８ー１６変調の場合、マー
クおよびスペース双方について、その長さは３Ｔ〜１１
Ｔの間で変化する。また、図示はしないが、データ中の
同期コード（ＳＹＮＣ）中には、誤検出を防ぐ意味か
ら、ラン長違反を示す情報として、１４Ｔのマークある
いは１４Ｔのスペースが挿入されている。

【００７６】スペース長が短い程その両端のマーク間に
おける前述した熱干渉（図１１参照）は大きくなる。あ
る程度スペース長が長くなれば熱干渉は無視できるよう
になる。

【００７７】そこで、マーク／スペースをその長さによ
って分類し、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ、６Ｔ〜１４Ｔという４
グループに分ける。そして、パターン判別部４００は、
たとえば直前スペース長が４Ｔであり注目マーク長が３
Ｔであれば、そのパターンを（４、３）パターンである
と、判定する。

【００７８】エッジ位相差パルスとは、２値化信号ＢＳ
の立ち上がりエッジあるいは立ち下がりエッジとチャネ
ルクロックＣＣとの位相差を示すパルスである。こで
は、この位相差をパルス幅で表現することにする。

【００７９】図５では、２値化信号ＢＳに対応するパル
スの立ち上がりエッジにおける位相差パルスをＰＬで表
し、その立ち下がりエッジにおける位相差パルスをＰＴ
で表している。

【００８０】位相差をパルス幅で表した位相差パルスＰ
ＬおよびＰＴは、パルス幅ー電圧変換部（Ｔ−Ｖ変換
部）４０４において対応するアナログ電圧に変換され
る。変換されたアナログ電圧はさらにＡ／Ｄ変換されて
対応するデジタルデータとなる。

【００８１】具体的には、一定容量のキャパシタに対す
る定電流充電を、パルスの立ち上がりエッジをトリガと
して開始する。すると、位相差パルスの立ち上がりエッ
ジのを起点として、キャパシタの端子電圧は、時間経過
に比例してリニアに上昇する。

【００８２】こうして定電流充電されるキャパシタの端
子電圧を、パルスの立ち下がりエッジのタイミングでサ
ンプリングし、そのときのキャパシタ端子電圧をＡ／Ｄ
変換によりデジタル化する。

【００８３】こうして、Ｔ−Ｖ変換部４０４により、位
相差パルスの立ち上がりエッジについての位相差データ
ＰＬ（デジタル）および位相差パルスの立ち下がりエッ
ジについての位相差データＰＴ（デジタル）が得られ
る。

【００８４】デジタル化された位相差データＰＬおよび
ＰＴは、パラメータ演算部４０６に供給される。

【００８５】パラメータ演算部４０６は、パラメータメ
モリ４０６０およびパラメータ演算ユニット４０６２を
備えている。

【００８６】パラメータ演算ユニット４０６２は、パタ
ーン判別部４００からのパターン情報（Ｓ−１、Ｍ０、
Ｓ＋１等）に対応したメモリ４０６０の格納位置に、Ｔ
−Ｖ変換部４０４からの位相差データＰＬおよびＰＴを
加算する。

【００８７】たとえば、パターン判別部４００が判別し
たパターンが（４、４）パターンの場合、パラメータメ
モリ４０６０の横軸「４」／縦軸「４」の交点位置に、
（４、４）と判定されたパターンの２値化信号ＢＳ（ス
ペース長データＳ−１およびマーク長データＭ０）に対
応する位相差データＰＬおよびＰＴが、累積記憶され
る。

【００８８】パラメータメモリ４０６０には各パターン
（Ｓ−１、Ｍ０、Ｓ＋１等）での母数Ｎも記憶される。
パラメータ演算部４０６は、Ｔ−Ｖ変換部４０４からの
データ取り込みが終了すると、パラメータメモリ４０６
０の各メモリ位置に残っている加算された位相差情報
を、母数Ｎで除算する。これにより、マーク前方の波形
補償量であるΔｔＬ（４、４）と、マーク後方の波形補
償量であるΔｔＴ（４、４）が、得られる。

【００８９】こうして得られた補償量ΔｔＬ（４、４）
およびΔｔＴ（４、４）に基づいて、ライト波形（記録
波形）発生部４０８は、そのときのスペース長で前記熱
干渉を起こさないような波形を持つ記録波形パルスＲＷ
Ｐを発生する。

【００９０】上述したようにマーク／スペースのパター
ン別に位相差データを記憶するパラメータメモリ４０６
０は、図１のシステムで使用可能な記録波形の補償方法
の数（図８〜図１０の３種類を個別に使用するなら３
つ）だけ、独立したメモリページを持つことができる。
その場合、それぞれのページに補償方法別のパラメータ
を記憶しておくことができる。

【００９１】また、個別のディスク１０に対する最適の
補償方法（熱干渉のない記録を行う方法）がパラメータ
メモリ４０６０の上記メモリページの何処にあるのかを
示す情報を、その個別ディスク１０の所定箇所（たとえ
ばリードインエリアの制御データエリア）に書き込んで
おくこともできる。

【００９２】図６は、図５のパラメータ算出手段４０の
動作を説明するフローチャートである。このフローチャ
ートの処理は、パラメータ算出手段４０を構成する図５
の演算ユニット（マイクロプロセッサユニットＭＰＵま
たはＣＰＵ）４０６２により実行される。

【００９３】まず、補償量がゼロの基準波形でランダム
な系列のデータ（種々なパターンを含むデータ）をＤＶ
Ｄ−ＲＡＭディスク１０に記録し（ステップＳＴ１
０）、記録したセクタからパターン別の位相差量（Ｐ
Ｌ、ＰＴ）を取り込む（ステップＳＴ１２）。

【００９４】次に、図５のパターン演算部４０６におい
て、注目マークの前端／後端各々について、パターン別
の位相差量（図５のＰＬ、ＰＴ）の平均値を算出する。
その際、スペース／マークそれぞれに対するラン長の発
生頻度に応じて、適宜重み付けをした平均値算出がなさ
れる（ステップＳＴ１４）。

【００９５】この重み付けを行なう理由は、８ー１６変
調では長いラン長（６Ｔ〜１１Ｔ）よりも短いラン長
（３Ｔ〜５Ｔ）の方が発生頻度が高いため、全てのラン
長に対して公平に平均値を求めることは実状に合わない
からである。

【００９６】こうして算出された平均値が所定値以下な
らば（ステップＳＴ１６イエス）、現状で記録波形に対
する補償量（図１の波形補正量ＷＣＡに対応）が適切で
あると判断され、記録波形は確定する。

【００９７】算出された平均値が所定値を超えていると
きは（ステップＳＴ１６ノー）、現状の補償量は不適切
であると判断される。この場合は、基準波形に対して残
出した平均値が相殺されるような補償量（図５のΔｔ
Ｌ、ΔｔＴ）、つまりステップＳＴ１６でイエスとなる
ような方向の補償量が算出される（ステップＳＴ１
８）。そして算出された新たな補償量でディスク１０に
対する記録（ステップＳＴ１０）、パターン別位相差量
の取り込み（ステップＳＴ１２）、パターン別位相差量
の平均値算出（ステップＳＴ１４）が繰り返され、重み
付け算出された平均値が所定値以下かどうか再チェック
される（ステップＳＴ１６）。

【００９８】それでもなお算出された平均値が所定値を
超えているときは（ステップＳＴ１６ノー）、現状の補
償量はまだ不適切であると判断される。この場合は、適
切な補償量が得られるまで、図６の処理ループ（ＳＴ１
０〜ＳＴ１８）が再実行される。

【００９９】図７は、図１の制御手段２０により生成さ
れる記録パルスの波形例および記録波形最後尾のクーリ
ングパルスの作用を説明する波形図であるすなわち、図
５の構成と図６の処理により最適記録波形が確定する
と、図３の構成により、熱干渉の発生を抑えた記録波形
（図７（ｃ））が生成される。

【０１００】定性的に言えば、記録マークの直前スペー
スが充分大きく（たとえばスペース長が６Ｔ以上）熱干
渉の恐れがないときは、ファーストパルスＦＰ（図７
（ｃ））の先頭位置を記録マークに対応するＮＲＺＩ波
形（図７（ｂ））の先頭位置までシフトさせる（後述す
るが、このパルス位置シフトの方法としては、パルス幅
は変えずその位相を変化させるものと、パルス幅をその
ものを変化させるものがある。）。

【０１０１】ここで、ＮＲＺＩ波形の先頭とは、時間経
過に沿って移動するレーザ光スポット（図７（ｄ））に
より時間的に最初に加熱される相変化記録層部分に該当
する。

【０１０２】一方、記録マークの直前スペースが小さく
（たとえばスペース長が３Ｔ）熱干渉の恐れがあるとき
は、ファーストパルスＦＰの先頭位置を記録マークに対
応するＮＲＺＩ波形の先頭位置から後方にシフトさせ
る。

【０１０３】同様に、記録マークの直後スペースが充分
大きく（たとえばスペース長が６Ｔ以上）熱干渉の恐れ
がないときは、ラストパルスＬＰ（図７（ｃ））の位置
をＮＲＺＩ波形（図７（ｂ））の末尾位置近くまでシフ
トさせることができる。

【０１０４】一方、記録マークの直後スペースが小さく
（たとえばスペース長が３Ｔ）熱干渉の恐れがあるとき
は、ラストパルスＬＰの位置をＮＲＺＩ波形の末尾位置
からより前方にシフトさせる。

【０１０５】ここで、ＮＲＺＩ波形の末尾とは、時間経
過に沿って移動するレーザ光スポット（図７（ｄ））に
より（余熱も含め実質的な意味で）最後に加熱される相
変化記録層部分に該当する。

【０１０６】マークを形成する記録波形（図７（ｃ））
の先頭および末尾には上記ファーストパルスＦＰおよび
ラストパルスＬＰが配置されるが、それらの間には、基
準クロック（図７（ａ））に対応した周期のマルチパル
スＭＰが挿入される。

【０１０７】挿入されるマルチパルスＭＰの数は、記録
しようとするマーク長（図７（ｂ）のＮＲＺＩ波形の長
さ）により変化する。具体的にいうと、マーク長（ＮＲ
ＺＩ波形長）をｎＴとすれば（Ｔは図７（ａ）の基準ク
ロックの周期）、挿入されるマルチパルスＭＰの数は、
（ｎー４）とすることができる。

【０１０８】ここで、３Ｔマークまたは４Ｔマーク（ｎ
ー４がー１または０）ならマルチパルスＭＰは挿入せ
ず、ファーストパルスＦＰとラストパルスＬＰだけで記
録波形が形成される。７Ｔマークなら、３つのマルチパ
ルスＭＰがファーストパルスＦＰとラストパルスＬＰと
の間に挿入されて記録波形が形成される。１１Ｔマーク
なら、７つのマルチパルスＭＰがファーストパルスＦＰ
とラストパルスＬＰとの間に挿入されて記録波形が形成
される。

【０１０９】なお、マーク形成中は、ＤＶＤーＲＡＭデ
ィスク１０の相変化記録層のマーク形成部分がレーザに
より実質的に連続加熱される。このため、相変化記録層
のマーク形成部分は、加熱末期（ＮＲＺＩ波形の末尾
部）でオーバーヒート状態となる恐れが生じる。このオ
ーバーヒート状態が生じると、記録マークの形が一定幅
の理想形（図７（ｆ））とならずマーク後方が末広がり
となった矢羽型マーク（図７（ｅ））となってしまうこ
とがある。

【０１１０】このようなオーバーヒートに起因する矢羽
型マークの発生を防ぐ一手段として、記録波形の末尾に
クーリングパルスＣＰを設けることができる。このクー
リングパルスＣＰを設けるために、図７（ｃ）の記録波
形例では、ラストパルスＬＰをＮＲＺＩ波形の最後端末
尾まで下げることはしていない。

【０１１１】図８は、図１の制御手段２０により記録波
形の先頭（ファーストパルスＦＰ）および／または末尾
（ラストパルスＬＰ）の位置（位相）を調整する場合を
例示する波形図である。

【０１１２】ここでは、記録マークに対応するＮＲＺＩ
波形（図８（ａ））の範囲内において、マーク形成用の
記録波形の先頭にあるファーストパルスＦＰおよび末尾
にあるラストパルスＬＰ（図８（ｂ））のパルス位置
（位相）を制御している。たとえば、実線のファースト
パルスＦＰでマーク前方に熱干渉が起きる場合は、破線
で示す位置にファーストパルスＦＰの位置をずらす制御
が行われる。同様に、実線のラストパルスＬＰでマーク
後方に熱干渉が起きる場合は、破線で示す位置にラスト
パルスＬＰの位置をずらす制御が行われる。

【０１１３】図９は、図１の制御手段２０により記録波
形の先頭（ファーストパルス）および／または末尾（ラ
ストパルス）のパルス幅を調整する場合を例示する波形
図である。

【０１１４】ここでは、記録マークに対応するＮＲＺＩ
波形（図９（ａ））の範囲内において、マーク形成用の
記録波形の先頭にあるファーストパルスＦＰおよび末尾
にあるラストパルスＬＰ（図９（ｂ））のパルス幅を制
御している。たとえば、実線のファーストパルスＦＰで
マーク前方に熱干渉が起きる場合は、破線で示すように
ファーストパルスＦＰの幅を減らす制御が行われる。同
様に、実線のラストパルスＬＰでマーク後方に熱干渉が
起きる場合は、破線で示す位置にラストパルスＬＰの幅
を減らす制御が行われる。

【０１１５】ところで、前述した熱干渉は、相変化記録
層の特定部分へ一定時間当たりに照射されるエネルギが
大きすぎるときに生じる。そのため、レーザ駆動用記録
波形のパルス位置（位相）あるいはパルス幅は変えなく
ても前記熱干渉を回避する別の制御方法が考えられる。
すなわち、記録波形のファーストパルスおよび／または
ラストパルスのパルス高を加減することでマーク先頭部
あるいは末尾部に一定時間当たりに照射されるエネルギ
を調整して、前記熱干渉を回避する制御方法も考えられ
る。

【０１１６】図１０はこの制御方法を概念的に説明する
もので、図１の制御手段２０により記録波形の先頭（フ
ァーストパルス）および／または末尾（ラストパルス）
のパルス高を調整する場合を例示する波形図である。

【０１１７】ここでは、記録マークに対応するＮＲＺＩ
波形（図１０（ａ））の範囲内において、マーク形成用
の記録波形の先頭にあるファーストパルスＦＰおよび末
尾にあるラストパルスＬＰ（図１０（ｂ））のパルス高
を制御している。たとえば、実線の大振幅ファーストパ
ルスＦＰでマーク前方に熱干渉が起きる場合は、破線で
示すようにファーストパルスＦＰの高さを下げる制御が
行われる。同様に、実線のラストパルスＬＰでマーク後
方に熱干渉が起きる場合は、破線で示す位置にラストパ
ルスＬＰの高さを下げる制御が行われる。

【０１１８】なお、図８〜図１０の３種類の制御方法
（パルス位置制御、パルス幅制御、パルス高制御）は、
そのうちの２または３種を任意に組み合わせることがで
きる。

【０１１９】たとえば、マーク前方に図８のパルス位置
制御を適用し、マーク後方に図９のパルス幅制御を適用
することは可能である。

【０１２０】また、マーク長が短い（３Ｔ〜５Ｔ）とき
は図８のパルス位置制御を適用し、マーク長が長い（６
Ｔ〜１１Ｔ）ときは図９のパルス幅制御または図１０の
パルス高制御を適用することも可能である。

【０１２１】また、マーク長が短い（３Ｔ〜５Ｔ）とき
は図８のパルス位置制御を適用するが、熱干渉の影響を
受けにくいマーク長が長い（６Ｔ〜１１Ｔ）ときは図８
〜図１０の制御を適用しない実施形態も考えられる。

【０１２２】記録マークの長さ（３Ｔ〜１１Ｔ）に応じ
てマーク先端あるいはマーク後端にどのような制御（図
８〜図１０）を適用するのかの「制御タイプ情報」、お
よび／または各制御タイプに対して用いられるパラメー
タ（図５のメモリ４０６０の内容）を特定する「パラメ
ータ情報」は、それが一旦決まったあとは、制御対象デ
ィスク１０の所定位置（たとえばリードインエリアの一
部）に、書き込んでおくことができる。

【０１２３】そうすれば、そのディスク１０を図１の装
置（ＤＶＤーＲＡＭレコーダ）に装填するだけで、装置
の制御部（図示しないＭＰＵ／ＣＰＵ＋ソフトウエア）
は、上記「制御タイプ情報」および／または「パラメー
タ情報」を検知する。この場合、装置ユーザがなにもし
なくても、今現在装置にセットした個別ディスク１０に
対して最適の記録波形でもって、記録がなされるように
なる。

【０１２４】次に、図８〜図１０のやり方に基づく記録
波形制御をどうするかについて、もう少し具体的に説明
する。

【０１２５】８／１６変調方式でＤＶＤーＲＡＭディス
クにマーク長記録を行なう場合、隣接マーク間のスペー
ス長は３Ｔ〜１１Ｔになる。ＤＶＤーＲＡＭディスクで
は１Ｔはおよそ０．１４μｍになるので、スペース長は
３Ｔ〜１１Ｔ＝０．４２μｍ〜１．５４μｍとなる。

【０１２６】スペース長が３Ｔ＝０．４２μｍ（隣接マ
ーク間のスペースが最小の場合）、スポット径０．９μ
ｍのレーザでマーク形成を行なうと、そのマークの前後
両端におけるレーザ光スポットの熱的影響は隣接マーク
の端部に影響する（熱干渉する）可能性がある。この影
響の度合いは、実際に熱干渉を伴ったマーク長記録を行
ってみてその再生信号のジッタを計測すれば分かる。

【０１２７】スペース長が３Ｔのマークからの再生信号
のジッタが所定値以下（再生側で積符号を用いたＥＣＣ
処理によるエラー訂正が確実に行える値）になるような
記録波形を実際のディスクに対して統計的手法で求める
ことで、前記熱干渉の影響を回避するパラメータを求め
ることができる。

【０１２８】熱干渉の影響はスペース長が小さい程大き
い。このため、熱干渉の影響を回避するために行なう記
録波形の補償処理の程度（具体的には記録波形の先頭／
末尾のパルスの位置、幅および／または高さ）は、スペ
ース長＝３Ｔのときが最大となり、スペース長＝４Ｔ、
５Ｔ、…と大きくなるに従い小さくなる。スペース長が
ある程度（たとえば６Ｔ）以上になれば、記録波形を格
別補償しなくても前記熱干渉の影響を事実上回避できる
ようになるかも知れない。しかし、短波長レーザが実用
化され媒体の記録密度が上がってくると、スペース長が
６Ｔ以上になっても、上記記録波形の補償処理が必要に
なる可能性はある。

【０１２９】以下、この発明に係る記録波形制御に関す
るポイントをまとめておく。

【０１３０】（１）パラメータ自動設定の方法（その
１）…記録波形の先頭パルスおよび／または末尾パルス
の位置（位相）を、隣接マーク間における熱干渉が実質
的に起きないようにパラメータ設定する。設定されたパ
ラメータは図５のパラメータメモリ４０６０に格納され
る。

【０１３１】（２）パラメータ自動設定の方法（その
２）…記録波形の先頭パルスおよび／または末尾パルス
の幅を、隣接マーク間における熱干渉が実質的に起きな
いようにパラメータ設定する。設定されたパラメータは
図５のパラメータメモリ４０６０に格納される。

【０１３２】（３）パラメータ自動設定の方法（その
３）…記録波形の先頭パルスおよび／または末尾パルス
の高さを、隣接マーク間における熱干渉が実質的に起き
ないようにパラメータ設定する。設定されたパラメータ
は図５のパラメータメモリ４０６０に格納される。

【０１３３】（４）パラメータ自動設定の対象（その
１）…実際に使用する媒体（たとえば片面４．７ＧＢ以
上の高密度ＤＶＤーＲＡＭディスク）自体を対象とし、
媒体個々の特性のばらつきに対応したパラメータ設定を
行なう。具体的には、媒体毎にマーク長およびその前後
のスペース長をチェックして最適な記録波形を決定す
る。この決定は、図５の構成（図１のパラメータ算出手
段４０）により行われる。

【０１３４】（５）パラメータ自動設定の対象（その
２）…媒体を使用する装置を対象とし、装置内環境変化
に適応した自動設定（媒体に対する記録波形の適宜修
正）を所定のタイミング（たとえば一定時間間隔）で自
動的に行なう。具体的には、装置内部の温度変化、記録
用レーザダイオードの経年劣化等に応じて、記録波形を
適宜修正する。

【０１３５】（６）パラメータ自動設定のタイミング
（その１）…実際に使用する媒体の所定箇所（たとえば
リードインの制御データエリア）にパラメータ自動設定
データを記録しておく。この媒体を装置（ビデオレコー
ダ）に装填すると、記録（録画）開始前に装置はパラメ
ータ自動設定データを読み取って、熱干渉の起きない記
録波形を自動的に選択する。

【０１３６】（７）パラメータ自動設定のタイミング
（その２）…１枚のＤＶＤーＲＡＭディスクを反復して
録再使用する（黒板ディスクとして使用する）場合。新
品時のディスクで設定した記録波形は、使い古しになっ
たディスクにとって最適波形となっていない可能性があ
る。数１０〜数１００回録再を反復したディスクでは、
最適記録波形を再度求める必要があるかもしれない。最
適記録波形を再度求める操作は、ユーザがマニュアル指
定する。あるいは、ディスクに録再反復数が記録されて
いるときは、その録再反復数を装置が自動的に再生しチ
ェックすることにより、最適記録波形を求める再操作
を、録画動作中以外の期間に自動的に実行できる。

【０１３７】（８）パラメータ自動設定のタイミング
（その３）…１枚のＤＶＤーＲＡＭディスクをレコーダ
内に長時間装填したまま使用する場合、レコーダの通電
時間に応じて内部温度が上昇してくる。すると、内部温
度上昇によるレコーダ自体の記録特性変化を含め、使用
媒体に対する最適記録波形が変化する可能性がある。た
とえば、通風状態の良くない装置にディスクをレコーダ
に装填したまま記録／再生を続けている場合、最初にパ
ワーオンしてから数時間〜数１０時間毎に（但し録画中
以外の期間に）、再度、最適記録波形を求める必要があ
るかもしれない。最適記録波形を求める再操作は、ユー
ザがマニュアル指定する。あるいは、レコーダが、パワ
ーオン後の通電時間を計測する通電タイマまたは内部温
度センサを備えているときは、通電時間あるいは内部温
度をチェックするすることにより、最適記録波形を再度
求める操作を、録画動作中以外の期間に自動的に実行で
きる。

【０１３８】［実施形態の要点］現在片面容量４．７Ｇ
ＢのＤＶＤ−ＲＡＭは規格化作業の佳境にさしかかって
いる。内容的には既に規格化が終了している片面２．６
ＧＢのＤＶＤ−ＲＡＭと同じ部分が多いが、その書込波
形（記録波形）の定義は異なる。

【０１３９】２．６ＧＢの場合はマーク長が決まれば記
録波形は決まるが、４．７ＧＢでは、記録波形は、
（イ）記録したいマークの前部のスペース長、（ロ）記
録したいマークの長さ、および（ハ）記録したいマーク
の後部のスペース長により、決定される。

【０１４０】記録波形はマルチパルスと呼ばれる櫛型波
形であり、先頭のパルスおよび最後尾のパルスの位置あ
るいはそのパルス幅を、書き込みたいデータの情報（履
歴）により変化させる。このような記録波形の補償を行
なう波形制御方式は、一種の適応制御方式といえる。

【０１４１】この発明の一実施の形態に係る適応制御方
式を利用した情報記録システムでは、以下の手段がキー
ポイントとなる。すなわち、記録マークの前部／後部ス
ペース長およびこのマーク自身の長さを判別して記録波
形の補正量を算出する手段（図１の４０）；上記補正量
に基づき、記録マークの書込波形（記録波形）を制御す
る手段（図１の２０）。

【０１４２】さらに、実際に使用する個々の媒体（ＤＶ
ＤーＲＡＭディスク１０）に応じて複数種類の記録波形
を使い分けできるようにするために、媒体の所定箇所
に、その媒体で使用される記録波形に関する識別情報を
記録することもできる。

【０１４３】たとえば、前記制御手段が記録波形の先頭
／末尾パルスの位置（位相）を変更する決定を行なうこ
とにより記録波形の適応制御がなされる場合は、パルス
位置制御を示す識別情報が媒体の所定箇所（たとえばリ
ードインの制御データ領域）に記録され、前記制御手段
が記録波形の先頭／末尾パルスのパルス幅を変更する決
定を行なうことにより記録波形の適応制御がなされる場
合は、パルス幅制御を示す識別情報が媒体の制御データ
領域に記録され、前記制御手段が記録波形の先頭／末尾
パルスのパルス高を変更する決定を行なうことにより記
録波形の適応制御がなされる場合は、パルス高制御を示
す識別情報が媒体の制御データ領域に記録される。

【０１４４】この媒体を使用する記録再生装置（具体的
にはＤＶＤーＲＡＭビデオレコーダ）は、装置に装填さ
れた媒体から上記識別情報を読み出し、読み出した識別
情報に基づいて、その媒体に最適の記録波形を選択し
て、適応制御を行なえるようになる。

【０１４５】

【発明の効果】上述したような適応制御により、量産さ
れる製品レベルでみればある程度のばらつきが避けられ
ない大容量（片面４．７ＧＢ以上）ＤＶＤ−ＲＡＭディ
スクへの高密度記録再生において、記録マーク間におけ
る熱干渉に起因する影響（再生信号のジッタ等）を回避
できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の一実施の形態に係る情報記録システ
ムの概要を説明するための図。

【図２】図１の記録手段／再生手段３０の内部構成を説
明するブロック図。

【図３】図１の記録波形内パルス位置／幅制御手段２０
の内部構成を説明するブロック図。

【図４】図３の制御手段２０の動作を説明するタイミン
グチャート図。

【図５】図１のパラメータ算出手段４０の内部構成を説
明するブロック図。

【図６】図５のパラメータ算出手段４０の動作を説明す
るフローチャート図。

【図７】図１の制御手段２０により生成される記録パル
スの波形例および記録波形最後尾のクーリングパルスの
作用を説明する波形図。

【図８】図１の制御手段２０により記録波形の先頭（フ
ァーストパルス）および／または末尾（ラストパルス）
の位置（位相）を調整する場合を説明する波形図。

【図９】図１の制御手段２０により記録波形の先頭（フ
ァーストパルス）および／または末尾（ラストパルス）
のパルス幅を調整する場合を説明する波形図。

【図１０】図１の制御手段２０により記録波形の先頭
（ファーストパルス）および／または末尾（ラストパル
ス）のパルス高を調整する場合を説明する波形図。

【図１１】この発明が適用されない場合の、隣接記録マ
ーク間における熱干渉による影響を概略的に説明する
図。

【符号の説明】

１０…光ディスク（記録媒体；相変化記録型ＤＶＤーＲ
ＡＭディスク）；１２…スピンドルモータ；２０…記録波形内のパルス位置／パルス幅制御手段；２００…ＮＲＺＩ（ノン・リターン・ツー・ゼロ・イン
バーテッド）変換部；２０２…ラン長カウンタ；２０４…ＮＲＺＩ信号の立ち上がり検出部；２０６…ＮＲＺＩ信号の立ち下がり検出部；２０８…ラン長レジスタ；２１０…ファーストソースパルス生成部；２１２…マルチソースパルス生成部；２１４…ラストソースパルス生成部；２２０…シフト前（位置調整前）ファーストパルス生成
部；２２２…ファーストゲートパルス生成部；２２４…ファーストパルス生成部；２３２…マルチゲートパルス生成部；２３４…マルチパルス生成部；２４０…シフト前（位置調整前）ラストパルス生成部；２４２…ラストゲートパルス生成部；２４４…ラストパルス生成部；２５０…記録パルス生成部；３０…記録手段／再生手段；３００…ＬＤ（レーザダイオード）ドライバ；３１０…光検出器（フォトダイオード）；３１２…プリアンプ；３１４…レベルスライサ；３１６…ＰＬＬ（位相ロックループ）回路；４０…パラメータ算出手段；４００…パターン判別部；４０２…エッジ位相差パルス発生部；４０４…Ｔ−Ｖ（パルス幅ー電圧）変換部；４０６…パラメータ演算部；４０６０…パラメータメモリ；４０６２…演算ユニット（ＭＰＵ／ＣＰＵ）；４０８…ライト波形（記録波形）発生部；Ｂ１…レーザ光ビーム（記録）；Ｂ２…レーザ光ビーム（再生）；ＣＣ…チャネルクロック；ＢＳ…２値化信号；ＷＣＡ…波形補正量；ＲＤ…記録データ；ＲＣ…基準クロック；ＲＬ…ラン長データ；ＲＷＰ…記録波形パルス；ＭＤＳ…変調データ信号；ＮＲＳ…ＮＲＺＩ信号；ＵＤＳ…立ち上がり検出信号；ＤＤＳ…立ち下がり検出信号；ＦＳＰ…ファーストソースパルス；ＭＳＰ…マルチソースパルス；ＬＳＰ…ラストソースパルス；ＢＳＦＰ…シフト前（位置調整前）ファーストパルス；ＢＳＬＰ…シフト前（位置調整前）ラストパルス；ＦＧＰ…ファーストゲートパルス；ＭＧＰ…マルチゲートパルス；ＬＧＰ…ラストゲートパルス；ＭＬ／ＳＬ…マーク長／スペース長データ；ＦＰ…ファーストパルス；ＭＰ…マルチパルス；ＬＰ…ラストパルス；ＣＰ…クーリングパルス；Ｓ-1、Ｓ+1、Ｓ+2…スペースのラン長；Ｍ-2、Ｍ0、Ｍ+1、Ｍ+3…マークのラン長；ＰＬ…マーク先頭側のエッジ位相差パルス；ＰＴ…マーク末尾側のエッジ位相差パルス； ΔｔＬ（4,4）…マーク先頭側の波形補正量； ΔｔＴ（4,4）…マーク先頭側の波形補正量。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者藤本定也神奈川県川崎市幸区柳町70番地株式会社東芝柳町工場内 (72)発明者大澤英昭神奈川県川崎市幸区柳町70番地株式会社東芝柳町工場内

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】使用する記録媒体から記録に関する情報を
再生する再生手段と；前記再生手段により再生された情
報に基づき前記媒体に対する記録パラメータを算出する
パラメータ算出手段と；前記算出された記録パラメータ
に基づき記録データの記録波形を生成する記録波形制御
手段と；前記生成された記録波形で前記媒体に記録を行
なう記録手段とを具備したことを特徴とする情報記録シ
ステム。
【請求項２】前記記録波形制御手段が、前記パラメー
タ算出手段で算出された記録パラメータに基づき記録波
形の先頭にあるファーストパルスおよび／または末尾に
あるラストパルスの位置若しくはその幅を調整する調整
手段を含むことを特徴とする請求項１に記載のシステ
ム。
【請求項３】前記記録媒体の所定エリアに、前記算出
された記録パラメータに基づく記録波形に関係した情報
を記録するように構成したことを特徴とする請求項１に
記載のシステム。