JPH04249335A - プローブ検査システム - Google Patents

プローブ検査システム

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Publication number
JPH04249335A
JPH04249335A JP1362491A JP1362491A JPH04249335A JP H04249335 A JPH04249335 A JP H04249335A JP 1362491 A JP1362491 A JP 1362491A JP 1362491 A JP1362491 A JP 1362491A JP H04249335 A JPH04249335 A JP H04249335A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
inspection
prober
signal
station
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1362491A
Other languages
English (en)
Inventor
Masachiyo Miyamoto
宮本 將知代
Mitsuhiro Matsumoto
充博 松本
Koji Yamagata
山縣 孝司
Kenji Yamada
健治 山田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electronics Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electronics Corp filed Critical Matsushita Electronics Corp
Priority to JP1362491A priority Critical patent/JPH04249335A/ja
Publication of JPH04249335A publication Critical patent/JPH04249335A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、主に半導体チップを検
査する場合に用いるプローブ検査システムに関するもの
である。
【0002】
【従来の技術】従来、半導体チップの検査において、検
査装置であるテスターと、その測定部であるプローバー
および、検査データ表示器であるステーションがある。 このような検査装置にあっては、検査データをリアルタ
イムで解析し、プローバーが正常に動作しているか監視
することが重要であり、かつ測定されたデータを不良原
因解析のためウエハ毎に保有する必要があった。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
の実際のプローブ検査では、検査途中でプローバーの状
態を監視することは困難であった。そのために本来良品
であるべき半導体チップが、プローバーの異常によって
不良と判定されることがあった。また、全ての検査デー
タをウエハ毎に保有するには、ウエハ検査毎に、ステー
ションに付属しているプリンタからオペレータが手動操
作による出力をしなければならないために事実上不可能
であった。
【0004】本発明は上記従来の問題を解決するもので
、プローバーの測定進行状態に対応して、プローバーの
状態を監視し本来良品であるべき半導体チップがプロー
バーの異常によって不良判定されることなく、かつ全て
の検査データを収集管理することができるプローブ検査
システムを提供することを目的とするものである。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明のプローブ検査システムは、検査測定部である
プローバーが接続されたテスターのステーションにおい
て不良カテゴリー信号を検出可能な信号検出手段と、前
記信号検出手段からの不良カテゴリー信号を検査データ
として収集し前記プローバーの状態を監視して異常と判
定すると前記プローバーを停止処理する機能を有する収
集手段と、前記収集手段をコントロールするとともに、
前記収集手段で収集したデータを集計管理する機能を有
するコンピュータとを備えたものである。
【0006】
【作用】上記構成により、テスターのステーションから
、収集手段で不良カテゴリーの検査データを収集し基準
値と比較処理してリアルタイムにプローバーの状態を監
視し、異常と判断されると収集手段がプローバーを停止
させて速やかに適切な処置が実行できるようにする。 これにより、従来のように、本来良品であるべき半導体
チップがプローバーの異常によって不良判定されること
はなくなる。また、収集手段はコンピュータへ収集した
検査データを送出し、コンピュータはこれを解析用デー
タとして集計管理するので、不良原因の解析などが容易
となる。
【0007】
【実施例】以下、本発明の一実施例について図面を参照
しながら説明する。図1は本発明の一実施例のプローブ
検査システムの構成を示すブロック図である。図1にお
いて、テスター1は半導体チップの検査装置であり、プ
ローバー2はテスター1の測定部である。テスター1の
ステーション3は、検査データ表示器4、その後段の信
号検出装置5、さらにその後段の出力インターフェース
6から構成されており、検査データ表示器4で検査デー
タを表示するとともに、信号検出装置5で不良カテゴリ
ーの検査データと状態信号である検査スタート信号を検
出する機能を有する。ステーション3の出力インターフ
ェース6およびプローバー2に接続される収集装置7は
、入出力インターフェース8、入出力インターフェース
8に接続される演算装置としてのCPU9、CPU9に
接続される記憶装置10およびカウンタ11から構成さ
れており、検査スタート信号の検出によりステーション
3の出力インターフェース6からの不良カテゴリーの検
査データを収集し、不良カテゴリーの検査データ毎のカ
ウンタ11のカウント値と記憶装置10の基準データと
をCPU9で比較処理し、この比較処理結果によりプロ
ーバー2を監視して異常と判定するとプローバー2の停
止処理を行う機能を有する。収集装置7の入出力インタ
ーフェース8に接続されるコンピュータ12は、入出力
インターフェース13、入出力インターフェース13に
接続される演算装置としてのCPU14、CPU14に
接続されるキーボード15、ディスプレイ16およびデ
ータベース17から構成されており、収集装置7をコン
トロールして基準データの設定および初期設定可能であ
り、また、収集装置7で収集されたデータを集計管理す
る機能を有する。コンピュータ12の入出力インターフ
ェース13はプリンタ18に接続されて、プリンタ18
から各種集計出力が可能である。 また、コンピュータ12の入出力インターフェース13
はプローバー状態表示盤19に接続されて、プローバー
2の停止をオペレータに知らせる。以上によりプローブ
検査フェールストップシステムが構成される。
【0008】上記構成により、以下その動作を説明する
。まず、スタート準備として、プローバー2の異常を判
定するための基準データとして、コンピュータ12のキ
ーボード15から入力される基準データまたは、あらか
じめデータベース17に記憶されている基準データを、
入出力インターフェース13を介して収集装置7に送出
する。 収集装置7は入出力インターフェース8を介して記憶装
置10へ基準データを格納する。このとき、すでに基準
データが記憶装置10に格納されていれば、これを更新
する。そして、カウンタ11を初期化してステーション
3からの検査スタート信号を待つ。
【0009】次に、ステーション3は、データ表示部4
からの検査スタート信号および不良カテゴリー表示信号
を信号検出装置5で検出し、出力インターフェース6を
介してこれらの信号を収集装置7へ送出する。そして、
収集装置7は入出力インターフェース8を介して検査ス
タート信号を検出すると、不良カテゴリー信号を検出毎
に、項目No.別にカウンタ11でカウントすると同時
に、記憶装置10の基準データとカウントした値とをC
PU9で比較する処理を検査終了信号を検出するまで繰
り返す。すなわち、収集装置7は項目毎の不良率の変化
でリアルタイムにプローバー2の状態を監視する。検査
終了信号を検出すると、カウントした値を不良カテゴリ
ー信号の項目No.別に1ウエハの検査データとして、
入出力インターフェース8を介してコンピュータ12へ
送出し、カウンタ11を初期化する。
【0010】以上の処理を繰り返して実行し、検査終了
信号を検出するまでに、カウントした値が基準データ値
に達した場合、すなわち、不良率が異常と判断された場
合、収集装置7は、入出力インターフェース7を介して
プローバー2に停止信号を送出すると同時に、オペレー
タにプローバー2が停止したことを知らせるため、プロ
ーバー状態表示盤19にプローバー2が停止したことを
表示させる信号を送出し、集計装置7は再びステーショ
ン3から再スタート信号を検出するまで信号検出待ちの
状態となる。このとき、プローバー状態表示盤19によ
ってオペレータはプローバー2が停止したことを知ると
、速やかに適切な処置を行いプローバー2を再スタート
させる。
【0011】一方、収集装置7で収集されたデータはコ
ンピュータ12のCPU14に入出力インターフェース
13を介してウエハ毎に送出され、コンピュータ12は
受け取った検査データを解析用データとしてデータベー
ス17に蓄積するとともに、現在までの検査結果をロッ
ト単位に累計し、その状況を不良カテゴリーの項目No
.別にディスプレイ16で表示する。また、コンピュー
タ12のもう一つの機能としてデータベース16に蓄積
されたウエハ検査データを、ロット単位でグラフあるい
は、集計表形式などにして任意にプリンタ18でプリン
ト出力することができ、不良原因の解析に威力を発揮す
る。
【0012】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、プローバ
ーのリアルタイム監視および自動フェールストップによ
る良品チップの救済と、集積された検査データの活用に
よる不良原因解析に威力を発揮することができるもので
ある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例のプローブ検査システムの構
成を示すブロック図である。
【符号の説明】
1    テスター 2    プローバー 3    ステーション 5    信号検出装置 7    収集装置 8、13    入出力インターフェース9、14  
  CPU 10    記憶装置 11    カウンタ 12    コンピュータ 15    キーボード 16    ディスプレイ 17    データベース

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】検査測定部であるプローバーが接続された
    テスターのステーションにおいて不良カテゴリー信号を
    検出可能な信号検出手段と、前記信号検出手段からの不
    良カテゴリー信号を検査データとして収集し前記プロー
    バーの状態を監視して異常と判定すると前記プローバー
    を停止処理する機能を有する収集手段と、前記収集手段
    をコントロールするとともに、前記収集手段で収集した
    データを集計管理する機能を有するコンピュータとを備
    えたプローブ検査システム。
JP1362491A 1991-02-05 1991-02-05 プローブ検査システム Pending JPH04249335A (ja)

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JP1362491A JPH04249335A (ja) 1991-02-05 1991-02-05 プローブ検査システム

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105097597A (zh) * 2015-07-30 2015-11-25 上海华力微电子有限公司 一种自动放行wat pm探针卡的系统及方法
JP2020092249A (ja) * 2018-12-07 2020-06-11 力成科技股▲分▼有限公司 自動テスト設備における異常テスト信号チャネルの検出方法
JP7241978B1 (ja) * 2022-02-21 2023-03-17 三菱電機株式会社 デバイス検査装置及びデバイス検査方法

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