JP4348384B2 - 光学的データ記録方法 - Google Patents

Description

本発明は、光ディスクなどのデータ記録媒体へ光学的にデータを記録する方法に関する。

大容量のデジタルデータを記録する媒体として、光学的にデータを記録するデータ記録媒体(data storage medium)が注目されている。

相変化型光ディスクは、記録可能なデータ記録媒体のひとつである。相変化型光ディスクは、加熱により溶融する記録膜を備えており、記録すべきデータに基づいて変調された半導体レーザの光ビームを回転するディスクに照射することにより、記録膜の光ビームが照射された部分に相変化を生じさせ、データを記録する。

光ビーム強度が強い時、記録膜の光ビームが照射した部分は高温に加熱され、その後急速に冷却する。このため、記録膜の光ビームが照射した部分はアモルファス化する。光ビーム強度が比較的弱い時には、光ビームが照射した部分は中高温に加熱され、その後、徐々に冷却される。このため、光ビームが照射した部分は結晶化する。アモルファス化した部分を通常マークと呼び、マークとマークの間の結晶化した部分を通常スペースと呼ぶ。このマークとスペースを用いて二値データを記録する。マークおよびスペースの列は光ディスクにらせん状に設けられたトラック上に形成される。通常、光ビーム強度が強い時のレーザパワーをピークパワー、光ビーム強度が弱い時のレーザパワーをバイアスパワーと呼ぶ。

相変化型光ディスクに記録されたデータを読み出す場合には、記録膜が相変化を起こさない程度に弱い光ビームを光ディスクに照射し、その反射光を検出する。通常アモルファス化したマーク部分は反射率が低く、結晶化したスペース部分は反射率が高い。よってマーク部分とスペース部分の反射光量の違いを検出して再生信号を生成し、再生信号を二値化した後、復調することによって記録されたデータを得る。

相変化型光ディスクへのデータの記録方式としては、マークポジション記録方式とマークエッジ記録方式がある。通常はマークエッジ記録（マーク長記録）方式の方が情報記録密度を高くできる。マークエッジ記録方式では、マークポジション記録方式と比較して長いマークを記録する。

相変化型光ディスクにピークパワーを照射して長いマークを記録すると、記録膜の熱蓄積のために、マークの後半部ほど半径方向の幅が太くなる。このため、ダイレクトオーバライトを行う場合に消し残りが発生したり、トラック間の信号クロストークを発生したりして信号品質を大きく損ねるという問題が生じる。

この問題を解決するために、たとえば、特許文献１は、マークエッジ記録方式におけるマークを始端部、中間部および終端部分に分け、始端部および終端部をそれぞれ一定の長さを有する１つのレーザパルスで形成し、中間部を一定の周期を有する複数のレーザパルスで形成することを開示している。この方法によれば、中間部分を複数のレーザパルスで形成することにより、熱の蓄積を抑制し、マーク幅が広がるのを防止することができる。一方、マークの始端部分および終端部分は一定の長さのレーザパルスにより形成するため、十分な熱エネルギーが記録膜に与えられる。このため、ダイレクトオーバライトを場合であっても形成されるマークのエッジ部分によるジッタを低減することができる。

図１および図２は従来の技術において、種々の長さのマークを形成するために用いられる記録パルス列の波形の一例を示している。例えば記録すべきデータをRun Length Limited（２，１０）変調方式で変換した記録変調符号をマークエッジ記録方式で記録する場合、最短の３Ｔから最長の１１Ｔまでの長さを有する記録変調符号が存在する。ここでＴは記録マークの記録変調符号の基準周期を表わしている。マークエッジ記録方式により記録されるマークおよびスペースは、記録変調符号の長さで表される連続した長さを有する。

光ディスクにこれらのマークを形成する場合には、上述したように複数のレーザパルスが用いられる。図１に示すように、各長さを有するマークにおいて、先頭にあるパルス８０１をファーストパルスと呼び、最後尾にあるパルス８０４をラストパルスと呼ぶ。またファーストパルスとラストパルスとの間にあるパルス８０２とパルス８０３をマルチパルス列と呼び、周期Ｔのパルスで構成されている。

６Ｔのマークのマルチパルス列は２つのパルスを含み、７Ｔのマークのマルチパルス列は３つのパルスを含む。また、５Ｔのマークのマルチパルス列は実際には１つのパルスで構成される。マークがＴだけ長くなるごとにパルスの数が１つ増え、逆に、Ｔだけ短くなるごとにパルスの数が１つ減る。したがって、４Ｔのマークはファーストパルスとラストパルスのみで構成され、マルチパルス列はない。また３Ｔのマークは一つのパルスで構成される。通常ファーストパルスの幅は０．２５Ｔから１．５Ｔであり、ラストパルスの幅は０．２５Ｔから１Ｔである。また、マルチパルス列を構成する１つのパルスの幅は０．２５Ｔから０．７５Ｔである。

図２に示すレーザパルスの波形は、ラストパルスの幅が図１に示すレーザパルスの波形と異なっているものの、中間部分を形成するマルチパルス列の個数とマークの長さとの関係は図１のレーザパルスと同じである。

このような方法によりマークを形成する場合、中間部分のパルスの数を変えることによって容易に異なる長さのマークを形成することができる。しかしながら、この従来の方法によれば、高転送レートでデータを光ディスクに記録する場合など、データを記録する速度が速くなったとき、レーザダイオードの応答速度が理想的に十分大きくないことにより、発光波形におけるパルスの立ち上がりおよび立ち下がりが鈍り、設定された熱量を光ディスクの記録膜に与えることができなくなってくる。特にマルチパルス列のパルス幅は０．２５Ｔから０．７５Ｔ程度であるため、例えばレーザの立ち上がり時間、立ち下がり時間によっては、正弦波状のパルスを発生させることも困難となり、正しいマークを形成できないという問題が生じる。
特開平９−７１７６号公報

本発明はこのような従来の問題を解決し、正しい記録を行うことのできる光学的にデータを記録する方法を提供することを目的とする。

本発明の光学的データ記録方法は、記録すべきデータを変調して複数の記録変調符号を生成し、パルス状の光ビームをデータ記録媒体に照射することによって、前記複数の記録変調符号にそれぞれ対応する長さを有する複数の記録マークおよびスペースを前記データ記録媒体に形成する。前記複数の記録マークの少なくとも２つは、先頭に配置され、前記記録マークの始端部分を形成するためのファーストパルスと、最後尾に配置され、前記記録マークの終端部分を形成するためのラストパルスと、前記ファーストパルスおよび前記ラストパルスの間に配置され、前記記録マークの中央部を形成するためのマルチパルス列とを含む記録パルス列に基づいて照射される光ビームにより形成され、前記複数の記録マークのそれぞれは互いにＴあるいはその整数倍だけ異なる長さを有し、前記記録マークが長さにおいて２Ｔ増加するにつれて前記マルチパルス列のパルスの数は１つ増加し、最短の記録マークは１つのパルスによって構成されており、２番目に短い記録マークと３番目に短い記録マークはそれぞれ２つのパルスによって構成されており、最短の記録マークのパルス幅は、２番目に短い記録マークのファーストパルスのパルス幅よりも長く、３番目に短い記録マークのパルス間隔は、２番目に短い記録マークのパルス間隔よりも長く、ｎ番目（ｎは５以上の奇数）に短い記録マークのマルチパルス列の先頭パルスの幅は、他のパルスの幅よりも長く、ｎ番目（ｎは５以上の奇数）に短い記録マークのマルチパルス列の最終パルスとラストパルスとの間隔は、他の隣接するパルス間の間隔よりも長く、ｍ番目（ｍは７以上の奇数）に短い記録マークのマルチパルス列の先頭パルスのレーザ照射パワーを他のパルスのレーザ照射パワーよりも小さくし、ｍ番目（ｍは７以上の奇数）に短い記録マークのマルチパルス列の最終パルスのレーザ照射パワーを他のパルスのレーザ照射パワーよりも大きくする。

本発明によれば、高転送レートでデータを記録する場合であっても、レーザの立ち上がり時間および立ち下がり時間の影響を受けにくく、正しい形状を有する記録マークを光ディスクなどのデータ記録媒体に形成することができる。

（第１の実施形態）
図３は本発明によるデータ記録装置の第１の実施形態を示すブロック図である。図３に示すように、データ記録装置１００は、スピンドルモータ１０２と、光ヘッド１０３と、光ビーム制御部１０４と、サーボ部１０５と、再生二値化部１０６と、デジタル信号処理部１０７と、記録補償部１０８と、ＣＰＵ１０９とを備える。

スピンドルモータ１０２は、光ディスク１０１を載置し、回転させる。光ディスク１０１は、データを記録するためのスパイラル状もしくは同心円状の１または複数のトラックを有する。光ディスク１０１は、加熱により溶融する記録膜を備えており、記録すべきデータに基づいて変調された半導体レーザの光ビームが照射されると、記録膜の光ビームが
照射された部分に相変化を生じる。

光ヘッド１０３は、光源であるレーザダイオードを有し、データを記録するための光ビームを光ディスク１０１に照射する。また、光ディスク１０１から反射する反射光を電気的な信号に変換し、変換した信号を再生信号として再生二値化部１０６に出力する。

光ビーム制御部１０４は、光ヘッド１０３のレーザダイオードを駆動するための電流を発生し、ＣＰＵ１０９の指示に基づいてレーザダイオードから出力される光ビームのパワーを制御する。

サーボ部１０５は、光ヘッド１０３の位置を制御し、光ヘッド１０３から出射する光ビームのフォーカス制御およびトラッキング制御を行う。また、スピンドルモータ１０２の回転制御を行う。再生二値化部１０６は、光ヘッド１０３より得られた再生信号を増幅し、二値化処理を行い、二値化信号を生成する。また内部のＰＬＬ（図示せず）により、二値化信号に同期したクロックを生成する。

デジタル信号処理部１０７は、二値化信号に所定の復調処理やエラー訂正処理を施す。データ記録時は記録データにエラー訂正コードを付加し、所定の変調処理を行い、変調データを生成する。記録補償部１０８は、変調データをパルス列から構成される光変調データに変換し、さらに光変調データのパルス幅等を、ディスク情報領域の再生信号から得られる情報や、あらかじめＣＰＵ１０９に記憶されている情報を基に調整し、マークの形成に適した記録パルス列の信号に変換して出力する。ＣＰＵ１０９は、データ記録装置１００全体の制御を行う。

ホストＰＣ１１０は、コンピュータ（図示せず）とアプリケーション（図示せず）やオペレーティングシステム（図示せず）で構成し、データ記録装置１００に対して記録や再生の要求を行う。光ディスク１０１がデータ記録装置１００に挿入されると、データ記録装置１００は、光ヘッド１０３から所定の照射パワーを有する光ビームを出力し、光ディスク１０１のディスク情報領域（通常ディスク最内周付近に設けられている）を再生するよう光ビーム制御部１０４およびサーボ部１０５を制御する。これにより、記録を行う際の照射パワー情報等を獲得する。

次に記録時の動作について図３から図５を参照しながら説明する。図４は、光ビーム制御部１０４の具体的な構成を示している。

光ビーム制御部１０４は、光ヘッド１０３のレーザダイオード１０３ａを駆動する電流を発生させる。このために、光ビーム制御部１０４は、レーザダイオード１０３ａをバイアスパワーで発光させるための電流源１２２と、レーザダイオード１０３ａをピークパワーで発光させるための電流源１２１と、スイッチ１２３、１２４、１２５とを含む。電流源１２１および電流源１２２は並列にレーザダイオード１０３ａに接続されており、スイッチ１２３、１２４、１２５は、電流源１２１とレーザダイオード１０３ａとの間において互いに並列に挿入されている。

図３に示すように、記録時には、デジタル信号処理部１０７は、記録すべきデータにエラー訂正コードを付加し、所定の変調処理を行い、記録変調符号を含む変調データを生成する。記録補償部１０８は、変調データを受け取り、光変調データに変換する。光変調データは、変調データに含まれる記録変調符号に対応する記録マークおよび記録スペースを光ディスクに形成するためにレーザダイオードに印加すべき駆動パルス電流を生成する記録パルス列で構成される。このとき記録補償部１０８は、光ディスクのディスク情報領域を再生して得られる情報や、ＣＰＵ１０９にあらかじめ記憶されていた情報に基づいて、
記録パルス列の各パルスの幅やタイミングを微調整し、光ディスクの種類や記録速度に応じた最適なパルス波形となるよう、記録パルス列の調整も行う。

図５は、記録補償部１０８が生成する光変調データを模式的に示している。ひとつの記録マークを形成するための記録パルス列１３０は、記録パルス列１３０の先頭に配置され、記録マークの始端部分を形成するためのファーストパルス１３１と、記録パルス列１３０の最後尾に配置され、記録マークの終端部分を形成するためのラストパルス１３２とファーストパルス１３１およびラストパルス１３２の間に配置され記録マークの中間部分を形成するためのマルチパルス列１３３とを含む。図５においてマルチパルス列１３３は１つのパルスのみを含んでいるが、記録マークの長さに応じてマルチパルス列１３３は２つ以上のパルスを含む場合がある。また、記録マークの長さによって、マルチパルス列１３３を含まず、ファーストパルス１３１およびラストパルス１３２のみを含む場合や、最短の長さを有する記録マークのみこれらのパルスとは異なる長さのパルスを含む場合がある。

記録補償部１０８は、記録パルス列１３０のファーストパルス１３１、マルチパルス列１３３およびラストパルス１３２のみをそれぞれ含む信号１１１、１１２、１１３を生成し、光ビーム駆動部１０４のスイッチ１２３、１２４、１２５へそれぞれ出力する。信号１１１、１１２、１１３に含まれるファーストパルス１３１、マルチパルス列１３３およびラストパルス１３２はそれぞれ所定のタイミングでずらされている。

信号１１１、１１２、１１３を受け取ったスイッチ１２３、１２４、１２５はそれぞれの信号がハイレベルとなる期間ＯＮとなる。このため、記録パルス列１３０と等しい波形を有し、ピークパワーおよびバイアスパワーをハイレベルおよびローレベルとする記録パルス列（駆動パルス列）が生成される。この駆動パルス列によりレーザダイオード１０３ａが駆動され、レーザダイオードの照射を受けて、光ディスクに記録マークが形成される。

以下本実施形態における、記録マークを形成するための記録パルス列を説明する。以下の具体的な例では、例えばRun Length Limited（２，１０）変調方式によって、記録データを変調し、マークエッジ記録方式により、マークを光ディスクに記録するものとする。この変調方式は、基準クロック周期をＴとして３Ｔから１１Ｔまでのマークおよびスペースを用いる。

図６は、本実施形態の第１の例による記録パルス列を示しており、上から順に、３Ｔから１１Ｔの記録マークを形成するための記録パルス列をそれぞれ示している。

図６に示すように、たとえば、６Ｔの記録マークを形成するための記録パルス列は、先頭に配置されたファーストパルス２０１と、最後尾に配置されたラストパルス２０３と、ファーストパルス２０１およびラストパルス２０３の間に配置されたマルチパルス列２０２とを含んでいる。

また、７Ｔの記録マークを形成するための記録パルス列は、先頭に配置されたあるファーストパルス２０４と、最後尾に配置されたラストパルス２０６と、ファーストパルス２０４およびラストパルス２０６の間に配置されたマルチパルス列２０５とを含んでいる。

これらの記録パルス列において、マルチパルス列２０２および２０５はいずれも１つのパルスから構成されている。また、８Ｔおよび９Ｔの記録パルス列では、マルチパルス列２０７および２０８は２つのパルスを含んでいる。１０Ｔおよび１１Ｔの記録パルス列では、マルチパルス列２０９および２１０は３つのパルスを含んでいる。このように、本実施形態の記録パルス列では、ｎを２以上の整数とするとき、２ｎＴと（２ｎ＋１）Ｔの記録マークを形成するための記録パルス列において、マルチパルス列に含まれるパルスの数は等しい。

したがって、マークが２Ｔだけ長くなるごとにマルチパルス列中のパルスの個数が１つ増える。このときマルチパルスの発生タイミングには２通りあり、同数のパルスを有するマルチパルス列を含む２つの記録マークであっても、偶数の基準周期Ｔのマークのためのマルチパルス列の先頭のパルスは、奇数の基準周期Ｔのマークのためのマルチパルス列の先頭のパルスに比べて０．５Ｔだけ先行する。つまり、ファーストパルスとマルチパルス列の先頭パルスとの間隔は、偶数Ｔのマークのほうが０．５Ｔだけ短い。また、マルチパルス列の最後尾のパルスとラスパルスとの間隔は、偶数Ｔのマークのほうが０．５Ｔだけ短い。

図６に示すように、３Ｔから１１Ｔの記録マークを形成するための記録パルス列において、ファーストパルス、ラストパルスおよびマルチパルス列の各パルスのパルス幅はほぼ等しく、基準周期Ｔに一致している。マルチパルス列のパルス間隔も基準周期Ｔに一致している。つまり、マルチパルス列におけるパルスの周期は、基準周期Ｔの２倍である２Ｔになっている。

また、図６に示すように、第１の例では、４Ｔおよび５Ｔのマークを形成する記録パルス列はファーストパルスとラストパルスのみで構成され、マルチパルス列を含まない。３Ｔのマークを形成する記録パルス列は一つのパルスで構成される。したがって、ファーストパルスおよびラストパルスをあわせて考えると、第１の例の記録パルスでは、ｎを２以上の整数としたときに、２ｎＴと（２ｎ＋１）Ｔの記録マークを形成するための記録パルス列に含まれるパルスの数は等しくなっている。

このような記録パルス列を用いて記録マークを形成する場合、マルチパルス列を構成するパルスのパルス幅は基準周期Ｔとほぼ等しく、従来のマルチパルス列を構成するパルスのパルス幅の約２倍となっている。１つのパルスにおけるレーザの立ち上がりおよび立下り時間の影響を相対的に低減することができ、記録マークが変形しにくくなる。またファーストパルスの幅およびラストパルスの幅が、各マークにおいて等しいため、各マークのエッジ位置を正しく記録することが容易となる。特に高転送速度でデータを光ディスクに記録することのよって、マークのエッジ位置にばらつきが生じ、再生信号のジッタが増大する場合に、第１の例の記録パルス列は効果を発揮する。

図７は、本実施形態の第２の例よる記録パルス列を示している。図６に示す第１の例と同様、３Ｔから１１Ｔの記録マークを形成するための記録パルス列において、マルチパルス列を構成するパルスの数は、２ｎＴおよび（２ｎ＋１）Ｔのマークにおいて等しくなっている。また、マークが２Ｔだけ長くなるごとにマルチパルス列中のパルスの個数が１つ増える。

また、６Ｔ〜１１Ｔの記録マークを形成するための記録パルス列は、ファーストパルス、マルチパルス列およびラストパルスによって構成される。たとえば、６Ｔの記録マークを形成するための記録パルス列は、先頭に配置されたあるファーストパルス３０１と、最後尾に配置されたラストパルス３０３と、ファーストパルス３０１およびラストパルス３０３の間に配置されたマルチパルス列３０２とを含んでいる。７Ｔの記録マークを形成するための記録パルス列は、先頭に配置されたあるファーストパルス３０４と、最後尾に配置されたラストパルス３０６と、ファーストパルス３０４およびラストパルス３０６の間に配置されたマルチパルス列３０５とを含んでいる。３Ｔの記録パルス列はファーストパルスのみを含み、４Ｔおよび５Ｔの記録パルス列は、ファーストパルスおよびラストパルスのみによって構成されている。

図７に示すように、各記録マークを形成する記録パルスにおいて、ファーストパルス、ラストパルス、およびマルチパルス列の各パルスにおいて、隣接するパルスとの間隔はいずれもほぼ等しくなっている。偶数Ｔの記録パルス列におけるファーストパルスおよびラストパルスの幅が他のパルスと異なっている。たとえば約１．５Ｔである。奇数Ｔの記録パルス列におけるファーストパルスおよびラストパルスの幅、およびすべての記録マークにおけるマルチパルス列を構成するパルスの幅は約１Ｔになっている。

第２の例による記録パルス列によれば、いずれの記録パルス列においても隣接する２つのパルスの間隔がほぼ等しい。このため、第２の例による記録パルス列を用いて形成した記録マークはいずれも光ディスクの半径方向にほぼ等しい幅を有する。このため、レーザダイオードのピークパワーを適切に選ぶことによって、隣接するトラックからの再生信号のもれこみであるクロストークや、隣接トラックにおける記録の影響であるクロスイレーズによるジッタを低減させることができる。

図８は、本実施形態の第３の例よる記録パルス列を示している。図６に示す第１の例と同様、３Ｔから１１Ｔの記録マークを形成するための記録パルス列において、マルチパルス列を構成するパルスの数は、２ｎＴおよび（２ｎ＋１）Ｔのマークにおいて等しくなっている。また、マークが２Ｔだけ長くなるごとにマルチパルス列中のパルスの個数が１つ増える。

また、６Ｔ〜１１Ｔの記録マークを形成するための記録パルス列は、ファーストパルス、マルチパルス列およびラストパルスによって構成される。たとえば、６Ｔの記録マークを形成するための記録パルス列は、先頭に配置されたあるファーストパルス４０１と、最後尾に配置されたラストパルス４０３と、ファーストパルス４０１およびラストパルス４０３の間に配置されたマルチパルス列４０２とを含んでいる。７Ｔの記録マークを形成するための記録パルス列は、先頭に配置されたあるファーストパルス４０４と、最後尾に配置されたラストパルス４０６と、ファーストパルス４０４およびラストパルス４０６の間に配置されたマルチパルス列４０５とを含んでいる。３Ｔの記録パルス列はファーストパルスのみを含み、４Ｔおよび５Ｔの記録パルス列は、ファーストパルスおよびラストパルスのみによって構成されている。

第３の例よる記録パルス列では奇数Ｔのマークの記録パルス列中のマルチパルス列の先頭パルスの幅が他のパルスの幅と異なっている。たとえば、約１．５Ｔである。ファーストパルス、ラストパルスおよびマルチパルス列の先頭パルス以外のパルスの幅はすべてのマークにおいておおよそ等しく、その幅は約１Ｔである。隣接するパルス間の幅は、奇数Ｔのマークにおいて、マルチパルス列の最後のパルスとラストパルスとの間隔が他の任意の隣接するパルス間の間隔よりも長くなっており、たとえば、マルチパルス列の最後のパルスとラストパルスとの間隔が約１．５Ｔであるのに対して、他の任意の隣接するパルス間の間隔は約１Ｔである。

なお、奇数Ｔのマークの後方におけるレーザパワーが不足する場合には、マルチパルス列の先頭のパルスに換えて、最後尾のパルスの幅を他のパルスよりも長くし、また、ファーストパルスとマルチパルス列の先頭のパルスとの間隔を他の間隔よりも長くしてもよい。

第３の例による記録パルス列は、第１の例の記録パルス列および第２の例の記録パルス列の特徴を備えており、記録マークのエッジ位置のばらつき、再生信号のクロストーク、および記録時のクロスイレーズによる影響が大きい場合に第３の例による記録パルス列を
用いて記録マークを形成すれば、これらの影響を低減することができる。

図９は、本実施形態の第４の例よる記録パルス列を示している。これまでの例と同様、たとえば、７Ｔの記録マークを形成するための記録パルス列は、先頭に配置されたあるファーストパルス５０１と、最後尾に配置されたラストパルス５０３と、ファーストパルス５０１およびラストパルス５０３の間に配置されたマルチパルス列５０２とを含んでいる。８Ｔの記録マークを形成するための記録パルス列は、先頭に配置されたあるファーストパルス５０４と、最後尾に配置されたラストパルス５０６と、ファーストパルス５０４およびラストパルス５０６の間に配置されたマルチパルス列５０５とを含んでいる。

これらの記録パルス列において、マルチパルス列５０２および５０５はいずれも１つのパルスから構成されている。また、９Ｔおよび１０Ｔの記録パルス列では、マルチパルス列５０７および５０８は２つのパルスを含んでいる。１１Ｔの記録パルス列では、マルチパルス列５０９は３つのパルスを含んでいる。

このように、第４の例による記録パルス列では、ｎを４以上の整数とするとき、（２ｎ−１）Ｔと２ｎＴとの記録マークを形成するための記録パルス列において、マルチパルス列に含まれるパルスの数は等しい。

したがって、マークが２Ｔだけ長くなるごとにマルチパルス列中のパルスの個数が１つ増える。このときマルチパルスの発生タイミングには２通りあり、同数のパルスを有するマルチパルス列を含む２つの記録マークであっても、奇数の基準周期Ｔのマークのためのマルチパルス列の先頭のパルスは、偶数の基準周期Ｔのマークのためのマルチパルス列の先頭のパルスに比べて０．５Ｔだけ先行する。つまり、ファーストパルスとマルチパルス列の先頭パルスとの間隔は、奇数Ｔのマークのほうが０．５Ｔだけ短い。また、マルチパルス列の最後尾のパルスとラスパルスとの間隔は、奇数Ｔのマークのほうが０．５Ｔだけ短い。

図９に示すように、３Ｔから１１Ｔの記録マークを形成するための記録パルス列において、ファーストパルス、ラストパルスおよびマルチパルス列の各パルスのパルス幅はほぼ等しく、基準周期Ｔに一致している。マルチパルス列のパルス間隔も基準周期Ｔに一致している。つまり、マルチパルス列におけるパルスの周期は、基準周期Ｔの２倍である２Ｔになっている。

また、第４の例では、５Ｔおよび６Ｔのマークを形成する記録パルス列はファーストパルスとラストパルスのみで構成され、マルチパルス列を含まない。３Ｔおよび４Ｔのマークを形成する記録パルス列は一つのパルスで構成される。ただし、４Ｔの記録パルス列は、３Ｔよりも０．５Ｔ長いファーストパルスを用いる。したがって、ファーストパルスおよびラストパルスをあわせて考えると、第４の例の記録パルスでは、ｎを１以上の整数としたときに、（２ｎ−１）Ｔおよび２ｎＴの記録マークを形成するための記録パルス列に含まれるパルスの数は等しくなっている。

このような記録パルス列を用いて記録マークを形成する場合、マルチパルス列を構成するパルスのパルス幅は基準周期Ｔとほぼ等しく、従来のマルチパルス列を構成するパルスのパルス幅の約２倍となっている。１つのパルスにおけるレーザの立ち上がりおよび立下り時間の影響を相対的に低減することができ、記録マークが変形しにくくなる。またファーストパルスの幅およびラストパルスの幅が、各マークにおいて等しいため、各マークのエッジ位置を正しく記録することが容易となる。特に高転送速度でデータを光ディスクに記録することのよって、マークのエッジ位置にばらつきが生じ、再生信号のジッタが増大する場合に、第４の例の記録パルス列は効果を発揮する。

図１０は、本実施形態の第５の例よる記録パルス列を示している。図９に示す第４の例と同様、３Ｔから１１Ｔの記録マークを形成するための記録パルス列において、マルチパルス列を構成するパルスの数は、（２ｎ−１）Ｔおよび２ｎＴのマークにおいて等しくなっている。また、マークが２Ｔだけ長くなるごとにマルチパルス列中のパルスの個数が１つ増える。

また、７Ｔ〜１１Ｔの記録マークを形成するための記録パルス列は、ファーストパルス、マルチパルス列およびラストパルスによって構成される。たとえば、７Ｔの記録マークを形成するための記録パルス列は、先頭に配置されたあるファーストパルス６０１と、最後尾に配置されたラストパルス６０３と、ファーストパルス６０１およびラストパルス６０３の間に配置されたマルチパルス列６０２とを含んでいる。８Ｔの記録マークを形成するための記録パルス列は、先頭に配置されたあるファーストパルス６０４と、最後尾に配置されたラストパルス６０６と、ファーストパルス６０４およびラストパルス６０６の間に配置されたマルチパルス列６０５とを含んでいる。３Ｔおよび４Ｔの記録パルス列はファーストパルスのみを含み、５Ｔおよび６Ｔの記録パルス列は、ファーストパルスおよびラストパルスのみによって構成されている。

図１０に示すように、各記録マークを形成する記録パルスにおいて、ファーストパルス、ラストパルス、およびマルチパルス列の各パルスにおいて、隣接するパルスとの間隔はいずれもほぼ等しくなっている。偶数Ｔの記録パルス列におけるファーストパルスおよびラストパルスの幅が他のパルスとことなっている。たとえば約１．５Ｔである。奇数Ｔの記録パルス列におけるファーストパルスおよびラストパルスの幅、およびすべての記録マークにおけるマルチパルス列を構成するパルスの幅は約１Ｔになっている。

第５の例による記録パルス列によれば、いずれの記録パルス列においても隣接する２つのパルスの間隔がほぼ等しい。このため、第５の例による記録パルス列を用いて形成した記録マークはいずれも光ディスクの半径方向にほぼ等しい幅を有する。このため、レーザダイオードのピークパワーを適切に選ぶことによって、隣接するトラックからの再生信号のもれこみであるクロストークや、隣接トラックにおける記録の影響であるクロスイレーズによるジッタを低減させることができる。

図１１は、本実施形態の第６の例よる記録パルス列を示している。図９に示す第４の例と同様、３Ｔから１１Ｔの記録マークを形成するための記録パルス列において、マルチパルス列を構成するパルスの数は、（２ｎ−１）Ｔおよび２ｎＴのマークにおいて等しくなっている。また、マークが２Ｔだけ長くなるごとにマルチパルス列中のパルスの個数が１つ増える。

また、７Ｔ〜１１Ｔの記録マークを形成するための記録パルス列は、ファーストパルス、マルチパルス列およびラストパルスによって構成される。たとえば、７Ｔの記録マークを形成するための記録パルス列は、先頭に配置されたあるファーストパルス７０１と、最後尾に配置されたラストパルス７０３と、ファーストパルス７０１およびラストパルス７０３の間に配置されたマルチパルス列７０２とを含んでいる。

７Ｔの記録マークを形成するための記録パルス列は、先頭に配置されたあるファーストパルス７０４と、最後尾に配置されたラストパルス７０６と、ファーストパルス７０４およびラストパルス７０６の間に配置されたマルチパルス列７０５とを含んでいる。３Ｔおよび４Ｔの記録パルス列はファーストパルスのみを含み、７Ｔおよび６Ｔの記録パルス列は、ファーストパルスおよびラストパルスのみによって構成されている。

第６の例よる記録パルス列では偶数Ｔのマークの記録パルス列中のマルチパルス列の先頭パルスの幅が他のパルスの幅と異なっている。たとえば、約１．５Ｔである。ファーストパルス、ラストパルスおよびマルチパルス列の先頭パルス以外のパルスの幅はすべてのマークにおいておおよそ等しく、その幅は約１Ｔである。隣接するパルス間の幅は、奇数Ｔのマークのにおて、マルチパルス列の最後のパルスとラストパルスとの間隔が他の任意の隣接するパルス間の間隔よりも長くなっており、たとえば、マルチパルス列の最後のパルスとラストパルスとの間隔が約１．５Ｔであるのに対して、他の任意の隣接するパルス間の間隔は約１Ｔである。

なお、奇数Ｔのマークの後方におけるレーザパワーが不足する場合には、マルチパルス列の先頭のパルスに換えて、最後尾のパルスの幅を他のパルスよりも長くし、また、ファーストパルスとマルチパルス列の先頭のパルスとの間隔を他の間隔よりも長くしてもよい。

第６の例による記録パルス列は、第１の例の記録パルス列および第２の例の記録パルス列の特徴を備えており、記録マークのエッジ位置のばらつき、再生信号のクロストーク、および記録時のクロスイレーズによる影響が大きい場合に第６の例による記録パルス列を用いて記録マークを形成すれば、これらの影響を低減することができる。

このように本実施形態によれは、マルチパルス列におけるパルスの周期を記録変調符号の基準周期Ｔよりも長い２Ｔにすることによって、記録速度が速くなった場合でも、レーザの立ち上がり時間、立ち下がり時間の影響が受けにくくなり、正しい記録を行うことができる。

なお、これまで示した例では、ピークパワーとバイアスパワーの二値パワーで光ディスク１０１への記録を行っているが、パワーの種類はこれに限らなくともよく、３種類以上の異なるパワーを用いて記録を行ってもよい。

図１２に示す第７の例による記録パルス列は、３Ｔを除く奇数Ｔのファーストパルスおよびラストパルスの振幅、つまりハイレベルに対応するレーザ照射パワーが他のパルスよりも大きなっている点で図６に示す第１の例の記録パルス列と異なっている。

図１２に示すようにｎを２以上の整数としたとき、２ｎＴの記録パルス列のパルスの数と、（２ｎ＋１）Ｔの記録パルス列のパルスの数は等しい。（２ｎ＋１）Ｔの記録マークは、２ｎＴの記録マークよりＴだけ長く形成される必要があるため、（２ｎ＋１）Ｔの記録マークを形成する際、２ｎＴの記録マークを形成する場合に比べて熱量が不足する可能性がある。このため、ファーストパルスおよびラストパルスのレーザ照射パワーを他のパルスよりも大きくする。たとえば、ファーストパルスおよびラストパルスのレーザパワーを他のパルスの１倍よりも大きく１．５倍以下にする。このような記録パルス列を生成するためには、たとえば、光ビーム制御部１０４に、電源１２１より大きな電流を出力する電源、および、互いに並列に接続され、電源に対してそれぞれ直列に接続された一対のスイッチを設ける。そして、５Ｔ以上の偶数記録パルス列を生成する場合、新たに設けた電源のスイッチをＯＮにする制御信号を生成するように記録補償部１０８を調整する。

２Ｔ離れたマークを構成するパルスのパワーを等しくすることによって、記録パルス列の生成に規則性を利用することができる。したがって、マークごとに個別にパワーを補正するように記録パルス列を生成する場合に比べて、光ビーム制御部１０４および記録補償部１０８の構成を簡単にすることができる。

このようにすることによって、パルス間隔が２ｎＴの記録パルス列と比べて長くなるフ
ァーストパルスとマルチパルス列の先頭パルスとの間およびマルチパルス列の最後尾のパルスとラストパルスとの間において、レーザ照射パワーが不足して記録マークが細くなることを防止し、正しいマーク幅で記録マークを形成することができる。

（２ｎ＋１）Ｔの記録パルス列のラストパルスのレーザ照射パワーを大きくする換わりに、（２ｎ＋１）Ｔの記録パルス列のマルチパルス列の最後尾のパルスのレーザ照射パワーを大きくしてもよい。また、３Ｔの記録パルス列と４Ｔの記録パルス列においてレーザ照射パワーを異ならせても良い。

同様に、第２から第６の例による記録パルス列についてもそれぞれ所定のパルスの照射パワーを補正することにより、２ｎＴおよび（２ｎ＋１）Ｔの記録パルス列あるいは、（２ｎ−１）Ｔおよび２ｎＴの記録パルス列のパルスの数を等しくすることにより生じ得るレーザ照射パワーの不足を補うことができる。

図１３は、第２の例による記録パルス列の変形例であり、２ｎＴの記録パルス列のファーストパルスおよびラストパルスの振幅、つまり、レーザ照射パワーを他のパルスに比べて大きくしている。

図１４は、第３の例による記録パルス列の変形例であり、（２ｎ＋１）Ｔの記録パルス列のマルチパルスの先頭パルスのレーザ照射パワーを小さくし、最後尾のパルスのレーザ照射パワーを大きくしている。

図１５は、第４の例による記録パルス列の変形例であり、２ｎＴの記録パルス列のファーストパルスおよびマルチパルスの先頭パルスの最後尾のパルスのレーザ照射パワーを大きくしている。

図１６は、第５の例による記録パルス列の変形例であり、２ｎＴの記録パルス列のファーストパルスおよびラストパルスのレーザ照射パワーを大きくしている。

図１７は、第６の例による記録パルス列の変形例であり、２ｎＴの記録パルス列のマルチパルスの照射パワーをそれぞれ大きくしている。

なお、本実施形態において、記録パルス列中にバイアスパワーよりも小さいパワーでレーザダイオードを駆動するためのレベルを設けてもよい。たとえば、ファーストパルスの立ち上がり位置やラストパルスの立ち下がり位置、ラストパルス後の一定時間、あるいはマルチパルスの前後にバイアスパワーよりも小さいパワーとなる期間を設けてもよい。本実施形態によれば、記録速度が速くなった場合でも、レーザの立ち上がり時間、立ち下がり時間の影響が受けにくくなるので、バイアスパワーよりも小さいパワーからピークパワーに立ち上がる場合にも効果がある。この場合、記録補償部１０８により、これらの期間の終了位置をマーク毎に微調整してもよい。これにより、より正しい位置にマークを記録することができる。

また、図１２から図１７を参照して説明した例では、ピークパワーの出力を所定の位置において変更している。しかし、バイアスパワー等マークを形成する際に用いられる他のパワーを変更してもレーザ照射パワーを調整することが可能となり、これによって、より正しい形状のマークを光ディスクに形成することができる。

また、記録補償部１０８および光ビーム制御部１０４により、たとえばファーストパルスの一部もしくは全区間、一部もしくは全てのマルチパルス、ラストパルスの一部もしくは全区間の照射パワーをマーク毎、もしくは全マーク共通に調整してもよい。これにより
、より正しい位置にマークを記録することができる。

なお、ファーストパルス、ラストパルス、およびマルチパルスの照射開始位置情報、照射幅情報、照射終了情報、照射パワー情報は、光ディスクに記録されていてもよい。光ディスクにこれらの情報を記録することにより、光ディスク装置は種々の光ディスクに対応することが可能となり、ディスク製造における設計の自由度を大きくすることができる。

また、図２に示すように２ｎＴおよび（２ｎ＋１）Ｔの記録パルス列におけるパルス数が等しい記録方法、または、図６に示すように（２ｎ−１）Ｔおよび２ｎＴの記録パルス列におけるパルス数が等しい記録方法のいずれであるかを識別する符号を光ディスクに記録してもよい。これにより、光ディスクの特性に応じて記録方法を選択することが可能となり、ディスク製造における設計の自由度を大きくすることができる。

また、３Ｔから１１Ｔなどの各記録マークが、１つのパルスで構成されるか、ファーストパルスのみで構成されるか、ファーストパルスとラストパルスのみで構成されるか、ファーストパルス、マルチパルス、ラストパルスで構成されるかを区別するマーク構成情報を光ディスクに記録してもよい。

これらの情報を光ディスクに記録する場合には、たとえば、光ディスクの最内周部のディスク情報領域に記録し、光ディスクを光ディスク装置に挿入した直後の起動時、または、データを記録する直前に読み出すことができる。

本実施の形態のようなパルス波形構成とすることにより、従来のような１Ｔ毎にマルチパルスが１つ増える場合に比べて、マルチパルス幅および隣り合うマルチパルス間隔が約２倍となり、記録速度が速くなった場合でも、正しい記録を行うことができる。

またマルチパルスだけでなく、ファーストパルス、ラストパルスを含めた任意のパルスのパルス幅、および任意の隣り合うパルスのパルス間隔を１Ｔ程度とすることにより、より大きな効果が得られる。

さらに本実施の形態のように、２Ｔ毎にマルチパルスが１つ増えるというような規則性を持たせることにより、１Ｔ毎にマルチパルスを発生させる場合と同様に簡単な構成でマルチパルスを生成することができる。

本実施の形態では相変化ディスクについて説明してきたが、本実施形態は、光磁気ディスクにも適用することが可能であり、本実施形態と同様の効果を得ることができる。

（第２の実施形態）
第１の実施形態において説明したように、２ｎＴおよび（２ｎ＋１）Ｔの記録パルス列、あるいは、（２ｎ−１）Ｔおよび２ｎＴの記録パルス列におけるマルチパルス列中のパルスの数を等しくすることにより、これら２つの記録パルス列のレーザ照射パワーが異なる可能性がある。これはマルチパルス列におけるマーク／スペースのデューティあるいは平均値が異なるからである。

図１８（ａ）および（ｂ）は、図１０に示すにおける９Ｔマークを形成するための記録パルス列２および１０Ｔマークを形成するための記録パルス列８により形成した記録マークおよび形成された記録マークから得られる再生信号をそれぞれ示している。

図１８（ａ）に示すように、記録パルス列２において、ファーストパルス９およびラストパルス１０は１Ｔのパルス幅を有し、光ディスクの記録膜に適正なマーク形成熱エネル
ギーを与える。このため、形成される記録マーク４の幅はほぼ均一であり、再生信号６もマーク中央部が凹んでいない、おおよそ台形形状を有している。つまり、この再生信号６は、適正である。

一方、記録パルス列８において、ファーストパルス１１およびラストパルス１２は１．５Ｔの幅を有しているため、マーク始終端のマーク形成熱エネルギーが増大する。このため、形成される記録マーク１３の幅は、始終端において太くなり、アレイ状のマーク１３が形成される。このようなアレイ状の記録マーク１３から得られる再生信号１４は、立ち上がりおよび立ち下り部分の振幅が増大し歪んだ双峰型の波形を有する。このような双峰型の再生信号１４を２値化もしくはＡＤ変換してデジタル信号に変換すると、波形の立ち上がりおよび立ち下り部分でジッタが発生し、再生ビットエラーの原因となる。

本実施形態では、どの記録パルス列においても、適正なマーク形成熱エネルギーが得られるように、マルチパルス列のデューティ値、もしくは振幅平均値を目標としてマルチパルス列のパルス位置およびパルス幅を設定する。

図１９は、本実施形態における記録パルス列１６と、記録パルス列１６により形成される記録マーク１５と、記録マーク１５より得られる再生信号１７とを示しており、記録変調符号長が１０Ｔの場合を例に説明する。

記録パルス列１６は、ファーストパルス１８とマルチパルス列１９とラストパルス２０とで構成されている。

ファーストパルス１８のタイミングは、ファーストパルス立ち上がりタイミングＴＳＦＰと、ファーストパルス立ち下がりタイミングＴＥＦＰで設定される。一方、ラストパルス２０のタイミングは、ラストパルス立ち上がりタイミングＴＳＬＰと、ラストパルス立ち下がりタイミングＴＥＬＰで設定される。マルチパルス列１９の配置は、マルチパルス列の立ち上がりタイミングＴＳＭＰと、パルス幅ＴＭＰで設定される。

このような記録パルス列１６を構成するパラメータの変化と、記録マーク１５の形状および再生信号１７の波形との関係を次に説明する。

記録マーク１５の始端位置２１は、ファーストパルス立ち上がりタイミングＴＳＦＰで決定される。記録マーク１５の始端位置２１は、一つ手前の記録マークからの熱干渉により前後し、これにより再生信号１７は図１９中の矢印２２で示すように変化する。

記録マーク１５の始端位置２１を適正な位置に制御するために、ファーストパルス立ち上がりタイミングＴＳＦＰを、一つ前のスペースの長さ及び記録マーク１５自体の長さによって適応的に設定する。このようにすることにより、一つ手前のスペースおよびそれに続く記録マークがどのような組み合わせでも、記録マークの始端位置２１を記録変調符号どおりの適正な位置に制御でき、再生信号波形の始端部２２のジッタ成分を軽減することができる。 一方、記録マーク１５の終端位置２３は、ラストパルス立ち下がりタイミングＴＥＬＰで決定される。記録マーク１５の終端位置２３は、一つ後ろの記録マークからの熱干渉により前後し、これにより再生信号１７は図１９中の矢印２４で示すように変化する。

記録マーク１５の終端位置２３を適正な位置に制御するために、ラストトパルス立ち下がりタイミングＴＳＬＰを、一つ前のスペースの長さ及び記録マーク１５自体の長さによって適応的に設定する。このようにすることにより、記録マークおよびその一つ後ろのスペースがどのような組み合わせでも、記録マークの終端位置２３を記録変調符号どおりの適正な位置に制御でき、再生信号波形の終端部２４のジッタ成分を軽減することができる。

記録マーク１５の始端部幅２５は、ファーストパルス立ち下がりタイミングＴＥＦＰで決定される。ファーストパルス立ち下がりタイミングＴＥＦＰは、ファーストパルス１８の幅を決定し、記録マークの始端部に与える熱エネルギーを制御できるため、記録マークの始端部幅２５を適正な幅に制御できる。記録マークの始端部幅２５は、記録マークの始端位置２１のように、一つ前の記録マークからの熱干渉や、記録マーク１５自体の符号長による影響が少ない。このために、ファーストパルス立ち下がりタイミングＴＥＦＰは、一つ手前のスペース符号長及び記録マーク１５自体の符号長によらず一般的に一定値に設定する。

このようにファーストパルス立ち下がりタイミングＴＥＦＰを設定することにより、記録マークの始端部幅２５を適正な幅に制御でき、再生信号１７の始端部におけるオーバーシュート部分２６を軽減できる。このため、長い記録変調符号から得られる再生信号において、始端部の振幅変動によるジッタ成分が低減される。

一方、記録マーク１５の終端部幅２７は、ラストパルス立ち上がりタイミングＴＳＬＰで決定される。ラストパルス立ち上がりタイミングＴＳＬＰは、ラストパルス２０の幅を決定し、記録マークの終端部に与える熱エネルギーを制御できるため、記録マークの終端部幅２７を適正な幅に制御できる。記録マークの終端部幅２７も、記録マークの終端位置２３のように、一つ後ろの記録マークからの熱干渉や、記録マーク１５自体の符号長による影響が少ない。このために、ラストパルス立ち上がりタイミングＴＳＬＰは、一つ後ろのスペース長及び記録マーク１５自体の符号長によらず一定値に設定する。

このようにラストパルス立ち上がりタイミングＴＳＬＰを設定することにより、記録マーク１５の終端部幅２７を適正な幅に制御でき、再生信号１７の終端部のオーバーシュート部分２８を軽減できる。このため、長い記録変調符号から得られる再生信号において、終端部の振幅変動によるジッタ成分が低減される。

記録マーク１５の中央近傍の幅２９は、マルチパルス列の立ち上がりタイミングＴＳＭＰと、マルチパルス列幅ＴＭＰで決定される。第１の実施形態で説明したように、マルチパルス列の周期を２Ｔに設定し、高転送レートにおいてもマルチパルス列によってレーザダイオードの駆動が確実に行えるようにしている。

高転送レートでかつ高密度で記録する場合、低転送レート、低密度の場合よりもレーザ光の照射時間が短い。このため、適切な記録マーク幅を形成するために、より精密にマルチパルス列の幅を設定する必要がある。さらに、マルチパルス列の周期を２Ｔに設定すると、１Ｔ周期の場合と比較して、マルチパルス列の幅ＴＭＰやマルチパルス列のスペース３３が広くなるため熱エネルギーの分布が不均一になりやすい。このため、マルチパルス列の適切な設定は、最適な幅を有する記録マークを形成するために重要である。

記録マーク１５の中央近傍はマルチパルス列１９の熱エネルギーの総和でマークが形成される。このため、マルチパルス列１９の立ち上がりタイミングＴＳＭＰと、マルチパルス列１９を構成するパルスのパルス幅ＴＭＰとで、マルチパルス列１９の構成が決定し、また、記録マークの本体中央近傍に与える熱エネルギーを制御することができる。したがって、記録マーク１５の中央近傍の幅２９を適正な幅に調節することができる。

このように記録マーク１５の中央近傍の幅２９を適正な幅に調節することにより、再生信号１７の中央近傍における振幅の変動３０を低減できる。このため、長い記録変調符号
から得られる再生信号１７における振幅変動によるジッタ成分が低減される。

前述したように、記録マーク１７の中央近傍はマルチパルス列１９の熱エネルギーの総和で形成される。このとき、マルチパルス列１９を含む領域は、２つの異なる定義によって規定することが可能であり、光ディスクの記録材料の感度やマーク記録速度に応じて、異なる定義を用いる。

比較的マーク記録速度が遅く、記録感度の低い記録材料を有する光ディスクでは、マルチパルス列１９中の最初に配置された先頭マルチパルス１９Ａの立ち上りのタイミングから、マルチパルス列中の最後に配置された後尾マルチパルス１９Ｃの立ち下りのタイミングまでの範囲が、主として記録マーク１５の本体中央近傍のマーク形成に関与し影響を与える。これを第１マルチパルス領域３１と呼ぶ。

一方、比較的マーク記録速度が早く、記録感度の高い記録材料を有する光ディスクでは、ファーストパルス立ち下がりタイミングＴＥＦＰから、記録パルス列を構成するラストパルス立ち上りタイミングＴＳＬＰまでの範囲が、主として記録マーク１５の中央近傍のマーク形成に関与し影響を与える。これを第２マルチパルス領域３２と呼ぶ。

また記録マーク１５の中央近傍を形成するのに関与する熱エネルギーを示す指標も、光ディスクの記録材料のマーク形成過程により２種類存在する。

記録マーク１５の中央近傍を形成するために、マルチパルス領域における光照射部分に対する一定の冷却時間、すなわちマルチパルス列１９のスペース３３が重要な記録材料を有する光ディスクの場合は、マルチパルスデューティを熱エネルギーの指標にする。マルチパルスデューティとは、マルチパルス領域において、マルチパルス幅ＴＭＰをマルチパルス列の周期（図１９では２Ｔ）で除算した値である。

一方、記録マーク１５の中央近傍を形成するために、マルチパルス領域における平均光照射エネルギーが重要な（あるいは相関が強い）記録材料を有する光ディスの場合は、マルチパルス振幅平均値を熱エネルギーの指標にする。マルチパルス振幅平均値とは、マルチパルス領域の振幅積分値をマルチパルス領域の時間幅で除算した値である。

以上説明したように、マルチパルスデューティやマルチパルス振幅平均値を評価の指標として用い、マルチパルス列１９の立ち上がりタイミングＴＳＭＰと、マルチパルス列幅ＴＭＰを調整し、記録マーク１５の中央近傍の幅２９を適正に保つ。

また、記録マークの始端部における幅２５、記録マークの中央近傍の幅２９および記録マークの終端部における幅２７の各々の幅が、よりバランスよく平坦に揃うようにするためには、以下に示すようなタイミングに設定操作するのがよい。

すなわち、ファーストパルス１８とマルチパルス１９の先頭パルス１９Ａとに挟まれた先頭スペース幅ＦＳＰと、マルチパルス１９の最後尾のパルス１９Ｃとラストパルス２０とに挟まれた後尾スペース幅ＬＳＰとが等しくなるように設定する。このようにＦＳＰ＝ＬＳＰに設定操作することにより、マルチパルス１９によって与えられるエネルギーが、記録マークの始端あるいは終端に偏ることがなく、記録マークの中央近傍にバランスよく照射される。したがって、記録マークの幅２５、２９、２７がおおよそ等しくなり、長さ方向に均一な幅を有する記録マークを形成することが可能となる。

以上説明したように、マルチパルスデューティやマルチパルス振幅平均値を指標とし、これらのパラメータが所定の目標となるよう、マルチパルス領域のマルチパルス列の立ち
上がりタイミングＴＳＭＰと、マルチパルス列の幅ＴＭＰ、先頭スペースの幅ＦＳＰと、後尾スペースの幅ＬＳＰを設定することにより、高転送レートでかつ高密度で記録する場合でも、適切な幅を有する記録マークを形成することができる。したがって、再生信号における中央近傍の波形振幅の減少３０を低減し、長い記録変調符号における再生信号波形の振幅変動によるジッタ成分を低減することができる。

次に、図２０を参照しながら、本実施形態における記録パルス列１６の各タイミングの具体的な演算方法を説明する。図２０において、上から順に、基準クロック、記録変調符号、偶数ｎＴの場合の記録パルス列および奇数ｎＴの場合の記録パルス列が示されている。これらは、いずれも水平方向が時間軸になっている。

記録変調符号３５は、基準単位長である基準クロック周期Ｔ３４のｎ倍（ｎは１以上の自然数）の記録変調符号長を有する。ｎが偶数の場合、偶数ｎＴ３６で示す位置でパルスがたち下がり、ｎが奇数の場合、奇数ｎＴ３７で示す位置でパルスが立ち下がる。第１の実施形態と同様ＲＬＬ（２，１０）変調方式で記録変調符号３５が変調される場合、符号長は、３Ｔから１１Ｔである。

記録パルス列１６は、前述したようにファーストパルス１８とマルチパルス列１９とラストパルス２０とで構成されている。

ファーストパルス１８のタイミングは、ファーストパルス１８の立ち上がりタイミングＴＳＦＰとファーストパル１８のス立ち下がりタイミングＴＥＦＰで決定される。ＴＳＦＰの値は、以降マルチパルス列の演算結果に影響を与えないのと、説明の簡略化のため図示していないがＴＳＦＰ＝０としている。図１９を参照して説明したように、ＴＳＦＰは、一つ前のスペース符号長及び記録マーク自体の符号長によって適応的に設定する。ＴＥＦＰは、前述したように一つ前のスペース符号長及び記録マーク自体の符号長によらず一般的に一定値に設定する。

一方、ラストパルス２０のタイミングはラストパルス２０の立ち上がりタイミングＴＳＬＰとラストパルス２０の立ち下がりタイミングＴＥＬＰで決定される。ＴＳＬＰは、前述したように一つ後ろのスペース符号長及び記録マーク自体の符号長によらず一定値に設定する。ＴＳＬＰは図示していないが、再生波形の終端部におけるオーバーシュートが少なくなる値であるＴＳＬＰ＝０に設定した。また、図１９を参照して説明したように、ＴＥＬＰは、一つ後ろのスペース符号長及び記録マーク自体の符号長によって適応的に設定する。

次にマルチパルス領域のマルチパルス列１９の立ち上がりタイミングＴＳＭＰと、マルチパルス列の幅ＴＭＰ、先頭スペースの幅ＦＳＰと、後尾スペースの幅ＬＳＰのタイミング演算方法を説明する。

第１の例を説明する。第１の例では、記録マークの中央近傍の幅に影響を与える範囲は第１マルチパルス領域３１であり、マルチパルス列のタイミングを制御する指標はマルチパルスデューティである。

まず、記録変調符号長が偶数ｎＴの場合３８について演算する。偶数ｎＴでは、マルチパルス列１９の立ち上がりタイミングＴＳＭＰは、記録変調符号３５の立ち上がりタイミングから２Ｔ遅延した偶数基準タイミングＴＲＥを基準に演算する。

先頭スペースの幅ＦＳＰおよび後尾スペースの幅ＬＳＰは図２０より、以下の演算（４
０）で求まる。

ＦＳＰ＝２Ｔ−ＴＥＦＰ＋ＴＳＭＰ
ＬＳＰ＝２Ｔ−ＴＭＰ−ＴＳＭＰ ・・・（４０）

また記録マーク幅の始端および終端におけるバランスを保つため、前述したようにＦＳＰ＝ＬＳＰとすると、演算（４０）より、マルチパルス列立ち上がりタイミングＴＳＭＰは、以下の演算（４１）で求まる。

ＴＳＭＰ＝（ＴＥＦＰ−ＴＭＰ）／２ ・・・（４１）

次に、記録変調符号長が奇数ｎＴの場合３９について演算する。

奇数ｎＴの場合のＴＳＭＰは、記録変調符号３５の立ち上がりタイミングから３Ｔ遅延した奇数基準タイミングＴＲＯを基準に演算する。

先頭スペースの幅ＦＳＰと、後尾スペースの幅ＬＳＰは図２０より以下の演算（４２）で求まる。

ＦＳＰ＝３Ｔ−ＴＥＦＰ＋ＴＳＭＰ
ＬＳＰ＝２Ｔ−ＴＳＭＰ−ＴＭＰ ・・・（４２）

記録マーク幅の始端および終端におけるバランスを保つため、前述したようにＦＳＰ＝ＬＳＰとすると、演算（４２）より、マルチパルス列立ち上がりタイミングＴＳＭＰは、以下の演算（４３）で求まる。

ＴＳＭＰ＝（ＴＥＦＰ−ＴＭＰ−１Ｔ）／２ ・・・（４３）

一方、制御目標であるマルチパルスデューティＭＰＤは、第１マルチパルス領域３１において、マルチパルス列１９の幅ＴＭＰをマルチパルス列１９の周期（図２０では２Ｔ）で除算した値なので、以下の演算（４４）で求まる。

ＭＰＤ＝ＴＭＰ／２Ｔ
従って、ＴＭＰ＝２Ｔ・ＭＰＤ ・・・（４４）

ここで、ファーストパルス１８の立ち下がりタイミングＴＥＦＰは、前述したように前スペース符号長及び記録マーク自体の符号長によらず一定値に設定する。本例では再生信号の波形の始端部におけるオーバーシュートが少ない以下の値に設定した。

ＴＥＦＰ＝１．５Ｔ

また、記録マークの中央近傍の幅２９を適正に保つために必要なマルチパルスデューティＭＰＤは、再生信号の中央近傍の波形振幅の減少が少ない値を選ぶ。再生信号の波形を観測下結果から、本例ではＭＰＤは以下の値が適正値である。

ＭＰＤ＝０．５

上述のＴＥＦＰ、ＭＰＤの値を（４０）〜（４４）の演算式に代入して、各記録変調符号長におけるＦＳＰ、ＬＳＰ、ＴＳＭＰ、ＴＭＰの各タイミング値を求める。このようにし求めた本例における記録パルス列を図２１に示す。

図２１に示すように、第１マルチパルス領域３１におけるマルチパルスデューティＭＰＤが各記録変調符号長で全て０．５と同じ値である。また先頭スペースの幅ＦＳＰと後尾スペースの幅ＦＳＰも同一記録変調符号内では等しい。

このように本例では記録マークの中央近傍の照射熱エネルギーと冷却時間とがどの記録変調符号長でも均一であり、始端および終端の熱エネルギーのバランスが各記録変調符号間で崩れることがない。このため、いずれの長さの記録変調符号を用いても、始端から終端まで均一な幅の記録マークを安定して形成できる。

比較的マーク記録速度が遅く、感度の低い記録材料を有し、マルチパルス領域における光照射部分に一定の冷却時間が必要な光ディスクの場合、図２１に示す記録パルス列を用いデータの記録を行うことにより、形成される記録マークの幅は始端から終端まで均一に制御することができる。このため、再生信号が、図１８に示すような双峰形の波形となることなく、再生信号の中央近傍の波形振幅の減少が少ない記録が可能である。

次に本実施形態による第２の例を説明する。第２の例では、記録マークの中央近傍のマーク幅に影響を与える範囲は第１マルチパルス領域３１であり、マルチパルス列のタイミング制御する指標はマルチパルス振幅平均値である。図２０に示すように、偶数ｎＴでは、マルチパルス列１９の立ち上がりタイミングＴＳＭＰは、記録変調符号３５の立ち上がりタイミングから２Ｔ遅延した偶数基準タイミングＴＲＥを基準に演算し、奇数ｎＴの場合のＴＳＭＰは、記録変調符号３５の立ち上がりタイミングから３Ｔ遅延した奇数基準タイミングＴＲＯを基準に演算する。

先頭スペースの幅ＦＳＰと、後尾スペースの幅ＬＳＰは図２０より以下の演算（４５）で求まる。

ＦＳＰ＝２Ｔ−ＴＥＦＰ＋ＴＳＭＰ（偶数ｎＴの場合）
ＦＳＰ＝３Ｔ−ＴＥＦＰ＋ＴＳＭＰ（奇数ｎＴの場合）
ＬＳＰ＝２Ｔ−ＴＭＰ−ＴＳＭＰ ・・・（４５）

また記録マークの幅を均一に保つために、前述したようにＦＳＰ＝ＬＳＰとすると、演算（４５）より、マルチパルス列１９の立ち上がりタイミングＴＳＭＰは、以下の演算（４６）で求まる。

ＴＳＭＰ＝（ＴＥＦＰ−ＴＭＰ）／２ （偶数ｎＴの場合）
ＴＳＭＰ＝（ＴＥＦＰ−ＴＭＰ−１Ｔ）／２ （奇数ｎＴの場合）
・・・（４６）

一方、制御目標であるマルチパルス振幅平均値ＭＰＭは、第１マルチパルス領域３１の振幅積分値を第１マルチパルス領域の時間幅で除算した値であるので、図２０より以下の演算（４７）で求まる。ここでＩＮＴ（Ｘ）はＸの値の整数部分を計算する関数とする。

ＭＰＭ＝ＴＭＰ・ＩＮＴ｛（ｎＴ−４Ｔ）／２｝／
（ｎＴ−２Ｔ−ＴＥＦＰ−ＦＳＰ−ＬＳＰ） ・・・（４７）

式（４７）に式（４６）を代入し、さらにマルチパルス幅ＴＭＰを求めると、次の演算式（４８）になる。

ＴＭＰ＝ＭＰＭ・（ｎＴ−６）／[ＩＮＴ｛（ｎＴ−４）／２）｝−ＭＰＭ］
（偶数ｎＴの場合）
ＴＭＰ＝ＭＰＭ・（ｎＴ−７）／[ＩＮＴ｛（ｎＴ−４）／２）｝−ＭＰＭ］
（奇数ｎＴの場合）
・・・（４８）

本例では、ファーストパルス１８立ち下がりタイミングＴＥＦＰは、前述したように前スペース符号長及び録マーク自体の符号長によらず一定値に設定する。本例では再生信号の始端部に波形のオーバーシュートが少ない以下の値に設定した。

ＴＥＦＰ＝１．５Ｔ

また、記録マークの中央近傍の幅２９を適正に保つために必要なマルチパルス振幅平均値ＭＰＭは、再生信号の中央近傍の波形振幅の減少が少ない値を選ぶ。再生信号の波形を観測した結果、本例ではＭＰＭ＝０．５が適正値であった。

上述のＴＥＦＰ、ＭＰＤの値を（４５）〜（４８）の演算式に代入して、各記録変調符号におけるＦＳＰ、ＬＳＰ、ＴＳＭＰ、ＴＭＰの各タイミング値を求める。このようにして求めた本例における記録パルス列の波形を図２２に示す。

図２２に示すように、第１マルチパルス領域３１におけるマルチパルス振幅平均値ＭＰＭは記録変調符号に関わらず全て０．５と同じ値である。また先頭スペースの幅ＦＳＰと後尾スペースの幅ＦＳＰも同一記録変調符号内では等しい。

このように本例では、記録マークの中央近傍における平均照射エネルギーが、どの記録変調符号でも均一で、始端および終端とマーク中央近傍との熱エネルギーバランスが、各記録変調符号間で崩れることがない。したがって、各記録変調符号によって始端から終端まで均一な幅を有する記録マークを安定して形成することができる。

比較的マーク記録速度が遅く、感度の低い記録材料を有し、記録マーク形成にマルチパルス領域における平均光照射エネルギーが重要となる光ディスクでは、図２２に示す記録パルス列を用いことにより、始端から終端まで均一な幅を有する記録マークを形成することができる。このため、再生信号が図１８に示すような双峰形の波形となることなく、再生信号の中央近傍の波形振幅の減少が少ない記録が可能である。

次に第３の例を説明する。第３の例では、記録マークの中央近傍のマーク幅に影響を与える範囲は第２マルチパルス領域３２であり、マルチパルス列のタイミングを制御する指標はマルチパルス振幅平均値である。

図２０に示すように、先頭スペースの幅ＦＳＰと、後尾スペースの幅ＬＳＰは、第２の例と同様、図２０より以下の演算（４９）で求まる。

ＦＳＰ＝２Ｔ−ＴＥＦＰ＋ＴＳＭＰ（偶数ｎＴの場合）
ＦＳＰ＝３Ｔ−ＴＥＦＰ＋ＴＳＭＰ（奇数ｎＴの場合）
ＬＳＰ＝２Ｔ−ＴＭＰ−ＴＳＭＰ ・・・（４９）

また記録マーク幅の幅を等しく保つために、前述したようにＦＳＰ＝ＬＳＰとすると、演算（４９）より、マルチパルス列立ち上がりタイミングＴＳＭＰは、以下の演算（５０）で求まる。

ＴＳＭＰ＝（ＴＥＦＰ−ＴＭＰ）／２ （偶数ｎＴの場合）
ＴＳＭＰ＝（ＴＥＦＰ−ＴＭＰ−１Ｔ）／２ （奇数ｎＴの場合） ・・・・（５０）

一方、制御目標であるマルチパルス振幅平均値ＭＰＭは、第２マルチパルス領域３２の振幅積分値を第２マルチパルス領域３２の時間幅で除算した値であるので、図２０より次の演算（５１）で求まる。ここでＩＮＴ（Ｘ）はＸの値の整数部分を計算する関数とする。

ＭＰＭ＝ＴＭＰ・ＩＮＴ｛（ｎＴ−４Ｔ）／２｝／
（ｎＴ−２Ｔ−ＴＥＦＰ） ・・・（５１）

（５１）式よりマルチパルス幅ＴＭＰを求めると、次の演算式（５２）になる。

ＴＭＰ＝ＭＰＭ・（ｎＴ−２Ｔ−ＴＥＦＰ）／
ＩＮＴ｛（ｎＴ−４）／２）｝ ・・（５２）

本例では、ファーストパルス１８の立ち下がりタイミングＴＥＦＰは、前述したように前スペース符号長及び記録マーク自体の符号長によらず一定値に設定する。本例では再生信号の始端部において波形のオーバーシュートが少ない以下の値に設定した。

ＴＥＦＰ＝１．５Ｔ

また、記録マークの中央近傍の幅２９を適正に保つために、必要なマルチパルス振幅平均値ＭＰＭは、再生信号の中央近傍の波形振幅の減少が少ない値を選ぶ。再生信号の波形を観測した結果、本例ではＭＰＭ＝０．５が適正値である。

上述のＴＥＦＰ、ＭＰＤの値を（４９）〜（５２）の演算式に代入して、各記録変調符号におけるＦＳＰ、ＬＳＰ、ＴＳＭＰ、ＴＭＰの各タイミング値を求める。このようにして求めた本例における記録パルス列の波形を図２３に示す。

図２３に示すように、第２マルチパルス領域３２におけるマルチパルス振幅平均値ＭＰＭが各記録変調符号に関わらず全て０．５と同じ値である。また先頭スペースの幅ＦＳＰと後尾スペースの幅ＦＳＰも同一記録変調符号内では等しい。

このように本例では、記録マークの中央近傍の平均照射エネルギーがどの記録変調符号でも均一で、始端および終端とマーク中央近傍との熱エネルギーバランスが各記録変調符号間で崩れることがない。したがって、始端から終端まで均一な幅を有する記録マークを安定して形成することができる。

比較的マーク記録速度が早く、感度の高い記録材料有し、記録マークの形成にマルチパルス領域における平均光照射エネルギーが重要となる光ディスクでは図２３に示す記録パルス列を用いことにより、始端から終端まで均一な幅を有する記録マークを形成することができる。このため、再生信号が図１８に示すような双峰形の波形となることなく、再生信号の中央近傍の波形振幅の減少が少ない記録が可能である。

以上本実施形態では、制御する記録パルス列の各タイミング値（ＦＳＰ、ＬＳＰ、ＴＳＭＰ、ＴＭＰ）は、記録変調符号毎に演算し、設定した。しかし、記録装置の設定時間の短縮するため、もしくは、記録装置の回路規模を小さくし、あるいは回路を簡略化するために、これらタイミング値の設定を記録変調符号長の偶数ｎＴおよび奇数ｎＴの場合の２種類にすることも可能である。たとえば、図２１に示す記録パルス列では、記録変調符号毎に演算を行い、それぞれのタイミング値を求めたが、演算結果は偶数ｎＴと奇数ｎＴの
場合の２種類になった。すなわち、各タイミング値は、下記のようになる。

偶数ｎＴの場合：
ＦＳＰ＝ＬＳＰ＝０．７５Ｔ
ＴＭＰ＝１．０Ｔ
ＴＳＭＰ＝０．２５Ｔ
奇数ｎＴの場合：
ＦＳＰ＝ＬＳＰ＝１．２５Ｔ
ＴＭＰ＝１．０Ｔ
ＴＳＭＰ＝−０．２５Ｔ

また、同様の理由により、各記録変調符号をその符号長で分類した符号長群に分け、符号長群内では、記録パルスの各タイミング値（ＦＳＰ、ＬＳＰ、ＴＳＭＰ、ＴＭＰ）を同一の値に設定してもよい。

あるいは、回路規模を小さくする等の理由により、記録パルスの各タイミング値（ＦＳＰ、ＬＳＰ、ＴＳＭＰ、ＴＭＰ）を、記録変調符号長に関わらず、全て同一の値に設定してもよい。

一方、本実施形態の第１から第３の例では、再生信号の波形を観測した結果から、マルチパルスデューティまたはマルチパルス振幅平均値の目標値を１つ定め、その値を用いてすべての記録パルス列の各タイミング値を決定していた。しかし、より精密に記録マークの幅を制御するために、記録変調符号を特定の符号群に分け、符号群ごとに、マルチパルスデューティまたはマルチパルス振幅平均値の目標値を設定し、符号群ごとに異なる目標値を用いて各タイミング値を決定してもよい。さらに精密に記録マークの幅を制御するために、記録変調符号の偶数ｎＴと奇数ｎＴとの場合の２種類に分けて、指標の目標値を設定したり、記録変調符号長毎に個別に目標値を設定にしてもよい。

次に、図２４を参照して、記録パルス列の各タイミング値の指標であるマルチパルスデューティおよびマルチパルス振幅平均値が適正かどうか判定するための再生信号の評価方法を説明する。

マルチパルスデューティやマルチパルス振幅平均値が適正な値でないと、記録マークの中央近傍を照射するエネルギーが不足し、マーク中央部の幅が細くなった中細りマーク５が形成される。この中細りマーク５を再生すると、その再生信号７は中央近傍の波形振幅値が減少し、歪んだ双峰型の波形を有する。

再生信号７をデジタルデータに変換するための２値化スライスレベル５７は、通常再生信号７の波形の最大振幅の１／２程度に設定される。このため、スライスレベルが適切であれば、２値化デジタル信号５９が得られる。

ここでスライスレベルを高くし、２値化スライスレベル５８を設定すると、再生信号７の中央近傍の振幅が小さくなった部分が、２値化スライスレベル５８により、切り取られ、２つのパルスのパルスを含む２値化デジタル信号６０が生成する。２値化デジタル信号６０には、ローレベル６１が途中に生じているので、正しい記録変調符号に再生されない。

したがって、まず、マルチパルス領域におけるマルチパルスデューティやマルチパルス振幅平均値を設定し、設定した値を用いて上述の方法により、記録パルス列の各タイミング値を定める。定めた記録パルス列を用いて、記録マークを光ディスクに形成する。次に
、形成した記録マークから得られる再生信号を通常のスライスレベルよりも高い２値化スライスレベルを用いて２値化する。得られた二値化信号にローレベルが含まれ、２つのパルスが生成していなかどうかを判断する。

二値化信号が２つのパルスを含む場合、記録マークの中央部の幅が細くなっていると考えられる。つまり、マルチパルスデューティやマルチパルス振幅平均値として設定した目標値が適切ではないことが分かる。

このように本実施形態によればマルチパルス列の周期を１Ｔ以上に設定し、マルチパルスデューティやマルチパルス振幅平均値が所定の目標値となるように、マルチパルス領域のマルチパルス列の立ち上がりタイミングＴＳＭＰと、マルチパルス列の幅ＴＭＰと、先頭スペースの幅ＦＳＰと、後尾スペース幅のＬＳＰとを設定する。これにより、高転送レートでかつ高密度で記録する場合でも、適切な幅を有する記録マークを形成することが可能な記録パルス列が得られる。このようにして形成した記録マークから得られる再生信号の波形において、中央近傍の振幅の減少は抑制されており、信号の立ち上がりおよび立ち下がり部分の歪みも少ない。このため、長い記録変調符号を記録する場合でも、ジッタの影響を低減させることができ、再生ビットエラーを抑制することができる。

また本発明によれば、再生生信号の波形において、中央近傍の振幅が減少しているのを検出することにより、記録マーク中央近傍の幅が細くなったことが検出できる。このため、マルチパルス領域におけるマルチパルスデューティやマルチパルス振幅平均値が適正な制御目標かどうかを判定することができる。

本発明によれば、高転送レートでデータを記録する場合であっても、正しい形状を有する記録マークを光ディスクなどのデータ記録媒体に形成することができる。したがって、本発明の記録方法を高密度および高転送レートで記録を行う光ディスクやそのような光ディスクに対応した光ディスク装置に好適に用いることができる。

従来の記録パルス列の一例を示す図である。 従来の記録パルス列の他の例を示す図である。 本発明による記録装置の第１の実施形態を示すブロック図である。 図３に示す記録装置の光ビーム制御部の構成を示す図である。 光ビーム制御部に入力される信号および光ビーム制御部から出力される信号を示す図である。 第１の実施形態による記録パルス列の第１の例を示す図である。 第１の実施形態による記録パルス列の第２の例を示す図である。 第１の実施形態による記録パルス列の第３の例を示す図である。 第１の実施形態による記録パルス列の第４の例を示す図である。 第１の実施形態による記録パルス列の第５の例を示す図である。 第１の実施形態による記録パルス列の第６の例を示す図である。 第１の実施形態による記録パルス列の第１の例の変形例を示す図である。 第１の実施形態による記録パルス列の第２の例の変形例を示す図である。 第１の実施形態による記録パルス列の第３の例の変形例を示す図である。 第１の実施形態による記録パルス列の第４の例の変形例を示す図である。 第１の実施形態による記録パルス列の第５の例の変形例を示す図である。 第１の実施形態による記録パルス列の第６の例の変形例を示す図である。 （ａ）および（ｂ）は、それぞれ、従来の記録パルス列、記録パルス列により形成される記録マーク、および記録マークを再生することにより得られる再生信号の波形を示している。 それぞれ、第２の実施形態による記録パルス列、記録パルス列により形成される記録マーク、および記録マークを再生することにより得られる再生信号の波形を示している。 第２の実施形態による記録パルス列を決定するためのパラメータを示す図である。 第２の実施形態による記録パルス列の第１の例を示す図である。 第２の実施形態による記録パルス列の第２の例を示す図である。 第２の実施形態による記録パルス列の第３の例を示す図である。 第２の実施形態において、パラメータを決定するための目標値が適正かどうかを判断するための評価方法を説明する図である。

符号の説明

１６ 記録パルス列
１８、２０１、３０１ ファーストパルス
１９、２０２、３０２ マルチパルス
２０、２０３、３０３ ラストパルス
３４ 基準クロック長
１００ データ記録装置
１０１ 光ディスク
１０２ スピンドルモータ
１０３ 光ヘッド
１０４ 光ビーム制御部
１０５ サーボ部
１０６ 再生二値化部
１０７ デジタル信号処理部
１０８ 記録補償部
１０９ ＣＰＵ
１１０ ホストＰＣ
ＴＥＦＰ ファーストパルス立ち下がりタイミング
ＴＳＬＰ ラストパルス立ち上がりタイミング
ＴＭＰ マルチパルス幅
ＴＳＭＰ マルチパルス列の立ち上がりタイミング
ＦＳＰ 先頭スペース幅
ＬＳＰ 後尾スペース幅

Claims (1)

1. 記録すべきデータを変調して複数の記録変調符号を生成し、パルス状の光ビームをデータ記録媒体に照射することによって、前記複数の記録変調符号にそれぞれ対応する長さを有する複数の記録マークおよびスペースを前記データ記録媒体に形成する、光学的データ記録方法であって、
   前記複数の記録マークの少なくとも２つは、先頭に配置され、前記記録マークの始端部分を形成するためのファーストパルスと、最後尾に配置され、前記記録マークの終端部分を形成するためのラストパルスと、前記ファーストパルスおよび前記ラストパルスの間に配置され、前記記録マークの中央部を形成するためのマルチパルス列とを含む記録パルス列に基づいて照射される光ビームにより形成され、
   前記複数の記録マークのそれぞれは互いにＴあるいはその整数倍だけ異なる長さを有し、
   前記記録マークが長さにおいて２Ｔ増加するにつれて前記マルチパルス列のパルスの数は１つ増加し、
   最短の記録マークは１つのパルスによって構成されており、
   ２番目に短い記録マークと３番目に短い記録マークはそれぞれ２つのパルスによって構成されており、
   最短の記録マークのパルス幅は、２番目に短い記録マークのファーストパルスのパルス幅よりも長く、
   ３番目に短い記録マークのパルス間隔は、２番目に短い記録マークのパルス間隔よりも長く、
   ｎ番目（ｎは５以上の奇数）に短い記録マークのマルチパルス列の先頭パルスの幅は、他のパルスの幅よりも長く、
   ｎ番目（ｎは５以上の奇数）に短い記録マークのマルチパルス列の最終パルスとラストパルスとの間隔は、他の隣接するパルス間の間隔よりも長く、
   ｍ番目（ｍは７以上の奇数）に短い記録マークのマルチパルス列の先頭パルスのレーザ照射パワーを他のパルスのレーザ照射パワーよりも小さくし、
   ｍ番目（ｍは７以上の奇数）に短い記録マークのマルチパルス列の最終パルスのレーザ照射パワーを他のパルスのレーザ照射パワーよりも大きくする、
   光学的データ記録方法。

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