JP2005114614A - 検査信号モニタ機能付き検査装置とリモート検査システム。 - Google Patents

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Abstract

【課題】 観測プローブを付けることなく実機環境と同じ回路基板の信号をモニタすることを可能とする。
【解決手段】 本発明の検査信号モニタ機能付き検査装置10は、パーソナルコンピュータ(PC)等の外部装置との接続制御を行うPCIやISA、PCカード等の規格に準じたインタフェース部1と、このインタフェース部1を介して外部装置(PC)から入力されるテスト用データを外部出力端子3を介して被検査基板に出力し、この被検査基板からテスト用データに対応して出力される処理後データを外部入力端子4を介して入力し、この処理後データに基づき当該被検査基板の良否を判定する基板検査モジュール部2と、この基板検査モジュール部2と外部出力端子3および外部入力端子4間に流れるテスト用データおよび処理後データを取り込みモニタ用信号としてインタフェース部4を介して外部装置(PC)に出力するモニタ部5とを有する。
【選択図】 図1

Description

本発明は、回路基板の検査技術に係わり、特に、検査動作時の信号状態のモニタリングを効率的に行うのに好適な検査装置に関するものである。
回路基板の検査装置に関する従来技術としては、例えば特許文献1,2に記載の技術がある。特許文献1の技術では、良品回路基板における実際の測定値をメモリなどに基準データとして記憶させておき、検査対象の回路基板で測定した測定値と、メモリに記憶されている基準データとを順次比較することによって回路基板の良否を判定している。
また、特許文献2では、良品基板から得られる正規の応答パターンデータと、テスト基板から得られる応答パターンデータとの際をデータ検出手段によりディジタル的に検出する技術が開示されている。
しかし、上記特許文献1および上記特許文献2のいずれに記載の技術においても、比較結果に基づく回路基板の良否判定結果が出力されるだけであり、それぞれの比較に用いた信号がどのような状態であるかをモニタすることはできない。
さらに、上記特許文献1の技術では、メモリに記憶するための良品回路基板における実際の測定値が正常なものであるか、また、上記特許文献2の技術では、良品基板から得られる正規の応答パターンデータが正常なものであるかを確認するために、実際には、それぞれの信号値を予めモニタする必要がある。
従来、このような回路基板の不良個所の特定や信号状態をモニタするためには、オシロスコープあるいはロジックアナライザ等を用いて波形観測や論理値確認・タイミング確認により判断しなければならず、観測点も多く、特に観測プローブを接続することによる容量負荷で波形変化が発生してしまい実機環境と異なった波形状態となり、本来の良否判定が非常に困難である。
特開2001−235505号公報 特開平1−100474号公報
解決しようとする問題点は、従来の技術では、検査時における信号状態をモニタする際、オシロスコープあるいはロジックアナライザ等を用いており、観測プローブを接続することによる容量負荷で波形変化が発生してしまい実機環境と異なった波形状態となってしまう点である。
上記目的を達成するため、本発明の検査信号モニタ機能付き検査装置は、パーソナルコンピュータ(PC)等の外部装置との接続制御を行うPCIやISA、PCカード等の規格に準じたインタフェース部(1)と、このインタフェース部(1)を介して外部装置(PC)から入力されるテスト用データを外部出力端子を介して被検査基板に出力し、この被検査基板からテスト用データに対応して出力される処理後データを外部入力端子を介して入力し、この処理後データに基づき当該被検査基板の良否を判定する基板検査モジュール部(2)と、この基板検査モジュール部(2)と外部出力端子および外部入力端子間に流れるテスト用データおよび処理後データを取り込みモニタ用信号としてインタフェース部を介して外部装置(PC)に出力するモニタ部(5)とを有することを特徴とする。また、本発明のリモート検査システムは、上記検査信号モニタ機能付き検査装置からの出力結果を、外部装置(PC)を介して接続されたネットワーク上の端末装置(PC)で受信してモニタすることを特徴とする。
本発明によれば、観測プローブを付けることなく実機環境と同じ回路基板の信号をモニタすることが可能である。
以下、図を用いて本発明を実施するための最良の形態例を説明する。
図1は、本発明に係わる検査信号モニタ機能付き検査装置の第1の構成例を示すブロック図であり、本例の検査信号モニタ機能付き検査装置(図中「検査装置」と記載)10は、図示していないパーソナルコンピュータ(PC)等の外部装置との接続制御を行うPCIやISA、PCカード等の規格に準じたインタフェース部(図中「PCI I/F部」と記載)1と、インタフェース部1を介して外部装置(PC)から入力されるテスト用データを外部出力端子(図中「信号出力部」と記載)3を介して図示していない被検査基板に出力し、この被検査基板からテスト用データに対応して出力される処理後データを外部入力端子(図中「信号入力部」と記載)4を介して入力し、この処理後データに基づき当該被検査基板の良否を判定する基板検査モジュール部(図中「モジュール部」と記載)2と、基板検査モジュール部2と外部出力端子3および外部入力端子4間に流れるテスト用データおよび処理後データを取り込みモニタ用信号としてインタフェース部1を介して外部装置としてのパーソナルコンピュータに出力するモニタ部(図中「バッファセレクター部」と記載)5により構成されている。
このような構成により、本例の検査信号モニタ機能付き検査装置10では、基板検査モジュール部2と外部出力端子3間の信号線上において、基板検査モジュール部2から外部出力端子3に出力される信号の状態を、そのままモニタ部5で読み込み、インタフェース部1を介して外部装置としてのパーソナルコンピュータに送出する。
そして、このパーソナルコンピュータにおいて、例えば表示装置の画面上にビジュアルに表示するように、各信号状態をソフトウェア処理する。このように表示することで、ユーザ(検査員)は、このパーソナルコンピュータから出力されて基板検査モジュール部2を介して被検査基板に出力されたテストデータが正常なものであるかを確認することができる。
また、基板検査モジュール部2で不良として検出され、基板検査モジュール部2からインタフェース部1を介して戻された検出結果を取得した際には、基板検査モジュール部2と外部入力端子4間の信号線上において、外部入力端子4から基板検査モジュール部2に入力される信号の状態を、そのままモニタ部5で読み込み、インタフェース部1を介して外部装置としてのパーソナルコンピュータに送出することで、同様に、このパーソナルコンピュータにおいて、例えば表示装置の画面上に信号状態をビジュアルに表示することができ、ユーザ(検査員)は、不良内容の詳細を容易に確認することができる。
例えば、検査回路モジュール部2と外部入力端子3および外部出力端子4間で検査回路モジュール部2側での動作停止が発生した場合にも、モニタ部5で、外部入力端子3および外部出力端子4側における信号を読み込み、インタフェース部1を介して、パーソナルコンピュータに送られてくるので、このパーソナルコンピュータにおいて、その信号状態もモニタすることができる。
このように、本例の検査信号モニタ機能付き検査装置10によれば、止まった状態で必要な信号情報をモニタすることができる。また、観測プローブを付けることなく実機環境と同じ回路基板の信号をモニタすることができる。そして、観測プローブを接続する必要がないので容量負荷で波形変化が発生することがない。
図2は、本発明に係わる検査信号モニタ機能付き検査装置の第2の構成例を示すブロック図であり、本例の検査信号モニタ機能付き検査装置20は、図示していないパーソナルコンピュータ(PC)等の外部装置との接続制御を行うPCIやISA、PCカード等の規格に準じたインタフェース部(図中「PCI I/F部」と記載)21と、インタフェース部21を介して外部装置(PC)から入力されるテスト用データを外部出力端子(図中「信号出力部」と記載)23を介して図示していない被検査基板に出力し、この被検査基板からテスト用データに対応して出力される処理後データを外部入力端子(図中「信号入力部」と記載)24を介して入力し、この処理後データに基づき当該被検査基板の良否を判定する基板検査モジュール部(図中「モジュール部」と記載)22と、基板検査モジュール部22と外部出力端子23および外部入力端子24間に流れるテスト用データおよび処理後データを取り込みモニタ用信号としてインタフェース部21を介して外部装置としてのパーソナルコンピュータに出力するモニタ部(図中「バッファセレクター部」と記載)25、および、モニタ部25から所定のカウント値毎のモニタ用信号を取り出してインタフェース部21を介して外部装置としてのパーソナルコンピュータに出力するカウンタ部26とにより構成されている。
このように、本例の検査信号モニタ機能付き検査装置20は、図1における本例の検査信号モニタ機能付き検査装置10に新たにカウンタ部26を設けた構成となっている。
このような構成により、本例の検査信号モニタ機能付き検査装置20では、基板検査モジュール部22と外部出力端子23間の信号線上において、基板検査モジュール部22から外部出力端子23に出力される信号の状態を、そのままモニタ部25で読み込み、インタフェース部21を介して外部装置としてのパーソナルコンピュータに送出することもできるが、モニタ部25とインタフェース部21との間に新たにカウンタ部26を設けたことにより、さらに、モニタ部25で読み込んだ信号を、数カウント分毎に読み出すように制御することができ、モニタ部25で読みとった信号が静的信号か動的信号かの区別をすることができる。
このように、本例の検査信号モニタ機能付き検査装置20によれば、図1に示した検査信号モニタ機能付き検査装置10と同様に、止まった状態で必要な信号情報をモニタすること、観測プローブを付けることなく実機環境と同じ回路基板の信号をモニタすることができ、観測プローブを接続する必要がないので容量負荷で波形変化が発生することがないとの効果を得ることができる上に、さらに、カウンタ部26を設けたことにより、モニタ部25で読み込んだ信号が繰りかえし発生している信号なのか、あるいは、静的なのかを判断することができ、解析対処方法のスピードアップを図ることが可能である。
図3は、本発明に係わる検査信号モニタ機能付き検査装置の第3の構成例を示すブロック図であり、本例の検査信号モニタ機能付き検査装置30は、図示していないパーソナルコンピュータ(PC)等の外部装置との接続制御を行うPCIやISA、PCカード等の規格に準じたインタフェース部(図中「PCI I/F部」と記載)31と、インタフェース部31を介して外部装置(PC)から入力されるテスト用データを外部出力端子(図中「信号出力部」と記載)33を介して図示していない被検査基板に出力し、この被検査基板からテスト用データに対応して出力される処理後データを外部入力端子(図中「信号入力部」と記載)34を介して入力し、この処理後データに基づき当該被検査基板の良否を判定する基板検査モジュール部(図中「モジュール部」と記載)32と、基板検査モジュール部32と外部出力端子33および外部入力端子34間に流れるテスト用データおよび処理後データを取り込みモニタ用信号としてインタフェース部31を介して外部装置としてのパーソナルコンピュータに出力するモニタ部(図中「バッファセレクター部」と記載)35、および、モニタ部35から所定のカウント値毎のモニタ用信号を取り出してインタフェース部31を介して外部装置としてのパーソナルコンピュータに出力する2以上のカウンタ部36a,36bとにより構成されている。
このように、本例の検査信号モニタ機能付き検査装置30は、図1における本例の検査信号モニタ機能付き検査装置10に新たに2以上のカウンタ部36a,36bを設けた構成となっている。
このような構成により、本例の検査信号モニタ機能付き検査装置30では、基板検査モジュール部32と外部出力端子33間の信号線上において、基板検査モジュール部32から外部出力端子33に出力される信号の状態を、そのままモニタ部35で読み込み、インタフェース部31を介して外部装置としてのパーソナルコンピュータに送出することもできるが、モニタ部35とインタフェース部31との間に新たに2以上のカウンタ部36a,36bを設けたことにより、さらに、複数信号をモニタでき、モニタ部35で読みとった信号の遅れつまり信号のディレイ(delay)をパーソナルコンピュータ側で測定することができる。
このように、本例の検査信号モニタ機能付き検査装置30によれば、図1に示した検査信号モニタ機能付き検査装置10と同様に、止まった状態で必要な信号情報をモニタすること、観測プローブを付けることなく実機環境と同じ回路基板の信号をモニタすることができ、観測プローブを接続する必要がないので容量負荷で波形変化が発生することがないとの効果を得ることができる上に、さらに、2以上のカウンタ部36a,36bを設けたことにより、モニタ部35で読み込んだ信号のディレイを測定することが可能である。
図4は、本発明に係わる検査信号モニタ機能付き検査装置の第4の構成例を示すブロック図であり、本例の検査信号モニタ機能付き検査装置40は、図示していないパーソナルコンピュータ(PC)等の外部装置との接続制御を行うPCIやISA、PCカード等の規格に準じたインタフェース部(図中「PCI I/F部」と記載)41と、インタフェース部41を介して外部装置(PC)から入力されるテスト用データを外部出力端子(図中「信号出力部」と記載)43を介して図示していない被検査基板に出力し、この被検査基板からテスト用データに対応して出力される処理後データを外部入力端子(図中「信号入力部」と記載)44を介して入力し、この処理後データに基づき当該被検査基板の良否を判定する基板検査モジュール部(図中「モジュール部」と記載)42と、基板検査モジュール部42と外部出力端子43および外部入力端子44間に流れるテスト用データおよび処理後データを取り込みモニタ用信号としてインタフェース部41を介して外部装置としてのパーソナルコンピュータに出力するモニタ部(図中「バッファセレクター部」と記載)45、および、モニタ部45から所定時間中に出力されるモニタ用信号の内のハイレベル(「1」)の信号の数をカウントしてインタフェース部41を介して外部装置としてのパーソナルコンピュータに出力する第1のカウンタ部(図中「カウンタ部」と記載)46aと、モニタ部45から所定時間中に出力されるモニタ用信号の内のローレベル(「0」)の信号の数をカウントしてインタフェース部41を介して外部装置としてのパーソナルコンピュータに出力する第2のカウンタ部(図中「カウンタ部」と記載)46bとにより構成されている。
このように、本例の検査信号モニタ機能付き検査装置40は、図1における本例の検査信号モニタ機能付き検査装置10に新たに第1,第2のカウンタ部46a,46bを設けた構成となっている。
このような構成により、本例の検査信号モニタ機能付き検査装置40では、基板検査モジュール部42と外部出力端子43間の信号線上において、基板検査モジュール部42から外部出力端子43に出力される信号の状態を、そのままモニタ部45で読み込み、インタフェース部41を介して外部装置としてのパーソナルコンピュータに送出することもできるが、モニタ部45とインタフェース部41との間に新たに第1,第2のカウンタ部46a,46bを設けたことにより、さらに、モニタ部45で読み込んだ信号がハイレベル(「1」)の時のカウント時間とローレベル(「0」)の時のカウント時間を読みとることができ、モニタ部45で読みとった信号のデューティ(duty)をパーソナルコンピュータ側で測定することができる。
このように、本例の検査信号モニタ機能付き検査装置40によれば、図1に示した検査信号モニタ機能付き検査装置10と同様に、止まった状態で必要な信号情報をモニタすること、観測プローブを付けることなく実機環境と同じ回路基板の信号をモニタすることができ、観測プローブを接続する必要がないので容量負荷で波形変化が発生することがないとの効果を得ることができる上に、さらに、第1,第2のカウンタ部46a,46bを設けたことにより、モニタ部45で読み込んだ信号のデューティ(「1」の時間と「0」の時間)を測定することが可能である。また、第1,第2のカウンタ部46a,46bのそれぞれにより、複数の信号についてモニタすることができる。
図5は、本発明に係わる検査信号モニタ機能付き検査装置の第5の構成例を示すブロック図であり、本例の検査信号モニタ機能付き検査装置50は、図示していないパーソナルコンピュータ(PC)等の外部装置との接続制御を行うPCIやISA、PCカード等の規格に準じたインタフェース部(図中「PCI I/F部」と記載)51と、インタフェース部51を介して外部装置(PC)から入力されるテスト用データを外部出力端子(図中「信号出力部」と記載)53を介して図示していない被検査基板に出力し、この被検査基板からテスト用データに対応して出力される処理後データを外部入力端子(図中「信号入力部」と記載)54を介して入力し、この処理後データに基づき当該被検査基板の良否を判定する基板検査モジュール部(図中「モジュール部」と記載)52と、基板検査モジュール部52と外部出力端子53および外部入力端子54間に流れるテスト用データおよび処理後データを取り込みモニタ用信号としてインタフェース部51を介して外部装置としてのパーソナルコンピュータに出力するモニタ部(図中「バッファセレクター部」と記載)55、および、モニタ部55から所定時間中に出力されるモニタ用信号の内のハイレベル(「1」)の信号の数をカウントしてインタフェース部51を介して外部装置としてのパーソナルコンピュータに出力する第1のカウンタ部(図中「カウンタ部」と記載)56aと、モニタ部55から所定時間中に出力されるモニタ用信号の内のローレベル(「0」)の信号の数をカウントしてインタフェース部51を介して外部装置としてのパーソナルコンピュータに出力する第2のカウンタ部(図中「カウンタ部」と記載)56b、さらにインタフェース部51を介して外部装置としてのパーソナルコンピュータに出力するモニタ用信号をインタフェース部51の前段で記憶するメモリ部57とにより構成されている。
尚、本例では、メモリ部57は、モニタ部55とインタフェース部51との間に設けられた第1,第2のカウンタ部56a,56bの出力を記憶するように構成されており、このような構成により、本例の検査信号モニタ機能付き検査装置50では、メモリ部57から所定量まとめて、モニタ用信号をインタフェース部51を介して外部装置としてのパーソナルコンピュータに出力する。
例えば、メモリ部57において、第1,第2のカウンタ部56a,56bからの信号をクロック等でサンプリングして例えば64bit(現状のメモリのline bit数)分のデータがたまればFIFO(First In First Out)に1ライン(1line)いれる等の動作を繰りかえし、バースト(burst)分たまった時点で書き込み依頼する動作を、必要時間(設定時間)繰りかえす。
このように、本例の検査信号モニタ機能付き検査装置50は、図4における本例の検査信号モニタ機能付き検査装置40にさらにメモリ部57を設けた構成となっており、基板検査モジュール部52と外部出力端子53間の信号線上において、基板検査モジュール部52から外部出力端子53に出力される信号の状態を、そのままモニタ部55で読み込み、インタフェース部51を介して外部装置としてのパーソナルコンピュータに送出することもできるが、モニタ部55とインタフェース部51との間に第1,第2のカウンタ部56a,56bを設けたことにより、モニタ部55で読み込んだ信号がハイレベル(「1」)の時のカウント時間とローレベル(「0」)の時のカウント時間を読みとることができ、モニタ部55で読みとった信号のデューティ(duty)をパーソナルコンピュータ側で測定することができ、さらに、モニタ部55と第1,第2のカウンタ部56a,56bとの間にメモリ部57を設けたことにより、モニタ部55および第1,第2のカウンタ部56a,56bからのデータを所定量まとめてインタフェース部41を介して外部装置としてのパーソナルコンピュータに出力することができる。
このように、本例の検査信号モニタ機能付き検査装置50によれば、図1に示した検査信号モニタ機能付き検査装置10と同様に、止まった状態で必要な信号情報をモニタすること、観測プローブを付けることなく実機環境と同じ回路基板の信号をモニタすることができ、観測プローブを接続する必要がないので容量負荷で波形変化が発生することがないとの効果を得ることができる上に、第1,第2のカウンタ部56a,56bを設けたことにより、モニタ部55で読み込んだ信号のデューティ(「1」の時間と「0」の時間)を測定することが可能であり、また、第1,第2のカウンタ部56a,56bのそれぞれにより、複数の信号についてモニタすることができ、さらに、メモリ部57を設けたことにより、メモリ部57に蓄積された内容(モニタ部55で読み込んだ信号状態)をパーソナルコンピュータ側の画面に時間軸で表示する等して、信号線のモニタ機能、すなわち、logic tracer機能を実現することが可能である。
図6は、本発明に係わるリモート検査システムの構成例を示すブロック図であり、本例のリモート検査システムは、少なくとも図1から図5のいずれかに記載の検査信号モニタ機能付き検査装置10〜50からの出力結果を、外部装置としてのパーソナルコンピュータを介して接続されたネットワーク上の端末装置で受信してモニタする構成となっている。
すなわち、本例のリモート検査システムは、少なくとも図1から図5に記載の検査信号モニタ機能付き検査装置10〜50のいずれかからなり、被検査基板62に対する検査を行う検査信号モニタ機能付き検査装置(図中「検査装置」と記載)60と、検査信号モニタ機能付き検査装置60とPCIもしくはISA、PCカード、無線LANインタフェース装置ド、赤外線インタフェース装置等を介して接続されたパーソナルコンピュータ(図中「PC」と記載)63、このパーソナルコンピュータ63とLANやWAN等のネットワーク64を介して接続されたパーソナルコンピュータ(図中「リモートPC」と記載)65により構成されている。
このような構成とすることにより、本例のリモート検査システムでは、例えば検査センタ等に設置されているパーソナルコンピュータ65からネットワーク64を介して、製造工場に設置されているパーソナルコンピュータ63に、被検査基板62のテスト用のデータファイルを送信し、パーソナルコンピュータ63から検査信号モニタ機能付き検査装置60に当該テスト用データをロードして、検査信号モニタ機能付き検査装置60により被検査基板62に対する試験を実施することができる。
さらに、本例の検査信号モニタ機能付き検査装置60におけるモニタ結果データを、パーソナルコンピュータ63からネットワーク64を介してパーソナルコンピュータ65に送信することで、検査センタにおいて、被検査基板62に対する検査信号モニタ機能付き検査装置60による検査状態をリモートでモニタすることができる。
尚、本発明は、図1〜図6を用いて説明した例に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能である。例えば、図5の例においては、図4に示す構成の検査信号モニタ機能付き検査装置40にメモリ部57を設けた構成を示しているが、図1もしくは図2に示す構成の検査信号モニタ機能付き検査装置10,20にメモリ部57を設けた構成であっても良い。
また、図2から図4における検査信号モニタ機能付き検査装置20〜40では、インタフェース部21,31,41とモニタ部25,35,45間を直接接続する信号線を有しているが、この信号線を不要とした構成であっても良い。そして、このような構成の検査信号モニタ機能付き検査装置を、図6のリモート検査システムにおける検査信号モニタ機能付き検査装置60として用いる構成とすることでも良い。
また、図1から図5のそれぞれに記載の検査信号モニタ機能付き検査装置10〜50は、PCIやISA、PCカード等の規格のインタフェース部1,21,31,41,51を介して外部装置としてのパーソナルコンピュータに接続される構成としているが、無線機能を有するインタフェースとして、無線LAN上のパーソナルコンピュータと接続する構成としても良い。
本発明に係わる検査信号モニタ機能付き検査装置の第1の構成例を示すブロック図である。 本発明に係わる検査信号モニタ機能付き検査装置の第2の構成例を示すブロック図である。 本発明に係わる検査信号モニタ機能付き検査装置の第3の構成例を示すブロック図である。 本発明に係わる検査信号モニタ機能付き検査装置の第4の構成例を示すブロック図である。 本発明に係わる検査信号モニタ機能付き検査装置の第5の構成例を示すブロック図である。 本発明に係わるリモート検査システムの構成例を示すブロック図である。
符号の説明
1,21,31,41,51:インタフェース部(「PCI I/F部」)、2,22,32,42,52:基板検査モジュール部(「モジュール部」)、3,23,33,43,53:外部出力端子(「信号出力部」)、4,24,34,44,54:外部入力端子(「信号入力部」)、5,25,35,45,55:モニタ部(「バッファセレクター部」)、10,20,30,40,50,60:検査信号モニタ機能付き検査装置(「検査装置」)、26,36a,36b:カウンタ部、46a,56a:第1のカウンタ部、46b,56b:第2のカウンタ部、57:メモリ部、62:被検査装置、63:パーソナルコンピュータ(「PC」)、64:ネットワーク、65:パーソナルコンピュータ(「リモートPC」)。

Claims (9)

  1. 外部装置との接続制御を行うインタフェース手段と、
    該インタフェース手段を介して上記外部装置から入力されるテスト用データを外部出力端子を介して被検査基板に出力し、該被検査基板から上記テスト用データに対応して出力される処理後データを外部入力端子を介して入力し、該処理後データに基づき当該被検査基板の良否を判定する基板検査手段と
    該基板検査手段と上記外部出力端子および上記外部入力端子間に流れる上記テスト用データおよび上記処理後データを取り込みモニタ用信号として上記インタフェース手段を介して上記外部装置に出力するモニタ手段と
    を有することを特徴とする検査信号モニタ機能付き検査装置。
  2. 請求項1に記載の検査信号モニタ機能付き検査装置であって、
    上記モニタ手段から所定のカウント値毎のモニタ用信号を取り出して上記インタフェース手段を介して上記外部装置に出力するカウンタ手段を有することを特徴とする検査信号モニタ機能付き検査装置。
  3. 外部装置との接続制御を行うインタフェース手段と、
    該インタフェース手段を介して上記外部装置から入力されるテスト用データを外部出力端子を介して被検査基板に出力し、該被検査基板から上記テスト用データに対応して出力される処理後データを外部入力端子を介して入力し、該処理後データに基づき当該被検査基板の良否を判定する基板検査手段と
    該基板検査手段と上記外部出力端子および上記外部入力端子間に流れる上記テスト用データおよび上記処理後データをモニタ用信号として取り込むモニタ手段と、
    該モニタ手段から所定のカウント値毎のモニタ用信号を取り出して上記インタフェース手段を介して上記外部装置に出力するカウンタ手段と
    を有することを特徴とする検査信号モニタ機能付き検査装置。
  4. 請求項2もしくは請求項3のいずれかに記載の検査信号モニタ機能付き検査装置であって、
    上記カウンタ手段を2以上有することを特徴とする検査信号モニタ機能付き検査装置。
  5. 請求項1に記載の検査信号モニタ機能付き検査装置であって、
    上記モニタ手段から所定時間中に出力されるモニタ用信号の内のハイレベルの信号の数をカウントして上記インタフェース手段を介して上記外部装置に出力する第1のカウンタ手段と、
    上記モニタ手段から所定時間中に出力されるモニタ用信号の内のローレベルの信号の数をカウントして上記インタフェース手段を介して上記外部装置に出力する第2のカウンタ手段と
    を有することを特徴とする検査信号モニタ機能付き検査装置。
  6. 外部装置との接続制御を行うインタフェース手段と、
    該インタフェース手段を介して上記外部装置から入力されるテスト用データを外部出力端子を介して被検査基板に出力し、該被検査基板から上記テスト用データに対応して出力される処理後データを外部入力端子を介して入力し、該処理後データに基づき当該被検査基板の良否を判定する基板検査手段と
    該基板検査手段と上記外部出力端子および上記外部入力端子間に流れる上記テスト用データおよび上記処理後データをモニタ用信号として取り込み出力するモニタ手段と、
    該モニタ手段から所定時間中に出力されるモニタ用信号の内のハイレベルの信号の数をカウントして上記インタフェース手段を介して上記外部装置に出力する第1のカウンタ手段と、
    上記モニタ手段から所定時間中に出力されるモニタ用信号の内のローレベルの信号の数をカウントして上記インタフェース手段を介して上記外部装置に出力する第2のカウンタ手段と
    を有することを特徴とする検査信号モニタ機能付き検査装置。
  7. 請求項1から請求項6のいずれかに記載の検査信号モニタ機能付き検査装置であって、
    上記インタフェース手段を介して上記外部装置に出力するモニタ用信号を該インタフェース手段の前段で記憶する記憶装置を有し、
    該記憶装置から所定量まとめて上記モニタ用信号を上記インタフェース手段を介して上記外部装置に出力することを特徴とする検査信号モニタ機能付き検査装置。
  8. 請求項1から請求項7のいずれかに記載の検査信号モニタ機能付き検査装置であって、
    上記インタフェース手段は、
    上記外部記憶装置としてのパーソナルコンピュータに接続するための、PCIもしくはISA,PCカードの少なくともいずれかを含む規格の接続手段を有することを特徴とする検査信号モニタ機能付き検査装置。
  9. 請求項1から請求項8のいずれかに記載の検査信号モニタ機能付き検査装置からの出力結果を、上記外部装置を介して接続されたネットワーク上の端末装置で受信してモニタすることを特徴とするリモート検査システム。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101177051B1 (ko) 2011-06-24 2012-08-27 (주)솔리드메카 가혹조건을 이용한 팩키지 테스트 장치

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20070022580A (ko) * 2005-08-22 2007-02-27 엘지전자 주식회사 데이터 재생방법 및 재생장치, 기록매체와 데이터 기록방법및 기록장치
BRPI0615070A2 (pt) * 2005-08-22 2016-09-13 Lg Electronics Inc método e aparelho para gerenciar reprodução de áudio para pelo menos um caminho de apresentação picture-in-picture, meio de gravação, método e aparelho para gravar estrutura de dados
TWI281801B (en) * 2005-11-21 2007-05-21 Rdc Semiconductor Co Ltd Automatic configuration system
US8035409B2 (en) * 2009-04-29 2011-10-11 International Business Machines Corporation System and method implementing short-pulse propagation technique on production-level boards with incremental accuracy and productivity levels
CN108259266B (zh) * 2017-12-19 2020-11-03 广东电网有限责任公司广州供电局 网站性能监测方法和系统

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0776781B2 (ja) 1987-10-13 1995-08-16 日置電機株式会社 回路基板検査装置
US6038336A (en) * 1997-12-04 2000-03-14 Daewoo Electronics Co., Ltd. PCB testing circuit for an automatic inserting apparatus and a testing method therefor
CN1095290C (zh) * 1999-01-11 2002-11-27 深圳市中兴通讯股份有限公司 会议电视系统单板测试仪
JP2001235505A (ja) * 2000-02-25 2001-08-31 Hioki Ee Corp 回路基板検査装置
IES20000160A2 (en) * 2000-02-29 2001-10-17 Internat Test Technologies A Method and system for testing microprocessor-based boards in a manufacturing environment
CA2344793A1 (en) * 2000-04-27 2001-10-27 Odiletil Oliveira Silva Inspection apparatus
US6563298B1 (en) * 2000-08-15 2003-05-13 Ltx Corporation Separating device response signals from composite signals
JP2002156399A (ja) * 2000-11-17 2002-05-31 Oht Inc 回路基板の検査装置及び検査方法
JP2002243785A (ja) * 2001-02-21 2002-08-28 Moric Co Ltd 信号検査装置
US20040059970A1 (en) * 2002-05-23 2004-03-25 Wieberdink Daniel Lloyd Multipurpose architecture and method for testing electronic logic and memory devices
JP4062226B2 (ja) * 2003-09-30 2008-03-19 株式会社リコー 基板検査装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101177051B1 (ko) 2011-06-24 2012-08-27 (주)솔리드메카 가혹조건을 이용한 팩키지 테스트 장치

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