KR101906702B1 - 원자로보호계통 전자기판 종합 성능 진단 장비 및 방법 - Google Patents

원자로보호계통 전자기판 종합 성능 진단 장비 및 방법 Download PDF

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Abstract

원자로보호계통 전자기판 종합 성능 진단 장비 및 방법을 제공한다. 원자로보호계통의 전자기판 대한 종합 성능 진단 장비는 상기 전자기판의 삽입을 위한 적어도 하나의 슬롯을 포함하는 기판 삽입부, 상기 전자기판의 시험을 위한 복수개의 시험신호를 생성하는 신호 생성부, 상기 종합 성능 진단 장비의 동작전원과 상기 전자기판에 공급할 시험전원을 생성하는 전원 공급부, 상기 복수개의 시험신호 중 상기 전자기판에 입력될 시험신호를 선택하고 상기 전자기판에서 출력되는 출력신호를 검출하여 데이터를 수집하는 데이터 수집부, 상기 전자기판에 해당하는 시험조건을 선택하고 상기 시험전원이 가변되도록 제어하며 상기 수집된 데이터를 분석하는 동작 관리부, 상기 선택된 시험조건에 따라 상기 전자기판에 대한 시험조건을 설정하는 시험조건 설정부 및 상기 기판 삽입부와 상기 시험조건 설정부 사이에 구비되어 상기 시험신호의 파형왜곡을 방지하고 결선저항을 감소시키는 결선부를 포함할 수 있다.

Description

원자로보호계통 전자기판 종합 성능 진단 장비 및 방법{INTEGRATED PERFORMANCE DIAGNOSIS SYSTEM AND METHOD FOR INTEGRATED CIRCUIT BOARD OF REACTOR PROTECTION SYSTEM}
본 발명의 실시예들은 원자력 발전소에 구비된 원자로보호계통의 전자기판에 대한 종합 성능 진단이 가능한 장비 및 이를 이용한 종합 성능 진단 방법에 관한 것이다.
원자력 발전소에서 원자로보호계통의 기능 저하는 발전소 안전운전에 직결된다. 따라서 원자로보호계통의 전자기판은 대부분 발전정지 유발기기로 분류되어 관리되고 있다. 그러나 원자로보호계통의 전자기판은 장기사용으로 인한 경년열화 및 유한수명소자의 부품특성 저하로 인해 고장 발생 가능성이 높다. 이에 따라 한국공개특허공보 제10-2013-0123561호(공개일: 2013년 11월 13일) "전자회로기판의 통합관리 데이터베이스 구축 시스템"에 기재되어 있는 바와 같이 원자력 발전설비의 안전관련 전자회로기판에 대한 수명분석을 통하여 기종별 교체 기준, 정비기준 및 교체 유의부품을 도출함으로써 교체주기 및 정비주기를 관리하는 방법이 고려되고 있다.
하지만 원자로보호계통의 전자기판을 주기적으로 교체 및 정비하더라도 기존의 점검 방식으로는 입/출력 변화에 따른 스트레스성 부품의 특성변화를 검증할 수 없다. 또한, 기존의 전자기판 점검 방식은 단위부품 특성 확인 및 입출력 기능 시험에 기초하고 있어 기판 간의 연계 호환성을 확인할 수 없다. 뿐만 아니라, 기존의 점검장비는 릴레이 매트릭스 구조로 결선되어 있기 때문에 장비 운반 시 진동에 취약하여 부품의 고장발생률이 매우 높으며, 입/출력 신호에 대한 수동 결선이 필요하여 인적 오류의 유발 가능성이 존재한다.
본 발명의 기술적 과제는 원자로보호계통의 전자기판에 대한 종합 성능 진단이 가능한 원자로보호계통 전자기판 종합 성능 진단 장비 및 방법을 제공함에 있다.
본 발명의 다른 기술적 과제는 전자기판의 고장원인분석이 가능한 원자로보호계통 전자기판 종합 성능 진단 장비 및 방법을 제공함에 있다.
본 발명의 또 다른 기술적 과제는 전자기판의 정비 신뢰도를 향상시킬 수 있는 원자로보호계통 전자기판 종합 성능 진단 장비 및 방법을 제공함에 있다.
본 발명의 또 다른 기술적 과제는 장기적 예측 정비가 가능한 원자로보호계통 전자기판 종합 성능 진단 장비 및 방법을 제공함에 있다.
본 발명의 일 양태에 따르면, 원자로보호계통의 전자기판 대한 종합 성능 진단 장비는 상기 전자기판의 삽입을 위한 적어도 하나의 슬롯을 포함하는 기판 삽입부, 상기 전자기판의 시험을 위한 복수개의 시험신호를 생성하는 신호 생성부, 상기 종합 성능 진단 장비의 동작전원과 상기 전자기판에 공급할 시험전원을 생성하는 전원 공급부, 상기 복수개의 시험신호 중 상기 전자기판에 입력될 시험신호를 선택하고 상기 전자기판에서 출력되는 출력신호를 검출하여 데이터를 수집하는 데이터 수집부, 상기 전자기판에 해당하는 시험조건을 선택하고 상기 시험전원이 가변되도록 제어하며 상기 수집된 데이터를 분석하는 동작 관리부, 상기 선택된 시험조건에 따라 상기 전자기판에 대한 시험조건을 설정하는 시험조건 설정부 및 상기 기판 삽입부와 상기 시험조건 설정부 사이에 구비되어 상기 시험신호의 파형왜곡을 방지하고 결선저항을 감소시키는 결선부를 포함할 수 있다.
일측에 따르면, 상기 신호 생성부는 신호를 생성하는 오실로스코프 및 상기 오실로스코프에서 생성된 신호를 변환하여 상기 복수개의 시험신호를 생성하는 신호 생성 모듈을 포함할 수 있다.
다른 측면에 따르면, 상기 전원 공급부는 상기 동작전원을 공급하는 동작전원 공급 모듈 및 전원 라인을 제어하여 상기 시험전원을 제공하는 시험전원 제공 모듈을 포함할 수 있다.
또 다른 측면에 따르면, 상기 종합 성능 진단 장비는 상기 전자기판의 시험 시 전압, 전류 및 저항 중 적어도 하나를 측정하는 계측부를 더 포함할 수 있다.
또 다른 측면에 따르면, 상기 시험조건 설정부는 상기 전자기판에 제1 시험전압을 제공하기 위한 제1 보드, 상기 전자기판에 상기 제1 시험전압보다 높은 제2 시험전압을 제공하기 위한 제2 보드, 상기 전자기판에 그라운드(ground) 전원 공급을 위한 제3 보드 및 상기 전자기판에 입력되는 전압을 모니터링하여 현재 전압값을 취득하는 입력 보드를 포함할 수 있다.
또 다른 측면에 따르면, 상기 시험조건 설정부는 상기 전자기판에서 출력되는 출력신호를 상기 데이터 수집부로 제공하기 위한 출력 보드를 더 포함할 수 있다.
또 다른 측면에 따르면, 상기 결선부는 상기 제1 보드, 상기 제2 보드, 상기 제3 보드 및 상기 입력 보드에 결선되는 제1 결선 보드와 상기 출력 보드에 결선되는 제2 결선 보드를 포함하고, 상기 제1 결선 보드와 상기 제2 결선 보드는 분리 구성될 수 있다.
또 다른 측면에 따르면, 상기 동작 관리부는 복수개의 전자기판 중 시험 대상 전자기판을 선택하고, 상기 전자기판의 시험 전에 상기 종합 성능 진단 장비의 자가진단을 수행하고 상기 전자기판에 해당하는 시험조건을 선택하여 상기 시험 조건 설정부에 의해 상기 선택한 시험조건이 설정되도록 제어하고, 상기 데이터 수집부에 의해 수집된 데이터를 분석할 수 있다.
본 발명의 다른 양태에 따르면, 종합 성능 진단 장비에 의한 원자로보호계통의 전자기판 종합 성능 진단 방법은 상기 원자로보호계통에 구비된 복수개의 전자기판 중 상기 종합 성능 진단 장비의 전자기판 삽입 슬롯에 삽입된 전자기판을 선택하는 단계, 상기 선택한 전자기판에 해당하는 시험조건을 선택하는 단계, 상기 시험조건에 해당하는 시험신호와 시험전원을 생성하는 단계 및 상기 시험신호와 상기 시험전원을 상기 선택한 전자기판에 인가하고 상기 선택한 전자기판으로부터 출력되는 출력신호를 측정하는 단계를 포함할 수 있다.
본 발명에 따르면, 원자로보호계통의 전자기판에 대해서 종합적인 성능 진단이 가능하며. 고장원인을 분석할 수 있다.
또한 본 발명에 따르면, 전자기판에 대해 종합적인 성능 진단이 가능하므로 전자기판의 정비 신뢰도를 향상시킬 수 있으며, 장기적 예측 정비가 가능하다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 원자로보호계통 전자기판 종합 성능 진단 장비를 나타내는 블록도이다.
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 원자로보호계통 전자기판 종합 성능 진단 장비를 나타내는 회로도이다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 있어서 전자기판에 대한 15V 풀 업(pull up) 시험을 설명하기 위한 회로도이다.
도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 원자로보호계통 전자기판 종합 성능 진단 방법을 나타내는 순서도이다.
아래에서는 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다. 그리고 도면에서 본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 유사한 도면 부호를 붙였다. 또한 명세서 전체에서, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 원자로보호계통 전자기판 종합 성능 진단 장비를 나타내는 블록도이고, 도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 원자로보호계통 전자기판 종합 성능 진단 장비를 나타내는 회로도이다.
이하, 도 1 및 도 2를 참조하여 본 발명의 일실시예에 따른 원자로보호계통 전자기판 종합 성능 진단 장비(이하, 종합 성능 진단 장비라 함)에 대해 설명한다. 도 2는 카드 슬롯 1 내지 47번 핀 중 1번 핀에 해당하는 하드웨어 구조가 예시적으로 도시되어 있다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 일실시예에 따른 종합 성능 진단 장비는 기판 삽입부(110), 신호 생성부(120), 전원 공급부(130), 데이터 수집부(140), 동작 관리부(150), 시험 조건 설정부(160), 결선부(170) 및 계측부(180)를 포함할 수 있다.
기판 삽입부(110)는 원자로보호계통에 구비된 다양한 종류의 전자기판을 삽입할 수 있도록 도 2에 도시된 것과 같이 적어도 하나의 전자기판 삽입 슬롯(카드 슬롯1P 및 카드 슬롯 2P)을 포함할 수 있다. 기판 삽입부(110)는 기판 삽입부(110)에 삽입된 전자기판에 종합 성능 진단 장비로부터의 시험신호 및 시험전원을 제공할 수 있다.
신호 생성부(120)는 전자기판의 시험을 위한 복수개의 시험신호를 생성할 수 있다. 이를 위하여 신호 생성부(120)는 아날로그 신호를 생성하는 오실로스코프(oscilloscope) 및 상기 오실로스코프에서 생성된 신호를 각각의 시험에 요구되는 형태로 변환하여 시험신호를 생성하는 신호 생성 모듈을 포함할 수 있다.
전원 공급부(130)는 종합 성능 진단 장비의 동작전원과 해당 전자기판에 공급할 시험전원을 생성할 수 있다. 전원 공급부(130)는 안정적인 전원 공급을 위하여 무정전 전원장치로 구성될 수 있다. 이를 위하여 도 1에는 도시되지 않았지만, 전원 공급부(130)는 종합 성능 진단 장비의 동작전원을 공급하는 동작전원 공급 모듈(도 2에서 Programmable Power 1 및 2), 종합 성능 진단 장비에 보조 전원을 공급하는 보조전원 공급 모듈(도 2에서는 미도시), 종합 성능 진단 당비의 전원 라인을 제어하여 시험전원을 제공하는 시험전원 제공 모듈(도 2에서 Power & Short Board)을 포함할 수 있다.
상기 동작 전원 공급 모듈로부터 공급되는 전원은 종합 성능 진단 장비의 주 전원으로 사용될 수 있으며, 동작 관리부(150)로부터의 스크립트(script) 명령어로 출력이 온(on)/오프(off)될 수 있다. 상기 동작 전원 공급 모듈에는 비정상 전원 공급에 대한 1차적인 보호를 위하여 과전류/과전압 보호(over voltage/current protection) 기능이 포함될 수 있다. 상기 시험전원 생성 모듈은 종합 성능 진단 장비의 전원 라인을 제어하여 제1 시험전압, 제2 시험전압 등을 제공할 수 있다. 여기서, 제1 시험전압은 15VDC이고, 제2 시험전압은 48VDC 일 수 있다. 또한, 시험전원 생성 모듈은 전자기판의 전원 라인 및 신호 라인을 제어할 수 있다. 예를 들어, 시험전원 생성 모듈은 시험 대상 전자기판에 대한 47핀 중 쇼트(short) 회로가 필요한 특정 핀에 한해 쇼트시킬 수 있다.
한편, 상기 동작 전원 공급 모듈의 출력단에는 비정상 전원 공급에 대한 2차적인 보호 및 종합 성능 진단 장비의 전체 전류 한계치의 설정을 위하여 3A 퓨즈가 구비될 수 있다. 또한, 상기 퓨즈와 상기 동작 전원 공급 모듈 사이에는 순간적인 전류 유입을 방지하기 위하여 커패시터가 구비될 수 있다.
데이터 수집부(140)는 시험 대상 전자기판에 대한 입/출력 신호를 설정하고 시험 대상 전자기판에서 출력되는 출력신호를 검출하여 데이터를 수집할 수 있다. 이를 위하여 데이터 수집부(140)는 신호 생성부(120)에서 생성 가능한 복수개의 시험신호 중 해당 전자기판에 입력될 시험신호를 선택할 수 있다.
동작 관리부(150)는 원자로보호계통에 구비된 복수개의 전자기판 중 기판 삽입부(110)에 삽입된 전자기판을 시험 대상 전자기판으로 선택하고 이에 해당하는 시험조건을 선택하여 시험 조건 설정부(160)에 의해 상기 선택한 시험조건이 설정되도록 제어할 수 있다. 그리고, 각 시험 항목에 따라 전원 공급부(130)로부터 제공되는 시험전원이 가변되도록 제어할 수 있다. 또한, 동작 관리부(150)는 데이터 수집부(140)에 의해 수집된 데이터를 분석하고 계측부(180)에 의해 측정된 계측값을 분석하여 시험 결과에 대한 보고서를 생성할 할 수 있다. 한편 동작 관리부(150)는 전자기판 시험 전에 종합 성능 진단 장비의 자가진단을 수행할 수 있다.
시험조건 설정부(160)는 동작 관리부(150)에 의해 선택된 시험조건에 따라 기판 삽입부(110)에 삽입된 전자기판에 대한 시험조건을 설정할 수 있다. 이를 위하여, 시험조건 설정부(160)는 기판 삽입부(100)에 삽입된 전자기판에 제1 시험전압을 제공하기 위한 제1 보드, 해당 전자기판에 상기 제1 시험전압보다 높은 제2 시험전압을 제공하기 위한 제2 보드, 해당 전자기판에 그라운드(ground) 전원 공급을 위한 제3 보드, 해당 전자기판에 입력되는 전압을 모니터링하여 현재 전압값을 취득하는 입력 보드, 및 해당 전자기판에서 출력되는 출력신호를 데이터 수집부(140)로 제공하기 위한 출력 보드를 포함할 수 있다. 여기서, 도 2에 도시된 것과 같이 제1 보드는 15V 풀 업(pull up) 보드이고, 제2 보드는 48V 풀 업 보드이며, 제3 보드는 풀 다운(pull down) 보드일 수 있다. 제1 보드, 제2 보드 및 제3 보드는 전자기판 47핀 중에서 적어도 하나의 핀에 대하여 선택적으로 설정될 수 있다. 또한 동작 관리부(150)로부터의 스크립트 명령어로 해당 핀에 대한 전원 공급이 온/오프될 수 있으며, 해당 핀의 풀 업 저항 또는 풀 다운 저항이 설정될 수 있다. 그리고 각 보드의 입력단에는 비정상 전원 공급에 대한 3차적인 보호 및 각 보드의 전류 한계치의 설정을 위하여 1A 퓨즈가 구비될 수 있다. 또한 각 보드의 출력단에는 비정상 전원 급에 대한 4차적인 보호 및 개별 핀의 전류 한계치의 설정을 위하여 폴리스위치가 구비될 수 있다.
결선부(170)는 상기 기판 삽입부와 상기 시험조건 설정부 사이에 구비되어 상기 시험신호의 파형왜곡을 방지하고 결선저항을 감소시킬 수 있다. 일 예로, 결선부(170)는 시험 장비의 주요 취약 부품인 릴레이 보드 및 케이블 접속부의 사용을 최소화하기 위하여 상기 제1 보드, 상기 제2 보드, 상기 제3 보드 및 상기 입력 보드에 결선되는 제1 결선 보드와 상기 출력 보드에 결선되는 제2 결선 보드를 포함할 수 있다. 상기 제1 결선 보드와 상기 제2 결선 보드는 분리 구성될 수 있다. 따라서 결선부(170)는 다기능 진단 장비에서 발생 가능한 노이즈 및 오차를 저감시킬 수 있다. 또한, 결선부(170)는 클럭 카운터 보드)Clock Counter Board)에 내장된 플립플롭(Flip-Flop)에 의해 변환된 구형파 신호를 계수기(counter)에 인가 시 결선저항을 최소화함과 동시에 파형왜곡을 방지할 수 있다.
계측부(180)는 전자기판의 시험 시 전압, 전류 및 저항 중 적어도 하나를 측정할 수 있다. 계측부(180)에서 측정된 계측값은 동작 관리부(150) 및/또는 데이터 수집부(140)로 제공될 수 있다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 있어서 전자기판에 대한 15V 풀 업(pull up) 시험을 설명하기 위한 회로도이다.
이하 도 3을 참조하여, 본 발명에 따른 종합 성능 진단 장비의 카드 슬롯에 전자기판이 삽입되고, 시험조건으로서 15V 풀 업 시험이 선택된 경우에 대해 설명한다.
이 경우, 종합 성능 진단 장비는 자가진단을 시작하여 종합 성능 진단 장비에 이상이 있는지를 시험할 수 있다. 이상이 없는 경우, 비정상 정지 후 시험 재수행 시 문제가 발생하는 경우를 방지하기 위해 진단장비를 초기화할 수 있다. 이 후, 종합 성능 진단 장비는 전원 공급부(Programmable Power 1)로부터 공급 대신 시험전원이 퓨즈를 통해 15V 풀업 보드에 입력되도록 카드슬롯 1핀 내지 47핀에 대해 15V 풀 업 시험을 위한 라인을 생성하고 15V 풀 업 전원 라인(15V COM)을 생성할 수 있다. 이 때, 전원 공급부(Programmable Power 1)의 출력 전원은 15V로 설정될 수 있다. 15V 풀 업 시험에 있어서 정상 기준 값은 14.3V 내지 15.3V로 설정될 수 있다. 종합 성능 진단 장비는 측정 값이 정상 기준 값 내에 포함되어 있으면 시험 결과가 정상임을 나타내는 정보를 제공 또는 표시하고, 상기 측정 값이 정상 기준 값을 벗어나면 해당 전자기판에 이상이 있음을 나타내는 정보를 제공 또는 표시할 수 있다. 이와 같은 시험 결과 및/또는 측정 데이터는 종합 성능 진단 장비 내에 저장되어 추후 측정 이력으로 제공될 수 있다.
도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 원자로보호계통 전자기판 종합 성능 진단 방법을 나타내는 순서도이다.
도 4를 참조하면, 종합 성능 진단 장비는 원자로보호계통에 구비된 복수개의 전자기판 중 종합 성능 진단 장비의 전자기판 삽입 슬롯에 삽입된 전자기판을 선택하여 기판 단위로 입/출력 시험을 수행할 수 있다(S410). 이를 위하여 종합 성능 진단 장비는 보드 선택 정보를 사용자로부터 입력 받을 수 있다. 전자기판이 선택되면 종합 성능 진단 장비는 현재 선택된 전자기판의 이름, 측정 섹션(section)의 이름, 시험 절차의 이름, 시험 항목/전체 시험 항목 등을 표시할 수 있다.
이후, 종합 성능 진단 장비는 자가진단 항목의 스크립트 파일을 이용하여 메인 화면에 측정 항목을 표시하고 자가진단을 수행할 수 있다(S420). 따라서 종합 성능 진단 장비는 시스템 구성요소 별로 자가진단을 수행할 수 있다. 자가진단 결과 이상이 없으면, 종합 성능 진단 장비는 상기 스크립트 파일을 기초로 선택된 전자기판에 해당하는 시험조건을 선택할 수 있다(S430).
종합 성능 진단 장비는 일 예로 자동 시험 모드, 반자동 시험 모드 및 수동 시험 모드 중 어느 하나의 모드로 측정을 수행할 수 있다. 종합 성능 진단 장비는 측정이 시작되면 스크립트 파일에 포함된 명령어 순서대로 전자기판 시험을 수행할 수 있다. 이 때, 종합 성능 진단 장비는 해당 시험조건에 해당하는 시험신호와 시험전원을 생성하고, 상기 시험신호와 상기 시험전원을 상기 선택한 전자기판에 인가하여 상기 선택한 전자기판으로부터 출력되는 출력신호를 측정할 수 있다. 시험 결과 및/또는 측정 데이터는 종합 성능 진단 장비 내에 저장되어 추후 예측정비가 가능하도록 측정 이력으로 제공될 수 있다.
이상의 설명은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
110: 기판 삽입부
120: 신호 생성부
130: 전원 공급부
140: 데이터 수집부
150: 동작 관리부
160: 시험조건 설정부
170: 결선부
180: 계측부

Claims (12)

  1. 원자로보호계통의 전자기판 대한 종합 성능 진단 장비에 있어서,
    상기 전자기판의 삽입을 위한 적어도 하나의 슬롯을 포함하는 기판 삽입부;
    상기 전자기판의 시험을 위한 복수개의 시험신호를 생성하는 신호 생성부;
    상기 종합 성능 진단 장비의 동작전원과 상기 전자기판에 공급할 시험전원을 생성하는 전원 공급부;
    상기 복수개의 시험신호 중 상기 전자기판에 입력될 시험신호를 선택하고 상기 전자기판에서 출력되는 출력신호를 검출하여 데이터를 수집하는 데이터 수집부;
    상기 전자기판에 해당하는 시험조건을 선택하고 상기 시험전원이 가변되도록 제어하며 상기 수집된 데이터를 분석하는 동작 관리부;
    상기 선택된 시험조건에 따라 상기 전자기판에 대한 시험조건을 설정하는 시험조건 설정부; 및
    상기 기판 삽입부와 상기 시험조건 설정부 사이에 구비되어 상기 시험신호의 파형왜곡을 방지하고 결선저항을 감소시키는 결선부
    를 포함하되,
    상기 시험조건 설정부는,
    상기 전자기판에 제1 시험전압을 제공하기 위한 제1 보드;
    상기 전자기판에 상기 제1 시험전압보다 높은 제2 시험전압을 제공하기 위한 제2 보드;
    상기 전자기판에 그라운드(ground) 전원 공급을 위한 제3 보드; 및
    상기 전자기판에 입력되는 전압을 모니터링하여 현재 전압값을 취득하는 입력 보드를 포함하는, 종합 성능 진단 장비.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 신호 생성부는,
    신호를 생성하는 오실로스코프; 및
    상기 오실로스코프에서 생성된 신호를 변환하여 상기 복수개의 시험신호를 생성하는 신호 생성 모듈을 포함하는 것을 특징으로 하는 종합 성능 진단 장비.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 전원 공급부는,
    상기 동작전원을 공급하는 동작전원 공급 모듈; 및
    전원 라인을 제어하여 상기 시험전원을 제공하는 시험전원 제공 모듈을 포함하는 것을 특징으로 하는 종합 성능 진단 장비.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 전자기판의 시험 시 전압, 전류 및 저항 중 적어도 하나를 측정하는 계측부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 종합 성능 진단 장비.
  5. 삭제
  6. 제1항에 있어서,
    상기 시험조건 설정부는,
    상기 전자기판에서 출력되는 출력신호를 상기 데이터 수집부로 제공하기 위한 출력 보드를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 종합 성능 진단 장비.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 결선부는,
    상기 제1 보드, 상기 제2 보드, 상기 제3 보드 및 상기 입력 보드에 결선되는 제1 결선 보드와 상기 출력 보드에 결선되는 제2 결선 보드를 포함하고,
    상기 제1 결선 보드와 상기 제2 결선 보드는 분리 구성되는 것을 특징으로 하는 종합 성능 진단 장비.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 동작 관리부는,
    복수개의 전자기판 중 시험 대상 전자기판을 선택하고, 상기 전자기판의 시험 전에 상기 종합 성능 진단 장비의 자가진단을 수행하고 상기 전자기판에 해당하는 시험조건을 선택하여 상기 시험 조건 설정부에 의해 상기 선택한 시험조건이 설정되도록 제어하고, 상기 데이터 수집부에 의해 수집된 데이터를 분석하는 것을 특징으로 하는 종합 성능 진단 장비.
  9. 종합 성능 진단 장비에 의한 원자로보호계통의 전자기판 종합 성능 진단 방법에 있어서,
    상기 원자로보호계통에 구비된 복수개의 전자기판 중 상기 종합 성능 진단 장비의 전자기판 삽입 슬롯에 삽입된 전자기판을 선택하는 단계;
    상기 선택한 전자기판에 해당하는 시험조건을 선택하는 단계;
    상기 시험조건에 해당하는 시험신호와 시험전원을 생성하는 단계; 및
    상기 시험신호와 상기 시험전원을 상기 선택한 전자기판에 인가하고 상기 선택한 전자기판으로부터 출력되는 출력신호를 측정하는 단계
    를 포함하되,
    상기 종합 성능 진단 장비는,
    상기 선택한 시험조건에 따라 해당 전자기판에 대한 시험조건을 설정하는 시험조건 설정부를 포함하고,
    상기 시험조건 설정부와 상기 전자기판 삽입 슬롯 사이에는 적어도 하나의 결선보드가 구비되어 상기 시험신호의 파형왜곡을 방지하고 결선저항을 감소시키고,
    상기 시험조건 설정부는,
    상기 선택한 전자기판에 제1 시험전압을 제공하기 위한 제1 보드, 상기 선택한 전자기판에 상기 제1 시험전압보다 높은 제2 시험전압을 제공하기 위한 제2 보드, 상기 선택한 전자기판에 그라운드(ground) 전원 공급을 위한 제3 보드, 상기 선택한 전자기판에 입력되는 전압을 모니터링하여 현재 전압값을 취득하는 입력 보드 및 상기 선택한 전자기판에서 출력되는 출력신호를 제공하기 위한 출력 보드를 포함하는, 종합 성능 진단 방법.
  10. 삭제
  11. 삭제
  12. 제9항에 있어서,
    상기 결선 보드는,
    상기 제1 보드, 상기 제2 보드, 상기 제3 보드 및 상기 입력 보드에 결선되는 제1 결선 보드와 상기 출력 보드에 결선되는 제2 결선 보드를 포함하고, 상기 제1 결선 보드와 상기 제2 결선 보드는 분리 구성되는 것을 특징으로 하는 종합 성능 진단 방법.
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