CN1629648A - 检查电路板及其设备的方法、设备、系统、程序和介质 - Google Patents

Abstract

公开了一种能够检查多种电路板的方法、设备、系统、计算机程序以及相关的计算机介质。控制器件根据电路板的特征信息生成测试数据和参考数据。使用该测试数据，电路板生成处理过的数据。比较器件以位为基础比较处理过的数据和参考数据。基于比较结果，比较器确定电路板的可接受性。此外，比较器能够指定引起故障的电路板的特定部分。

Description

检查电路板及其设备的方法、设备、系统、程序和介质

技术领域

本发明涉及一种用于检查电路板和检查结合有电路板的设备的技术，尤其涉及一种用于确定电路板和结合有电路板的设备的可接受性的方法、设备、系统、计算机程序以及介质。

背景技术

为了确定电路板或结合电路板的设备的可接受性，通常在电路板上或设备上连接检查设备。

在一个示例中，检查设备向电路板输入测试数据，并且将通过电路板输出的处理过的数据与预定的参考数据进行比较。基于比较结果，检查设备检查电路板的可接受性以及设备的可接受性。

在另一个示例中，检查设备向被检查设备输入测试数据，并且将通过所述被检查设备输出的处理过的数据与预定的参考数据直观地比较。

但是由于检查是基于电路板或者设备任意一个进行的，因此上述任何一种方法都不能判别故障是否是由电路板或设备引起的。此外，当电路板包括多个功能块时，要指明实际引起故障的功能块是很困难的。

除上述缺点外，传统的检查设备在兼容性方面还存在问题。为了给要被检查的电路板或设备提供合适的测试数据和参考数据，通常检查设备被制作成针对电路板或设备的每一种类型。因而，希望实现一种能够检查多种被检查项的通用检查设备。

发明内容

鉴于到以上内容，本发明的一个目的是提供一种能够识别故障原因的用于检查电路板和检查结合有电路板的设备的技术。

本发明的另一个目的是提供一种能检查多种电路板和设备的技术。

在一示例中，可以使用一种用于检查被检查项的可接受性的新型检查设备来实现这种技术。

这种新型的检查设备包括控制器、存储装置、测试数据输入装置、参考数据输入装置、测试数据输出装置、处理过的数据输入装置、地址管理器、以及数据比较器。

控制器提供包括至少一个测试数据的测试数据集，和包括至少一个参考数据的参考数据集。这些数据集可以由控制器本身或其它任何通过网络与控制器连接的器件产生，例如只要与从被检查项获得的特征信息相应地产生它们即可。

存储装置具有第一数据区、第二数据区、以及第三数据区。

测试数据输入装置从控制器中提取测试数据，并且将其存储在存储装置的第一数据区。同时，参考数据输入装置从控制器中提取参考数据，并且将其存储在存储装置的第二数据区。

测试数据输出装置从第一数据区中提取测试数据，并且将其提供给被检查项。然后被检查项使用测试数据来产生处理过的数据。

处理过的数据输入装置接收来自被检查项的处理过的数据，并且将其存储在存储装置的第三数据区。

地址管理器获得地址信息，这些地址信息分别表示第一数据区中的测试数据的位置、第二数据区内的参考数据的位置、以及第三数据区内的处理过的数据的位置，并且存储这些用于以后的参考。

数据比较器为了进行比较，使用地址信息从存储装置中提取处理过的数据以及相应的参考数据。基于比较结果，数据比较器能够确定被检查项的可接受性。

除去以上操作外，当被检查项使用与新型检查设备的位宽不同的位宽操作时，新型检查设备能够转换测试数据和处理过的数据。

在另一示例中，新型检查设备可以在多种位宽选项中，比较处理过的数据和参考数据。

在另一示例中，新型检查设备可以基于检测到的故障数量，确定被检查项的可接受性。例如，当故障数量超过预定值时，确定被检查项存在故障。

在另一示例中，新型检查设备可以使用地址信息，识别引起故障的被检查项的特定部分。

除去已描述的新型检查设备外，本专利说明书可以结合在许多其它的特定形式中，包括系统、方法、计算器程序以及介质，这对于相关领域的技术人员来讲是显而易见的，而且不脱离本发明的精神和范围。

附图说明

在结合附图考虑的同时通过参照以下的详细描述，可以很容易地获知并且更好地理解所公开内容的更加完整的评价以及本发明附带的更多的优点，其中：

图1是说明根据本发明优选实施例的检查系统的结构示意方块图；

图2是说明根据本发明另一优选实施例的检查系统的结构示意方块图；

图3是说明根据本发明另一优选实施例的检查系统的结构示意方块图；

图4是说明由图3的检查系统执行的测试数据转换操作的示意图；

图5是说明由图3的检查系统执行的处理过的数据转换操作的示意图；

图6是说明根据本发明另一实施例的检查系统的结构示意方块图；

图7是说明根据本发明另一实施例的检查系统的结构示意方块图；

图8是说明根据本发明另一实施例的检查系统的结构示意方块图；

图9是说明根据本发明另一实施例的检查系统的结构示意方块图；

图10是由图9的检查系统产生的示范性数据文件；

图11是说明由本发明的任一检查系统执行的示范性比较操作的示意图；

图12是说明由本发明的任一检查系统执行的比较结果的示范性存储操作的示意图；

图13是说明由本发明的任一检查系统执行的示范性屏蔽操作的示意图；和

图14是说明本发明的任一检查系统执行的示范性比较操作的示意图。

具体实施方式

为清楚起见，在对附图中所示的优选实施例的详细描述中，采用特殊的术语。但是，本发明说明书所公开的内容并不旨在限制为特定的所选择的术语，应该理解每一特定的元件都包括操作方式与其相似的所有等价物。现在参照附图，其中相同的附图标记表示在所有附图中相同或相似的部分，尤其图1，是对根据本发明优选实施例的检查系统1的说明。

检查系统1包括具有电路板31的被检查设备30，和能够检查电路板31的可接受性的检查设备10。此外，检查设备10可以基于电路板31的可接受性来确定被检查设备30的可接受性。

电路板31具有多个功能块，每个块都具有特定的功能。这些功能块的全部功能决定了电路板31的特性。功能块的数量取决于电路板的类型，然而，为了便于说明，假设图1的电路板31包括三个功能块，31a、31b和31c。

检查设备10包括控制器11、测试数据输入装置12、参考数据输入装置13、存储器14、测试数据输出装置18、处理过的数据输入装置19、数据比较器20、以及地址管理器21。存储器14包括测试数据区15、参考数据区16、以及处理过的数据区17。

在操作时，控制器11获得有关被检查设备30的特性(特征信息)的信息，并且根据被检查设备30的特征信息产生一组测试数据和参考数据。特征信息包括，例如关于电路板31的结构方面的信息，诸如引脚数数量。

测试数据输入装置12将测试数据存储在存储器14的测试数据区15。参考数据输入装置13将参考数据存储在存储器14的参考数据区16。同时，地址管理器21分别获取测试数据和参考数据的地址信息。这些地址信息指明，例如测试数据和参考数据的实际位置和数据长度。

测试数据输出装置18从测试数据区15取出测试数据，并且将其发送给被检查设备30的电路板31。电路板31使用功能块31a至31c，产生与接收到的测试数据相应的处理过的数据。

处理过的数据输入装置19接收从电路板31输出的处理过的数据，并且将其存储在存储器14的处理过的数据区17。同时，地址管理器21获取处理过的数据的地址信息。

数据比较器20使用存储在地址管理器21中的地址信息，以位为基础比较处理过的数据和参考数据。然后数据比较器20基于比较结果，确定电路板31的可接受性。更确切的说，如果处理过的数据与参考数据匹配，那么数据比较器20确定电路板31可接受的。进一步，如果电路板31是可接受的，那么数据比较器20可以确定结合有电路板31的被检查设备30是可接受的。

数据比较器20给控制器11输出确定结果。控制器11可以在与控制器11相连的显示装置(未示出)上显示确定结果。可替换地，控制器11也可以使用与控制器11相连的打印机(未示出)，在记录片上记录确定结果。

以这种方式，检查系统1可以检查多种电路板，而不用改变检查设备10的结构。

图2说明了根据本发明另一优选实施例的检查系统100。

检查系统100包括具有电路板31的被检查设备30，和能够检查各个功能块31a至31c的可接受性的检查设备110。此外，检查设备110可以基于功能块31a至31c的可接受性，确定电路板31和/或被检查设备30的可接受性。

如图2所示，检查设备110包括控制器111、测试数据输入装置112、参考数据输入装置113、存储器114、测试数据输出装置118、处理过的数据输入装置119、数据比较器120、以及地址管理器121。存储器114包括测试数据区115、参考数据区116、以及处理过的数据区117。

参看图2，将说明检查各个功能块31a至31c的可接受性的示例。

控制器111分别获取功能块31a至31c的特征信息。然后控制器111产生一组与功能块31a相应的测试数据115a和参考数据116a、一组与功能块31b相应的测试数据115b和参考数据116b、一组与功能块31c相应的测试数据115c和参考数据116c。

测试数据输入装置112将测试数据115a至115c存储在存储器114的测试数据区115。参考数据输入装置113将参考数据116a至116c存储在存储器114的参考数据区116。同时，地址管理器121分别获取测试数据115a至115c以及参考数据116a至116c的地址信息。

测试数据输出装置118取出测试数据115a至115c，并且给功能块31a、31b和31c分别输入测试数据115a、115b和115c。

功能块31a、31b和31c分别产生处理过的数据117a、117b和117c，并且将处理过的数据117a、117b和117c输出到处理过的数据输入装置119。

处理过的数据输入装置119将处理过的数据117a至117c存储在存储器114的处理过的数据区117。

数据比较器120以位为基础，将处理过的数据117a、117b和117c分别与参考数据116a、116b和116c比较。在此情况中，数据比较器120可以使用存储在地址管理器121中的地址信息。基于比较结果，数据比较器120确定功能块31a、31b和31c的可接受性。更确切地说，如果处理过的数据117a与参考数据116a匹配，那么数据比较器120确定功能块31a是可接受的。如果处理过的数据117b与参考数据116b匹配，那么数据比较器120确定功能块31b是可接受的。如果处理过的数据117c与参考数据116c匹配，那么数据比较器120确定功能块31c是可接受的。

数据比较器120将比较结果输出到控制器111。数据比较器120可以采用与参照图1所述的方式相似的方式，显示或记录确定结果。

按照这种方式，检查系统100能够检查结合在电路板31中的每个功能块31a至31c的可接受性。

除可以检查电路板31的所有功能块31a至31c以外，检查设备110也可以检查三个功能块31a至31c中的一个或两个。

例如，如果选择检查功能块31a，那么控制器111可以只产生测试数据115a和参考数据116a的集合。可替换的，控制器111可以产生用于功能块31b至31c的另外的测试数据和参考数据的集合，并且通过测试数据输入装置112或参考数据输入装置113把它们存储在存储器114内。

换句话说，由控制器111产生的数据数量取决于检查系统100的各种因素，诸如用于检查的功能块的数量以及存储器114的可利用的存储空间。

进一步，当检查功能块31a时，测试数据输出装置118可以使用存储在地址管理器121中的地址信息，选择测试数据115a和参考数据116a的集合。

图3说明了根据本发明另一优选实施例的检查系统200。

除检查设备210以外，图3的检查系统200的结构基本上与图2所示的检查系统100的结构相似。更确切地说，控制器211、测试数据输出装置218和处理过的数据输入装置219的结构与图2的检查设备110的相应装置的结构不同。

除参看图2所描述的操作以外，检查设备210使用新增加的转换器218a和219a执行数据转换。

例如，如果存储器114包括64位SDRAM(同步动态随机存储器)，那么电路板31以低于64位的位操作，转换器218a将64位测试数据转换为低位测试数据。同样地，转换器219a将低位处理过的数据转换为64位处理过的数据。

图4说明了三种由转换器218a执行的由64位测试数据转换到低位测试数据的转换情况。更确切的说，图4说明了转换为8位测试数据、16位测试数据、和32位测试数据的情况。

现在参看图4来说明转换64位测试数据的一般操作。

在从测试数据区115读出64位测试数据后，转换器218a从控制器211中获取有关电路板31的位宽(位宽信息)的信息。在此例中，控制器211预先存储这种位宽信息作为部分特征信息。位宽可以定义为表示数量的最大数量的位。

基于位宽信息，转换器218a将64位测试数据分割成多个较小的数据段。

然后转换器218a在每个时钟周期输出每个数据段，一直到所有的数据段都输出给电路板31。

例如，如果电路板31以8位操作，那么转换器218a将64位测试数据分割成8个数据段，如图4所示。第一个数据段在第一时钟(“时钟0”)输出给电路板31。第二数据段在第二时钟(“时钟1”)输出给电路板31。这个过程一直重复，直到最后一个数据段在第八时钟(“时钟7”)输出给电路板31。

相似地，如果电路板31以16位操作，那么转换器218a将64位测试数据分割成4个数据段，如图4所示。进一步，如果电路板31以32位操作，那么转换器218a将64位数据分割成两个数据段，如图4所示。

转换操作完成后，低位测试数据输出给电路板31，并产生低位处理过的数据。

现在参看图5，解释由低位处理过的数据转换到64位处理过的数据的一般的转换操作。

图5说明了三种由转换器219a执行的低位处理过的数据转换为64位处理过的数据的示范性情况。更确切地说，图5说明了8位处理过的数据、16位处理过的数据、以及32位处理过的数据的转换情况。

转换器219a从电路板31一位一位地接受低位处理过的数据，并且将处理过的数据的位存储在寄存器(未示出)中。如果存储在寄存器中的位数达到64位，那么转换器219a将处理过的数据的存储位形成为64位处理过的数据，并且将其立刻传送给存储器114。

例如，如果电路板31以8位操作，那么转换器219a在寄存器内累积8位处理过的数据，直到累积的位达到64位。这增加了检查系统200的总体性能。

在以上任意一个示例中，分别产生测试数据、参考数据、和处理过的数据。只要处理过的数据和参考数据匹配，那么这些数据中的任何一种数据都可以表示为信号、图样、和/或图像等。

例如，上述任何一种检查系统都可以另外包括图样产生器。此图样产生器能够产生图样数据，这些图样数据可以用作测试数据和/或参考数据。在这种情形下，电路板31产生处理过的图样数据。

此外，在上述任何一种检查系统中，测试数据和参考数据的集合可以根据从被检查设备接受到的特征信息，由控制器产生。但是，控制器也可以从检查系统的外部获得这些数据集合。

在一个示例中，控制器可以从结合有正常操作的主电路板的设备获取数据集合。

图6说明了根据本发明另一优选实施例的检查系统300。检查系统300包括信息处理器件301、检查设备210、和目标图像处理器330。在此示例中，检查系统300使用检查设备210，但是也可以使用根据本发明的上述任何一种或其他的检查设备。

检查设备210使用由图像形成装置301产生的数据集合，检查目标图像处理器330的可接受性。

正常操作的图像形成装置301包括扫描器302、图像处理器303、以及打印机304。

如图6所示，扫描器302的输出端子连接到存储器114的测试数据区115的输入端子。测试数据区115的输出端子连接到目标图像处理器330的输入端子。目标图像处理器330的输出端子连接在处理过的数据117的输入端子。图像处理器303的输出端子连接到存储器114的参考数据区116的输入端子。

在操作时，检查设备210获取由扫描器302产生的测试数据，将其存储在测试数据区115，并且将其输出给目标图像处理器330。

目标图像处理器330使用这个测试数据来产生处理过的数据，并且将其存储在处理过的数据区117。

此外，检查设备210获取由图像处理器303产生的参考数据，并且将其存储在参考数据区116。

检查设备210比较存储在处理过的数据区117的处理过的数据和存储在参考数据区116内的参考数据。基于比较结果，检查设备210确定目标图像处理器330的可接受性。

此外，在此操作中，可以向打印机304输出处理过的数据，从而打印用于可视检查的实际处理过的数据。

使用此结构，可以在基本相同的环境下比较目标图像处理器330和图像处理器303。

图7说明了根据本发明另一实施例的检查系统400。除设置取代了目标图像处理器330的用于检查的目标扫描器430外，检查系统400基本上与检查系统300相似。由于目标扫描器430使用模拟数据，因此附加提供了A/D(模拟-数字)转换器405、和D/A(数字-模拟)转换器431。

在操作时，检查设备210获取由扫描器302使用的测试数据，将模拟测试数据转换为数字测试数据，并且将其存储在测试数据区115。通过D/A转换器431将数字转换成模拟后，然后将测试数据输出到目标扫描器430。

目标扫描器430使用这个测试数据产生处理过的数据，并且将其存储在处理过的数据区117。

此外，检查设备210获取由扫描器302产生的参考数据，并且将其存储在参考数据区116。

检查设备210比较存储在处理过的数据区117中的处理过的数据和存储在参考数据区116中的参考数据。基于比较结果，检查设备210确定目标扫描器430的可接受性。

而且，在该操作时，处理过的数据可以被输出给图像处理器303的输入端子，并且进一步被输出给打印机304。按照这种方式，可以记录用于可视检查的实际处理过的数据。

图8说明了根据本发明另一优选实施例的检查系统500。除去设置了取代目标扫描器430的用于检查的打印机530外，检察系统500基本上与检查系统400相似。由于目标打印机530也使用模拟数据，因此取代A/D转换器405和D/A转换器431而提供A/D转换器505和531。

在操作时，检查设备210获取由打印机304要使用的测试数据，将其存储在测试数据区115，并且将其输出给目标打印机530。

目标打印机530使用该测试数据来产生处理过的数据，并且在通过A/D转换器531将处理过的数据由模拟转换为数字后，将其存储在处理过的数据区117。

此外，检察器件210获得由打印机304产生的参考数据，在通过A/D转换器505将其从模拟转换为数字后，将其存储在参考数据区116。

检查设备210比较存储在处理过的数据区117内的处理过的数据和存储在参考数据区116中的参考数据。基于该比较结果，检查设备210确定目标打印机530的可接受性。

在该操作时，处理过的数据可以不用转换就直接输出为模拟数据，与模拟参考数据作可视地比较。

如上所述，只要可以用作被检查电路板的主板，任何类型的设备都可连接在检查系统上。

在另一个实施例中，控制器可以从检查系统的外部获得数据集合作为数据文件。

图9说明了检查系统600，其中在图3的检查系统200上连接主机设备601。在此示范性情形中，主机设备601根据被检查设备30的特征信息产生测试数据和参考数据的集合。主机设备601可以连接在本发明的上述任何一种系统或其他的检查系统上。

参看图9，主机设备601主要包括CPU(中央处理单元)、输入装置、显示装置、RAM(随机可存取存储器)、HDD(硬盘驱动)、以及通信I/F(接口)。

CPU控制主机设备601的整个操作。输入装置允许用户给CPU输入命令，并且包括例如键盘和鼠标。显示装置显示从CPU输出的各种信息，并且包括例如液晶显示器。特别是，在此示例中，显示装置可以显示由检查设备210的比较器120产生的比较和/或确定结果。RAM例如是CPU使用的操作存储器。HDD存储包括用于检查被检查设备30的程序的各种程序，以及存储包括检查设备210要使用的数据集的数据文件。通信I/F允许与其他设备，诸如检查设备210，通过网络进行双向通信。

如上所述，主机设备601能够根据被检查设备30的特征信息产生数据集合。图10说明了由主机设备601产生的数据文件的示例。如图10所示，数据文件包括头标部分，其具有包括例如特征信息的各种信息。数据文件还包括数据区部分，其包括实际的数据集合和数据集的地址信息。

另外，主机设备601可以具有确定由转换器218a和或219a执行的位宽转换的功能。换句话说，主机设备601在功能上部分地充当控制器。另外，主机设备601可以作用为检查控制中心，例如能够通过网络远程控制被检查设备的大范围的检查。

结合有美国专利申请公开号2002/007 8266中公开的软件程序的任何设备都可以用作主机设备601，在此援引该专利全文以作参考。

参看图11，说明本发明的上述任何一种以及其他比较器(其后，简单地称为“比较器”)的操作和总体结构。如上所述，比较器能够大范围地检查被检查项目，包括被检查设备、电路板、以及功能块(此后，统称为“被检查项目”)。

在此示例中，采用具有四种彩色平面的测试图像作为测试数据。测试图像包括蓝绿色测试平面、红紫色测试平面、黄色测试平面、以及黑色测试平面。为了便于说明，图11的比较器以16位宽操作。

相应于该测试图像，产生具有四个数据段的参考数据，如图11所示。更确切地，参考数据包括蓝绿色参考数据段Cr、红紫色参考数据段Mr、黄色参考数据段Yr、以及黑色参考数据段Kr。

另外，相应于测试图像，产生具有四个数据段的处理过的数据，如图11所示。更确切的，处理过的数据包括蓝绿色数据段Cp、红紫色处理过的数据段Mp、黄色处理过的数据段Yp、黑色处理过的数据段Kr。

在操作时，比较器为了进行比较，使用存储在地址管理器中的地址信息，提取蓝绿色处理过的数据段Cp、红紫色参考数据段Cr。然后比较器产生值为0或1的比较结果1。更确切的，如果蓝绿色处理过的数据段Cp与蓝绿色参考数据段Cr匹配，那么比较结果为0，否则比较结果为1。

相似地，比较器能够产生分别用于其他颜色数据段的比较结果2，3，4。基于比较结果1至4，比较器能够确定引起故障的被检查项的特定部分。例如，如果比较结果1的值为1，那么确定控制黄色数据线的部分具有故障。

在此示范性情形中，如上所述比较器以16位为基础进行比较，但是比较器也可以比较任何位宽。换句话说，比较器可以根据由控制器或主机设备601定义的位宽的数量，在逻辑上将数据分割成多个较小的数据段。

另外，比较结果1至4可以存储在设置于比较器内的寄存器(未示出)中，用于确定被检查项的可接受性。

例如，对于每次以特定位宽进行的比较，可以由计数器(未示出)对标定值为1的比较结果的数量(误差数)计数。使用该误差数，比较器可以确定被检查项的可接受性。例如，如果误差数超过预定值，那么比较器确定被检查项存在故障。

除存储误差数外，比较器也可以存储与其中检测有误差的实际地址有关的信息，例如误差的偏移地址，其表示了从开始比较的地址(“开始地址”)开始计数的地址。

图12说明了在存储器114中存储该偏移地址的操作的示例。

如图12所示，存储器114包括存储处理过的数据的处理过的数据区117，以及存储参考数据的参考数据区116。

为了比较处理过的数据和参考数据，从朝向上箭头所示方向的位置A开始，一个接一个地取出处理过的数据的位。同时，从朝向下箭头所示方向的位置B开始，一个接一个地取出参考数据。换句话说，位置A相应于处理过的数据的开始地址。

如果在位置C检测出误差，那么在寄存器中存储偏移地址D，此地址表示从开始位置开始计数的地址。

基于偏移地址和开始地址，即使是在以后的时间里也能够识别出现误差的位置。

图11说明了以16位宽进行比较的示例，但是该比较也可以采用由控制器预先设置的任何位宽执行。在一个示例中，比较器可以分别以8位宽、16位宽、32位宽、64位宽比较处理过的数据和参考数据。每种位宽的比较结果存储在寄存器中，作为误差数。通过参照误差数，控制器可以容易地确定被检查项的出现故障的部分。

在比较前，采用图13所示的位屏蔽(bit mask)来选择用于比较的位，同时忽略其他位。

例如，如果图13所示的位屏蔽设置OR电路，那么用于比较的位不被屏蔽。也就是说，当位屏蔽的值为0时，处理过的数据和参考数据输入至比较器，并且不改变它们的初始位值。

另一方面，屏蔽将要被忽略的位。也就是说，当位屏蔽的值为1时，处理过的数据和参考数据都变为1。向比较器输入被屏蔽的处理过的数据和参考数据，但是由于被屏蔽的数据总是匹配的，因此不进行实际的比较。

位屏蔽由控制器或是主机设备601使用设置在检查设备中的屏蔽寄存器(未示出)预先设置。

图14说明了根据本发明优选实施例的比较器的另一种示范性结构。

图14的比较器包括差分(differential)比较电路91，92，93和94，这些电路能够纠正在数据传送或是数据转换过程中自然发生的误差的。

例如，如果从被检查项中输出的处理过的数据DATA_A从-2至2变化，那么这个变化可以通过将比较电路91和92的差分值“a”设置成大于2的值来消除。然后比较器能够比较处理过的数据DATA_A和参考数据m_DATA_A，并且产生比较结果5。

在上述情形中，差分值(differential value)可以由控制器或是主机设备601根据位宽信息来定义。换句话说，比较器可以预先存储用于多种不同位宽的许多差分值。在操作时，比较器可以相应于位宽信息来选择差分值。

在上述示教的启示下，可以作出多种另外的变形和改动。因此可以理解在所附如权利要求的范围内，可以采用在此特别描述的方式以外的其他方式来实施本专利说明书公开的内容。

例如，在本说明书以及所述如权利要求的范围内，在此说明的不同实施例中的元件和/或特征都可以彼此结合或相互替代。

另外，本发明可以采用能够提供上述功能的可编程逻辑装置来实施。可替换地，本发明可以采用通过与传统组件电路的适当网络互连或是通过与一个或多个传统的通用微处理器和/或相应编程的信号处理器结合制备而成的ASIC(特定用途集成电路)来实施。

本发明还包括可以寄存于存储媒介上的基于计算机的产品，且包括能够用于给微处理器编程使其执行根据本发明过程的指令。存储媒介可包括任何类型软盘、光盘、CD-ROM、磁光盘、ROM、RAM、EPROM、EEPROM、闪存、磁或光卡、或任何适于存储电子指令的介质。

本专利说明书以2003年9月30日在日本专利局提交的日本专利申请，申请号为JPAP2003-340381的申请为基础，在此结合该专利全文以作参考。

Claims (61)

1.一种检查设备，用于检查被检查项的可接受性，包括：

获取被检查项的特征信息的器件；

根据所述特征信息，生成包括一个或多个测试数据的测试数据集的器件；

产生包括相应于一个或多个测试数据的一个或多个参考数据的参考数据集的器件；

将测试数据集存储在第一数据区的器件；

将参考数据集存储在第二数据区的器件；

从所述测试数据集中选择测试数据并且从参考数据集中选择相应的参考数据的器件；

向被检查项输出所述测试数据，从而使被检查项生成处理过的数据的器件；

将处理过的数据存储在第三数据区的器件；

获取地址信息的器件，这些地址信息表示第一数据区中的测试数据的位置，第一数据区中的参考数据的位置，以及第一数据区中的处理过的数据的位置；

关于地址信息，从存储装置中提取处理过的数据和参考数据的器件；

以位为基础，比较处理过的数据和参考数据的器件；以及

基于所述比较，确定被检查项的可接受性的器件。

2.如权利要求1所述的检查设备，其中所述比较器件包括：

在所述比较前，将处理过的数据分割成多个处理过的数据段的器件，每个处理过的数据段包含一位处理过的数据；

在所述比较前，将参考数据分割成多个参考数据段的器件，每个参考数据段包含一位参考数据；

使用所述地址信息，选择目标处理过的数据段的器件；

使用所述地址信息，识别与目标处理过的数据段相应的目标参考数据段的器件；

比较目标处理过的数据段和目标参考数据段的器件；以及

基于所述比较，生成数据比较结果的器件。

3.如权利要求2所述的检查设备，其中所述选择器件包括：

屏蔽处理过的数据段但不屏蔽所选处理过的数据段的器件。

4.如权利要求3所述的检查设备，其中所述识别器件包括：

屏蔽参考数据段但不屏蔽所选的参考数据段的器件。

5.如权利要求2所述的检查设备，其中所述比较器件还包括：

当所述数据比较结果表示目标处理过的数据段与目标参考数据段匹配时，给所述数据比较结果指定第一值的器件；以及

当所述数据比较结果表示目标处理过的数据段与目标参考数据段不同时，给所述数据比较结果指定第二值的器件。

6.如权利要求5所述的检查设备，其中所述比较器件还包括：

对用所述第一值指定的多个数据比较结果计数的器件；以及

存储所计的数作为误差数的器件。

7.如权利要求6所述的检查设备，其中所述比较器件还包括：

基于所述误差数，确定所述被检查项的可接受性的器件。

8.如权利要求7所述的检查设备，其中当所述误差数超过预定值时，确定器件确定被检查项存在故障，当所述误差数等于或低于预定值时，确定器件确定被检查项是可接受的。

9.如权利要求8所述的检查设备，其中所述预定值是由所述获取器件预先定义的。

10.如权利要求8所述的检查设备，其中所述比较器件还包括设定差分值的器件，该差分值指定所述预定值。

11.如权利要求8所述的检查设备，其中所述比较器件还包括：

识别用第一值指定的数据比较结果的器件；

相应于数据比较结果的识别，提取处理过的数据段的偏移地址的器件；

存储所述偏移地址的器件；以及

识别归因于故障的被检查项的部分的器件。

12.如权利要求1所述的检查设备，进一步包括：

获取所述检查设备操作的位宽的器件；

获取所述被检查项操作的位宽的器件；

比较所述检查设备的位宽和所述被检查项的位宽的器件；以及

产生表示位宽比较结果的位宽信息的器件。

13.如权利要求12所述的检查设备，其中所述获取器件获取作为部分特征信息的所述位宽信息。

14.如权利要求13所述的检查设备，当所述比较结果表示被检查项的位宽低于所述检查设备的位宽时，进一步包括：

将所述测试数据由检查设备的位宽转换成被检查项的位宽的器件；以及

将所述处理过的数据由被检查项的位宽转换成检查设备的位宽的器件。

15.如权利要求13所述的检查设备，其中所述比较器件包括：

在所述比较前，将所述处理过的数据分割成多个处理过的数据段的器件，其中每段包含多位处理过的数据；

在所述比较前，将所述参考数据分割成多个参考数据段的器件，其中每段包含多位参考数据；

使用所述地址信息，选择目标处理过的位数据段的器件；

使用所述地址信息，识别与目标处理过的数据段相应的目标参考数据段的器件；

比较所述目标处理过的数据段和所述目标参考数据段的器件；以及

基于所述比较，生成数据比较结果的器件。

16.如权利要求15所述的检查设备，其中根据所述位宽信息，使得包含在所述处理过的数据段中的处理过的数据的位数与包含在所述参考数据段内的参考数据的位数彼此相同。

17.如权利要求16所述的检查设备，其中所述选择器件包括：

屏蔽处理过的数据段但不屏蔽所选处理过的数据段的器件。

18.如权利要求17所述的检查设备，其中所述识别器件包括：

屏蔽参考数据段但不屏蔽所选参考数据段的器件。

19.如权利要求15所述的检查设备，其中所述比较器件进一步包括：

当所述比较表示目标处理过的数据段与目标参考数据段相匹配时，向所述数据比较结果指定第一值的器件；以及

当所述比较表示目标处理过的数据段与目标参考数据段不同时，向所述数据比较结果指定第二值的器件。

20.如权利要求19所述的检查设备，其中所述比较器件进一步包括：

对用所述第一值指定的多个数据比较结果计数的器件；以及

存储所计的数作为误差数的器件。

21.如权利要求20所述的检查设备，其中所述比较器件进一步包括：

基于所述误差数，确定被检查项的可接受性的器件。

22.如权利要求21所述的检查设备，其中当所述误差数超过预定值时，确定器件确定被检查项存在故障，当所述误差数等于或小于预定值时，确定器件确定被检查项是可接受的。

23.如权利要求22所述的检查设备，其中所述预定值是由所述获取器件预先定义的。

24.如权利要求22所述的检查设备，其中所述比较器件进一步包括：

设定差分值的器件，该差分值指定所述预定值。

25.如权利要求22所述的检查设备，其中所述比较器件进一步包括：

识别用第一值指定的数据比较结果的器件；

提取与识别的数据比较结果相应的、处理过的数据段的偏移地址的器件；

存储所述偏移地址的器件；以及

识别归因于故障的被检查项的部分的器件。

26.一种检查系统，包括：

包含特征信息的目标电路板；以及

连接到所述目标电路板的检查设备，其配置为检查所述目标电路板的可接受性，

其中所述检查设备包括：

控制器，配置为提供包括至少一个测试数据的测试数据集和包括至少一个参考数据的参考数据集，其是根据所述目标电路板的特征信息产生的；

存储装置，具有第一数据区，第二数据区，以及第三数据区；

测试数据输入装置，配置为从所述控制器中提取所述测试数据，并将该测试数据存储在存储装置的所述第一数据区；

参考数据输入装置，配置为从所述控制器中提取所述参考数据，并将该参考数据存储在存储装置的第二数据区；

测试数据输出装置，配置为从所述存储装置的所述第一数据区提取所述测试数据，将该测试数据输出给目标电路板，并且使所述目标电路板由所述测试数据生成处理过的数据；

处理过的数据输入装置，配置为从所述目标电路板接收处理过的数据，并且将处理过的数据存储在存储装置的所述第三数据区；

地址管理器，配置为存储表示所述第一数据区中的测试数据的位置、所述第二数据区中的参考数据的位置、以及所述第三数据区中的处理过的数据的位置的地址信息；以及

数据比较器，配置为关于地址信息，从所述存储装置中提取处理过的数据和参考数据，并且以位为基础比较处理过的数据和参考数据，以及基于所述比较来确定目标电路板的可接受性。

27.如权利要求26所述的检查系统，进一步包括通过网络与所述检查设备连接的主机设备。

28.如权利要求27所述的检查系统，其中所述主机设备包括：

处理器；以及

主机存储装置，配置为存储多个指令，当处理器执行这些指令时，该指令使得处理器执行编程的操作，包括：

获取所述目标电路板的特征信息；

根据所述特征信息产生所述测试数据集，以及产生与测试数据集相

应的参考数据集；以及

发送所述测试数据集和参考数据集给所述检查设备作为数据文件。

29.如权利要求28所述的检查系统，其中所述编程的操作进一步包括：

获取第一位宽值，该值表示了目标电路操作的位宽；以及，

获取第二位宽值，该值表示了检查设备操作的位宽数。

30.如权利要求29所述的检查系统，其中所述数据比较器在进行比较前，将所述处理过的数据分割成预定数量的处理过的数据段，并且将所述参考数据分割成预定数量的参考数据段。

31.如权利要求30所述的检查系统，其中所述编程操作进一步包括：

根据所述第一位宽值和第二位宽值之间的关系，限定所述预定数量。

32.如权利要求29所述的检查系统，其中所述测试数据输出装置包括：

第一转换器，配置为当所述第二位宽值低于所述第一位宽值时，将所述测试数据由第一位宽值转换为第二位宽值；以及

第二转换器，配置为当所述第二位宽值低于所述第一位宽值时，将处理过的数据由第二位宽值转换为第一位宽值。

33.如权利要求28所述的检查设备，其中所述主机设备进一步包括：

显示装置，配置为显示包括由处理器生成的数据文件以及由检查设备生成的比较结果的各种信息。

34.如权利要求33所述的检查系统，其中所述主机设备进一步包括：

输入装置，配置为向处理器输入命令。

35.如权利要求26所述的检查系统，进一步包括：

具有第一端子和第二端子的主电路板，其中第一端子连接到第一数据区，第二端子连接到第二数据区，该主电路板配置为通过所述控制器分别将所述测试数据和参考数据存储在所述第一数据区和第二数据区。

36.如权利要求35所述的检查系统，其中所述目标电路板具有图像处理功能，并且所述主电路板包括要被结合在图像形成装置中的图像处理器单元。

37.如权利要求35所述的检查系统，其中所述目标电路板具有扫描功能，并且所述主电路板包括要被结合在图像形成装置中的扫描单元。

38.如权利要求37所述的检查系统，进一步包括：

第一模拟/数字转换器，插在所述主电路板的第一端子和第一数据区之间，其配置为在存储操作前，将所述测试数据由数字转换为模拟；以及

数/模转换器，插在第一数据区和目标电路板之间，其配置为在输出操作前，将所述测试数据由数字转换为模拟。

39.如权利要求35所述的检查系统，其中所述目标电路板具有打印功能，并且所述主电路板包括要被结合在图像形成装置中的打印机单元。

40.如权利要求39所述的检查系统，进一步包括：

第二模/数转换器，插在主电路板的第二端子和第二数据区之间，配置为在存储操作前，将所述参考数据由模拟转换为数字；以及

第三模/数转换器，插在第三数据区和目标电路板之间，配置为在存储操作前，将所述处理过的数据由模拟转换为数字。

41.一种用于检查被检查项的方法，包括以下步骤：

获取所述被检查项的特征信息；

根据所述特征信息，产生包括一个或多个测试数据的测试数据集；

产生包括相应于一个或多个测试数据的一个或多个参考数据的参考数据集；

分别将所述测试数据集存储在第一数据区，将所述参考数据存储在第二数据区；

生成地址信息，这些地址信息包括有关第一数据区中的测试数据的相应位置、和第二数据区内的参考数据的相应位置的信息，

使用所述地址信息，从所述测试数据集中选择测试数据以及从所述参考数据集中选择相应的参考数据；

输出所述测试数据给被检查项；

使用所述被检查项，由所述测试数据生成处理过的数据；

将所述处理过的数据存储在第三数据区；

将在第三数据区中处理过的数据的位置有关的信息加到所述地址信息；

在地址信息中加入有关第三数据区中的处理过的数据的位置的信息；

使用所述地址信息，从第三数据区中提取处理过的数据并且从第二数据区中提取参考数据；

以位为基础，比较处理过的数据和参考数据；以及

基于所述比较结果，确定所述被检查项的可接受性。

42.如权利要求41所述的方法，进一步包括以下步骤：

获取所述检查设备操作的位宽；

获取所述被检查项操作的位宽；

比较所述检查设备的位宽和被检查项的位宽；以及

生成表示位宽比较结果的位宽信息。

43.如权利要求42所述的方法，其中所述比较结果表示所述被检查项的位宽低于检查设备的位宽。

44.如权利要求43所述的方法，进一步包括以下步骤：

将所述测试数据由检查设备的位宽转换为被检查项的位宽；以及

将所述处理过的数据由被检查项的位宽转换为检查设备的位宽。

45.如权利要求42所述的方法，进一步包括以下步骤：

在所述比较前，将所述处理过的数据分割成多个处理过的数据段，每个段都包含多位处理过的数据；

在所述比较前，将所述参考数据分割成多个参考数据段，每个段都包含多位参考数据；

使用所述地址信息，选择目标处理过的位数据段；

使用所述地址信息，识别与所述目标处理过的数据段相应的目标参考数据段；

比较所述目标处理过的数据段和目标参考数据段；以及

基于所述比较，生成数据比较结果。

46.如权利要求45所述的方法，其中根据所述位宽信息，使包含在处理过的数据段内的处理过的数据的位数与包含在参考数据区内的参考数据的位数彼此相同。

47.如权利要求46所述的方法，进一步包括以下步骤：

屏蔽处理过的数据段但不屏蔽所选的处理过的数据段。

48.如权利要求47所述的方法，进一步包含以下步骤：

屏蔽参考数据段但不屏蔽所选的参考数据段。

49.如权利要求45所述的方法，进一步包含以下步骤：

当所述比较表示目标处理过的数据段与目标参考数据段匹配时，给数据比较结果指定第一值；以及

当所述比较显示目标处理过的数据段与目标参考数据段不同时，给数据比较结果指定第二值。

50.如权利要求49所述的方法，进一步包括以下步骤：

对用所述第一值指定的多个数据比较结果计数；以及

存储所计的数作为误差数。

51.如权利要求50所述的方法，进一步包括以下步骤：

基于所述误差数，确定被检查项的可接受性。

52.如权利要求51所述的方法，进一步包括以下步骤：

当所述误差数超过预定值时，确定被检查项存在故障；以及

当所述误差数等于或低于预定值时，确定被检查项是可接受的。

53.如权利要求52所述的方法，其中所述预定值是预先设定的。

54.如权利要求52所述的方法，进一步包括以下步骤：

设定差分值，该差分值指明所述预定值。

55.如权利要求52所述的方法，进一步包括以下步骤：

识别用所述第一值指定的数据比较结果；

提取相应于识别的数据比较结果的处理过的数据段的偏移地址；

存储该偏移地址；以及

识别归因于故障的被检查项的部分。

56.一种存储在计算机可读存储介质上的计算机程序产品，其用于在设备上运行时执行一种方法，该方法包括以下步骤：

获取所述被检查项的特征信息；

根据所述特征信息，生成包括一个或多个测试数据的测试数据集；

生成包括与一个或多个测试数据相应的一个或多个参考数据的参考数据集；

分别将所述测试数据存储在第一数据区，将所述参考数据存储在第二数据区；

生成地址信息，这些地址信息包括有关所述第一数据区的测试数据的相应位置、和所述第二数据区的参考数据的相应位置的信息；

使用所述地址信息，从所述测试数据集中选择测试数据，并且从所述参考数据集中选择参考数据；

输出所述测试数据到被检查项；

使用所述被检查项，由所述测试数据生成处理过的数据；

将所述处理过的数据存储在第三数据区；

向所述地址信息增加有关第三数据区中的处理过的信息的位置的信息；

使用所述地址信息，从第三数据区中提取处理过的数据，从第二数据区中提取参考数据；

以位为基础，比较所述处理过的数据和参考数据；以及

基于所述比较结果，确定被检查项的可接受性。

57.如权利要求57所述的产品，其中所述方法进一步包括以下步骤：

获取所述检查设备操作的位宽；

获取所述被检查项操作的位宽；

将所述测试数据由检查设备的位宽转换为被检查项的位宽；以及

将所述处理过的数据由被检查项的位宽转换为检查设备的位宽。

58.如权利要求57所述的产品，其中所述方法进一步包括：

在所述比较前，将处理过的数据分割成多个处理过的数据段，每段都包含多位处理过的数据；

在所述比较前，将参考数据分割成多个参考数据段，每段都包含多位参考数据；

使用所述地址信息，选择目标处理过的位数据段；

使用所述地址信息，识别与目标处理过的数据段相应的目标参考数据段，

比较所述目标处理过的数据段与目标参考数据段；以及

基于所述比较的比较产生数据比较结果。

59.一种存储用于执行一种方法计算机指令的计算机可读介质，所述方法包括：

获取被检查项的特征信息；

根据特征信息，生成包括一个或多个测试数据的测试数据集；

生成包括与所述一个或多个测试数据相应的一个或多个参考数据的测试数据集；

分别将所述测试数据集存储在第一数据区，将所述参考数据集存储在第二数据区；

生成地址信息，这些地址信息包括有关第一数据区中的测试数据的相应位置、和第二数据区内的参考数据的相应位置的信息；

使用所述地址信息，从所述测试数据集选择测试数据，从所述参考数据集中选择参考数据；

输出所述测试数据到所述被检查项；

使用所述被检查项，由测试数据生成处理过的数据；

将所述处理过的数据存储在第三数据区；

向所述地址信息加入有关第三数据区中的处理过的数据的位置的信息；

使用所述地址信息，从所述第三数据区提取处理过的数据，从所述第二数据区提取参考数据；

以位为基础比较所述处理过的数据和所述参考数据；以及

基于所诉比较结果，确定所述被检查项的可接受性。

60.如权利要求59所述的介质，其中所述方法进一步包括以下步骤：

获取所述检查设备操作的位宽；

获取所述被检查项操作的位宽；

将所述测试数据由检查设备的位宽转换为被检查项的位宽；以及

将所述处理过的数据由被检查项的位宽转换为检查设备的位宽。

61.如权利要求60所述的介质，其中所述方法进一步包括以下步骤：

在所述比较前，将所述处理过的数据分割成多个处理过的数据段，每段都包含多位处理过的数据；

在所述比较前，将参考数据分割成多个参考数据段，每段都包含多位参考数据；

使用所述地址信息，选择目标已处理位数据段；使用所述地址信息，识别与目标处理过的数据段相应的目标参考数据段；比较所述目标处理过的数据段与所述目标参考数据段；以及基于使用的所述比较的比较来生成数据比较结果。

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